JPH09115835A - ウエハ処理装置 - Google Patents

ウエハ処理装置

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JPH09115835A
JPH09115835A JP27383395A JP27383395A JPH09115835A JP H09115835 A JPH09115835 A JP H09115835A JP 27383395 A JP27383395 A JP 27383395A JP 27383395 A JP27383395 A JP 27383395A JP H09115835 A JPH09115835 A JP H09115835A
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JP
Japan
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wafer
heat sink
heat
outer peripheral
holding means
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JP27383395A
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English (en)
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Kenichi Obinata
健一 小日向
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Original Assignee
Sony Corp
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  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウエハ処理において、ウエハに発生する熱を
放熱させるためのヒートシンクは、ウエハとの密着性が
十分に得られないため、ウエハの放熱効率が低かった。
そのため、ウエハが高温になって、品質の低下を招いて
いた。 【解決手段】 処理室11内に設けたウエハ保持手段21
と、このウエハ保持手段21に保持されるウエハ51の裏面
に接触するヒートシンク41とを備えたウエハ処理装置1
において、ヒートシンク41のウエハ接触面42を凸状曲面
で形成するとともに、ウエハ51の少なくとも外周部の一
部分とウエハ51の少なくとも外周部の一部分とを挟み付
ける固定治具31を備えることによって、ウエハ51とヒー
トシンク41との密着性の向上を図り、ウエハ51の放熱効
率を高めたウエハ処理装置である。このヒートシンク41
のウエハ接触面42には、熱伝導シート61を設けてもよ
い。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、蒸着装置、スパッ
タリング装置、CVD装置等の成膜装置、エッチング装
置、イオン注入装置等のウエハ処理装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】ウエハの大口径化にともなって、いわゆ
るバッチ式処理装置から枚葉式処理装置へと移行する傾
向が強くなっている。この枚葉式処理装置では、スルー
プットが遅いという問題があり、これを補うために、例
えばプラズマ処理装置の場合には、プラズマ密度を高く
して高速処理を行うことが一般的になっている。すなわ
ち、ウエハにとってはより大きな処理エネルギーを受け
ることになる。そのため、処理中のウエハ温度の上昇が
問題になってくる。
【0003】例えば、最近のフリップチップ高密度実装
において、はんだバンプを形成するためのはんだ蒸着を
例にして説明する。従来のウエハ処理装置では、図7に
示すように、ウエハ151の外周側を環状支持部材11
1によって支持し、そのウエハ151の裏面152に接
触するようにヒートシンク141の平坦に形成されたウ
エハ接触面142を接触させて、このヒートシンク14
1をウエハ151上に載せていた。したがって、ヒート
シンク141の自重を利用して、ウエハ151にヒート
シンク141を押し当てていた。なお、上記環状支持部
材111は、ウエハ151の外径よりも大きい内径を有
する環状部本体112と、ウエハ151を載置するため
のもので環状部本体112の内周側に設けた内側つば部
113と、環状本体112の外周に設けた外周つば部1
