JPH09145899A - X線集光系 - Google Patents
X線集光系Info
- Publication number
- JPH09145899A JPH09145899A JP31097595A JP31097595A JPH09145899A JP H09145899 A JPH09145899 A JP H09145899A JP 31097595 A JP31097595 A JP 31097595A JP 31097595 A JP31097595 A JP 31097595A JP H09145899 A JPH09145899 A JP H09145899A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cylindrical
- mirror
- mirrors
- screen
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 球面収差を解消し、安価な円筒鏡のみで広帯
域のX線を微小な焦点を結ぶX線集光系を提供するこ
と。 【解決手段】 直交する2枚の単純な円弧で構成される
凹面鏡を少なくとも2組配置することを特徴とする。
域のX線を微小な焦点を結ぶX線集光系を提供するこ
と。 【解決手段】 直交する2枚の単純な円弧で構成される
凹面鏡を少なくとも2組配置することを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はX線マイクロプローブに
おける集光光学系に関するものである。
おける集光光学系に関するものである。
【0002】
【従来の技術】X線マイクロプローブは微小領域におけ
る元素の濃度、化学的状態を知る有力な手法であり、単
なる元素分析にとどまらず、各種走査型X線顕微鏡への
応用が期待される技術である。
る元素の濃度、化学的状態を知る有力な手法であり、単
なる元素分析にとどまらず、各種走査型X線顕微鏡への
応用が期待される技術である。
【0003】従来からX線を集光する光学素子として円
筒鏡や球面鏡といった集光ミラーが使用されてきた。こ
れらの鏡は単一曲率で構成されているため加工が容易で
比較的容易に入手できる。しかし、X線領域では全反射
による高い反射率を得るために2〜3度といった斜入射
で使用する必要があり、この場合、比較的大きな球面収
差をもつ。図1に互いに直交する2つの円筒鏡を用いた
集光系の従来例の構成図を示す。1が点光源、2と3が
斜入射で使用する円筒鏡、4がスクリーンである。
筒鏡や球面鏡といった集光ミラーが使用されてきた。こ
れらの鏡は単一曲率で構成されているため加工が容易で
比較的容易に入手できる。しかし、X線領域では全反射
による高い反射率を得るために2〜3度といった斜入射
で使用する必要があり、この場合、比較的大きな球面収
差をもつ。図1に互いに直交する2つの円筒鏡を用いた
集光系の従来例の構成図を示す。1が点光源、2と3が
斜入射で使用する円筒鏡、4がスクリーンである。
【0004】一方、球面収差を解消するためにウォルタ
ーミラーや楕円ミラーに代表される非球面鏡により集光
する方法もあるが、非球面鏡は加工が難しく価格も高価
なものになる。特にレーザープラズマを光源とする場
合、光源からの飛散粒子による光学素子の汚染が顕著で
非球面鏡のような高価な光学素子を初段に配置すること
は実用上問題がある。
ーミラーや楕円ミラーに代表される非球面鏡により集光
する方法もあるが、非球面鏡は加工が難しく価格も高価
なものになる。特にレーザープラズマを光源とする場
合、光源からの飛散粒子による光学素子の汚染が顕著で
非球面鏡のような高価な光学素子を初段に配置すること
は実用上問題がある。
【0005】また、シュワルツシルド型光学系に代表さ
れる直入射光学系は球面のみで構成され、収差も少ない
ものの、干渉効果を利用した多層膜を用いているため使
用できる波長が多層膜の周期長で決まり広帯域で使用で
きない。また、高反射率の多層膜の得られる波長も限ら
れている。
れる直入射光学系は球面のみで構成され、収差も少ない
ものの、干渉効果を利用した多層膜を用いているため使
用できる波長が多層膜の周期長で決まり広帯域で使用で
きない。また、高反射率の多層膜の得られる波長も限ら
れている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図3に示した従来例で
のスクリーン4上での集光パターンを図4に示す。円筒
鏡の曲率半径はいづれも10000mm,ミラーの長さ
は150mm,光源1からスクリーン4までの光路は1
000mmとした。なお、取り込み立体角は17mra
d×13mradとなる。この場合、球面収差により4
