JPH09128257A - プロセッサシステム及びプロセッサ - Google Patents

プロセッサシステム及びプロセッサ

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JPH09128257A
JPH09128257A JP7279138A JP27913895A JPH09128257A JP H09128257 A JPH09128257 A JP H09128257A JP 7279138 A JP7279138 A JP 7279138A JP 27913895 A JP27913895 A JP 27913895A JP H09128257 A JPH09128257 A JP H09128257A
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JP
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processor
output
signal
checker
master
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JP7279138A
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English (en)
Inventor
Shinya Otsuji
信也 大辻
Takashi Hotta
多加志 堀田
Nobuyasu Kanekawa
信康 金川
Koji Ikeda
光二 池田
Tetsuya Shimomura
哲也 下村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 マスタとして動作しているプロセッサと、チ
ェッカとして動作しているプロセッサの間での電力消費
の不均衡を抑え、温度上昇の平均化が得られるようにし
たシステムを提供すること。 【解決手段】 マスタプロセッサ1とチェッカプロセッ
サ2に、それぞれセレクタ回路5a、5bを設け、各プ
ロセッサからの外部出力信号6の内、外部出力バス7か
ら外部バスに出力するビットと、内部チェックバス8か
ら障害検出回路4に出力するビットを、相互補完関係に
振り分けたもの。マスタプロセッサ1の出力信号の一部
がチェッカプロセッサ2から出力されるので、マスタプ
ロセッサ1とチェッカプロセッサ2の消費電力が平均化
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フォールトトレラ
ントコンピュータに係り、特にマスタチェッカ方式によ
りフォールトトレラント特性が与えられるようにしたコ
ンピュータシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータシステムの信頼性を向上さ
せる方式として、システム内で等価な処理性能をもつプ
ロセッサを少なくとも2個設けて多重化構成とし、一方
はマスタとして、単独系と同様の動作を実行し、他方は
チェッカとして、マスタの出力信号をチェックしエラー
検出を行うようにして、フォールトトレランス特性が得
られるようにした技術が、いわゆるマスタチェッカ方式
として、従来から知られている。
【0003】そして、この方式の代表的な例としては、
下記の文献、すなわち、「IEEE MICRO December 1984」
に記載されている“Fault Toleramce Achieved in VLS
I"と題された論文により紹介されているファンクション
リダンダンシィ チェッキング(Functional Redundancy
Checking)方式を挙げることができる。
【0004】ところで、この方式では、マスタとなるプ
ロセッサは、常時、処理した出力信号の全ビットを出力
し、チェッカとなるプロセッサは、そのビットを監視
(読込み)し、マスタの出力信号とチェッカの信号を比較
し、エラーを検出するようになっている。
【0005】なお、この方式では、プロセッサの何れを
マスタとして動作させ、チェッカとして動作させるかは
任意であり、従って、マスタとチェッカの動作を切換え
るための手段が設けられているのが通例である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、二重
系を構成している複数のプロセッサ間に現れる電力消費
の不均衡について配慮がされておらず、電力消費がマス
タとして動作するようにされたプロセッサに偏ってしま
い、温度管理の点で問題があった。
【0007】すなわち、上記従来技術では、自らが演算
した信号について、マスタとなったプロセッサは、全ビ
ットの信号を全て出力するのに対して、チェッカ側のプ
ロセッサは、自らが演算した信号であっても、それを外
部に出力することはなく、チェックのために、マスタが
出力した信号を読込んで照合するのに使用するだけであ
り、このため、データ出力に要する電力については、主
としてマスタとなったプロセッサでだけ必要とし、チェ
