JPH0879529A - 画像処理装置 - Google Patents
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- JPH0879529A JPH0879529A JP6239426A JP23942694A JPH0879529A JP H0879529 A JPH0879529 A JP H0879529A JP 6239426 A JP6239426 A JP 6239426A JP 23942694 A JP23942694 A JP 23942694A JP H0879529 A JPH0879529 A JP H0879529A
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 5
- 238000003705 background correction Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 2
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
- G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
- G06K7/14—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation using light without selection of wavelength, e.g. sensing reflected white light
- G06K7/1404—Methods for optical code recognition
- G06K7/1439—Methods for optical code recognition including a method step for retrieval of the optical code
- G06K7/1452—Methods for optical code recognition including a method step for retrieval of the optical code detecting bar code edges
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Abstract
(57)【要約】
【目的】エッジ強調のための１ラインメモリを用いなく
てもエッジ強調処理が可能な画像処理装置を提供するこ
とにある。 【構成】１次元イメージセンサの画素数より２画素以上
少ない画素数の幅に対応したピッチで２画素以上が重複
する副走査を行う走査手段と、走査手段による走査に応
じて得られた画像データについて第２画素から最終画素
の１つ手前までの画素に対してエッジ強調処理を行うエ
ッジ強調手段とを備えるものである。
てもエッジ強調処理が可能な画像処理装置を提供するこ
とにある。 【構成】１次元イメージセンサの画素数より２画素以上
少ない画素数の幅に対応したピッチで２画素以上が重複
する副走査を行う走査手段と、走査手段による走査に応
じて得られた画像データについて第２画素から最終画素
の１つ手前までの画素に対してエッジ強調処理を行うエ
ッジ強調手段とを備えるものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、画像処理装置に関
し、詳しくは、デジタル複写機やイメージスキャナなど
により読込んだ画像データに対してエッジ強調処理をす
る場合の強調処理の改良に関する。
し、詳しくは、デジタル複写機やイメージスキャナなど
により読込んだ画像データに対してエッジ強調処理をす
る場合の強調処理の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】イメージスキャナなどで読込んだ画像を
二値の疑似中間調処理によりレーザプリンタなどに出力
するような場合、あるいは、デジタル複写機において画
像入力を行い、それを出力するような場合に、高質の画
像を得るために入力画像データに対してエッジ強調処理
やむら補正処理などが行われる。このうちエッジ強調の
処理は、周囲の画素の値に応じて注目画素の値を決定す
る関係で１つ前の走査ラインと１つ後の走査ラインの画
素値を参照するためのメモリが必要になる。しかし、最
近では、１走査で複数ラインを同時走査することが行わ
れ、通常、前後の走査ラインの画素は、同時にメモリに
記憶できる。複数ラインのうち最終ラインのエッジ強調
には次の走査の最初のラインの画素データが必要であ
り、また、次の走査の最初のラインに対するエッジ強調
には１つ前の走査の最終ラインの画素データが必要にな
る。そのため、複数ラインを同時に走査して画像読み取
りを行うスキャナでは、最後の１ラインと次の最初の１
ライン分の画素値を記憶するメモリが必要になる。
二値の疑似中間調処理によりレーザプリンタなどに出力
するような場合、あるいは、デジタル複写機において画
像入力を行い、それを出力するような場合に、高質の画
