JPH09134810A - トリミング方法 - Google Patents
トリミング方法Info
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- JPH09134810A JPH09134810A JP7291219A JP29121995A JPH09134810A JP H09134810 A JPH09134810 A JP H09134810A JP 7291219 A JP7291219 A JP 7291219A JP 29121995 A JP29121995 A JP 29121995A JP H09134810 A JPH09134810 A JP H09134810A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 トリミングにより所定特性に到達する際に、
トリミング長さの増加に対する回路基板の特性の変化率
が必ず小さくなり、微細な特性調整が可能なトリミング
方法の提供。 【解決手段】 トリミング部品１について、各トリミン
グライン〜の位置と、各トリミングライン〜の
所定トリミング長さＴ0 と、計測特性が所定特性に到達
する少し前の段階で次のトリミングラインに切り替える
基準になる切替え特性とを予め設定し、前記計測特性を
確認しながらレーザビームによるトリミングを行い、前
記の確認した計測特性が前記切替え特性に到達した時点
で、そのトリミングラインを次のトリミングライン
に切替え、前記の確認した計測特性が前記所定特性に到
達した時点でトリミングを終了する。
トリミング長さの増加に対する回路基板の特性の変化率
が必ず小さくなり、微細な特性調整が可能なトリミング
方法の提供。 【解決手段】 トリミング部品１について、各トリミン
グライン〜の位置と、各トリミングライン〜の
所定トリミング長さＴ0 と、計測特性が所定特性に到達
する少し前の段階で次のトリミングラインに切り替える
基準になる切替え特性とを予め設定し、前記計測特性を
確認しながらレーザビームによるトリミングを行い、前
記の確認した計測特性が前記切替え特性に到達した時点
で、そのトリミングラインを次のトリミングライン
に切替え、前記の確認した計測特性が前記所定特性に到
達した時点でトリミングを終了する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品をトリミ
ングして電気特性を調整するトリミング方法に関し、特
に、レーザビームで電子部品をトリミングするトリミン
グ方法に関するものである。
ングして電気特性を調整するトリミング方法に関し、特
に、レーザビームで電子部品をトリミングするトリミン
グ方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、電子部品の電気特性を所定特
性に調整するために、レーザビームで前記電子部品の被
トリミング部をトリミングしたり、回路基板の回路特性
を所定特性に調整するために、前記回路基板に実装した
電子部品の被トリミング部を前記回路基板の回路特性を
計測しながらレーザビームでトリミングするトリミング
方法が行われている。
性に調整するために、レーザビームで前記電子部品の被
トリミング部をトリミングしたり、回路基板の回路特性
を所定特性に調整するために、前記回路基板に実装した
電子部品の被トリミング部を前記回路基板の回路特性を
計測しながらレーザビームでトリミングするトリミング
方法が行われている。
【０００３】レーザビームによるトリミング方法の従来
例を図４、図５に基づいて説明する。
例を図４、図５に基づいて説明する。
【０００４】従来例では、例えば、回路基板の回路特性
を計測しながらレーザビームで前記回路基板に実装され
たトリミング対象となる電子部品（トリミング部品）の
トリミング部をトリミングして前記回路特性を所定特性
に調整する場合、図４に示すように、予め、トリミング
すべき抵抗部品１について、トリミングするトリミング
ラインの所定トリミング長さＴ0 を設定しておき、先
ず、前記抵抗部品１の抵抗体２の対向するＡＢ辺とＣＤ
辺とを認識手段で認識し、認識結果に基づいて、レーザ
ビームの第１、第２、第３照射開始点３ａ、３ｂ、３ｃ
と、前記各照射開始点３ａ、３ｂ、３ｃからのトリミン
グ方向とを設定する。この場合、前記第１照射開始点３
ａは第１本目のトリミングを開始する点、前記第２照射
開始点３ｂは第２本目のトリミングを開始する点、前記