ッカとして動作しているプロセッサでは不要になってい
る。
【0008】ところで、一般に、データ出力に要する電
力は、プロセッサの消費電力の中で比較的大きな割合を
占めており、且つ出力バッファの使用量に比例してい
る。この結果、従来技術では、マスタ側のプロセッサで
の電力消費が多くなって、プロセッサ間で発熱量に偏り
を生じ、冷却手段の適用などによる温度管理に問題が生
じてしまうのである。
【0009】本発明の目的は、マスタとして動作してい
るプロセッサと、チェッカとして動作しているプロセッ
サの間での電力消費の不均衡を抑え、温度上昇の平均化
が得られるようにしたシステムを提供することにある。
【0010】また、本発明の他の目的は、マスタやチェ
ッカなど二重化されたシステムに適用した際での利便性
だけでなく、単独で使用するシステムに対してもそのま
ま使用できるように、充分な汎用性を備えたプロセッサ
の提供にあり、さらにこのとき、システム構成に柔軟性
をもたせることができるように、データ出力の出力方法
が多様化されたプロセッサか提供できるようにしたもの
である。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的の一方は、2重
化されたプロセッサを備え、マスタチェッカ方式で動作
するプロセッサシステムにおいて、各プロセッサによる
演算結果を表わす複数ビットからなる出力信号のうち、
一方のプロセッサは、一部のビットの信号だけを外部バ
スに出力し、他方のプロセッサが残りのビットの信号を
外部バスに出力するようにして達成される。
【0012】同じく上記目的の他方は、演算結果を外部
バスに出力する出力端子群と、障害検出回路とを備えた
プロセッサにおいて、プロセッサ本体の演算結果出力部
から上記出力端子群に到る経路にセレクタ手段を設け、
上記演算結果出力部から上記出力端子群に到る経路の少
なくとも一部を上記障害検出回路に選択的に切換えるよ
うにして達成される。
【0013】具体的な手段としては、一方のプロセッサ
が外部出力ピン群より出力する外部出力信号のビット位
置と、他方のプロセッサが外部出力ピン群より出力する
外部出力信号のビット位置とが交互になっているデータ
出力手段がある。
【0014】さらに、マスタやチェッカなど二重化時の
動作モードと、通常の単独系の動作モードを持つよう
に、2種の動作モードを切り換えるセレクタ手段を有す
ることにより、プロセッサに汎用性を持たせることがで
きる。
【0015】また、外部出力ピン群から外部バスに出力
する外部出力信号の出力ビットの割り当てを変化させる
ことができるようにした出力ビット割当回路を設けるこ
とにより、データ出力方法の多様化が図られるようにす
ることができる。
【0016】その上、これらの手段を、統一的、且つ動
的に実現する方策として、プロセッサの負荷状況を把握
できる負荷状況監視回路を有するシステムについて、負
荷状況監視回路により負荷の状況に応じて外部出力ピン
群から外部バスに出力する出力ビット割り当てを動的に
変化させる出力ビット割当回路を設けるようにしたもの
である。
【0017】これらの結果、正常時は、マスタとチェッ
カにおいて、出力ビットを分担して出力するため、従来
方式に比べ、マスタの消費電力が低減できる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明について、実施例を
用いて詳細に説明する。 <実施例1>図1は、2重化されたプロセッサを備え、
マスタチェッカ方式で動作するようにした、本発明によ
るプロセッサシステムの一実施例を示したもので、図示
のように、マスタ(マスタとなったプロセッサ)1と、チ
ェッカ(チェッカとなったプロセッサ)2を備え、これら
により二重系を構成している。従って、これらの構成要
素は、マスタ側でもチェッカ側でも同じであるので、特
に必要があるときだけ、マスタ側の要素には添字aを付
し、チェッカ側には添字bを付して表わすことにする。
【0019】まず、マスタ1とチェッカ2は、内部にそ
れぞれ障害検出回路4が設けられており、これによる障
害検出結果として得られた障害検出信号を外部に出力す
るための出力端子ピン10を有している。
【0020】次に、これらマスタ1とチェッカ2には、
動作モードの切換えを設定するモード切換信号入力端子
ピン11から入力される信号により切換えられ、プロセ
ッサによる演算結果として与えられる外部出力信号6
を、ビット毎に外部出力バス7とチェックバス8とに振
り分ける働きをするセレクタ回路5が設けられている。
【0021】そして、これにより、マスタ1とチェッカ
2は、それぞれ、外部出力信号6のうちの一部のビット
の信号はそのまま外部出力バス7に出力し、残りのビッ
トの信号はチェックバス8に出力する二重系モードと、
外部出力信号6の全てのビットをそのまま外部出力バス
7に出力する一重系モードとに切換えて使用できるよう
にしてある。
【0022】また、これらのマスタ1とチェッカ2は、
それぞれ外部入力バス9を備えており、この外部入力バ
ス9と外部出力バス7とにより外部バス3に接続されて