像を得るために入力画像データに対してエッジ強調処理
やむら補正処理などが行われる。このうちエッジ強調の
処理は、周囲の画素の値に応じて注目画素の値を決定す
る関係で１つ前の走査ラインと１つ後の走査ラインの画
素値を参照するためのメモリが必要になる。しかし、最
近では、１走査で複数ラインを同時走査することが行わ
れ、通常、前後の走査ラインの画素は、同時にメモリに
記憶できる。複数ラインのうち最終ラインのエッジ強調
には次の走査の最初のラインの画素データが必要であ
り、また、次の走査の最初のラインに対するエッジ強調
には１つ前の走査の最終ラインの画素データが必要にな
る。そのため、複数ラインを同時に走査して画像読み取
りを行うスキャナでは、最後の１ラインと次の最初の１
ライン分の画素値を記憶するメモリが必要になる。
【０００３】図５は、この複数ラインを同時に走査する
場合のエッジ強調処理を説明するものである。図５に示
すように、スキャナには、１２８画素のＣＣＤセンサ１
１（図６(a)参照）が縦（副走査方向）に設けられてい
て、一回の走査で縦１２８画素分の幅で１２８ライン分
の走査ラインを同時に走査する。１回の主走査が終了す
ると、戻りの帰線期間に１２８画素分縦（副走査方向）
に移動して次の主走査が行われる。エッジ強調処理は、
図６(b) に示すように、ｘのエッジ強調値Ｘを周囲の４
画素ａ，ｂ，ｃ，ｄの値を参照して、例えば、Ｘ＝ｘ−
α（ａ＋ｂ＋ｃ−４ｘ）により算出する。ただし、α
は、係数である。そこで、走査のつなぎ目部分の画素に
おいては、次の走査における画素の検出データあるいは
１つ前の走査における画素の検出データが必要になる。
場合のエッジ強調処理を説明するものである。図５に示
すように、スキャナには、１２８画素のＣＣＤセンサ１
１（図６(a)参照）が縦（副走査方向）に設けられてい
て、一回の走査で縦１２８画素分の幅で１２８ライン分
の走査ラインを同時に走査する。１回の主走査が終了す
ると、戻りの帰線期間に１２８画素分縦（副走査方向）
に移動して次の主走査が行われる。エッジ強調処理は、
図６(b) に示すように、ｘのエッジ強調値Ｘを周囲の４
画素ａ，ｂ，ｃ，ｄの値を参照して、例えば、Ｘ＝ｘ−
α（ａ＋ｂ＋ｃ−４ｘ）により算出する。ただし、α
は、係数である。そこで、走査のつなぎ目部分の画素に
おいては、次の走査における画素の検出データあるいは
１つ前の走査における画素の検出データが必要になる。
【０００４】図６(a) においては、ＣＣＤセンサ１１に
おける１で示すブロックが最初の画素であり、１２８で
示すブロックが最終画素であって、これらの検出したデ
ータについて記憶するメモリとして通常２ライン分のラ
インメモリが装置に内蔵されていて、次の走査点のＣＣ
Ｄセンサ１１で画素データが検出された時点で１つ手前
の走査点の対応する画素についてエッジ強調処理がなさ
れる。
おける１で示すブロックが最初の画素であり、１２８で
示すブロックが最終画素であって、これらの検出したデ
ータについて記憶するメモリとして通常２ライン分のラ
インメモリが装置に内蔵されていて、次の走査点のＣＣ
Ｄセンサ１１で画素データが検出された時点で１つ手前
の走査点の対応する画素についてエッジ強調処理がなさ
れる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】最終画素と次の走査の
最初の画素とをエッジ強調するために、それぞれの１ラ
イン分のデータをメモリに記憶するために、２ライン分
の容量のラインメモリを確保しなければならず、主走査
方向のスキャン幅が大きくなればなるほどその容量は大
きくなる。また、このラインメモリを画像メモリとは別
に設けなければならない関係でその制御も独立になる。
したがって、その制御回路も必要である。この種のスキ
ャナにあっては、その性能上と小型化の関係からＣＣＤ
センサ部に前記のラインメモリを組込むことが行われる
が、このような組み込みを行う場合にセンサ部のスペー
スが少なく、回路の組み込みが難しかったり、面倒にな
る問題がある。また、この組み込みによりスキャナ自体
が高価になり、小型化し難くなる。この発明の目的は、
このような従来技術の問題点を解決するものであって、
エッジ強調のための１ラインメモリを用いなくてもエッ
ジ強調処理が可能な画像処理装置を提供することにあ
る。
最初の画素とをエッジ強調するために、それぞれの１ラ
イン分のデータをメモリに記憶するために、２ライン分
の容量のラインメモリを確保しなければならず、主走査
方向のスキャン幅が大きくなればなるほどその容量は大
きくなる。また、このラインメモリを画像メモリとは別
に設けなければならない関係でその制御も独立になる。
したがって、その制御回路も必要である。この種のスキ
ャナにあっては、その性能上と小型化の関係からＣＣＤ
センサ部に前記のラインメモリを組込むことが行われる
が、このような組み込みを行う場合にセンサ部のスペー
スが少なく、回路の組み込みが難しかったり、面倒にな
る問題がある。また、この組み込みによりスキャナ自体
が高価になり、小型化し難くなる。この発明の目的は、
このような従来技術の問題点を解決するものであって、
