JPH09145809A - 光磁界センサ - Google Patents

光磁界センサ

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JPH09145809A
JPH09145809A JP7299379A JP29937995A JPH09145809A JP H09145809 A JPH09145809 A JP H09145809A JP 7299379 A JP7299379 A JP 7299379A JP 29937995 A JP29937995 A JP 29937995A JP H09145809 A JPH09145809 A JP H09145809A
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reflection mirror
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石塚  訓
Takashi Minemoto
尚 峯本
Nobuki Itou
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    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/032Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect
    • G01R33/0322Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect using the Faraday or Voigt effect

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Abstract

(57)【要約】 【課題】ギャップを有するコアのギャップ部に光磁界セ
ンサを設置し、電流を測定する際、コアのギャップ間距
離を極力狭くでき、より高感度で、より高精度な光磁界
センサを実現すること。 【解決手段】集束形ロッドレンズ2の一方の端面に配置
された入射用光ファイバ1及び出射用光ファイバ8と、
その集束形ロッドレンズ2の他方の側に配置された第一
の全反射ミラー3及び第二の全反射ミラー7と、その第
一、第二の全反射ミラー7、8との間に配置された磁気
光学結晶5とを備えた光磁界センサである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ファラデー効果を
有する磁気光学結晶を用いて磁界を検出し、その磁界強
度を測定する光磁界センサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、特に電力分野において、電線に流
れる電流を測定するために、電線の周りに発生する磁界
強度を光を用いて測定する方法として、ファラデー効果
を有する磁気光学結晶と光ファイバを用いた電流測定装
置が提案され、実用化されつつある。電流が流れている
導体の周りの磁界強度を測定して電流を検知する方法
は、光を媒体とするために絶縁性が良好であり、電磁誘
導ノイズを受けないなどの特徴を持ち、送電・配電設備
への適用等が考えられている。
【0003】図6にファラデー効果を用いた磁界測定方
法の原理図を示す。図6において、発生磁界H中に磁気
光学結晶4を配置し、偏光子3で直線偏光とした光線を
この磁気光学結晶4に入射する。磁気光学結晶4に入射
した光線はファラデー効果により、その偏光方向は磁界
の強度Hに比例した回転θを受ける。回転を受けた直線
偏光光は、偏光子3に対して透過偏光方向を45度異な
るように配置した検光子5を通過する。この時、検光子
5を透過する光量は回転角θに比例する。すなわち、電
流の変化を光量の変化として検知することができるもの
である。
【0004】以下に従来の光磁界センサについて説明す
る。図7は従来の光磁界センサの構成を示すものであ
る。(National Technical Report Vol.38 No.2 P.127
(1992))図7において、2、7はレンズ、3は偏光子、
4は磁気光学結晶、5は検光子、6は全反射ミラー、9
は光ファイバである。偏光子3 および 検光子5は一辺
が5mmの立方体の偏光ビームスプリッタを使用し、全
反射ミラー6も一辺が5mmの立方体である。
【0005】以上のように構成された光磁界センサにつ
いて、以下その動作について説明する。光ファイバ9に
入射した入射光aはレンズ2で平行光となり、偏光子3