いるが、この外部出力バス7上に、図示はしてないが、
上記した出力バッファが設けられており、これが動作電
力の内の大きな部分を占めていることになる。
【0023】ところで、この実施例では、上記のよう
に、マスタ側とチェッカ側の2個のプロセッサの構成に
は、セレクタ回路5a、5bを除き特別な差は無いが、
この明細書における説明では、マスタ側とチェッカ側で
の2個のプロセッサの動作を区別するため、敢えて“マ
スタ”と“チェッカ”の用語を使用することにする。従
って、ここでは、この用語自体に特別な意味は持たせて
いない。
【0024】また、この実施例でも、プロセッサの本体
部分には特に変りは無いので、図においては、マスタ1
とチェッカ2の中で、プロセッサ本来の構成についての
表記は省略し、それによる演算結果を外部出力信号とし
て表示するにとどめてある。
【0025】次に、この実施例では、上記したように、
モード切換信号端子入力ピン11に入力される信号のレ
ベルにより、二重系モードと一重系(単独使用)モードに
切換えられるように構成されているが、このとき、信号
のレベルが“L”(ローレベル)のときは二重系モード
で、“H”(ハイレベル)にされたとき、一重系モードに
切換わるようになっている。
【0026】そして、これに合わせて、この実施例で
は、マスタ側とチェック側とでは、セレクタ回路5の構
成が変えてあり、まず、マスタ1側のセレクタ回路5a
については、図2に示すように構成してある。この結
果、まず、外部出力信号6の内の奇数ビットの信号は、
常時そのまま外部出力バス7に出力されるようになって
いる。
【0027】次に、偶数ビットの信号については、入力
ピン17の信号レベルが“L”の間はチェックバス8に
出力されるが、入力ピン17の信号レベルが“H”にさ
れたときには、これら偶数ビットの信号についても外部
出力バス7に出力されるようにしてある。
【0028】次に、チェッカ2についても同様である
が、ここでのセレクタ回路5bについては、詳しくは図
示してないが、以下の通りに構成してある。すなわち、
ここでのセレクタ回路5bは、外部出力信号6の内の奇
数ビットの信号では無くて、偶数ビットの信号が、常時
そのまま外部出力バス7に出力されるようになってい
る。
【0029】また、このセレクタ回路5bでは、奇数ビ
ットの信号が切換えられるようになっていて、入力ピン
17の信号レベルが“L”の間は、奇数ビットの信号は
チェックバス8に出力されるようになっており、入力ピ
ン17の信号レベルが“H”にされたとき、これら奇数
ビットの信号についても外部出力バス7に出力されるよ
うに構成してある。
【0030】次に、この実施例の動作について説明す
る。まず、二重系モード時の動作について説明すると、
このときは、上記したように、モード切換信号入力ピン
11を“L”、つまりローレベルのままにする。そし
て、このようにして、二重系モードにされたときは、ま
ず、マスタ1のセレクタ回路5aでは、そこに入力され
た外部出力信号6のうち、外部出力バス7には奇数ビッ
トの信号だけがそのまま取り出され、外部バス3へ出力
される。そして、それ以外の偶数ビットの信号はチェッ
クバス8に選択され、障害検出回路4に入力される。
【0031】他方、チェッカ2側のセレクタ回路5bで
は、そこに入力された外部出力信号6のうち、外部出力
バス7には偶数ビットの信号だけがそのまま取り出さ
れ、外部バス3へ出力される。そして、それ以外の奇数
ビットの信号がチェックバス8に選択され、障害検出回
路4に入力されることになる。
【0032】この結果、マスタ1とチェッカ2のプロセ
ッサに何も障害が発生せず、正常に動作しているときに
は、マスタ1側とチェッカ2側のプロセッサからの外部
出力信号6のうち、奇数ビットの信号はマスタ1の外部
出力バス7を通って外部バス3に出力され、偶数ビット
の信号はチェッカ2の外部出力バス7を通って外部バス
3に出力されることになり、従って、マスタ1側での外
部出力バス7と、チェッカ2側の外部出力バス7の使用
頻度及び単位時間当りの使用時間はほぼ等しくなる。
【0033】前述のように、プロセッサで消費される電
力の多くの部分は、その外部出力バス7上にある出力バ
ッファによって占められているから、この実施例のよう
に、マスタ1側とチェッカ2側で、外部出力バス7の使
用頻度及び単位時間当りの使用時間が等しくされれば、
マスタ1とチェッカ2で使用される電力もほぼ等しくさ
れることになり、結局、この実施例によれば、マスタ1
とチェッカ2の双方のプロセッサで電力損失による発熱
量が均等に分担されることになって、局部的な発熱によ
る温度上昇が抑えられることになる。
【0034】一方、障害検出回路4は、外部入力バス9
を介して、外部バス3から他方のプロセッサからのデー
タを読み込み、チェックバス8を介して取り込まれる自
分自身のプロセッサからのデータを比較し、障害の発生
を検出する。そして、このときの検出処理は、マスタ1
側の障害検出回路4も、チェッカ2側の障害検出回路4
も同じで、ある。
【0035】この障害検出回路4による検出結果は、外