第３照射開始点３ｃは第３本目のトリミングを開始する
点であり、これらの点と前記トリミング方向とは、前記
抵抗体２のトリミング後の電気通路がジグザグ型になる
ように設定される。
を計測しながらレーザビームで前記回路基板に実装され
たトリミング対象となる電子部品（トリミング部品）の
トリミング部をトリミングして前記回路特性を所定特性
に調整する場合、図４に示すように、予め、トリミング
すべき抵抗部品１について、トリミングするトリミング
ラインの所定トリミング長さＴ0 を設定しておき、先
ず、前記抵抗部品１の抵抗体２の対向するＡＢ辺とＣＤ
辺とを認識手段で認識し、認識結果に基づいて、レーザ
ビームの第１、第２、第３照射開始点３ａ、３ｂ、３ｃ
と、前記各照射開始点３ａ、３ｂ、３ｃからのトリミン
グ方向とを設定する。この場合、前記第１照射開始点３
ａは第１本目のトリミングを開始する点、前記第２照射
開始点３ｂは第２本目のトリミングを開始する点、前記
第３照射開始点３ｃは第３本目のトリミングを開始する
点であり、これらの点と前記トリミング方向とは、前記
抵抗体２のトリミング後の電気通路がジグザグ型になる
ように設定される。
【０００５】次いで、前記回路基板の回路特性を計測し
ながら、レーザビームで前記第１照射開始点３ａから前
記トリミング方向にトリミングし、若し、前記所定トリ
ミング長さＴ0 をトリミングするまでに、計測している
前記回路基板の回路特性が所定特性に到達すれば、その
時点でトリミングを終了する。若し、前記所定トリミン
グ長さＴ0 をトリミングして第１トリミング終了位置４
ａに到達しても、計測している前記回路基板の回路特性
が所定特性にならない場合には、前記第２照射開始点３
ｂから第２本目のトリミングを開始し、若し、前記所定
トリミング長さＴ0 をトリミングして第２トリミング終
了位置４ｂに到達しても、計測している前記回路基板の
回路特性が所定特性にならない場合には、前記第３照射
開始点３ｃから第３本目のトリミングを開始し、計測し
ている前記回路基板の回路特性が所定特性になったトリ
ミング長さＴ1 の第３トリミング終了位置４ｃでトリミ
ングを終了する。尚、第１トリミングライン５ａと第２
トリミングライン５ｂと第３トリミングライン５ｃとの
隣接間隔が所定間隔Ｘになるように前記第１、第２、第
３照射開始点３ａ、３ｂ、３ｃの位置を設定する。
ながら、レーザビームで前記第１照射開始点３ａから前
記トリミング方向にトリミングし、若し、前記所定トリ
ミング長さＴ0 をトリミングするまでに、計測している
前記回路基板の回路特性が所定特性に到達すれば、その
時点でトリミングを終了する。若し、前記所定トリミン
グ長さＴ0 をトリミングして第１トリミング終了位置４
ａに到達しても、計測している前記回路基板の回路特性
が所定特性にならない場合には、前記第２照射開始点３
ｂから第２本目のトリミングを開始し、若し、前記所定
トリミング長さＴ0 をトリミングして第２トリミング終
了位置４ｂに到達しても、計測している前記回路基板の
回路特性が所定特性にならない場合には、前記第３照射
開始点３ｃから第３本目のトリミングを開始し、計測し
ている前記回路基板の回路特性が所定特性になったトリ
ミング長さＴ1 の第３トリミング終了位置４ｃでトリミ
ングを終了する。尚、第１トリミングライン５ａと第２
トリミングライン５ｂと第３トリミングライン５ｃとの
隣接間隔が所定間隔Ｘになるように前記第１、第２、第
３照射開始点３ａ、３ｂ、３ｃの位置を設定する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来例
の構成では、回路基板の特性の調整精度にバラツキが発
生するのを避けられないという問題点があった。
の構成では、回路基板の特性の調整精度にバラツキが発
生するのを避けられないという問題点があった。
【０００７】この問題点の原因を調べた結果、先ず、ト
リミングにより回路基板の特性を調整する場合、トリミ
ングにより所定特性に到達する際に、トリミング長さの
増加に対する回路基板の特性の変化率が小さい程、微細
な調整が可能で、調整精度が良くなり、前記変化率が大
きいと、微細な調整が困難で、調整精度にバラツキが発
生するということが判明した。
リミングにより回路基板の特性を調整する場合、トリミ
ングにより所定特性に到達する際に、トリミング長さの
増加に対する回路基板の特性の変化率が小さい程、微細
な調整が可能で、調整精度が良くなり、前記変化率が大
