JPH09133514A - 画像測定装置 - Google Patents

画像測定装置

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JPH09133514A
JPH09133514A JP7291587A JP29158795A JPH09133514A JP H09133514 A JPH09133514 A JP H09133514A JP 7291587 A JP7291587 A JP 7291587A JP 29158795 A JP29158795 A JP 29158795A JP H09133514 A JPH09133514 A JP H09133514A
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JP
Japan
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pixel
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JP7291587A
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English (en)
Inventor
Tomoyuki Sakai
知之 酒井
Yoshiaki Jinme
良明 甚目
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Koki Holdings Co Ltd
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Hitachi Koki Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】同じテストチャートを印刷した印刷物において
測定対象測定パターンの画像入力部による撮影位置を印
刷物を交換するたびに手動で設定し直さずに画像処理に
よって自動的に算出する。 【解決手段】画像入力用カメラと輝度を確認するフレー
ムメモリと輝度に対する演算処理部と演算結果を記憶す
るメモリと画像入力用カメラと被印刷物をセットするテ
ーブルを相対的に移動する送り装置を備えている画像測
定装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像測定装置に関
し、例えば、複写機やレーザプリンタ等の画像記録装置
によって記録された画像の線幅や線の長さ等を測定検査
する画像測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来は、テーブル上に設置した印刷物上
の測定対象パターンが視野に収まるように送り装置によ
って画像入力部となるビデオカメラを手動の操作により
移動して、ビデオカメラで撮影した画像を確認しながら
測定対象パターンの予定位置を合わせていたため、同じ
テストチャートを印刷した別の印刷物を設置した際に
は、その印刷物を設置した際のずれ、傾きにより、測定
対象パターンの位置が前回の予定位置からずれるため改
めて予定位置を合わせ直さなければならなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は同じテストチャートを印刷した別々の印刷物
を順次置きかえても測定対象パターンの予定位置を手動
で合わせ直さずに自動的に目的とする測定対象パターン
の予定位置に対するずれを補正して正しい測定位置で測
定対象パターンを撮影して輝度データをフレームメモリ
に記憶することである。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の目的は印刷物上の
テストチャートに基準点を設け、最初に原器となる前記
テストチャートを印刷した印刷物をテーブル上に設置
し、前記基準点が撮影範囲に収まる位置へ、画像入力部
を移動して撮影し、A/D変換部によって輝度データを
フレームメモリに記憶し、基準点に相当する画素の位置
を基準点画素の予定位置,撮影位置を補正用予定位置と
してメモリに記憶する。前記印刷物の各測定対象パター
ンごとに測定対象部分が画像入力部の撮影範囲に収まる