で直線偏光となった光線が磁気光学結晶4、偏光子3に
対して透過偏光方向を45度異なるように配置した検光
子5を通過し、全反射ミラー6で反射し、レンズ7で光
ファイバ9に集光し、出射光bとして伝送される。磁気
光学結晶4に入射した光線はファラデー効果により、そ
の偏光方向は印加された磁界(すなわち磁気光学結晶4
を透過する磁界)の強度Hに比例した回転を受け、検光
子5を通過する。このとき検光子5を透過する光量は回
転角θに比例し、電流の変化を光量の変化として検知す
ることができるものである。
【0006】また、このような光磁界センサを用いて、
電線に流れる電流を測定する場合の構成を図8に示す。
電線30を貫通させた、ギャップを有するコア29のギ
ャップ部に光磁界センサ24を設置し、光源25からの
光を光ファイバ26により光磁界センサ24に入射し、
前記原理に基づき、ギャップ部に発生する磁界の変化に
比例して変化した光量を光ファイバ26で光検出部27
で受光し、信号処理用電気回路28で電流計測処理を行
うものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ギャップを有するコア
のギャップ部に光磁界センサを設置し、ギャップ部に発
生する磁界を検知し電流計測を行う場合、ギャップ間距
離が狭いほどギャップ部に発生する磁界が大きくなり、
光磁界センサ全体としての感度が向上すること、またこ
のギャップ間距離が広い場合、周囲の不要な磁界の影響
を受けやすく、電線に流れる電流により発生した磁界の
みを精度良く測定できないということが一般的に知られ
ている。
【0008】図9に、コアのギャップ間距離とギャップ
部に発生する磁界強度との関係について示す。図9
(a)において、電線30に流れる電流をI、コア29
のギャップ間距離をLg、ギャップ部に発生する磁界強
度をHgとした場合、一般的に式1のように表すことが
できる。
【0009】
【数1】Hg=(I/Lg)×4π×10-3 例えば、I=200A、Lg=20mm(0.02m)
の場合、発生磁界Hgは125.7 Oe となる。図9
(b)に、印加電流200Aの時の式1の計算結果を示
す。
【0010】図7の従来の構成では、コアのギャップ内
の磁界が光磁界センサ内の磁気光学結晶を透過する方向
に配置するためには、少なくとも15mm以上のギャッ
プ間距離が必要となり、より高感度化、高精度化を行う
場合の妨げとなっている。
【0011】すなわち、より高感度で、より高精度な光
磁界センサを実現するためには、コアのギャップ間距離
を極力狭くすることが必要となる。
【0012】本発明は、このような従来のセンサの課題
を考慮し、コアのギャップ間距離を極力狭くし、より高
感度で、より高精度な光磁界センサを実現することを目
的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の光磁界センサは、本発明は、集束形ロッドレ
ンズの一方の端面に配置された入射用光ファイバ及び出
射用光ファイバと、その集束形ロッドレンズの他方の側
に配置された第一の全反射ミラー及び第二の全反射ミラ
ーと、その第一、第二の全反射ミラーとの間に配置され
た磁気光学結晶とを備えた光磁界センサである。
【0014】この構成によって、光磁界センサを構成す
る各々の光学部品を、集束形ロッドレンズの直径以内に
配置することが可能となり、コアのギャップ内の磁界が
光磁界センサ内の磁気光学結晶を透過する方向に光磁界
センサ配置する場合のコアのギャップ間距離は、基本的
にほぼ集束形ロッドレンズの直径程度とすることがで
き、コアのギャップ間距離を極力狭くすることが可能と
なり、より高感度で、より高精度な光磁界センサを実現
することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】請求項1の本発明は、集束形ロッ
ドレンズの一方の端面に配置された入射用光ファイバ及
び出射用光ファイバと、その集束形ロッドレンズの他方
の側に配置された第一の全反射ミラー及び第二の全反射
ミラーと、その第一、第二の全反射ミラーとの間に配置
された磁気光学結晶とを備え、前記入射用光ファイバか
ら出射した光線を前記集束形ロッドレンズで集束光と
し、前記集束光の光軸が前記集束形ロッドレンズの中心
軸に対してほぼ垂直となり、さらに前記集束光が前記集
束形ロッドレンズの中心軸上に集光するように、前記第
一の全反射ミラーで前記集束光を反射させ、この前記集
束光が前記集束形ロッドレンズの中心軸を通過し発散光
となった光線を、前記集束形ロッドレンズの中心軸を基
準にして実質上対称状態となる位置に配置された前記第