14とから構成されていた。この外周つば部114によ
って、例えば自公転プラネタリー131に環状支持部材
111を支持していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のウエハ処理装置
では、ウエハの熱を放熱させるためのヒートシンクをウ
エハに密着させるには、単に、リング状部材で外周側を
支持されているウエハ上にヒートシンクを載せていた。
そのため、ウエハの外周側とヒートシンクとの密着性は
高かったが、ウエハの中央部およびその近傍はヒートシ
ンクの接触圧が低いために接触効率が低くなっていた。
またウエハ自体の反りやヒートシンクのウエハ接触面の
微小な凹凸によっても接触効率の低下を来していた。そ
のため、大きな放熱効果は得られなかった。その結果、
ウエハよりヒートシンクに伝わる熱量が少なくなり、ウ
エハの熱をヒートシンクに十分に逃がすことができなか
ったので、ウエハの温度は上昇することになった。
【0005】また、ヒートシンク内部に冷却用の冷媒
(例えば冷却水、冷却ガス等)を流そうとしても、ヒー
トシンクが自公転運動をするいわゆるプラネタリー方式
や公転ドーム方式では、冷媒の供給に対応し難かった。
上記のような処理装置を用いて、例えばレジストの厚膜
を用いたリフトオフ法によってはんだバンプを形成した
場合には、レジスト膜が処理中の温度上昇によって変質
したり焼き付いたりして、大きな問題となった。さら
に、処理温度が高くなる程、レジスト膜からの脱ガス量
が多くなるので、リフトオフ法における成膜処理では、
放出されたガスが膜内に取り込まれるため、膜の品質が
低下するという問題の生じていた。例えば金属膜の場合
には、抵抗値の増加や、密着強度の低下を招いていた。
【0006】上記課題は、はんだ蒸着装置のみならず、
スパッタリング装置、CVD装置、エッチング装置、イ
オン注入装置等の処理装置にもいえる。
【0007】本発明は熱伝導効率に優れたウエハ処理装
置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためになされたウエハ処理装置である。すなわ
ち、処理室内に設けたウエハ保持手段と、このウエハ保
持手段に支持されるウエハ面に接触するヒートシンクと
を備えたウエハ処理装置において、ヒートシンクのウエ
ハ接触面を凸状曲面で形成するとともに、ウエハの少な
くとも外周部の一部分とヒートシンクの少なくとも外周
部の一部分とを挟みつける固定治具を備えたものであ
る。またヒートシンクのウエハ接触面に、ウエハからの
熱をこのヒートシンクに伝え易くする熱伝導シートを設
けたウエハ処理装置である。
【0009】上記構成のウエハ処理装置では、ヒートシ
ンクのウエハ接触面を凸状曲面で形成したことから、お
よびウエハの少なくとも外周部の一部分とヒートシンク
の少なくとも外周部の一部分とを挟みつける固定治具を
備えたことから、ヒートシンクのウエハ接触面に向かい
合うウエハの一面は、ヒートシンクの凸状曲面に形成さ
れたウエハ接触面に密着する。そのため、ウエハで発生
する熱は、ヒートシンクに伝わり易くなるので、ウエハ
の放熱効果が向上する。またヒートシンクのウエハ接触
面に、ウエハからの熱をこのヒートシンクに伝え易くす
る熱伝導シートを設けたことから、ウエハとヒートシン
クとの密着性はさらに向上しする。そのため、ウエハで
発生する熱は、ヒートシンクにより一層伝わり易くなる
ので、ウエハの放熱効果はさらに向上する。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施形態の一例を
図1および図2によって説明する。図1には、ウエハ保
持に係わる要部を示し、図2には、一例として、公転ド
ーム型蒸着装置の概略構成を示す。
【0011】図2に示すように、蒸着装置1には処理室
11が備えられている。この処理室11には、真空ポン
プ12が接続され、処理室11の内部を真空雰囲気にす
ることができる。また上記処理室11の内部には、蒸着
源91を収納するるつぼ13が設置されている。このる
つぼ13には、蒸着源91を加熱するための加熱部14
が備えられている。またるつぼ13の上方には、シャッ
ター15が設置されている。図面では、一つのるつぼ1
3、加熱部14、シャッター15しか示していないが、
当然のことながら、るつぼ13、加熱部14、シャッタ
ー15は蒸着源91の種類に応じて設置される。上記構
成は、一般の蒸着装置とほぼ同様である。
【0012】さらに処理室11の内部で上記るつぼ13