00μm×200μm程度の領域に広がった焦点を結
ぶ。
のスクリーン4上での集光パターンを図4に示す。円筒
鏡の曲率半径はいづれも10000mm,ミラーの長さ
は150mm,光源1からスクリーン4までの光路は1
000mmとした。なお、取り込み立体角は17mra
d×13mradとなる。この場合、球面収差により4
00μm×200μm程度の領域に広がった焦点を結
ぶ。
【0007】これらのミラーによりマイクロビームを形
成する場合はこの球面収差のためミラーを小さくするか
焦点距離を長くする必要があり、いづれの場合も光学系
の取り込み立体角が著しく小さくなり、高い光子密度を
得ることは困難である。
成する場合はこの球面収差のためミラーを小さくするか
焦点距離を長くする必要があり、いづれの場合も光学系
の取り込み立体角が著しく小さくなり、高い光子密度を
得ることは困難である。
【0008】本発明は上記した問題点を解決するために
なされたもので、その目的は球面収差を解消し、安価な
円筒鏡のみで広帯域のX線を微小な焦点を結ぶX線集光
系を提供することにある。
なされたもので、その目的は球面収差を解消し、安価な
円筒鏡のみで広帯域のX線を微小な焦点を結ぶX線集光
系を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、直交する2枚の単純な円弧で構成される凹面
鏡を少なくとも2組配置することを特徴とする。
するため、直交する2枚の単純な円弧で構成される凹面
鏡を少なくとも2組配置することを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明では点光源からのX線を1度円筒鏡で平
行光線にした後、再び円筒鏡で集光するようにしてい
る。実際には1枚目の円筒鏡で平行光線にされた光は鏡
の前方部分すなわち光源より遠い部分で反射した光につ
いては収束光線となり、鏡の後方部分すなわち光源より
近い部分で反射した光については発散光線となる。1枚
目の鏡の前方部分で反射した光は2枚目の鏡のスクリー
ンに近い部分で反射される。スクリーン上でより完全な
焦点を結ぶためにはスクリーンから見ると2枚目の円筒
鏡で反射されるX線はスクリーンに近い部分では収束光
線、スクリーンから遠い部分では発散光線となることが
望ましい。1枚目の鏡で鏡の前方部分で反射したX線は
2枚目の鏡ではスクリーンに近い側で反射されるのでこ
の条件を満たす。同様のことは1枚目の鏡の後方の部分
で反射した光についてもいえる。このため円筒鏡を2枚
組み合せることで球面収差を打ち消すことができる。
行光線にした後、再び円筒鏡で集光するようにしてい
る。実際には1枚目の円筒鏡で平行光線にされた光は鏡
の前方部分すなわち光源より遠い部分で反射した光につ
いては収束光線となり、鏡の後方部分すなわち光源より
近い部分で反射した光については発散光線となる。1枚
目の鏡の前方部分で反射した光は2枚目の鏡のスクリー
ンに近い部分で反射される。スクリーン上でより完全な
焦点を結ぶためにはスクリーンから見ると2枚目の円筒
鏡で反射されるX線はスクリーンに近い部分では収束光
線、スクリーンから遠い部分では発散光線となることが
望ましい。1枚目の鏡で鏡の前方部分で反射したX線は
2枚目の鏡ではスクリーンに近い側で反射されるのでこ
の条件を満たす。同様のことは1枚目の鏡の後方の部分
で反射した光についてもいえる。このため円筒鏡を2枚
組み合せることで球面収差を打ち消すことができる。
【0011】
【実施例】本発明を以下に示す実施例について説明す
る。
る。
【0012】図1に本発明に係わるX線集光装置の実施
例を示す。円筒鏡6,7,8,9の曲率半径は2000
0mmで点光源5からスクリーン10までの距離は12
00mmである。円筒鏡6,9は焦点距離が400mm
で斜入射角は2.292度、円筒鏡7,8は焦点距離が
550mmで斜入射角は3.153度となっている。円
筒鏡6,7,8,9の大きさは150mm四方で、この
光学系の取り込み立体角は15mrad×15mrad
となる。
例を示す。円筒鏡6,7,8,9の曲率半径は2000
0mmで点光源5からスクリーン10までの距離は12
00mmである。円筒鏡6,9は焦点距離が400mm
で斜入射角は2.292度、円筒鏡7,8は焦点距離が
550mmで斜入射角は3.153度となっている。円
筒鏡6,7,8,9の大きさは150mm四方で、この
光学系の取り込み立体角は15mrad×15mrad
となる。
【0013】点光源5で発生したX線は円筒鏡6で反射
されることでy方向の発散が平行になり、円筒鏡7で反
射されることでx方向の発散が平行となる。このとき、
それぞれの円筒鏡のもつ球面収差により完全な平行光線
にはならない。この平行光線は円筒鏡8,9によりそれ