二の全反射ミラーで反射させ、この前記発散光を前記集
束形ロッドレンズで再度集光光とし、前記出射用光ファ
イバに集光させることを特徴とする光磁界センサであ
る。
【0016】ここに、集束形ロッドレンズの一方の端面
に入射用光ファイバと出射用光ファイバとを各々配置
し、前記入射用光ファイバから出射した光線を前記集束
形ロッドレンズで集束光とし、前記集束光の光軸が前記
集束形ロッドレンズの中心軸に対してほぼ垂直となり、
さらに前記集束光が前記集束形ロッドレンズの中心軸上
に集光するように、第一の全反射ミラーで前記集束光を
反射させ、この前記集束光が前記集束形ロッドレンズの
中心軸を通過し発散光となった光線を、前記集束形ロッ
ドレンズの中心軸を基準にして線対称となる位置に配置
した第二の全反射ミラーで反射させ、この前記発散光を
前記集束形ロッドレンズで再度集光光とし、前記出射用
光ファイバに集光させる光学系を構成し、前記第一の全
反射ミラーで反射した光線が前記集束形ロッドレンズの
中心軸上に集光する位置に磁気光学結晶を、前記集光位
置が前記磁気光学結晶のほぼ中心に位置するように配置
し、さらに第一の全反射ミラーと前記磁気光学結晶との
間に偏光子を配置し、また前記磁気光学結晶と前記第二
の全反射ミラーとの間に、前記偏光子の透過偏光方向に
対して45度異なる透過偏光方向を有する検光子を配置
する。
【0017】以下本発明の一実施の形態例について、図
面を参照しながら説明する。
【0018】図1は、本発明の一実施の形態例を示す構
成図である。また図2は、図1の要部(図1中A部)の
拡大図である。図において1は入射用光ファイバ、2は
集束形ロッドレンズ、3は第一の全反射ミラー、4は偏
光子、5は磁気光学結晶、6は検光子、7は第二の全反
射ミラー、8は出射用光ファイバである。
【0019】集束形ロッドレンズ2の一方の端面に入射
用光ファイバ1と出射用光ファイバ8とを各々配置し、
入射用光ファイバ1から出射した光線を集束形ロッドレ
ンズ2で図中の光線軌跡のような集束光とし、この集束
光を、その光軸が集束形ロッドレンズ2の中心軸に対し
てほぼ垂直となり、さらに集束光が集束形ロッドレンズ
2の中心軸上に集光するように、第一の全反射ミラー3
で集束光を反射させる。次に、この集束光が集束形ロッ
ドレンズ2の中心軸を通過し発散光となった光線を、集
束形ロッドレンズ2の中心軸を基準にして線対称となる
位置に配置した第二の全反射ミラー7で反射させ、この
発散光を集束形ロッドレンズ2で再度図中の光線軌跡の
ような集束光とし、出射用光ファイバ8に集光させる光
学系を構成する。さらに、第一の全反射ミラー3で反射
した光線が集束形ロッドレンズ2の中心軸上に集光する
位置に、磁気光学結晶5を、集光位置が磁気光学結晶5
のほぼ中心に位置するように配置し、さらに第一の全反
射ミラー3と磁気光学結晶5との間に偏光子4を配置
し、また磁気光学結晶5と第二の全反射ミラー7との間
に、偏光子4の透過偏光方向に対して45度異なる透過
偏光方向を有する検光子6を配置し、被測定磁界が磁気
光学結晶5を透過する方向に光磁界センサを配置するこ
とにより、磁界を測定するものである。
【0020】ここで、偏光子4、磁気光学結晶5および
検光子6は、第一の全反射ミラー3と第二の全反射ミラ
ー7との間に上記の順番で配置されていれば良く、製造
時の作業性等を考慮し、偏光子4、磁気光学結晶5およ
び検光子6をあらかじめ一体化加工を施して配置しても
良い。
【0021】また、集束形ロッドレンズ2からの出射光
を集束光とするためには、集束形ロッドレンズ2のレン
ズ内の光線の蛇行周期(ピッチ)を選定する必要があ
る。
【0022】一般的に、集束形ロッドレンズの長さを
Z、中心軸上の屈折率をN0、屈折率分布定数をAと
し、集束形ロッドレンズへの入射光線の入射位置の中心
軸上からの距離をR1、入射光線の入射角度をθ1とする
と、集束形ロッドレンズからの出射光線の出射位置の中
心軸上からの距離R2 および 出射光線の出射角度θ2は
式2のように表される。
【0023】
【数2】R2=R1・cos(A・Z)+θ1・(1/N0・
A)・sin(A・Z) θ2=−R1・N0・A・sin(A・Z)+θ1・cos(A・
Z) ここで一実施の形態例として、直径2mmφ、レンズ内
の光線の蛇行周期0.35P,屈折率分布定数0.24
3、中心軸上の屈折率1.557 の使用波長830nm
用集束形ロッドレンズを使用した場合について述べる。
この集束形ロッドレンズの長さZは、レンズ内の光線の
蛇行周期をPとすると式3で求められ、約9mmであ
る。
【0024】