部入力バス9とチェックバス8の各バスの全てのビット
の信号が一致しているときには異常無しと判定し、1ビ
ットでも一致しない信号が検出されたときには、障害が
発生したものと判定するのである。
【0036】そして、検出結果は、異常無しと判定され
ている間は、障害検出信号出力ピン10をローレベルに
保ち、障害発生と判定したら、障害検出信号出力ピン1
0をハイレベルにしることにより与えられ、障害検出信
号出力ピン10からプロセッサの外部に出力される。
【0037】ところで、この実施例では、この二重系モ
ードにおいては、マスタ1側の外部出力バス7から出力
されているのは、外部出力信号6の中の奇数ビットの信
号だけであり、他方、チェッカ2側の外部出力バス7か
ら出力されているのは、奇数ビットの信号だけである。
【0038】そして、マスタ1側の外部出力バス7から
出力された奇数ビットの信号だけがチェッカ2側の外部
入力バス9から取り込まれ、その障害検出回路4に入力
される。一方、このとき、チェッカ2側のセレクタ回路
5bでは、上記したように、外部出力信号6の中の奇数
ビットの信号が選択され、チェックバス8に取り出され
ているから、これら外部入力バス9とチェックバス8の
信号は、何れも奇数ビットの信号同志となり、従って、
ここでは、まず外部出力信号6の中の半分のビットの信
号だけでについてチェックが行なわれることになる。
【0039】また、このことは、マスタ1側の障害検出
回路4でも同じで、ここでは、外部出力信号6の中の偶
数ビットの信号同志についてのチェックが行われること
になり、従って、この実施例によれば、2重化されたプ
ロセッサによりマスタチェッカ方式で動作するプロセッ
サシステムが得られることになる。
【0040】なお、以上の説明から明らかなように、こ
の実施例では、マスタ1とチェッカ2の双方が分担して
外部出力バス7から信号を外部バス3に出力し、且つ、
これら双方で分担してチェックを行っていることになる
ので、マスタとチェッカという名称は必ずしも妥当では
ないが、上記したように、マスタ側とチェッカ側での2
個のプロセッサの動作を区別するため、敢えて“マス
タ”と“チェッカ”の用語を使用しているのである。
【0041】次に、一重系モードでの動作について説明
する。この実施例によるプロセッサは、上記したよう
に、セレクタ回路5a(チェッカ側では5b)を備えてお
り、これにより、上記した二重系モードによる動作の
外、一重系モードにも切換えることができ、従って、汎
用のプロセッサとして単独で使用することができるよう
に構成してある。
【0042】すなわち、このセレクタ回路5a(チェッ
カ側では5b)は、図2から明らかなように、モード切
換信号端子入力ピン11に入力される信号のレベルがロ
ーレベル“L”のときは二重系モードで、ハイレベル
“H”にされたとき、一重系モードに切換わるようにな
っている。
【0043】そこで、いま、モード切換信号端子入力ピ
ン11がハイレベルにされたとすると、図2から明らか
なように、外部出力信号6は全て外部出力バス7に出力
されるようにされる。そうすると、このときには、外部
出力信号6の出力状態は、従来のプロセッサと同じで、
そのまま外部バス3に出力されることになり、この結
果、汎用のプロセッサとして単独動作を行わせることが
できる。なお、このときは、チェックバス8には何も信
号が出力されなくなってしまうので、障害検出回路4に
よる障害検出動作を行うことはできないが、単独動作な
ので、何も問題は無い。従って、この実施例によれば、
充分な汎用性を備えたプロセッサが容易に提供できるこ
とになる。
【0044】<実施例2>次に、プロセッサ内のレジス
タを用い、マスタとチェッカとに切換えて使用可能にし
た本発明の実施例について説明する。図3は、本発明の
第2の実施例で、本発明を8ビットのプロセッサとして
構成した場合の一実施例であり、この図において、12
はプロセッサで、このプロセッサ12は、それぞれ8ビ
ットの外部出力バス7と外部入力バス9により外部バス
3に接続されている。
【0045】次に、13はマスタ/チェッカ切替信号の
入力端子ピンで、14は出力ビット割当レジスタ、15
は出力ビット割当回路である。まず、入力端子ピン13
は、プロセッサの動作をマスタとしての動作と、チェッ
カとしての動作に切換え設定するマスタ/チェッカ切替
信号の入力端子して働く。
【0046】次に出力ビット割当レジスタ14は、図示
のように、4ビットのレジスタで構成され、マスタとし
て動作するときの出力ビットと、チェッカとして動作す
るときの出力ビットを予め設定しておく働きをする。な
お、このレジスタは、プロセッサのソフト処理により、
任意に設定することができるようにしてある。
【0047】出力ビット割当回路15は、マスタ/チェ
ッカ切替信号入力ピン13がローレベルに保たれている
ときは、プロセッサ12をマスタモードにし、マスタ/
チェッカ切替信号入力ピン13をハイレベルにすると、
プロセッサ12をチェッカモードに切換える働きをす
る。
【0048】図4は、出力ビット割当回路15の詳細を