の開口部上方には、上記シャッター15を介して、ウエ
ハ保持手段21が設けられている。このウエハ保持手段
21は、いわゆる、椀型(ドーム型)に形成されてい
る。このウエハ保持手段21は、駆動軸16を介して、
処理室11の外部に設けた駆動部17に接続されてい
る。すなわち駆動部17を駆動することによって駆動軸
16が回転し、それにともなってウエハ保持手段21が
回転する。
【0013】図1に示すように、上記ウエハ保持手段2
1には、開口部22が形成されている。またウエハ51
の蒸着面とは反対側の面(以下、裏面という)には固定
治具31によってヒートシンク41が密着されている。
そしてウエハ51は、固定治具31を介して上記ウエハ
保持手段21に支持されている。なお、開口部22、固
定治具31、ヒートシンク41およびウエハ51は、上
記図2にも示した。
【0014】上記ヒートシンク41は、例えば熱伝導性
に優れたアルミニウムで形成され、そのウエハ接触面4
2は凸状曲面に形成されている。そしてウエハ接触面4
2は、例えば曲率半径R=4.6m〜16.1mの範囲
内の曲率半径Rを有する曲面で形成されている。この曲
率半径Rは、好ましくは、R=6.4m〜10.7mの
範囲内に設定する。例えば、ウエハ51の径が150m
mの場合にはヒートシンク41の径は160mmに形成
されている。
【0015】また上記固定治具31は、ウエハ51の外
周部の少なくとも一部分を押さえて、そのウエハ51の
裏面をヒートシンク41のウエハ接触面に押さえ付けて
密着させるものであり、かつ上記ウエハ保持手段21に
支持される構成も有している。
【0016】上記固定治具31は、例えば以下のような
構成を成している。すなわち、ウエハ51の径よりもや
や大きい(例えば、1%〜10%程度大きい)環状本体
部32を有し、環状本体部32の内周側にはウエハ51
の外周部を載せる内周つば部33が形成され、環状本体
部32の外周側には外周つば部34が形成されている。
この外周つば部34は、固定治具31の環状本体部32
の下部を上記ウエハ保持手段21の開口部22に挿入し
た際に、ウエハ保持手段21上に載って固定治具31を
ウエハ保持手段21上に支持するものである。さらに、
上記内周つば部33に、その内周つば部33上に載置し
たウエハ51と、そのウエハ51上に置いたヒートシン
ク41とを挟みつけるようにして固定するクランプ35
が設けられている。
【0017】または、上記クランプ35によって、直接
ヒートシンク41とウエハ51とを挟み付ける構造と
し、クランプ35の外側にウエハ保持手段21に支持可
能な外周つば部34を形成してもよい。
【0018】そして、上記内周つば部33のウエハ載置
面は、例えば、フッ素系樹脂のようなウエハ51への汚
染を防止するような樹脂、またはウエハ51への汚染を
防止するようなセラミックスによってコーティングされ
ていることが好ましい。
【0019】上記構成のウエハ処理装置1では、ヒート
シンク41のウエハ接触面42を凸状曲面で形成したこ
とから、およびウエハ51の少なくとも外周部の一部分
とヒートシンク41の少なくとも外周部の一部分とを挟
みつける固定治具31を備えたことから、ヒートシンク
41のウエハ接触面42に向かい合うウエハ51の一面
52は、ヒートシンク41の凸状曲面に形成されたウエ
ハ接触面42に密着する。そのため、ウエハ51で発生
する熱は、ヒートシンク41に伝わり易くなるので、ウ
エハ51の放熱効果が向上する。したがって、従来のよ
うに、ヒートシンクの自重によって、ヒートシンクのウ
エハ接触面をウエハの面に押し当てる方式のものより、
ウエハ51の一面とヒートシンク41のウエハ接触面と
の密着性は高まる。
【0020】上記のようにして、ウエハ接触面42とウ
エハ51の一面52との密着性を高めたので、必要最低
限までヒートシンク41を薄くかつ軽くすることが可能
になる。また、熱によるウエハ51の反りも吸収するこ
とができる。
【0021】次に、上記ウエハ処理装置1におけるウエ
ハ51の放熱効率を調べた。実験では、ウエハ51に1
50mm径のいわゆるベアシリコンウエハを用いた。そ
の結果、上記ヒートシンク41を用いた場合には、ヒー
トシンク41を用いない場合に比較して、ウエハ51の
温度を80℃程度低くすることができた。なお、上記ヒ
ートシンク41は、曲率半径R≒8.00mのものであ
る。
【0022】一方、比較例として、従来のウエハ接触面
が平坦なヒートシンクを用いて、従来のようにヒートシ
ンクをウエハ51ん裏面上に単に載せただけの場合に