きいと、微細な調整が困難で、調整精度にバラツキが発
生するということが判明した。
【０００８】次いで、トリミングラインで電流通路をジ
グザグ型に形成しながら特性を調整するトリミング方法
では、図６に示すように、トリミングラインの本数の増
加に伴って計測回路特性の変化率が減少する場合と、図
７に示すように、各トリミングライン毎に、計測回路特
性の変化率が始めは小さくて次第に増加する場合とがあ
ることが判明した。
グザグ型に形成しながら特性を調整するトリミング方法
では、図６に示すように、トリミングラインの本数の増
加に伴って計測回路特性の変化率が減少する場合と、図
７に示すように、各トリミングライン毎に、計測回路特
性の変化率が始めは小さくて次第に増加する場合とがあ
ることが判明した。
【０００９】最後に、トリミングすべき所定トリミング
長さＴ0 を予め設定する従来例のトリミング方法では、
図６の場合には、３本目のトリミングラインによる計測
回路特性の変化率が、調整精度の限界を決め、それ以上
の調整精度を望めないという問題点があり、図７の場合
には、３本目のトリミングラインの前半に所定回路特性
に到達すれば前記変化率が小さいので調整精度が良い
が、トリミングラインの後半に所定回路特性に到達すれ
ば前記変化率が大きくなっているので調整精度が悪くな
るという問題点があることが判明した。
長さＴ0 を予め設定する従来例のトリミング方法では、
図６の場合には、３本目のトリミングラインによる計測
回路特性の変化率が、調整精度の限界を決め、それ以上
の調整精度を望めないという問題点があり、図７の場合
には、３本目のトリミングラインの前半に所定回路特性
に到達すれば前記変化率が小さいので調整精度が良い
が、トリミングラインの後半に所定回路特性に到達すれ
ば前記変化率が大きくなっているので調整精度が悪くな
るという問題点があることが判明した。
【００１０】本発明は、上記の問題点を解決し、トリミ
ングにより所定特性に到達する際に、トリミング長さの
増加に対する回路基板の特性の変化率が必ず小さくな
り、微細な特性調整が可能なトリミング方法の提供を課
題とする。
ングにより所定特性に到達する際に、トリミング長さの
増加に対する回路基板の特性の変化率が必ず小さくな
り、微細な特性調整が可能なトリミング方法の提供を課
題とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本願第１発明のトリミン
グ方法は、ジグザグな電気通路を形成するようにトリミ
ング部品をトリミングしながら、前記トリミング部品の
特性又は前記トリミング部品を実装した回路基板の回路
特性を計測し、得られる計測特性が、図２に示すよう
に、トリミングラインの切替えによって回路基板の計測
特性が所定特性に収斂するように変化する場合に使用す
るものである。即ち、前記トリミング部品について、ト
リミングすべき各トリミングラインの位置と、前記各ト
リミングラインの所定トリミング長さと、前記の計測特
性が前記所定特性に到達する少し前の段階で次のトリミ
ングラインに切り替える基準になる切替え特性とを予め
設定し、前記の計測特性を確認しながら前記レーザビー
ムによるトリミングを行い、前記の確認した計測特性が
前記切替え特性に到達した時点で、そのトリミングライ
ンを次のトリミングラインに切替え、前記の確認した計
測特性が前記所定特性に到達した時点でトリミングを終
了することにより、計測特性が前記所定特性に到達する
少し前の段階でのトリミングラインの切替えを行わない
従来例に比較して、計測特性が、常に、より小さい変化
率の状態で前記所定特性に到達するので、より微細な回
路特性の調整が可能になる。
グ方法は、ジグザグな電気通路を形成するようにトリミ
ング部品をトリミングしながら、前記トリミング部品の
特性又は前記トリミング部品を実装した回路基板の回路
特性を計測し、得られる計測特性が、図２に示すよう
に、トリミングラインの切替えによって回路基板の計測
特性が所定特性に収斂するように変化する場合に使用す
るものである。即ち、前記トリミング部品について、ト
リミングすべき各トリミングラインの位置と、前記各ト
リミングラインの所定トリミング長さと、前記の計測特
性が前記所定特性に到達する少し前の段階で次のトリミ
ングラインに切り替える基準になる切替え特性とを予め
設定し、前記の計測特性を確認しながら前記レーザビー
ムによるトリミングを行い、前記の確認した計測特性が
前記切替え特性に到達した時点で、そのトリミングライ