予定位置を決めてメモリ上に記憶する。
【0005】同じテストチャートを印刷した2枚目以降
の印刷物についてはテーブル上に設置後、補正用予定位
置で撮影し、フレームメモリ上で基準点に相当する画素
の位置を検出後、これに先だって記憶しておいた基準点
画素の予定位置からのずれAを算出し、この印刷物上の
各測定対象パターンは、これに先だって記憶した予定位
置からずれA移動した位置にあると予測して画像入力部
を移動することにより、印刷物を交換しても各測定パタ
ーンの正確な位置への補正を達成する。
【0006】
【発明の実施の形態】
(実施例1)次に本発明の実施例について図面を用いて
説明する。図1は本発明による位置補正を実施するため
の一実施例を示すブロック図である。画像入力用カメラ
1はテストチャート12が印刷された印刷物11を撮影
するための撮影用レンズを備えておりステージ14の位
置決めストッパ15に合わせて所定の位置に設置した印
刷物11を撮影してA/D変換部3で輝度データに変換
してフレームメモリ9上の各画素に記憶する。図2は図
1のブロック図で示した画像測定装置においてテストチ
ャート12を印刷した印刷物11を印刷物固定用ストッ
パ15に合わせて、ステージ14上に設置した状態を示
している。なお、テストチャート12は、点線で表した
範囲の中に線や点、文字等の測定対象パターンの組み合
わせで構成されているが、ここでは説明を簡単にするた
め、テストチャート12内に設定した基準点13及び、
測定対象パターン12′のみを図示する。
【0007】図3-1は印刷物11のテストチャート1
2上に決めた基準点13が画像入力用カメラ1の視野に
収まるように画像入力用カメラ1及びステージ14を送
り装置制御部10と、送り装置2-1、送り装置2-2で
方向16、方向17に沿って移動して画像入力用カメラ
1の位置を設定して撮影し、輝度データに変換後フレー
ムメモリ9上の各画素に記憶した状態を示した図であ
る。このフレームメモリ上の各画素における輝度の値の
差を比較して基準点13に対応する基準点画素18とそ
れ以外の部分を区別し、フレームメモリ9上の位置を示
す座標値(Xk1、Yk1)をメモリ8に記憶する。
【0008】基準点画素18は基準点画素の予定位置K
1とする。このときの送り装置2-1と送り装置2-2の
機械原点に対する座標値(X1、Y1)を画像入力用カ
メラ1の座標値としてメモリ8に記憶しておく。図4は
図1のブロック図で示した画像測定装置において印刷物
11と同内容のテストチャート12を印刷した印刷物1
1′を印刷物固定用ストッパ15に合わせて、ステージ
14上に設置した状態を示している。
【0009】図3-2は印刷物11と同内容のテストチ
ャート12を印刷した印刷物11′をストッパ15に合
わせてステージ14に設置し、機械原点からの座標値
(X1、Y1)に画像入力用カメラ1を移動して印刷物
11′を撮影し、A/D変換部3によってフレームメモ
リ9上に輝度データを記憶した状態を示している。図3
-2のフレームメモリ9上における基準点画素K1′は
印刷物11′をステージ14に設置した際の設置位置の
ずれや印刷物11′上でのテストチャート12の印刷ず
れを要因として、通常は基準点画素の予定位置K1とは
一致しない。この基準点画素K1′を検出した画像入力
用カメラ1の撮影位置(X1、Y1)において本来基準
点となるべき画素K1からのX軸正方向のずれm1とY
軸負方向のずれn1を測定し、メモリ8上に記憶するこ
とにより、印刷物11′において印刷物11を基準とし
た予定位置からX軸の正方向にm1、Y軸の負方向にn
1ずれていると考えられるためテストチャート12に含
まれる測定対象パターン12′を画像入力用カメラ1に
よって撮影する位置の座標値は印刷物11を画像入力用
カメラ1で先にメモリ8上に記憶しておいた画像入力用
カメラ1の撮影の予定位置からX軸の正方向にm1、Y
軸の負方向にn1ずれた位置となり、その位置に画像入
力用カメラ1を移動することにより目的の測定対象パタ
ーン12′を画像入力用カメラ1の視野に収まるように
撮影して画像処理することが可能である。テストチャー
ト12上の基準点は前記のような点で示される基準点1
3以外に、2直線の交差点など、基準点を特定できるパ