は、ウエハ51の温度は50℃程度しか低くならなかっ
た。したがって、本発明のヒートシンク41を用いたウ
エハ処理装置1では、ウエハ処理時のウエハ51の温度
を従来よりも30℃程度低くすることが可能になった。
【0023】なお、図3に示すように、上記ヒートシン
ク41は、放熱の効率を良くするために、ウエハ接触面
42とは反対側の面に放熱フィン43を設けることも可
能である。
【0024】また、上記固定治具31は、一例としてク
ランプ式のものを説明したが、ウエハ51とヒートシン
ク41とを密着固定するものであれば、どのような構造
のものであってもよい。
【0025】例えば、図4に示すように、上記ねじ締め
式の固定治具31は、以下のような構成を成している。
図では、上記図1で説明したのと同様の構成部品には同
一符号を付す。
【0026】すなわち、ウエハ51の径よりもやや大き
い(例えば、1%〜10%程度大きい)環状本体部32
を有し、環状本体部32の内周側にはウエハ51の外周
部を載せる内周つば部33が形成され、環状本体部32
の外周側には外周つば部34が形成されている。この外
周つば部34は、固定治具31の環状本体部32の下部
を上記ウエハ保持手段21の開口部22に挿入した際
に、ウエハ保持手段21上に載せて固定治具31をウエ
ハ保持手段21上に支持するものである。
【0027】さらに、上記環状本体部32には、内周つ
ば部33上に載置したウエハ51と、そのウエハ上に置
いたヒートシンク41とを挟みつける固定用環状部36
が設けられている。この固定用環状部36の外周径は、
例えば上記環状本体部32の外周径とほぼ同等に形成さ
れ、その内周径はヒートシンク41の外周径よりも小さ
く形成されている。そして環状本体部32に設けた複数
のねじ孔37に対応する位置に貫通孔38が形成されて
いる。さらに貫通孔38を通してねじ孔37にねじ39
をねじ込むことで固定用環状部36を環状本体部32に
締め付けて固定する。したがって、ねじ39を締め付け
ることによってウエハ51とヒートシンク41とは内周
つば部33と固定用環状部36との間に挟まれて固定さ
れる。
【0028】次に別の構成の蒸着装置を図5によって説
明する。図5では、一例として、プラネタリー式の蒸着
装置を示す。なお、図5では、上記図2で説明した構成
部品と同様のものには同一符号を付す。
【0029】図5に示すように、蒸着装置2には処理室
11が備えられている。この処理室11には、真空ポン
プ12が接続され、処理室11の内部を真空雰囲気にす
ることができる。また上記処理室11の内部には、蒸着
源91a,91bを収納するるつぼ13a,13bが設
置されている。このるつぼ13a,13bには、蒸着源
91a,91bをそれぞれに加熱するための加熱部14
a,14bが備えられている。またるつぼ13a,13
bの上方には、シャッター15a,15bが設置されて
いる。上記構成は、一般の蒸着装置と同様である。
【0030】さらに処理室11の内部で上記るつぼ13
a,13bの各開口部上方には、上記シャッター15
a,15bを介して、ウエハ保持手段となるプラネタリ
ー25が設けられている。このプラネタリー25は、公
転アーム26と複数の自転ドーム27a,27bとから
なり、公転アーム26は、駆動軸16を介して、処理室
11の外部に設けた駆動部17に接続されている。すな
わち駆動部17を駆動することによって、駆動軸16が
回転し、それにともなって公転26が回転する。一方、
自転ドーム27a,27bは、公転アーム26に設置さ
れた駆動部18a,18bに駆動軸19a,19bを介
して接続されている。すなわち駆動部18a,18bを
それぞれに駆動することによって、駆動軸19a,19
bが回転し、それにともなって自転ドーム27a,27
bが回転する。
【0031】上記プラネタリー25には、ウエハ支持部
(図示省略)が形成されている。このウエハ支持部は、
前記説明したヒートシンク41とウエハ51とを密着さ
せるための固定治具31を保持することにより、間接的
にウエハ51を保持するものである。
【0032】次に第2の実施形態の一例を図6によって
説明する。なお、図6では、上記図1によって説明した
構成部品と同様のものには同一の符号を付す。
【0033】図6に示すように、ヒートシンク41のウ
エハ接触面42に、ウエハ51からの熱をヒートシンク
41に伝える熱伝導シート61を設けたものである。上
記熱伝導シート61は、例えばシリコンゴム、ボロンナ
イトライド、グラスファイバーなどで形成されている。
そして、例えば熱伝導シート61では0.3mm〜0.