エッジ強調のための１ラインメモリを用いなくてもエッ
ジ強調処理が可能な画像処理装置を提供することにあ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るこの発明の画像処理装置の特徴は、１次元イメージセ
ンサの画素数より２画素以上少ない画素数の幅に対応し
たピッチで２画素以上が重複する副走査を行う走査手段
と、走査手段による走査に応じて得られた画像データに
ついて第２画素から最終画素の１つ手前までの画素に対
してエッジ強調処理を行うエッジ強調手段とを備えるも
のである。
るこの発明の画像処理装置の特徴は、１次元イメージセ
ンサの画素数より２画素以上少ない画素数の幅に対応し
たピッチで２画素以上が重複する副走査を行う走査手段
と、走査手段による走査に応じて得られた画像データに
ついて第２画素から最終画素の１つ手前までの画素に対
してエッジ強調処理を行うエッジ強調手段とを備えるも
のである。
【０００７】
【作用】このように、２画素以上副走査方向において重
複走査をさせれば、１つ手前の最終２画素分のデータが
次の主走査で得られるので、次の主走査の２画素目から
のエッジ強調処理は、１つ前の走査の最終画素、そして
次の走査の最初の画素の順のエッジ強調処理になる。し
たがって、最終画素のエッジ強調処理が次の主走査で得
られることになり、特別に走査のつぎ目のためのライン
メモリを設けなくても最終画素のエッジ強調処理ができ
る。
複走査をさせれば、１つ手前の最終２画素分のデータが
次の主走査で得られるので、次の主走査の２画素目から
のエッジ強調処理は、１つ前の走査の最終画素、そして
次の走査の最初の画素の順のエッジ強調処理になる。し
たがって、最終画素のエッジ強調処理が次の主走査で得
られることになり、特別に走査のつぎ目のためのライン
メモリを設けなくても最終画素のエッジ強調処理ができ
る。
【０００８】
【実施例】図１は、この発明の画像処理装置の一実施例
のブロック図、図２は、そのエッジ強調処理と画素デー
タとの関係の説明図、図３は、その走査についての説明
図、図４は、２画素重複処理とそのエッジ強調との関係
の説明図である。図１において、１０は、画像処理装置
であって、原画１を検出ユニット２を介して読込み、そ
の１次元ＣＣＤイメージセンサ（以下ＣＣＤセンサ）２
ａを介してアナログ信号処理部３へと送出する。ＣＣＤ
センサ２ａは、図５に示すＣＣＤセンサ１１と同様なも
のであって、縦方向（副走査方向）に１２８画素が配列
されたセンサである。２ｂは、原画１の像をＣＣＤセン
サ２ａ上に結像するために検出ユニット２に設けられた
レンズである。
のブロック図、図２は、そのエッジ強調処理と画素デー
タとの関係の説明図、図３は、その走査についての説明
図、図４は、２画素重複処理とそのエッジ強調との関係
の説明図である。図１において、１０は、画像処理装置
であって、原画１を検出ユニット２を介して読込み、そ
の１次元ＣＣＤイメージセンサ（以下ＣＣＤセンサ）２
ａを介してアナログ信号処理部３へと送出する。ＣＣＤ
センサ２ａは、図５に示すＣＣＤセンサ１１と同様なも
のであって、縦方向（副走査方向）に１２８画素が配列
されたセンサである。２ｂは、原画１の像をＣＣＤセン
サ２ａ上に結像するために検出ユニット２に設けられた
レンズである。
【０００９】アナログ信号処理部３は、制御部５の制御
を受け、アンプ（ＡＭＰ）３ａとＡ／Ｄ変換回路（Ａ／
Ｄ）３ｂとＣＣＤ制御回路（図示せず）により構成さ
れ、ＣＣＤセンサ２ａからの１２８画素の検出信号をシ
リアルに受けてアンプ３ａで増幅器して、その信号レベ
ルをＡ／Ｄ３ｂにより、例えば、８ビット２５６階調の
デジタルデータに変換して入力データ補正部４へと送出
する。入力データ補正部４は、シェーディング補正回路
４ａ、バッファメモリ４ｂ、そして第１ライン・最終ラ
イン除外エッジ強調回路４ｃからなり、制御部５からの
信号により制御される。アナログ信号処理部３から入力
されたデジタルデータは、まず、シェーディング補正回
路４ａに入力されてあらかじめ読み取った所定の基準に
従って演算がなされることによりむら補正がなされる。
むら補正されたデータは、バッファメモリ４ｂに記憶さ
れるとともに第１ライン・最終ライン除外エッジ強調回
路４ｃに送出される。
を受け、アンプ（ＡＭＰ）３ａとＡ／Ｄ変換回路（Ａ／
Ｄ）３ｂとＣＣＤ制御回路（図示せず）により構成さ
れ、ＣＣＤセンサ２ａからの１２８画素の検出信号をシ
リアルに受けてアンプ３ａで増幅器して、その信号レベ
ルをＡ／Ｄ３ｂにより、例えば、８ビット２５６階調の
デジタルデータに変換して入力データ補正部４へと送出
する。入力データ補正部４は、シェーディング補正回路
４ａ、バッファメモリ４ｂ、そして第１ライン・最終ラ
イン除外エッジ強調回路４ｃからなり、制御部５からの
信号により制御される。アナログ信号処理部３から入力
されたデジタルデータは、まず、シェーディング補正回
路４ａに入力されてあらかじめ読み取った所定の基準に
従って演算がなされることによりむら補正がなされる。
むら補正されたデータは、バッファメモリ４ｂに記憶さ