ターンを使用すればテストチャート12上にあるどの点
を基準点としても同様の効果が得られる。
【0010】(実施例2)この発明は上記実施例に限ら
れるものではなく、次のような補正処理を行う実施例も
ある。図5は実施例1の図1にブロック図を示した画像
測定装置においてテストチャート21を印刷した印刷物
20をストッパ15に合わせてステージ14に設置した
状態を表しており、テストチャート21内には2カ所の
基準点、基準点21′と基準点21″を設定してあり測
定対象パターン22が含まれる。なお、テストチャート
21は点線で表した範囲の中に線や点、文字等の測定対
象となるパターンの組み合わせで構成されているが、こ
こでは、説明を簡単にするためテストチャート21内の
基準点21′と基準点21″測定対象パターン22のみ
を図示する。
【0011】図6-1は実施例1の図1にブロック図を
示した画像測定装置においてテストチャート21を印刷
した印刷物20をストッパ15に合わせてステージ14
に設置した状態で、テストチャート21において設定し
た2カ所の基準点である基準点21′と基準点21″が
視野に収まる位置に画像入力用カメラ1を設定して印刷
物21を撮影してA/D変換部3で変換した輝度データ
をフレームメモリ9上の各画素に記憶した状態を示して
いる。
【0012】実施例1と同様の手順により画像処理プロ
グラム5を実行し、フレームメモリ9上の輝度の値の差
によって基準点21′に対応する基準点画素23と基準
点21″に対応する基準点画素24を検出し、基準点画
素23を基準点画素の予定位置K3、基準点画素24を
基準点画素の予定位置K4とし、基準点画素の予定位置
K3のフレームメモリ9上での位置を示す座標値(Xk
3、Yk3)と基準点画素の予定位置K4のフレームメ
モリ9上での位置を示す座標値(Xk4、Yk4)をメ
モリ8に記憶する。このときの送り装置2-1と送り装
置2-2の機械原点に対する座標値(X1′、Y1′)
を画像入力用カメラ1の座標値としてメモリ8に記憶し
ておく。このときテストチャート21上の測定対象パタ
ーン22を画像入力用カメラ1で撮影するための送り装
置2-1と送り装置2-2の機械原点に対する座標値(X
r、Yr)を測定対象パターン22の予定位置としてメ
モリ8に記憶する。
【0013】図7は実施例1の図1にブロック図を示し
た画像測定装置において印刷物20と同内容のテストチ
ャート21を印刷した印刷物20′をストッパ15に合
わせてステージ14に設置した状態を表しており、テス
トチャート21内には2カ所の基準点、基準点21′と
基準点21″を設定してあり測定対象パターン22が含
まれる。図6-2は印刷物20と同じテストチャート2
1を印刷した印刷物20′を印刷物20の代わりにスト
ッパ15に合わせてステージ14に置き、この状態で前
記の機械原点からの座標値(X1′、Y1′)に画像入
力用カメラ1を移動して印刷物20′を撮影してA/D
変換部3によって輝度データをフレームメモリ9上の各
画素に記憶した状態を示している。この印刷物20′は
ステージ14に置いたときの用紙の傾きやずれ、あるい
は印刷物20′上でのテストチャート21の印刷位置の
ずれなどの要因により、図6-2のように印刷物20′
の基準点21′に対応する基準点画素K3′はフレーム
メモリ9上で基準点画素の予定位置K3からX軸の正方
向にm2、Y軸の負方向にn2離れた位置となり、印刷
物20′の基準点21″に対応する基準点画素K4′は
フレームメモリ9上で位置補正の基準点画素の予定位置
K4からX軸の正方向にm3、Y軸の負方向にn3離れ
た位置となる。
【0014】従って印刷物20′における基準点画素K
3′の座標値を(Xk3′、Yk3′)基準点画素K
4′の座標値を(Xk4′、Yk4′)とすると、印刷
物20′におけるテストチャート21は、印刷物20を
基準とした予定位置から基準点21′はX軸方向にm
2、Y軸の負方向にn2ずれており、基準点21′を中
心とするテストチャート21の傾きは、 tanθ=(Yk4′−Yk3′)/(Xk4′−Xk
3′) となる。
【0015】故に、印刷物20′のテストチャート21
の各測定対象パターンは印刷物20を基準とした予定位