示したもので、この図から明らかなように、マスタ/チ
ェッカ切替信号入力ピン13がローレベルのときには、
出力ビット割当レジスタ14の各ビットの値が、そのま
ま出力ビット割当回路15に入力され、この結果、プロ
セッサ12はマスタモードに留まるが、マスタ/チェッ
カ切替信号入力ピン13がハイレベルにされると、出力
ビット割当レジスタ14の各ビットの値は、反転して出
力ビット割当回路15に入力され、この結果、プロセッ
サ12はチェッカモードとなる。
【0049】従って、マスタモードにされたプロセッサ
とチェッカモードにされたプロセッサとでは、外部バス
3に出力される外部出力バス7のビット位置が、相互に
補間関係を保つようにされる。
【0050】図5は、出力ビット割当レジスタ14と外
部出力バス7から出力されるビット数の関係を示したも
のであり、以下、これにより、出力ビットの切換につい
て説明する。まず、出力ビット割当レジスタ14の値を
“0000”に設定したとすると、このときは、図5か
ら明らかなように、マスタモードにされているプロセッ
サでは何も信号が出力されず、外部出力信号6は全てチ
ェックバス8を通じて障害検出回路4に入力されてしま
う。
【0051】そして、これに合わせて、障害検出回路4
は、外部入力バス9を介して外部バス3からデータを読
み込み、これによりチェックバス8のデータと外部入力
バス9のデータを比較し、全てのビットの信号が一致し
ているときはローレベルが、そして1ビットでも異なっ
た信号が検出されたときはハイレベルが、それぞれ障害
検出信号出力ピン10からプロセッサ12の外部に出力
されるようにして障害検出動作を行う。
【0052】一方、チェッカモードにされているプロセ
ッサでは、外部出力信号6は、外部出力バス7を介し
て、そのまま全て外部バス3に出力されるようになる。
従って、この場合は、障害検出回路4には、出力信号は
何も入力されず、このチェッカモードにされたプロセッ
サでは、そのモードの名称とは異なり、障害検出は行わ
ない。
【0053】次に、今度は、出力ビット割当レジスタ1
4の値が“1111”に設定されたとすると、この場合
は、まずマスタモードにあるプロセッサは、上記出力ビ
ット割当レジスタ14の値を“0000”に設定したと
きのチェッカモードの動作と同じ動作となり、反対にチ
ェッカモードにあるプロセッサが上記動作におけるマス
タモードの動作と等しい動作になる。
【0054】すなわち、出力ビット割当レジスタ14の
値が“0000”及び“1111”に設定された場合
は、プロセッサは入れ替わるが、従来のマスタ及びチェ
ッカと同等の構成となり、同じ動作をするようになる。
【0055】次に、出力ビット割当レジスタ14の値が
“1000”に設定されたときは、図5に示すように、
マスタモードのプロセッサでは、外部出力信号6の内の
1ビットの信号だけが外部出力バス7から出力され、そ
の他の信号はチェックバス8を介して障害検出回路4に
入力されるようになり、チェッカモードのプロセッサで
は、マスタ側のプロセッサで外部に出力された信号以外
のビット位置の外部出力信号が、出力ビット割当回路1
5より自動的に割り当てられ、外部出力バス7を通じて
外部バス3に出力されるようになる 次に、出力ビット割当レジスタ14の値が“1100”
のときは、マスタモードのプロセッサでは、外部出力信
号6の内の2本だけが外部出力バス7より出力され、一
方、チェッカモードのプロセッサでは、それ以外の6本
の信号が外部出力バス7より出力されるようになる。
【0056】そして、出力ビット割当レジスタ14の値
が“1110”のときは、図1で説明した実施例の二重
系モードの場合と同じ動作となり、マスタモードにされ
たプロセッサでは、外部出力信号6の内の奇数ビットの
信号が外部出力バス7から出力され、チェッカモードの
プロセッサでは、外部出力信号6の内の偶数ビットの信
号が外部出力バス7から出力されるようになる。なお、
その他の動作は、前述場合と同じであるため、説明は省
略する。
【0057】従って、この図3の実施例によれば、同一
プロセッサ構成のままで、マスタとしての動作と、チェ
ッカとしての動作の何れにも切換ができ、且つ、出力ビ
ットの組合せも任意に変えることができることになり、
更に広い汎用性を持たせることができる。
【0058】ところで、プロセッサには、その入出力バ
スを双方向バスで構成したものもある。そこで、図3の
実施例と同じく、出力ビット割当レジスタ14と出力ビ
ット割当回路15を備えたプロセッサ構成において、入
出力バスを双方向バスにした場合の実施例を、図6に示
す。この図6の実施例において、プロセッサ12は双方
向の外部入出力信号6aを持ち、双方向の外部入出力バ
ス7aを介して外部バス3に接続されている。
【0059】そして、このプロセッサ12の内部には、
出力ビット割当レジスタ14と出力ビット割当回路15
a、それに、この出力ビット割当回路15aの出力によ
り制御されるトライステートバッファ150aが設けて
ある。
【0060】さらに、双方向バス7aの信号を障害検出