【数3】Z=(P×2π)/A 集束形ロッドレンズ2の入射端面の中心軸から0.5m
mの位置に入射用光ファイバ1の中心軸が位置するよう
に配置する。集束形ロッドレンズ2への入射光の広がり
半角は0.21rad.程度であり、式2より計算すると、
光軸のレンズ出射角は約−8.84度、図1中上方広が
り光線の出射角が約−15.8度、図1中下方広がり光
線の出射角が約−1.9度となり、集束光となっている
ことがわかる。ここで、図1中下方広がり光線の出射角
に注目し、この出射角をほぼ0度に近い角度に設定する
ことにより、第一の全反射ミラー3、第二の全反射ミラ
ー7を集束形ロッドレンズ2の中心軸からの半径方向へ
の距離が集束形ロッドレンズ2の半径以内に位置するよ
うに配置することができる。これにより、磁気光学結晶
5、偏光子4、検光子6も集束形ロッドレンズ2の半径
以内に位置するように配置することができ、コア29の
ギャップへ設置する光磁界センサ部の幅を、ほぼ集束形
ロッドレンズ2の直径以内とすることができる。
【0025】尚、本実施の形態例では、0.35Pの集
束形ロッドレンズについて述べたが、集束形ロッドレン
ズ2からの出射光を集束光とするには、集束形ロッドレ
ンズのレンズ内の光線の蛇行周期(ピッチ)をPと表し
たとき、0.25 < P < 0.5の範囲のピッチを有す
る集束形ロッドレンズを使用することで可能となる。
【0026】さらに、図3に示す透明ブロック体9を準
備し、図4に示すように、第一の全反射ミラー3、偏光
子4、磁気光学結晶5、検光子6、第二の全反射ミラー
7を各々所定の角度で、所定の位置に配置し、集束形ロ
ッドレンズと接続することにより、比較的簡便に製作が
可能となるものである。図5に、この透明ブロック体9
を使用した光磁界センサの要部拡大図を示す。上述した
場合と同様に所望の効果が得られることは言うまでもな
い。
【0027】以上のように本実施の形態例によれば、集
束形ロッドレンズの一方の端面に入射用光ファイバと出
射用光ファイバとを各々配置し、前記入射用光ファイバ
から出射した光線を前記集束形ロッドレンズで集束光と
し、前記集束光の光軸が前記集束形ロッドレンズの中心
軸に対してほぼ垂直となり、さらに前記集束光が前記集
束形ロッドレンズの中心軸上に集光するように、第一の
全反射ミラーで前記集束光を反射させ、この前記集束光
が前記集束形ロッドレンズの中心軸を通過し発散光とな
った光線を、前記集束形ロッドレンズの中心軸を基準に
して線対称となる位置に配置した第二の全反射ミラーで
反射させ、この前記発散光を前記集束形ロッドレンズで
再度集光光とし、前記出射用光ファイバに集光させる光
学系を構成し、前記第一の全反射ミラーで反射した光線
が前記集束形ロッドレンズの中心軸上に集光する位置に
磁気光学結晶を、前記集光位置が前記磁気光学結晶のほ
ぼ中心に位置するように配置し、さらに第一の全反射ミ
ラーと前記磁気光学結晶との間に偏光子を配置し、また
前記磁気光学結晶と前記第二の全反射ミラーとの間に、
前記偏光子の透過偏光方向に対して45度異なる透過偏
光方向を有する検光子を配置し、前記偏光子と前記磁気
光学結晶 および 前記検光子とを一体化して配置し、集
束形ロッドレンズのレンズ内の光線の蛇行周期(ピッ
チ)をPと表したとき、 0.25 < P < 0.5 の範囲のピッチを有する集束形ロッドレンズを使用し、
前記磁気光学結晶、前記偏光子、前記検光子、前記第一
の全反射ミラー および 前記第二の全反射ミラーを、前
記集束形ロッドレンズの中心軸からの半径方向への距離
が前記集束形ロッドレンズの半径以内に位置するように
配置し、さらに、前記集束形ロッドレンズからの出射光
が、前記第一の全反射ミラーで反射し、前記偏光子、前
記磁気光学結晶 および 前記検光子を透過し、前記第二
の全反射ミラーで反射し、前記集束形ロッドレンズで前
記出射用光ファイバに集光するように、透明ブロック体
の所定の位置に、前記第一の全反射ミラー、前記偏光
子、前記磁気光学結晶、前記検光子 および 前記第二の
全反射ミラーを配置固定することにより、光磁界センサ
を構成する各々の光学部品を、集束形ロッドレンズの直
径以内に配置することが可能となり、コアのギャップ内
の磁界が光磁界センサ内の磁気光学結晶を透過する方向
に光磁界センサ配置する場合のコアのギャップ間距離
は、基本的にほぼ集束形ロッドレンズの直径程度とする
ことができ、コアのギャップ間距離を極力狭くすること
が可能となり、より高感度で、より高精度な光磁界セン
サを実現することができる。
【0028】
【発明の効果】以上述べたところから明らかなように、
本発明は、光磁界センサを構成する各々の光学部品を、