置に対し、印刷物20で設定した基準点21′の予定位
置を中心としてθ度回転し、X軸の正方向にm2、Y軸
の負方向にn2移動した位置にある。従って、印刷物2
0′上の測定対象となるパターン22を撮影する画像入
力用カメラ1の位置に対応する機械原点からの座標値
(Xr′、Yr′)は次の式で表される。
【0016】
【数1】
【0017】このような手順により基準とした印刷物2
0と同じテストチャート21を印刷した印刷物をストッ
パ15に合わせてステージ14に設置するだけで画像処
理を用いた位置補正を行い、目的の測定対象パターン2
2を撮影するための画像入力用カメラ1の正確な撮影位
置を算出することが可能である。
【0018】(実施例3)更に別の実施例について図を
用いて説明する。図8は実施例1における図1のブロッ
ク図で示した画像測定装置においてテストチャート25
を印刷した印刷物26を印刷物固定用ストッパ15に合
わせてステージ14上に設置した状態を示している。な
お、テストチャート25は点線で示した範囲の中に、線
や点、文字等の測定対象パターンの組み合わせで構成さ
れているが、ここでは説明を簡単にするためテストチャ
ート25内の基準点25′と基準点25″と測定対象パ
ターン29のみを図示する。図9-1は、画像入力用カ
メラ1あるいはステージ14を送り装置制御部10と送
り装置2-1、送り装置2-2によって移動方向16及び
移動方向17に沿って移動しステージ14上に設置した
印刷物26のテストチャート25内に設定した2カ所の
基準点である基準点25′と基準点25″の内基準点2
5′が視野に収まる位置に画像入力用カメラ1を設定し
て印刷物26を撮影してA/D変換部3で変換した輝度
データをフレームメモリ9上の各画素に記憶した状態を
示している。
【0019】実施例1と同様の手順により画像処理プロ
グラム5を実行し、フレームメモリ9上の輝度の値の差
によって基準点25′に対応する基準点画素27を検出
し、基準点画素27を基準点画素の予定位置K5とし、
基準点画素の予定位置K5のフレームメモリ9上での位
置を示す座標値(Xk5、Yk5)をメモリ8に記憶す
る。このときの送り装置2-1と送り装置2-2の機械原
点に対する座標値(X1″、Y1″)を画像入力用カメ
ラ1の座標値としてメモリ8に記憶しておく。
【0020】図9-2は、画像入力用カメラ1あるいは
ステージ14を送り装置制御部10からそれぞれ送り装
置2-1、送り装置2-2によって移動方向16及び移動
方向17に沿って移動しステージ14上に設置した印刷
物26のテストチャート25上に設定した2カ所の基準
点である基準点25′と基準点25″の内基準点25″
が視野に収まる位置に画像入力用カメラを設定して印刷
物26を撮影してA/D変換部3で変換した輝度データ
をフレームメモリ9上の各画素に記憶した状態を示して
いる。
【0021】実施例1と同様の手順により画像処理プロ
グラム5を実行し、フレームメモリ9上の輝度の値の差
によって基準点25″に対応する基準点画素28を検出
し、基準点画素28を基準点画素の予定位置K6とし、
基準点画素の予定位置K6のフレームメモリ9上での位
置を示す座標値(Xk6、Yk6)をメモリ8に記憶す
る。このときの送り装置2-1と送り装置2-2の機械原
点に対する座標値(X2″、Y2″)を画像入力用カメ
ラ1の座標値としてメモリ8に記憶しておく。図9-3
は測定対象パターン29を視野に含む位置に画像入力用
カメラ1を設定して印刷物26を撮影し、A/D変換部
3によって輝度データをフレームメモリ9上に記憶した
状態を示しており、輝度の差により測定対象パターン2
9に対応する部分30とそれ以外の部分31に分かれ
る。
【0022】図10は図8の印刷物26と同じテストチ
ャート25を印刷した印刷物26′を固定用ストッパ1
5に合わせてステージ14に設置した状態を示してい
る。この状態において画像入力用カメラ1あるいはステ
ージ14を送り装置制御部10からそれぞれ送り装置2
-1、送り装置2-2によって移動方向16あるいは移動
方向17に沿って移動し、図9-1と同じ機械原点から
の座標値(X1″、Y1″)で画像入力用カメラ1から
印刷物26′を撮影し、A/D変換部3によって輝度デ