回路4に入力する内部バス8aと、外部バス3からの入
力信号を障害検出回路4に入力する内部バス9aが設け
られている。なお、障害検出回路4と障害検出信号出力
ピン10、それにマスタ/チェッカ切替信号入力ピン1
3を備えている点は、図3の実施例と同じである。
【0061】図7は、出力ビット割当回路15aの詳細
を示したもので、この場合の出力ビット割当回路15a
の動作は、前述した出力ビット割当回路15の各ビット
に設けてあるゲートの代りにトライステートバッファ1
50aが設けてあるだけで、その他は同様であり、さら
に出力ビット割当レジスタ14の設定値と外部入出力バ
ス7から出力されるビット数の関係も同様なので、動作
についての説明は省略する。
【0062】従って、この実施例によっても、同一プロ
セッサ構成のままで、マスタとしての動作と、チェッカ
としての動作の何れにも切換ができ、且つ、出力ビット
の組合せも任意に変えることができることになり、広い
汎用性を持たせることができる。
【0063】<実施例3>次に、本発明の更に別の実施
例について説明すると、以下の説明は、種々の条件によ
って、以上の実施例で説明した様々な動作を動的に制御
するようにした、いわば“動的出力ビット割当方式”と
でも呼ぶべき本発明の一実施例に関するものである。
【0064】〔温度感知方式〕まず、動的に制御する条
件の一例として、プロセッサの温度を設定した実施例に
ついて説明する。図8において、16、17は、マスタ
チェッカ方式で動作するプロセッサで、上記したよう
に、ここでも、一応マスタ16とチェッカ17と呼ぶ場
合がある。
【0065】これらのマスタ16とチェッカ17は、図
3で説明した実施例と同じもので、これらを外部バス3
に接続して二重系を構成しており、これらマスタ16と
チェッカ17には、その温度を測定する温度センサ18
a、18bと、プロセッサの動作を動的に制御するため
の割当値設定回路19が設けてある。
【0066】従って、この実施例では、これら温度セン
サ18a、18bと、割当値設定回路19が、プロセッ
サの動作状態を監視する手段を構成している。また、こ
れに合わせて、この実施例では、各プロセッサに、外部
から出力ビット割当レジスタ14にデータを入力するの
に用いる外部入力端子ピン群20が設けてあり、その他
の構成は、図3で説明した通りである。
【0067】次に、この実施例の動作について説明する
と、この図8に示した実施例は、図9に示すフローチャ
ートに従って動作する。まず、温度センサ18a、18
bは、マスタプロセッサ16とチェッカプロセッサ17
の温度を測定し、その結果を温度データとして割当値設
定回路19に入力する(S1)。
【0068】そこで、この割当値設定回路19は、入力
された温度データを比較し、温度の高い方のプロセッサ
を特定し、この温度の高い方のプロセッサのマスタ/チ
ェッカ切替信号入力ピン13をローレベルにしてマスタ
モードに設定し、温度の低い方のプロセッサのマスタ/
チェッカ切替信号入力ピン13はハイレベルを入力して
チェッカモードに設定する(S2)。
【0069】次いで、これら2個のプロセッサの温度差
を計算し(S3)、その差に応じて、割当値設定回路19
から外部入力ピン群20を介して出力ビット割当レジス
タ14に所定の数値を入力し(S4)、出力ビット割当回
路15による出力ビットの設定を行わせるのである(S
5)。
【0070】このとき、ステップS4での所定の数値に
ついては、以下のようにして決定する。すなわち、ま
ず、ここで、プロセッサ間に温度差が無かった場合は、
出力ビット割当レジスタ14に数値“1110”を入力
してやるようにする。これにより、図5の表から明らか
なように、出力ビット数が両方のプロセッサで同じにさ
れるので、発熱量が分散され、そのまま温度差が無い状
態が保たれるようにすることができる。
【0071】次に、プロセッサ間に温度差があった場合
には、数値“1110”以外の数値“1100”から順
次、温度差に応じて数値“1000”にし、温度の高い
方のプロセッサの出力データビット数を減らして行き、
非常に大きい温度差があった場合は、最終的には、数値
“0000”を入力して、マスタ側のプロセッサを完全
なチェッカとして動作させるようにするのである。そし
て、これら一連の動作は、あまり大きな温度差が生じな
いよう、図示のように、なるべく短い所定の周期で反復
させるのである。
【0072】従って、この実施例によれば、各プロセッ
サの温度に応じて出力データのビット数が動的に変化さ
れ、各プロセッサの動作中、それらの温度が均等化され
るように制御される“動的出力ビット割当方式”による
制御が得られることになり、さらにマスタとチェッカの
双方のプロセッサ間での電力損失による発熱量の均等化
が図られ、局部的な発熱による温度上昇を充分に抑える
ことができる。
【0073】ところで、プロセッサの動作状況を表わす
要素としては、温度以外にもノイズや消費電力などがあ
るので、上記した温度センサ18に代えてノイズセンサ
や消費電力モニタ回路を用い、ノイズの強度や消費電力