ンを次のトリミングラインに切替え、前記の確認した計
測特性が前記所定特性に到達した時点でトリミングを終
了することにより、計測特性が前記所定特性に到達する
少し前の段階でのトリミングラインの切替えを行わない
従来例に比較して、計測特性が、常に、より小さい変化
率の状態で前記所定特性に到達するので、より微細な回
路特性の調整が可能になる。
【００１２】本願第２発明のトリミング方法は、ジグザ
グな電気通路を形成するようにトリミング部品をトリミ
ングしながら、前記トリミング部品の特性又は前記トリ
ミング部品を実装した回路基板の回路特性を計測し、得
られる計測特性が、図３に示すように、トリミングライ
ンの切替えによる抵抗部品の特性変化の傾向が略そのま
ま回路基板の特性変化に反映し、各トリミングラインで
トリミング長さが長くなると、回路基板の計測特性の変
化率が大きくなっていく場合に使用するものである。即
ち、前記トリミング部品について、トリミングすべき各
トリミングラインの位置と、前記各トリミングラインの
所定トリミング長さと、前記の計測特性が前記所定特性
に到達する少し前の段階で次のトリミングラインに切り
替える基準になる前記の計測特性の許容最大特性変化率
とを予め設定し、前記の計測特性の変化率を確認しなが
ら前記レーザビームによるトリミングを行い、前記の確
認した計測特性の変化率が前記許容最大特性変化率に到
達した時点で、そのトリミングラインを次のトリミング
ラインに切替え、前記の確認した計測特性が前記所定特
性に到達した時点でトリミングを終了することにより、
計測特性が前記所定特性に到達する少し前の段階でのト
リミングラインの切替えを行わない従来例に比較して、
計測特性が、常に、より小さい変化率の状態で前記所定
特性に到達するので、より微細な回路特性の調整が可能
になる。
グな電気通路を形成するようにトリミング部品をトリミ
ングしながら、前記トリミング部品の特性又は前記トリ
ミング部品を実装した回路基板の回路特性を計測し、得
られる計測特性が、図３に示すように、トリミングライ
ンの切替えによる抵抗部品の特性変化の傾向が略そのま
ま回路基板の特性変化に反映し、各トリミングラインで
トリミング長さが長くなると、回路基板の計測特性の変
化率が大きくなっていく場合に使用するものである。即
ち、前記トリミング部品について、トリミングすべき各
トリミングラインの位置と、前記各トリミングラインの
所定トリミング長さと、前記の計測特性が前記所定特性
に到達する少し前の段階で次のトリミングラインに切り
替える基準になる前記の計測特性の許容最大特性変化率
とを予め設定し、前記の計測特性の変化率を確認しなが
ら前記レーザビームによるトリミングを行い、前記の確
認した計測特性の変化率が前記許容最大特性変化率に到
達した時点で、そのトリミングラインを次のトリミング
ラインに切替え、前記の確認した計測特性が前記所定特
性に到達した時点でトリミングを終了することにより、
計測特性が前記所定特性に到達する少し前の段階でのト
リミングラインの切替えを行わない従来例に比較して、
計測特性が、常に、より小さい変化率の状態で前記所定
特性に到達するので、より微細な回路特性の調整が可能
になる。
【００１３】尚、本願第１発明のトリミング方法は、本
願第２発明のトリミング方法が対象とするトリミングに
よる回路特性の変化パターンに対しても有効であるのは
勿論である。
願第２発明のトリミング方法が対象とするトリミングに
よる回路特性の変化パターンに対しても有効であるのは
勿論である。
【００１４】
【発明の実施の形態】トリミング部品を実装した回路基
板の回路特性を計測しながらレーザビームで前記トリミ
ング部品の被トリミング部をトリミングして前記回路基
板の回路特性を所定特性に調整する場合の本発明のトリ
ミング方法の一実施形態を図１〜図３に基づいて説明す
る。
板の回路特性を計測しながらレーザビームで前記トリミ
ング部品の被トリミング部をトリミングして前記回路基
板の回路特性を所定特性に調整する場合の本発明のトリ
ミング方法の一実施形態を図１〜図３に基づいて説明す
る。
【００１５】先ず、図２、図３に基づいて、本発明の原
理を説明する。
理を説明する。
【００１６】即ち、トリミング部品をトリミングしなが
ら回路基板の回路特性を計測すると、回路基板の回路特
性は、大きく分けて、図２又は図３に示すように変化す
る。
ら回路基板の回路特性を計測すると、回路基板の回路特
性は、大きく分けて、図２又は図３に示すように変化す
る。