ぞれx,y方向に集光される。また、この際、収差を解
消することができるのでスクリーン10上には微小な焦
点を結ぶことができる。
されることでy方向の発散が平行になり、円筒鏡7で反
射されることでx方向の発散が平行となる。このとき、
それぞれの円筒鏡のもつ球面収差により完全な平行光線
にはならない。この平行光線は円筒鏡8,9によりそれ
ぞれx,y方向に集光される。また、この際、収差を解
消することができるのでスクリーン10上には微小な焦
点を結ぶことができる。
【0014】図2に図1に示したX線集光装置でのスク
リーン10上の焦点のプロファイルを示す。これより分
かるように5μm×15μmの長方形の中に大半の光線
が収まっている。本発明では全反射を利用した斜入射鏡
を使用しているので、鏡の枚数の増加に伴う反射ロスは
殆ど問題にならず、このため図3に示した従来例に比べ
てほぼ同じ取り込み立体角で集光サイズが小さくなった
ことにより約1000倍の光子密度が得られる。
リーン10上の焦点のプロファイルを示す。これより分
かるように5μm×15μmの長方形の中に大半の光線
が収まっている。本発明では全反射を利用した斜入射鏡
を使用しているので、鏡の枚数の増加に伴う反射ロスは
殆ど問題にならず、このため図3に示した従来例に比べ
てほぼ同じ取り込み立体角で集光サイズが小さくなった
ことにより約1000倍の光子密度が得られる。
【0015】なお、上記実施例では円筒鏡6,7,8,
9の曲率半径を同じものにしたが、円筒鏡の曲率半径を
変更して焦点距離や取り込み立体角を変えることができ
る。また、本実施例では円筒鏡を用いたが、斜入射球面
鏡やトロイダル鏡など単純な円弧で構成された形状をも
つ鏡を用いても同様の効果が得られる。
9の曲率半径を同じものにしたが、円筒鏡の曲率半径を
変更して焦点距離や取り込み立体角を変えることができ
る。また、本実施例では円筒鏡を用いたが、斜入射球面
鏡やトロイダル鏡など単純な円弧で構成された形状をも
つ鏡を用いても同様の効果が得られる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明によるX線集
光装置を用いることで、従来球面収差のため円筒鏡のみ
の光学系では難しかったμmオーダーのマイクロビーム
が比較的大きな取り込み立体角で得られ、微小領域に高
い光子密度のX線を照射することができる。
光装置を用いることで、従来球面収差のため円筒鏡のみ
の光学系では難しかったμmオーダーのマイクロビーム
が比較的大きな取り込み立体角で得られ、微小領域に高
い光子密度のX線を照射することができる。
【図1】実施例を示す斜視図である。
【図2】実施例でのスクリーン上での集光パターン図で
ある。
ある。
【図3】従来例を示す斜視図である。
【図4】従来例でのスクリーン上での集光パターン図で
ある。
ある。
1 光源、 2,3,6,7,8,9 円筒鏡、 4,10 スクリーン、 5 点光源。
Claims (2)
- 【請求項1】 直交する2枚の単純な円弧で構成される
凹面鏡を少なくとも2組配置することを特徴とするX線
集光系。 - 【請求項2】 凹面鏡が円筒鏡であることを特徴とする
請求項1に記載のX線集光系。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31097595A JPH09145899A (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | X線集光系 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31097595A JPH09145899A (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | X線集光系 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09145899A true JPH09145899A (ja) | 1997-06-06 |
Family
ID=18011654
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31097595A Pending JPH09145899A (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | X線集光系 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09145899A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005265604A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Chikoji Gakuen | X線ビームの断面積の縮小方法及び装置並びにx線生成装置及び方法 |