ータをフレームメモリ9上の各画素に記憶した状態を示
したのが図11-1である。この印刷物26′はステー
ジ14に置いたときの用紙の傾きやずれ、あるいは印刷
物26′上でのテストチャート25の印刷位置のずれな
どの要因により、印刷物26′の基準点25′に相当す
る基準点画素K5′はフレームメモリ9上で基準点画素
の予定位置K5からX軸の正方向にm4、Y軸の負方向
にn4離れた位置となる。
【0023】同様に、図9-2と同じ機械原点からの座
標値(X2″、Y2″)で印刷物26′を撮影し、A/
D変換部3によって輝度データをフレームメモリ9上の
各画素に記憶した状態を示したのが図11-2であり、
印刷物26′の基準点25″に対応する基準点画素K
6′はフレームメモリ9上で基準点画素の予定位置K6
からX軸の負方向にm5、Y軸の負方向にn5離れた位
置となる。また、図9-3と同じ機械原点からの座標値
(X3′、Y3′)で印刷物26′を画像入力用カメラ
1で撮影し、A/D変換部3によって輝度データをフレ
ームメモリ9上に記憶した状態を示したのが図11-3
である。図11-3では測定対象パターン29がフレー
ムメモリ9上に収まっていない。
【0024】この印刷物26′においては用紙上におけ
るテストチャート25が印刷物26と比べてずれてい
る。この例において位置補正の基準点画素K5′の座標
値(Xk5′、Yk5′)は、Xk5′=Xk5+m
4、Yk5′=Yk5−n4となり、位置補正の基準点
画素K6′の(Xk6′、Yk6′)はXk6′=Xk
6−m5、Yk6′=Yk6−n5となる。
【0025】印刷物26′において位置補正の基準点2
5′と位置補正の基準点25″を結ぶ直線の傾きは(Y
2′−Y1′)/(X2′−X1′)となり、この傾き
はステージ14上の印刷物26を基準として設定した予
定位置に対する印刷物26′のテストチャート25全体
の傾きとなる。印刷物26′での基準点25′を回転の
中心とした場合のテストチャート25の傾きを示す回転
角θ2について、tanθ2=(Yk6′−Yk5′)
/(Xk6′−Xk5′)が成り立つ。
【0026】従って印刷物26′の測定対象パターン4
2の画像入力用カメラ1による撮影位置の座標値(X
3′、Y3′)は、先に設定した撮影位置の予定位置の
座標値(X3、Y3)を位置補正の基準点の予定位値2
5を中心にしてθ2回転したあとX軸の正方向にm4移
動し、Y軸の負方向にn4移動した位置として決定す
る。即ち、
【0027】
【数2】
【0028】となる。
【0029】本実施例では一種類の測定対象パターンに
ついて画像入力用カメラ1による撮影位置の位置補正を
行ったが、2個以上の測定対象パターンがあっても、あ
らかじめその測定対象パターンを撮影する画像入力用カ
メラ1の予定位置を送り装置2-1と送り装置2-2の機
械原点からの座標値としてメモリ8上に記憶しておくこ
とにより、印刷物26と同一のテストチャート25を印
刷した印刷物ならばテーブル14のストッパ15にあわ
せて設置することによって前記の手順で予定位置の補正
を行って画像入力用カメラ1による撮影位置を確定し、
目標とする測定対象パターンが予定通りの視野に収まる
ように撮影し、A/D変換部3により輝度データとして
フレームメモリ9上に記憶し、画像処理プログラム5を
実行することによって測定対象パターンの面積や幅等を
測定することができる。
【0030】
【発明の効果】従来の測定装置では、たとえ同じテスト
チャートが印刷されていても印刷物を交換するたびに測
定対象パターンの予定位置へ画像入力部を手動により、
合わせ直す必要があったが、印刷物上に印刷したテスト
チャート上にあらかじめ設定しておいた基準点の予定位
置からの水平方向のずれ、垂直方向のずれ及び傾きを画
像処理により計算して、前記基準点の予定位置に前記水
平方向のずれ、垂直方向のずれを加味し、傾き分の回転
移動を行うことにより、演算処理によって自動的に測定
対象パターンの予定位置を算出することができるように
なった。それによって、目標とする測定対象パターンが
予定通りの視野に収まるように撮影して画像処理を行
い、測定対象パターンの面積や幅等を測定できるように
なった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の位置補正機構付測定装置の構成を示す