れるとともに第１ライン・最終ライン除外エッジ強調回
路４ｃに送出される。
【００１０】バッファメモリ４ｂは、主走査の２走査点
分のデータを記憶する。ここで、１走査点が副走査幅と
して１２８画素であるので、１２８画素×２個分のデー
タになる。第１ライン・最終ライン除外エッジ強調回路
４ｄのエッジ強調処理は、最初の画素１のデータ（最初
の１ラインの画素１のデータ）と最終画素１２８のデー
タ（最後の１ラインの画素１２８のデータ）のエッジ強
調処理は行わず、第２画素のデータから１２７画素まで
のデータを対象にしたエッジ強調処理をする。
分のデータを記憶する。ここで、１走査点が副走査幅と
して１２８画素であるので、１２８画素×２個分のデー
タになる。第１ライン・最終ライン除外エッジ強調回路
４ｄのエッジ強調処理は、最初の画素１のデータ（最初
の１ラインの画素１のデータ）と最終画素１２８のデー
タ（最後の１ラインの画素１２８のデータ）のエッジ強
調処理は行わず、第２画素のデータから１２７画素まで
のデータを対象にしたエッジ強調処理をする。
【００１１】ところで、エッジ強調処理は、図６(b) に
示すように、複数ラインを同時に走査する場合には、主
走査方向において前後合わせて３走査点（測定点）に含
まれる周囲４点分の画素データがあれば可能である。そ
こで、ここでは、バッファメモリ４ｂに記憶された２走
査点のデータとアナログ信号処理部３から現在入力され
ているその次の第３番目の走査点のデータを使用してエ
ッジ強調処理を行う。まず、説明を間単にするために、
エッジ強調処理のデータが揃った状態から具体的に説明
する。
示すように、複数ラインを同時に走査する場合には、主
走査方向において前後合わせて３走査点（測定点）に含
まれる周囲４点分の画素データがあれば可能である。そ
こで、ここでは、バッファメモリ４ｂに記憶された２走
査点のデータとアナログ信号処理部３から現在入力され
ているその次の第３番目の走査点のデータを使用してエ
ッジ強調処理を行う。まず、説明を間単にするために、
エッジ強調処理のデータが揃った状態から具体的に説明
する。
【００１２】バッファメモリ４ｄには、最初の１番目の
主走査の走査点のデータ１２８画素と次の走査点のデー
タ１２８画素が記憶されているとする。第３番目の走査
点のデータを第１ライン・最終ライン除外エッジ強調回
路４ｄが受けた時点で、正確には、第３番目の走査点に
おいてＣＣＤセンサ２ａの第２画素のデータを受けた時
点で、図６(b) に示す手前の周囲ａ，ｂ，ｃ，ｄのデー
タが揃うので、第２番目の走査点の第２画素に対してバ
ッファメモリ４ｄに記憶された１２８画素分×２個分の
データを参照してエッジ強調処理が開始される。エッジ
強調処理が終了した時点で図６(b) に示す手前周囲ｂの
データが不要になるので、第２番目の走査点におけるｘ
のデータが第１番目の走査点におけるｂの位置に記憶さ
れる。また、第２番目の走査点におけるｘのデータは、
次の画素のエッジ強調処理において、ａに位置する参照
画素となるためにそれに利用され、第３番目の走査点に
おけるＣＣＤＤセンサ２ａのデータは、一時的に第１ラ
イン・最終ライン除外エッジ強調回路４ｄのテンポラリ
レジスタ（図示せず）に記憶されて、次の画素のエッジ
強調処理が終了した時点でｘの位置のデータが不必要に
なるので、このｘの位置に記憶される。このようにして
新しいデータを受ける都度第２番目の走査点の第１２７
画素までの画素に対して順次エッジ強調処理とデータの
更新処理が行われる。
主走査の走査点のデータ１２８画素と次の走査点のデー
タ１２８画素が記憶されているとする。第３番目の走査
点のデータを第１ライン・最終ライン除外エッジ強調回
路４ｄが受けた時点で、正確には、第３番目の走査点に
おいてＣＣＤセンサ２ａの第２画素のデータを受けた時
点で、図６(b) に示す手前の周囲ａ，ｂ，ｃ，ｄのデー
タが揃うので、第２番目の走査点の第２画素に対してバ
ッファメモリ４ｄに記憶された１２８画素分×２個分の
データを参照してエッジ強調処理が開始される。エッジ
強調処理が終了した時点で図６(b) に示す手前周囲ｂの
データが不要になるので、第２番目の走査点におけるｘ
のデータが第１番目の走査点におけるｂの位置に記憶さ
れる。また、第２番目の走査点におけるｘのデータは、
次の画素のエッジ強調処理において、ａに位置する参照
画素となるためにそれに利用され、第３番目の走査点に
おけるＣＣＤＤセンサ２ａのデータは、一時的に第１ラ
イン・最終ライン除外エッジ強調回路４ｄのテンポラリ
レジスタ（図示せず）に記憶されて、次の画素のエッジ
強調処理が終了した時点でｘの位置のデータが不必要に
なるので、このｘの位置に記憶される。このようにして
新しいデータを受ける都度第２番目の走査点の第１２７
画素までの画素に対して順次エッジ強調処理とデータの
更新処理が行われる。
【００１３】以上の場合、第２番目の走査点においてＣ
ＣＤセンサ２ａの第２画素のデータを受けた時点で、第
１番目の走査点の第２画素に対してバッファメモリ４ｄ
に記憶された１２８画素分×１個分のデータを参照して
エッジ強調処理を開始してもよい。この場合、最初の１