【００１７】図２は、トリミングラインの切替えによっ
て回路基板の計測特性が所定特性に収斂するように変化
する場合であり、この場合には、トリミングラインを切
り替えることにより、回路基板の計測特性の変化率が切
替えの都度小さくなるので、トリミングによって変化す
る回路基板の計測特性が所定特性に到達する少し前に前
記のトリミングラインを切り替えるべき回路基板の切替
え特性に到達するように設定しておき、この切替え特性
に到達した時点でトリミングラインを切り替える。この
ようにすると、例えば、切替えないでの勾配で所定特
性に到達するのに比較して、切り替えたの勾配で所定
特性に到達すると、より微細な調整が可能になることが
明らかである。
て回路基板の計測特性が所定特性に収斂するように変化
する場合であり、この場合には、トリミングラインを切
り替えることにより、回路基板の計測特性の変化率が切
替えの都度小さくなるので、トリミングによって変化す
る回路基板の計測特性が所定特性に到達する少し前に前
記のトリミングラインを切り替えるべき回路基板の切替
え特性に到達するように設定しておき、この切替え特性
に到達した時点でトリミングラインを切り替える。この
ようにすると、例えば、切替えないでの勾配で所定特
性に到達するのに比較して、切り替えたの勾配で所定
特性に到達すると、より微細な調整が可能になることが
明らかである。
【００１８】又、図３は、トリミングラインの切替えに
よる抵抗部品の特性変化の傾向がそのまま回路基板の特
性変化に反映する場合である。この場合には、各トリミ
ングラインでトリミング長さが長くなると、回路基板の
計測特性の変化率が大きくなっていく、この計測特性の
変化率がある程度以上に大きくなると、回路特性の微細
な調整が困難になるので、確認している回路基板の計測
特性の変化率が許容最大特性変化率に到達した時点でト
リミングラインを切り替える。このようにすると、例え
ば、切替えないでの勾配で所定特性に到達するのに比
較して、切り替えたの前半の勾配で所定特性に到達す
ると、より微細な調整が可能になることが明らかであ
る。
よる抵抗部品の特性変化の傾向がそのまま回路基板の特
性変化に反映する場合である。この場合には、各トリミ
ングラインでトリミング長さが長くなると、回路基板の
計測特性の変化率が大きくなっていく、この計測特性の
変化率がある程度以上に大きくなると、回路特性の微細
な調整が困難になるので、確認している回路基板の計測
特性の変化率が許容最大特性変化率に到達した時点でト
リミングラインを切り替える。このようにすると、例え
ば、切替えないでの勾配で所定特性に到達するのに比
較して、切り替えたの前半の勾配で所定特性に到達す
ると、より微細な調整が可能になることが明らかであ
る。
【００１９】次に、本発明の一実施形態を図１〜図３に
基づいて説明する。
基づいて説明する。
【００２０】図１〜図３に示す本実施形態は、従来例の
トリミング方法でＮ本のトリミングラインで行うトリミ
ングを、Ｎ本目のトリミングラインにおいて、上記の図
２、図３の説明のように、計測回路特性が所定特性に到
達する少し前に、Ｎ＋１本目のトリミングラインに切替
えることにより、より微細な調整を可能にするものであ
る。
トリミング方法でＮ本のトリミングラインで行うトリミ
ングを、Ｎ本目のトリミングラインにおいて、上記の図
２、図３の説明のように、計測回路特性が所定特性に到
達する少し前に、Ｎ＋１本目のトリミングラインに切替
えることにより、より微細な調整を可能にするものであ
る。
【００２１】例えば、従来例では３本のトリミングライ
ンで行う場合、図１に示すように、トリミング部品１に
ついて、先ず、従来例と同様に、トリミングすべき各ト
リミングライン、、、の位置と、トリミングラ
インの所定トリミング長さＴ0 とを予め設定し、次い
で、本実施形態の特徴として、図２に示すように、回路
基板の計測特性が所定特性に到達する少し前の段階でト
リミングラインを切り替えるべき基準になる回路基板の
切替え特性と、図３に示すように、回路基板の計測特性
が所定特性に到達する少し前の段階でトリミングライン
を切り替えるべき基準になる回路基板の計測特性の許容
最大特性変化率＝ΔＰM ／Δｘとを予め設定する。そし
て、回路基板の計測特性が前記の切替え特性に近づくま
では前記所定トリミング長さＴ0 によるトリミングライ
ンの切替え作用が働き、最終のトリミングラインの前の
トリミングラインにおいて、前記の２種類の切替え特性
によるトリミングラインの切替えが行われるようにす