の大きさに応じてマスタ/チェッカの切換えと、出力信
号のビット数の切換えを行うようにしてもよい。
【0074】〔障害状況判定方式〕次に、動的に制御す
る条件の他の例として、プロセッサの障害状況を判定す
るようにした実施例について図10により説明する。図
10において、21は障害状況判定回路であり、その他
の構成は、図8の実施例と同じである。
【0075】障害状況判定回路21は、各プロセッサ1
7、18の動作状態を監視する手段となるもので、障害
検出回路4から出力される障害検出信号をそれぞれ入力
し、これらのプロセッサでの障害発生状況を判定し、こ
の判定結果に応じて、外部入力ピン群20を介して出力
ビット割当レジスタ14に、順次、異なった所定の数値
を入力し、これにより、出力信号のビット数の切換えを
順次、異なった態様で行ない、その都度、障害検出回路
4による障害検出を待ち、障害が検出されなくなったと
き、出力信号のビット数の切換えを停止するように構成
されている。
【0076】上記したように、マスタプロセッサ16と
チェッカプロセッサ17とでは、外部出力バス7とチェ
ックバス8の各信号ビットは、図5からも明らかなよう
に、それぞれ相互に補完関係にあり、従って、出力信号
のビット数の切換えを順次、異なった態様で行なって
も、マスタプロセッサ16とチェッカプロセッサ17の
出力データのビットが変化するだけで、全体の動作には
変化を生じない。
【0077】そこで、例えば、いま、プロセッサ17に
障害が発生し検出されたとき、この障害が、図示のよう
に、チェックバス8の中のビット81の信号の異常によ
るものであったとする。
【0078】一方、このときは、この障害検出に応じ
て、障害状況判定回路21が出力信号のビット数の切換
えを順次、異なった態様で行ない、出力ビット割当レジ
スタ14に供給すべきデータを、例えば図5にしたがっ
て、“0000”→“1000”→“1100”→“1
110”→“1111”と順次変化させて行ったとする
と、このとき、何れかの段階で、チェッカプロセッサ1
7側のチェックバス8の中のビット81の信号が、マス
タプロセッサ16側のチェックバス8の中の同じビット
に切換えられた状態になる筈である。
【0079】そうすると、この切換えられた時点で、チ
ェッカプロセッサ17側のチェックバス8の中のビット
81を介して伝送される信号は無くなるので、チェッカ
プロセッサ17側の障害検出回路4に入力されるデータ
には異常が無くなり、障害は検出されなくなる。
【0080】そして、これによっても、上記したよう
に、マスタプロセッサ16とチェッカプロセッサ17
で、出力データのビット位置の配分が変化するだけで、
全体の動作には変化が生じないので正常な状態に戻り、
動作を継続させることができる。
【0081】そして、このことは、外部入力バス9の何
れかのビットに異常を生じたときでも同じで、上記した
ビット数の切換えにより正常な動作に戻すことができ
る。
【0082】また、以上は、チェッカプロセッサ17側
での障害発生について説明したが、マスタプロセッサ1
6側でも同じであり、同じく障害が検出されたときにも
正常な動作状態に戻すことができる。
【0083】従って、この実施例によれば、障害が発生
したときでも、その障害の内容によっては、自動的に障
害による異常は抑えられ、直ちに正常な動作状態に戻す
ことができることになり、この結果、高い信頼性を持た
せることができる。
【0084】但し、異常になったビットの数が複数にな
ると、切換えてもデータビットに欠落が生じてしまうよ
うになるので、正常な動作に戻ることができる異常にも
限度があるが、通常、複数ビットに異常が生じる確率は
かなり小さいので、この実施例によれば、充分な実用性
を得ることができる。
【0085】
【発明の効果】本発明によれば、複数のプロセッサを用
いた二重系のシステムにおいて、プロセッサ間での電力
消費を均等化することができるので、局部的な温度上昇
の虞れがなくなり、冷却のための温度管理が容易にな
り、特別な冷却装置を設なくても温度上昇を抑えること
ができ、システムの小型化とコスト低減を充分に図るこ
とができる。
【0086】また、本発明によれば、プロセッサの出力
信号がマスタとチェッカ間で交互に分担されるようにな
るので、同期スイッチングなど信号線間のノイズによる
影響が低減され、信頼性を高めることができる。
【0087】さらに、本発明によれば、マスタチェッカ
方式など二重系のシステムに使用できるだけではなく、
一重系システムにもそのまま使用できるプロセッサが得
られるので、汎用性に富んだプロセッサをローコストで
提供することができる。
【0088】また、本発明によれば、動的にマスタチェ
ッカ間での出力ビットを分担するシステムを得ることが
できるので、負荷が一方に片寄るようなことが無く、シ
ステム全体の故障率が低減でき、高い信頼性のシステム
を容易にえることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるプロセッサシステムの一実施例を
示すブロック図である。