点目のデータは、図６(b) に示す手前の周囲ｂのデータ
が欠けているので、手前の１個分のデータをあらかじめ
設定されたデータとしてエッジ強調処理をする。ここで
は、説明の都合上、先に第３番目の走査点について説明
しているが、通常は、後者の第２番目の走査点からエッ
ジ強調処理が行われる。
ＣＤセンサ２ａの第２画素のデータを受けた時点で、第
１番目の走査点の第２画素に対してバッファメモリ４ｄ
に記憶された１２８画素分×１個分のデータを参照して
エッジ強調処理を開始してもよい。この場合、最初の１
点目のデータは、図６(b) に示す手前の周囲ｂのデータ
が欠けているので、手前の１個分のデータをあらかじめ
設定されたデータとしてエッジ強調処理をする。ここで
は、説明の都合上、先に第３番目の走査点について説明
しているが、通常は、後者の第２番目の走査点からエッ
ジ強調処理が行われる。
【００１４】その処理を図２を参照してさらに具体的に
説明すると、＊で示す縦ブロックがあらかじめ設定され
たデータを使用するデータであり、の縦ブロックが最
初の走査点であり、の縦ブロックが次の走査点であ
る。バッファメモリ４ｂには、の縦ブロックに示す１
２８画素のデータが記憶されていて、の縦ブロックの
１２８画素のデータを１画素から順次第１ライン・最終
ライン除外エッジ強調回路４ｃが受ける。そこで、の
縦ブロックの２画素目のデータを受けた時点での縦ブ
ロックの２画素目のデータをｘとしてこのｘに対して
ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｘの関係においてエッジ強調処理を行
い、その処理は、１２７画素において終了する。そし
て、の縦ブロックに示す１２８画素のデータを受けた
ときには、ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｘの関係が右にシフトして
ｘがの縦ブロックの２画素目になる。バッファメモリ
４ｂには、の縦ブロックが記憶されているので、エッ
ジ強調対象となるの縦ブロックに２画素目から１２７
画素目に対しての縦ブロックのデータと現在受けてい
るの縦ブロックの画素データとにより、図６(b) に示
す関係においてエッジ強調処理をする。なお、主走査が
終了する最終測定点においては、入力データを受けない
ので、の縦ブロックに示す１２８画素と同様に、後ろ
に＊で示す縦ブロックによりあらかじめ設定されたデー
タを使用してエッジ強調処理をする。このようにして、
バッファメモリ４ｂに記憶されたデータ１２８画素分×
２が１ラインが順次更新されかつこれらデータを参照し
て順次２画素目から１２７画素までのエッジ強調処理が
行われる。
説明すると、＊で示す縦ブロックがあらかじめ設定され
たデータを使用するデータであり、の縦ブロックが最
初の走査点であり、の縦ブロックが次の走査点であ
る。バッファメモリ４ｂには、の縦ブロックに示す１
２８画素のデータが記憶されていて、の縦ブロックの
１２８画素のデータを１画素から順次第１ライン・最終
ライン除外エッジ強調回路４ｃが受ける。そこで、の
縦ブロックの２画素目のデータを受けた時点での縦ブ
ロックの２画素目のデータをｘとしてこのｘに対して
ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｘの関係においてエッジ強調処理を行
い、その処理は、１２７画素において終了する。そし
て、の縦ブロックに示す１２８画素のデータを受けた
ときには、ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｘの関係が右にシフトして
ｘがの縦ブロックの２画素目になる。バッファメモリ
４ｂには、の縦ブロックが記憶されているので、エッ
ジ強調対象となるの縦ブロックに２画素目から１２７
画素目に対しての縦ブロックのデータと現在受けてい
るの縦ブロックの画素データとにより、図６(b) に示
す関係においてエッジ強調処理をする。なお、主走査が
終了する最終測定点においては、入力データを受けない
ので、の縦ブロックに示す１２８画素と同様に、後ろ
に＊で示す縦ブロックによりあらかじめ設定されたデー
タを使用してエッジ強調処理をする。このようにして、
バッファメモリ４ｂに記憶されたデータ１２８画素分×
２が１ラインが順次更新されかつこれらデータを参照し
て順次２画素目から１２７画素までのエッジ強調処理が
行われる。
【００１５】エッジ強調されたデータは、次に画像処理
部６へと送出され、ここで、疑似中間処理等の二値化処
理が行われて、プリント出力部７に送出される。８は、
制御部５により制御されるスキャナ機構部であって、前
記の検出ユニット２とともにスキャナを構成していて、
検出ユニット２を図３で示すように、２画素分重複する
走査を行う。制御部５は、ＭＰＵ５ａとメモリ５ｂ等で
構成されていて、２画素重複する走査を行うために２画
素分重複走査プログラム５ｃが設けられている。２画素
分重複走査プログラム５ｃは、従来の副走査幅を１２８
画素分とした場合に、１２６画素分の副走査幅に設定さ
れるだけで、走査幅が相違する以外は従来の走査プログ
ラムと同様であるので、その詳細は割愛する。なお、９