る。
ンで行う場合、図１に示すように、トリミング部品１に
ついて、先ず、従来例と同様に、トリミングすべき各ト
リミングライン、、、の位置と、トリミングラ
インの所定トリミング長さＴ0 とを予め設定し、次い
で、本実施形態の特徴として、図２に示すように、回路
基板の計測特性が所定特性に到達する少し前の段階でト
リミングラインを切り替えるべき基準になる回路基板の
切替え特性と、図３に示すように、回路基板の計測特性
が所定特性に到達する少し前の段階でトリミングライン
を切り替えるべき基準になる回路基板の計測特性の許容
最大特性変化率＝ΔＰM ／Δｘとを予め設定する。そし
て、回路基板の計測特性が前記の切替え特性に近づくま
では前記所定トリミング長さＴ0 によるトリミングライ
ンの切替え作用が働き、最終のトリミングラインの前の
トリミングラインにおいて、前記の２種類の切替え特性
によるトリミングラインの切替えが行われるようにす
る。
【００２２】以下に、本実施形態の動作を図１〜図３に
基づいて説明する。
基づいて説明する。
【００２３】図１において、トリミングライン、の
トリミングについては、従来例と同様なので説明を省略
する。
トリミングについては、従来例と同様なので説明を省略
する。
【００２４】図１の３本目のトリミングラインのトリ
ミングを行うと、計測特性は、図２又は図３に示すよう
に変化する。
ミングを行うと、計測特性は、図２又は図３に示すよう
に変化する。
【００２５】若し、図２に示すように変化すると、トリ
ミングラインの切替え毎に、トリミング長さの増加に対
する計測特性の変化率が減少するので、計測特性が前記
切替え特性に到達して、最後のトリミングラインに切替
えられると、より小さな前記計測特性変化率で所定特性
に到達し、微細な調整が可能になる。
ミングラインの切替え毎に、トリミング長さの増加に対
する計測特性の変化率が減少するので、計測特性が前記
切替え特性に到達して、最後のトリミングラインに切替
えられると、より小さな前記計測特性変化率で所定特性
に到達し、微細な調整が可能になる。
【００２６】若し、図３に示すように変化すると、各ト
リミングライン毎に、トリミング長さの増加に対する計
測特性の変化率が、トリミング長さが長くなるに従っ
て、大きくなるので、計測特性の変化率が前記の回路基
板の計測特性の許容最大特性変化率＝ΔＰM ／Δｘに到
達して、最後のトリミングラインに切替えられ、より小
さな計測特性変化率で所定特性に到達し、微細な調整が
可能になる。
リミングライン毎に、トリミング長さの増加に対する計
測特性の変化率が、トリミング長さが長くなるに従っ
て、大きくなるので、計測特性の変化率が前記の回路基
板の計測特性の許容最大特性変化率＝ΔＰM ／Δｘに到
達して、最後のトリミングラインに切替えられ、より小
さな計測特性変化率で所定特性に到達し、微細な調整が
可能になる。
【００２７】尚、図２に示すトリミングによる回路特性
の変化パターンに対する上記の方法は、図３に示すトリ
ミングによる回路特性の変化パターンに対しても有効で
あるのは勿論である。
の変化パターンに対する上記の方法は、図３に示すトリ
ミングによる回路特性の変化パターンに対しても有効で
あるのは勿論である。
【００２８】
【発明の効果】本発明のトリミング方法によると、下記
の効果が得られる。
の効果が得られる。
【００２９】回路基板の計測特性が所定特性に到達する
前にトリミングラインを切り替えるべき回路基板の切替
え特性を設定し、この切替え特性に到達した時点でトリ
ミングラインを切り替えることにより、回路基板特性の
より微細な調整が可能になる。
前にトリミングラインを切り替えるべき回路基板の切替
え特性を設定し、この切替え特性に到達した時点でトリ
ミングラインを切り替えることにより、回路基板特性の
より微細な調整が可能になる。
【００３０】又、回路基板の計測特性が所定特性に到達
する前にトリミングラインを切り替えるべき回路基板の
計測特性の許容最大特性変化率＝ΔＰM ／Δｘを設定
し、この許容最大特性変化率＝ΔＰM ／Δｘに到達した
時点でトリミングラインを切り替えることにより、回路
基板特性のより微細な調整が可能になる。
する前にトリミングラインを切り替えるべき回路基板の
計測特性の許容最大特性変化率＝ΔＰM ／Δｘを設定
し、この許容最大特性変化率＝ΔＰM ／Δｘに到達した
時点でトリミングラインを切り替えることにより、回路
基板特性のより微細な調整が可能になる。