集束形ロッドレンズの直径以内に配置することができ、
コアのギャップ内の磁界が光磁界センサ内の磁気光学結
晶を透過する方向に光磁界センサ配置する場合のコアの
ギャップ間距離は、基本的にほぼ集束形ロッドレンズの
直径程度とすることができ、コアのギャップ間距離を極
力狭くすることが可能となった。その結果、より高感度
で、より高精度な光磁界センサを実現することができる
ものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態例における光磁界センサ
の構成図
【図2】本発明の一実施の形態例における光磁界センサ
の構成の要部拡大図
【図3】本発明の一実施の形態例に使用する透明ブロッ
ク体の概略図
【図4】透明ブロック体への主要部品配置図
【図5】透明ブロック体を使用した光磁界センサの要部
拡大図
【図6】光磁界センサ原理図
【図7】従来の光磁界センサの構成図
【図8】光磁界センサによる電流測定構成図
【図9】コアのギャップ間距離と発生磁界の関係をしめ
す図
【符号の説明】
1 ・・・・・・ 入射用光ファイバ 2 ・・・・・・ 集束形ロッドレンズ 3 ・・・・・・ 第一の全反射ミラー 4 ・・・・・・ 偏光子 5 ・・・・・・ 磁気光学結晶 6 ・・・・・・ 検光子 7 ・・・・・・ 第二の全反射ミラー 8 ・・・・・・ 出射用光ファイバ 9 ・・・・・・ 透明ブロック体

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】集束形ロッドレンズの一方の端面に配置さ
    れた入射用光ファイバ及び出射用光ファイバと、その集
    束形ロッドレンズの他方の側に配置された第一の全反射
    ミラー及び第二の全反射ミラーと、その第一、第二の全
    反射ミラーとの間に配置された磁気光学結晶とを備え、
    前記入射用光ファイバから出射した光線を前記集束形ロ
    ッドレンズで集束光とし、前記集束光の光軸が前記集束
    形ロッドレンズの中心軸に対してほぼ垂直となり、さら
    に前記集束光が前記集束形ロッドレンズの中心軸上に集
    光するように、前記第一の全反射ミラーで前記集束光を
    反射させ、この前記集束光が前記集束形ロッドレンズの
    中心軸を通過し発散光となった光線を、前記集束形ロッ
    ドレンズの中心軸を基準にして実質上対称状態となる位
    置に配置された前記第二の全反射ミラーで反射させ、こ
    の前記発散光を前記集束形ロッドレンズで再度集光光と
    し、前記出射用光ファイバに集光させることを特徴とす
    る光磁界センサ。
  2. 【請求項2】前記第一の全反射ミラーで反射した光線が
    前記集束形ロッドレンズの中心軸上に集光する位置が前
    記磁気光学結晶のほぼ中心に位置し、さらに第一の全反
    射ミラーと前記磁気光学結晶との間に偏光子を配置し、
    また前記磁気光学結晶と前記第二の全反射ミラーとの間
    に、前記偏光子の透過偏光方向に対して実質上45度異
    なる透過偏光方向を有する検光子を配置したことを特徴
    とする請求項1に記載の光磁界センサ。
  3. 【請求項3】集束形ロッドレンズのレンズ内の光線の蛇
    行周期(ピッチ)をPと表したとき、0.25 < P <
    0.5の範囲のピッチを有する集束形ロッドレンズを使
    用することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の
    光磁界センサ。
  4. 【請求項4】前記磁気光学結晶、前記偏光子、前記検光
    子、前記第一の全反射ミラーおよび前記第二の全反射ミ
    ラーを、前記集束形ロッドレンズの中心軸からの半径方
    向への距離が前記集束形ロッドレンズの半径以内に位置
    するように配置させたことを特徴とする請求項2に記載
    の光磁界センサ。
  5. 【請求項5】前記集束形ロッドレンズからの出射光が、
    前記第一の全反射ミラーで反射し、前記偏光子、前記磁
    気光学結晶および前記検光子を透過し、前記第二の全反
    射ミラーで反射し、前記集束形ロッドレンズで前記出射
    用光ファイバに集光するように、透明ブロック体の所定
    の位置に、前記第一の全反射ミラー、前記偏光子、前記
    磁気光学結晶、前記検光子および前記第二の全反射ミラ
    ーを配置固定することを特徴とする請求項2に記載の光
    磁界センサ。
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