は、露光制御装置であって、光源９ａとこの光源９ａの
光量を制御する光量制御部９ｂからなる。
部６へと送出され、ここで、疑似中間処理等の二値化処
理が行われて、プリント出力部７に送出される。８は、
制御部５により制御されるスキャナ機構部であって、前
記の検出ユニット２とともにスキャナを構成していて、
検出ユニット２を図３で示すように、２画素分重複する
走査を行う。制御部５は、ＭＰＵ５ａとメモリ５ｂ等で
構成されていて、２画素重複する走査を行うために２画
素分重複走査プログラム５ｃが設けられている。２画素
分重複走査プログラム５ｃは、従来の副走査幅を１２８
画素分とした場合に、１２６画素分の副走査幅に設定さ
れるだけで、走査幅が相違する以外は従来の走査プログ
ラムと同様であるので、その詳細は割愛する。なお、９
は、露光制御装置であって、光源９ａとこの光源９ａの
光量を制御する光量制御部９ｂからなる。
【００１６】図４は、２画素重複走査をした場合のエッ
ジ強調処理の説明図であり、１２が第１の主走査であ
り、１３がその次の主走査である。この走査において１
２の次の走査では、２画素分を重複走査するので、主走
査１２における最終画素１２７と１２８画素が次の主走
査１３の１画素目と２画素目となり、前の主走査１２の
１２８画素が次の走査の２画素目としてエッジ強調の対
象になる。したがって、最初の走査の１画素を除いてす
べての画素がエッジ強調処理でき、つなぎ目処理やつな
ぎ目のためのラインメモリが不要になる。
ジ強調処理の説明図であり、１２が第１の主走査であ
り、１３がその次の主走査である。この走査において１
２の次の走査では、２画素分を重複走査するので、主走
査１２における最終画素１２７と１２８画素が次の主走
査１３の１画素目と２画素目となり、前の主走査１２の
１２８画素が次の走査の２画素目としてエッジ強調の対
象になる。したがって、最初の走査の１画素を除いてす
べての画素がエッジ強調処理でき、つなぎ目処理やつな
ぎ目のためのラインメモリが不要になる。
【００１７】この発明の前記実施例では、副走査方向に
２画素分重副走査させているが、副走査方向の走査精度
に応じて、この発明では３画素以上の重複走査をさせて
もよいことはもちろんである。
２画素分重副走査させているが、副走査方向の走査精度
に応じて、この発明では３画素以上の重複走査をさせて
もよいことはもちろんである。
【００１８】
【発明の効果】以上の説明から理解できるように、この
発明の画像処理装置にあっては、２画素以上副走査方向
において重複走査をさせれば、１つ手前の最終２画素分
のデータが次の主走査で得られるので、次の主走査の２
画素目からのエッジ強調処理は、１つ前の走査の最終画
素、そして次の走査の最初の画素の順のエッジ強調処理
になる。したがって、最終画素のエッジ強調処理が次の
主走査で得られることになり、特別に走査の継ぎ目のた
めのラインメモリを設けなくても最終画素のエッジ強調
処理ができる。その結果、エッジ強調のためのメモリが
不要になり、スキャナのＣＣＤセンサ部にメモリを組み
込む必要がなくなり、より小型なスキャナを安価に提供
することができる。
発明の画像処理装置にあっては、２画素以上副走査方向
において重複走査をさせれば、１つ手前の最終２画素分
のデータが次の主走査で得られるので、次の主走査の２
画素目からのエッジ強調処理は、１つ前の走査の最終画
素、そして次の走査の最初の画素の順のエッジ強調処理
になる。したがって、最終画素のエッジ強調処理が次の
主走査で得られることになり、特別に走査の継ぎ目のた
めのラインメモリを設けなくても最終画素のエッジ強調
処理ができる。その結果、エッジ強調のためのメモリが
不要になり、スキャナのＣＣＤセンサ部にメモリを組み
込む必要がなくなり、より小型なスキャナを安価に提供
することができる。
【図１】図１は、この発明の画像処理装置の一実施例の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】図２は、そのエッジ強調処理と画素データとの
関係の説明図である。
関係の説明図である。
【図３】図３は、その走査についての説明図である。
【図４】図４は、２画素重複処理とそのエッジ強調との
関係の説明図である。
関係の説明図である。
【図５】図５は、センサの複数ラインを同時に走査する
場合の走査の説明図である。
場合の走査の説明図である。
【図６】図６は、エッジ強調処理について一般的な処理
の説明図であって、(a) は、その走査の説明図、(b)
は、そのエッジ強調処理の一例の説明図である。
の説明図であって、(a) は、その走査の説明図、(b)
は、そのエッジ強調処理の一例の説明図である。
１…原画、２…検出ユニット、２ａ…１次元ＣＣＤイメ
ージセンサ、２ｂ…レンズ、３…アナログ信号処理部、
３ａ…アンプ（ＡＭＰ）、３ｂ…Ａ／Ｄ変換回路（Ａ／
Ｄ）、４…入力データ補正部、４ａ…シェーディング補
正回路、４ｂ…バッファメモリ、４ｃ…第１ライン・最
終ライン除外エッジ強調回路、５…制御部、６…画像処
理部、７…プリント出力部、８…スキャナ機構部、９…
露光制御装置、１０…画像処理装置。