【図2】本発明におけるセレクタ回路の一実施例を示す
回路図である。
【図3】本発明によるプロセッサの一実施例を示すブロ
ック図である。
【図4】本発明における出力ビット割当回路の一実施例
を示す回路図である。
【図5】本発明の実施例における出力ビット割当モード
対応表を示す説明図である。
【図6】本発明によるプロセッサの他の一実施例を示す
ブロック図である。
【図7】本発明における出力ビット割当回路の他の一実
施例を示す回路図である。
【図8】本発明によるプロセッサシステムの他の一実施
例を示すブロック図である。
【図9】本発明の一実施例における動的出力ビット割当
方式の動作を示すフローチャートである。
【図10】本発明によるプロセッサシステムの更に別の
一実施例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 マスタプロセッサ 2 チェッカプロセッサ 3 外部バス 4 障害検出回路 5a、5b セレクタ回路 6 外部出力信号 6a 外部入出力信号 7 外部出力バス 7a 外部入出力バス 8、8a、9a 内部バス 9 外部入力バス 10 障害検出信号用出力ピン 11 モード切替信号入力ピン 12、16、17 プロセッサ 13 マスタ/チェッカ切替信号用入力ピン 14 出力ビット割当レジスタ 15、15a 出力ビット割当回路 18 温度センサ 19 割当値設定回路 20 外部入力ピン群
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 池田 光二 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 下村 哲也 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2重化されたプロセッサを備え、マスタ
    チェッカ方式で動作するプロセッサシステムにおいて、 各プロセッサによる演算結果を表わす複数ビットからな
    る出力信号のうち、一方のプロセッサは、一部のビット
    の信号だけを外部バスに出力し、他方のプロセッサが残
    りのビットの信号を外部バスに出力するように構成した
    ことを特徴とするプロセッサシステム。
  2. 【請求項2】 請求項1の発明において、 上記一方のプロセッサが出力する信号のビット位置と、
    上記他方のプロセッサが出力する信号のビット位置が、
    交互に配列されていることを特徴とするプロセッサシス
    テム。
  3. 【請求項3】 請求項1の発明において、 上記一方のプロセッサが出力する信号のビット位置と、
    上記他方のプロセッサが出力する信号のビット位置と
    を、互いに重複させないで外部から任意に変化させるこ
    とができるように構成したことを特徴とするプロセッサ
    システム。
  4. 【請求項4】 請求項1の発明において、 上記プロセッサの動作状態を検出する監視手段を設け、 上記一方のプロセッサが出力すべき信号のビットと、上
    記他方のプロセッサが出力すべき信号のビットを、上記
    監視手段により検出した結果に応じて変化させるように
    構成したことを特徴とするプロセッサシステム。
  5. 【請求項5】 演算結果を外部バスに出力する出力端子
    群と、障害検出回路とを備えたプロセッサにおいて、 プロセッサ本体の演算結果出力部から上記出力端子群に
    到る経路にセレクタ手段を設け、 上記演算結果出力部から上記出力端子群に到る経路の少
    なくとも一部を上記障害検出回路に選択的に切換えるよ
    うに構成したことを特徴とするプロセッサ。
  6. 【請求項6】 請求項5の発明において、 上記セレクタ手段に外部から切換信号を入力する信号入
    力端子が設けられていることを特徴とするプロセッサ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2008114670A1 (ja) * 2007-03-21 2008-09-25 Advantest Corporation 試験装置及び電子デバイス

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2008114670A1 (ja) * 2007-03-21 2008-09-25 Advantest Corporation 試験装置及び電子デバイス
US7716541B2 (en) 2007-03-21 2010-05-11 Advantest Corporation Test apparatus and electronic device for generating test signal to a device under test
JPWO2008114670A1 (ja) * 2007-03-21 2010-07-01 株式会社アドバンテスト 試験装置及び電子デバイス

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