JP2013221874A (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-28 | Osaka Univ | X線光学システム |
WO2017051890A1 (ja) * | 2015-09-25 | 2017-03-30 | 国立大学法人大阪大学 | X線顕微鏡 |
-
1995
- 1995-11-29 JP JP31097595A patent/JPH09145899A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005265604A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Chikoji Gakuen | X線ビームの断面積の縮小方法及び装置並びにx線生成装置及び方法 |
JP2013221874A (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-28 | Osaka Univ | X線光学システム |
WO2017051890A1 (ja) * | 2015-09-25 | 2017-03-30 | 国立大学法人大阪大学 | X線顕微鏡 |
CN108028089A (zh) * | 2015-09-25 | 2018-05-11 | 国立大学法人大阪大学 | X射线显微镜 |
JPWO2017051890A1 (ja) * | 2015-09-25 | 2018-07-19 | 国立大学法人大阪大学 | X線顕微鏡 |
US11189392B2 (en) | 2015-09-25 | 2021-11-30 | Osaka University | X-ray microscope |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4195913A (en) | Optical integration with screw supports | |
JPH02295692A (ja) | レーザ加工装置 | |
JPH0815156A (ja) | レーザスキャン光学系及びレーザスキャン光学装置 | |
US9892811B2 (en) | Optical design method for X-ray focusing system using rotating mirror, and X-ray focusing system | |
KR20170122265A (ko) | 방사선 시스템 | |
US6324190B1 (en) | Device with at least one beam source and an arrangement for geometric reshaping of the radiation field emitted by the beam source | |
JP2004521398A (ja) | 光線を光学的に均質化するための配置および装置 | |
JPH09145899A (ja) | X線集光系 | |
JP2931268B2 (ja) | レーザスキャン光学装置 | |
JP3390113B2 (ja) | 二つの多重配列ミラ−による平行光光源装置 | |
JP3317290B2 (ja) | レーザ加工用出射光学部 | |
KR20020018981A (ko) | 전자빔 리소그라피 장치 및 방법 | |
JPS6093336A (ja) | レ−ザ微量分析装置 | |
AU2001240865A1 (en) | Ultra-high resolution imaging devices | |
JP2884583B2 (ja) | X線集光器 | |
JPH02187294A (ja) | レーザビーム整形装置 | |
JPH1197340A (ja) | 露光光学系、光加工装置、露光装置及び光結合装置 | |
JP3057110B2 (ja) | レーザー加工用マスク照射装置 | |
JP3568616B2 (ja) | レーザトラッピング装置 | |
JPS63108318A (ja) | レ−ザ−加工装置 | |
JPH0498214A (ja) | レーザ光の照射装置 | |
JPH0511600B2 (ja) | ||
KR102283288B1 (ko) | 라인빔 형성장치 | |
JP2884075B2 (ja) | レーザー光集光照射装置 | |
JP2753282B2 (ja) | X線集光方法およびx線集光鏡 |