ージセンサ、２ｂ…レンズ、３…アナログ信号処理部、
３ａ…アンプ（ＡＭＰ）、３ｂ…Ａ／Ｄ変換回路（Ａ／
Ｄ）、４…入力データ補正部、４ａ…シェーディング補
正回路、４ｂ…バッファメモリ、４ｃ…第１ライン・最
終ライン除外エッジ強調回路、５…制御部、６…画像処
理部、７…プリント出力部、８…スキャナ機構部、９…
露光制御装置、１０…画像処理装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 9061−5Ｈ Ｇ０６Ｆ 15/70 ３３５ Ｚ
Claims (1)
- 【請求項１】複数の画素からなる１次元イメージセンサ
を副走査方向に配置して同時に複数のラインについて主
走査を行い、画像データを採取してエッジ強調処理をす
る画像処理装置において、 前記１次元イメージセンサの画素数より２画素以上少な
い画素数の幅に対応したピッチで２画素以上が重複する
副走査を行う走査手段と、 前記走査手段による走査に応じて得られた画像データに
ついて第２画素から最終画素の１つ手前までの画素に対
してエッジ強調処理を行うエッジ強調手段と、を備える
画像処理装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6239426A JPH0879529A (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | 画像処理装置 |
| US08/522,083 US5887085A (en) | 1994-09-07 | 1995-08-31 | Image processing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6239426A JPH0879529A (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | 画像処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0879529A true JPH0879529A (ja) | 1996-03-22 |
Family
ID=17044602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6239426A Pending JPH0879529A (ja) | 1994-09-07 | 1994-09-07 | 画像処理装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5887085A (ja) |
| JP (1) | JPH0879529A (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW399186B (en) * | 1997-12-10 | 2000-07-21 | Canon Kk | Image processing apparatus and image processing method |
| US6642956B1 (en) * | 1998-05-29 | 2003-11-04 | Agilent Technologies, Inc. | Digital image processor for a digital camera |
| US6345124B1 (en) * | 1998-10-29 | 2002-02-05 | Foursis Corporation | Image conversion based on edges |
| US6628330B1 (en) | 1999-09-01 | 2003-09-30 | Neomagic Corp. | Color interpolator and horizontal/vertical edge enhancer using two line buffer and alternating even/odd filters for digital camera |
| US6642962B1 (en) | 1999-09-01 | 2003-11-04 | Neomagic Corp. | Merged pipeline for color interpolation and edge enhancement of digital images |
| KR100362178B1 (ko) * | 1999-12-30 | 2002-11-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 이미지센서에서의 실시간 불량화소 검출 및 보정을 위한장치 |
| WO2002025708A2 (en) * | 2000-09-20 | 2002-03-28 | Kla-Tencor-Inc. | Methods and systems for semiconductor fabrication processes |