【図１】本発明の一実施形態の動作を示す平面図であ
る。
る。
【図２】本発明の一実施形態の回路基板の特性の変化率
を示す図である。
を示す図である。
【図３】本発明の一実施形態の回路基板の許容最大特性
変化率＝ΔＰM ／Δｘを示す図である。
変化率＝ΔＰM ／Δｘを示す図である。
【図４】従来例の動作を示す平面図である。
【図５】従来例のトリミング方法の問題点を示す平面図
である。
である。
【図６】従来例の回路基板の特性の変化率を示す図であ
る。
る。
【図７】従来例の回路基板の特性の変化率を示す図であ
る。
る。
１ 抵抗部品 ２ 抵抗体 ３ａ 第１照射開始点 ３ｂ 第２照射開始点 ３ｃ 第３照射開始点 ４ａ 第１照射終了位置 ４ｂ 第２照射終了位置 ４ｃ 第３照射終了位置 Ｘ 所定間隔 Ｔ0 所定トリミング長さ
Claims (2)
- 【請求項１】 被トリミング部を有するトリミング部品
又は前記トリミング部品を実装した回路基板の特性を計
測しながら前記被トリミング部をレーザビームでトリミ
ングし、前記の計測特性が所定特性に到達した時点でト
リミングを終了するトリミング方法において、前記トリ
ミング部品について、トリミングすべき各トリミングラ
インの位置と、前記各トリミングラインの所定トリミン
グ長さと、前記の計測特性が前記所定特性に到達する少
し前の段階で次のトリミングラインに切り替える基準に
なる切替え特性とを予め設定し、前記の計測特性を確認
しながら前記レーザビームによるトリミングを行い、前
記の確認した計測特性が前記切替え特性に到達した時点
で、そのトリミングラインを次のトリミングラインに切
替え、前記の確認した計測特性が前記所定特性に到達し
た時点でトリミングを終了することを特徴とするトリミ
ング方法。 - 【請求項２】 被トリミング部を有するトリミング部品
又は前記トリミング部品を実装した回路基板の特性を計
測しながら前記被トリミング部をレーザビームでトリミ
ングし、前記の計測特性が所定特性に到達した時点でト
リミングを終了するトリミング方法において、前記トリ
ミング部品について、トリミングすべき各トリミングラ
インの位置と、前記各トリミングラインの所定トリミン
グ長さと、前記の計測特性が前記所定特性に到達する少
し前の段階で次のトリミングラインに切り替える基準に
なる前記の計測特性の許容最大特性変化率とを予め設定
し、前記の計測特性の変化率を確認しながら前記レーザ
ビームによるトリミングを行い、前記の確認した計測特
性の変化率が前記許容最大特性変化率に到達した時点
で、そのトリミングラインを次のトリミングラインに切
替え、前記の確認した計測特性が前記所定特性に到達し
た時点でトリミングを終了することを特徴とするトリミ
ング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29121995A JP3615849B2 (ja) | 1995-11-09 | 1995-11-09 | トリミング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29121995A JP3615849B2 (ja) | 1995-11-09 | 1995-11-09 | トリミング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09134810A true JPH09134810A (ja) | 1997-05-20 |
| JP3615849B2 JP3615849B2 (ja) | 2005-02-02 |
Family
ID=17766020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29121995A Expired - Fee Related JP3615849B2 (ja) | 1995-11-09 | 1995-11-09 | トリミング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3615849B2 (ja) |
-
1995
- 1995-11-09 JP JP29121995A patent/JP3615849B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3615849B2 (ja) | 2005-02-02 |
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