ブロック図。
【図2】図1の位置補正機構付測定装置のステージ14
上に印刷物11を設置した状態を表す図。
【図3-1】印刷物11の基準点13を含む範囲を撮影
し輝度データをフレームメモリ上に記憶した状態を表す
図。
【図3-2】印刷物11′の基準点13を含む範囲を撮
影し輝度データをフレームメモリ上に記憶した状態を表
す図。
【図4】図1の位置補正機構付測定装置のステージ14
上に印刷物11′を設置した状態を表す図。
【図5】図1の位置補正機構付測定装置のステージ14
上に印刷物20を設置した状態を表す図。
【図6-1】印刷物20の基準点21′と基準点21″
を含む範囲を撮影し輝度データをフレームメモリ上に記
憶した状態を表す図。
【図6-2】印刷物20′の基準点21′と基準点2
1″を含む範囲を撮影し輝度データをフレームメモリ上
に記憶した状態を表す図。
【図7】図1の位置補正機構付測定装置のステージ14
上に印刷物20′を設置した状態を表す図。
【図8】図1の位置補正機構付測定装置のステージ14
上に印刷物26を設置した状態を表す図。
【図9-1】印刷物26の基準点25′を含む範囲を撮
影し輝度データをフレームメモリ上に記憶した状態を表
す図。
【図9-2】印刷物26の基準点25″を含む範囲を撮
影し輝度データをフレームメモリ上に記憶した状態を表
す図。
【図9-3】印刷物26の測定対象パターン22を含む
範囲を撮影し輝度データをフレームメモリ上に記憶した
状態を表す図。
【図10】図1の位置補正機構付測定装置のステージ1
4上に印刷物26′を設置した状態を表す図。
【図11-1】印刷物26′の基準点25′を含む範囲
を撮影し輝度データをフレームメモリ上に記憶した状態
を表す図。
【図11-2】印刷物26′の基準点25″を含む範囲
を撮影し輝度データをフレームメモリ上に記憶した状態
を表す図。
【図11-3】印刷物26′の測定対象パターン22を
含む範囲を撮影し輝度データをフレームメモリ上に記憶
した状態を表す図。
【符号の説明】
1は画像入力用カメラ、3はA/D変換部、4は画像処
理プログラム、5はCPU、6は出力装置、7は運転用
スイッチ、8はメモリ、9はフレームメモリ、10は送
り装置制御部、11、11′は印刷物、12はテストチ
ャート、12′は測定対象パターン、13は基準点、1
4は印刷物設置用ステージ、15は印刷物固定用ストッ
パである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定対象物を設置する測定対象物設置部
    と、前記測定対象物に記録された測定対象画像を読み取
    る画像入力部と、前記測定対象物設置部または前記画像
    入力部の内、少なくともいずれか一方を移動させる移動
    手段と、前記画像入力部で読み取った測定対象画像を輝
    度データに変換するA/D変換部と、前記A/D変換部
    からの出力を各画素に展開記憶するフレームメモリと、
    前記フレームメモリ上の各画素の輝度の値の差によっ
    て、基準パターンに対応するフレームメモリ上の画素の
    位置を検出する位置検出手段と、前記フレームメモリ上
    の画素位置と基準パターンの予定位置に相当するフレー
    ムメモリ上の画素位置とのずれ量を測定するずれ量測定
    手段とを備えた画像測定装置において、測定対象のパタ
    ーンの予定位置への移動に際し、基準位置を撮影してず
    れ量を測定し、予定位置を計算した後、前記ずれ量で補
    正して画像入力部を移動させることを特徴とする画像測
    定装置。
JP7291587A 1995-11-10 1995-11-10 画像測定装置 Pending JPH09133514A (ja)

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JP2005024567A (ja) * 2004-09-07 2005-01-27 Hitachi Kokusai Electric Inc 位置測定装置
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