| US6782337B2 (en) * | 2000-09-20 | 2004-08-24 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a critical dimension an a presence of defects on a specimen |
| US6812045B1 (en) | 2000-09-20 | 2004-11-02 | Kla-Tencor, Inc. | Methods and systems for determining a characteristic of a specimen prior to, during, or subsequent to ion implantation |
| US6673637B2 (en) | 2000-09-20 | 2004-01-06 | Kla-Tencor Technologies | Methods and systems for determining a presence of macro defects and overlay of a specimen |
| US6694284B1 (en) | 2000-09-20 | 2004-02-17 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining at least four properties of a specimen |
| US7349090B2 (en) * | 2000-09-20 | 2008-03-25 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a property of a specimen prior to, during, or subsequent to lithography |
| US6891627B1 (en) * | 2000-09-20 | 2005-05-10 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a critical dimension and overlay of a specimen |
| US20080137985A1 (en) * | 2006-12-08 | 2008-06-12 | Alexander Mokhnatyuk | Method, apparatus and system providing column shading correction for image sensor arrays |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4197584A (en) * | 1978-10-23 | 1980-04-08 | The Perkin-Elmer Corporation | Optical inspection system for printing flaw detection |
| US4636624A (en) * | 1983-01-10 | 1987-01-13 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Focus detecting device for use with cameras |
| US4860118A (en) * | 1987-02-25 | 1989-08-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Image signal processing apparatus with edge emphasis and variable magnification |
| JP3107588B2 (ja) * | 1990-07-02 | 2000-11-13 | 株式会社リコー | 画像信号補正方法 |
| JP3078007B2 (ja) * | 1990-10-17 | 2000-08-21 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置 |
| JP2891799B2 (ja) * | 1991-06-07 | 1999-05-17 | キヤノン株式会社 | インクジェット記録方法 |
| US5307425A (en) * | 1991-09-02 | 1994-04-26 | Rohm Co., Ltd. | Bi-level halftone processing circuit and image processing apparatus using the same |
-
1994
- 1994-09-07 JP JP6239426A patent/JPH0879529A/ja active Pending
-
1995
- 1995-08-31 US US08/522,083 patent/US5887085A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5887085A (en) | 1999-03-23 |
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