45mmの範囲内の所定の厚さのものを用いる。
【0034】上記のように、ヒートシンク41とウエハ
51との間に熱伝導シート61を設けた構成では、ウエ
ハ51の裏面の微細な凹凸やヒートシンク41のウエハ
接触面42の微細な凹凸が熱伝導シート61によって吸
収される。そのため、ウエハ51とヒートシンク41と
の接触がさらに十分になり、熱伝導効率が高められる。
【0035】次に、上記ウエハ処理装置1における熱伝
導シート61を用いた場合のウエハの放熱効率を調べ
た。実験では、ウエハ51に150mm径のいわゆるベ
アシリコンウエハを用いた。また熱伝導シート61に
は、厚さが0.45mmのボロンナイトライド系シリコ
ンゴムシートを用いた。その結果、上記ヒートシンク4
1と熱伝導シート61とを用いた場合には、ヒートシン
ク41と熱伝導シート61とを用いない場合に比較し
て、ウエハ51の温度を100℃程度低くすることがで
きた。
【0036】一方、比較例として、従来のウエハ接触面
が平坦なヒートシンクを用いて、従来のようにウエハ5
1上に単に載せただけの場合には、ウエハ51の温度は
50℃程度しか低くならなかった。したがって、本発明
のヒートシンク41と熱伝導シート61とを用いたウエ
ハ処理装置1では、ウエハ処理時のウエハ51の温度を
従来よりも100℃程度低くすることが可能になった。
種々のウエハ温度による実験の結果、ヒートシンク41
と熱伝導シート61とを用いたウエハ処理では、従来の
ヒートシンクのみを用いたウエハ処理と比較して、2倍
〜3倍程度の放熱効率の向上を図ることができた。
【0037】次に、上記図1および図2によって説明し
た蒸着装置1を用い、上記図6によって説明した熱伝導
シート61を設けて、ウエハ51の表面にはんだを蒸着
した。蒸着時の処理室11内の圧力を真空蒸着雰囲気と
し、鉛およびスズを加熱してそれぞれを蒸発させてはん
だの蒸着膜を形成した。
【0038】その結果、ヒートシンク41と熱伝導シー
ト61とを用いたことによって、ウエハ51の温度上昇
が抑えられたため、リフトオフ法のために用いているレ
ジストのパターニングの変形が抑えられ、またレジスト
膜は熱変質(例えば、レジスト膜が剥がれ易くなる現
象)を起こさなかった。さらに脱ガスが抑えられたこと
により、膜厚の制御性は向上し、ガスの取り込みによる
はんだの抵抗上昇も抑えることができた。このようにウ
エハ処理の品質の向上が図れた。
【0039】上記実施形態の説明では、ウエハ処理装置
として蒸着装置を例にして説明したが、本発明の構成
は、例えばスパッタリング装置、CVD装置、エッチン
グ装置、イオン注入装置等のウエハ処理装置にも適用す
ることが可能である。
【0040】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
ヒートシンクのウエハ接触面を凸状曲面で形成し、固定
治具によってウエハの少なくとも外周部の一部分とヒー
トシンクの少なくとも外周部の一部分とを挟み付けたの
で、ヒートシンクのウエハ接触面にウエハの一面は密着
する。そのため、ウエハで発生する熱は、ヒートシンク
に伝わり易くなるので、ウエハの放熱効果の向上が図れ
る。よって、ウエハの低温処理が可能となるため、ウエ
ハの品質の向上が図れる。またヒートシンクのウエハ接
触面に熱伝導シートを設けた発明によれば、ウエハとヒ
ートシンクとの密着性をさらに向上させることができ
る。そのため、ウエハの放熱効果のさらなる向上を図る
ことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施形態に係わる要部概略断面図であ
る。
【図2】第1の実施形態に係わる装置例の概略構成図で
ある。
【図3】ヒートシンクの改良例の説明図である。
【図4】別の固定治具の概略構成断面図である。
【図5】別の蒸着装置の概略構成図である。
【図6】第2の実施形態に係わる要部概略断面図であ
る。
【図7】従来のヒートシンクに係わる概略断面図であ
る。
【符号の説明】
1 ウエハ処理装置 11 処理室 21 ウエハ保持手段 31 固定治具 41 ヒートシンク 42 ウエハ接触
面 51 ウエハ 52 ウエハの一
面 61 熱伝導シート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/3065 H01L 21/265 E 21/68 21/302 B

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理室内に設けたウエハ保持手段に支持
    されるウエハの一面に接触するヒートシンクを備えたウ
    エハ処理装置において、 前記ヒートシンクのウエハ接触面は凸状曲面で形成され
    るとともに、 前記ウエハの少なくとも外周部の一部分と前記ヒートシ
    ンクの少なくとも外周部の一部分とを挟みつける固定治
    具を備えたことを特徴とするウエハ処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のウエハ処理装置におい
    て、 前記ヒートシンクのウエハ接触面に、前記ウエハからの
    熱を前記ヒートシンクに伝える熱伝導シートを設けたこ
    とを特徴とするウエハ処理装置。
JP27383395A 1995-10-23 1995-10-23 ウエハ処理装置 Pending JPH09115835A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6333551B1 (en) 2000-09-07 2001-12-25 International Business Machines Corporation Surface profiling in electronic packages for reducing thermally induced interfacial stresses
JP2007162107A (ja) * 2005-12-16 2007-06-28 Citizen Fine Tech Co Ltd ハンダ膜及びその形成方法
JP2009238869A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Ulvac Japan Ltd 搬送トレー及びこの搬送トレーを用いた真空処理装置

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