JPH085902A - 焦点検出装置 - Google Patents
焦点検出装置Info
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- JPH085902A JPH085902A JP14291294A JP14291294A JPH085902A JP H085902 A JPH085902 A JP H085902A JP 14291294 A JP14291294 A JP 14291294A JP 14291294 A JP14291294 A JP 14291294A JP H085902 A JPH085902 A JP H085902A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】この発明は、検出信号に低周波ノイズが発生し
ている場合でも、精度良く、且つ測距時間も短い焦点検
出を可能にするために、第1の検出結果の信頼性が低い
ときは第2の検出処理を行い、第2の検出終了後、第1
の結果と比較して合焦判断を行うことを特徴とする。 【構成】測光部12の出力は、圧縮部13、出力部14
を経て、端子AEDATAとしてマイクロコンピュータ
10へ供給される。マイクロコンピュータ10に接続さ
れた制御部11には、受光部15a、遮光部15bから
成るラインセンサ15と、読出し部18、シフトレジス
タ19が接続される。受光部15a、遮光部15bの出
力は、ピーク検出部16a、16b、引算器とサンプル
ホールド回路17、出力部を経て、端子AFDATAか
らマイクロコンピュータ10へ供給される。シフトレジ
スタ19で読出された信号は、増幅部20で増幅され
る。
ている場合でも、精度良く、且つ測距時間も短い焦点検
出を可能にするために、第1の検出結果の信頼性が低い
ときは第2の検出処理を行い、第2の検出終了後、第1
の結果と比較して合焦判断を行うことを特徴とする。 【構成】測光部12の出力は、圧縮部13、出力部14
を経て、端子AEDATAとしてマイクロコンピュータ
10へ供給される。マイクロコンピュータ10に接続さ
れた制御部11には、受光部15a、遮光部15bから
成るラインセンサ15と、読出し部18、シフトレジス
タ19が接続される。受光部15a、遮光部15bの出
力は、ピーク検出部16a、16b、引算器とサンプル
ホールド回路17、出力部を経て、端子AFDATAか
らマイクロコンピュータ10へ供給される。シフトレジ
スタ19で読出された信号は、増幅部20で増幅され
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は焦点検出装置に関し、
特にセンサ出力にフレアや汚れ等によって低周波ノイズ
が生じたときにも精度良い焦点検出が行える焦点検出装
置に関するものである。
特にセンサ出力にフレアや汚れ等によって低周波ノイズ
が生じたときにも精度良い焦点検出が行える焦点検出装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、カメラの自動焦点検出方法として
被写体からの光束を異なる瞳を通った2つの像のずれ量
から求める、いわゆる位相差式焦点検出法というものが
知られている。
被写体からの光束を異なる瞳を通った2つの像のずれ量
から求める、いわゆる位相差式焦点検出法というものが
知られている。
【0003】例えば、図10に示されるように、撮影レ
ンズ1の異なる領域を通った光束は、1次結像面付近に
配置された視野絞り2で視野が制限され、コンデンサレ
ンズ3、絞りマスク4、及び再結像レンズ5を経て、イ
メージセンサ6上の受光面に導かれる。上記光束は、焦
点状態に応じて、イメージセンサ6面上で基準間隔から
光軸を挟んで対称的にずれる。よって、受光した信号出
力を基に、2像の位置関係を相関演算によって求めれば
焦点状態が判明する。
ンズ1の異なる領域を通った光束は、1次結像面付近に
配置された視野絞り2で視野が制限され、コンデンサレ
ンズ3、絞りマスク4、及び再結像レンズ5を経て、イ
メージセンサ6上の受光面に導かれる。上記光束は、焦
点状態に応じて、イメージセンサ6面上で基準間隔から
光軸を挟んで対称的にずれる。よって、受光した信号出
力を基に、2像の位置関係を相関演算によって求めれば
焦点状態が判明する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、撮影条
件によっては、イメージセンサ6上に形成される2像に
ノイズが発生することがある。例えば、比較的暗い状態
ではセンサの暗電流や温度による熱雑音が発生するし、
被写体の周波数や光線具合でフレアが生じたりする。
件によっては、イメージセンサ6上に形成される2像に
ノイズが発生することがある。例えば、比較的暗い状態
ではセンサの暗電流や温度による熱雑音が発生するし、
被写体の周波数や光線具合でフレアが生じたりする。
【0005】従来、検出は信号出力の2像データの相関
から焦点検出状態を求めていたが、上記ノイズが不特定
の条件で発生した場合には、検出精度が低下するという
不具合が生じるものであった。
から焦点検出状態を求めていたが、上記ノイズが不特定
の条件で発生した場合には、検出精度が低下するという
不具合が生じるものであった。
【0006】この発明は上記課題に鑑みてなされたもの
で、検出信号が正確な信号として得られているときは勿
論、検出信号にフレア等の低周波ノイズが発生している
場合でも、精度良く、且つ測距時間も短い焦点検出が可
能な焦点検出装置を提供することを目的とする。
で、検出信号が正確な信号として得られているときは勿
論、検出信号にフレア等の低周波ノイズが発生している
場合でも、精度良く、且つ測距時間も短い焦点検出が可
能な焦点検出装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】すなわちこの発明は、被
写体からの一対の光束を受光し、一対の像信号を出力す
る受光手段と、上記一対の像信号を入力し、2像のずれ
量を求めるずれ量演算手段と、ずれ量演算結果の信頼値
を求める信頼値演算手段とを備え、上記信頼値が所定値
よりも低いと判断されたときに限り、上記一対の像信号
をフィルタ演算した後、再度ずれ量を求めることを特徴
とする。
写体からの一対の光束を受光し、一対の像信号を出力す
る受光手段と、上記一対の像信号を入力し、2像のずれ
量を求めるずれ量演算手段と、ずれ量演算結果の信頼値
を求める信頼値演算手段とを備え、上記信頼値が所定値
よりも低いと判断されたときに限り、上記一対の像信号
をフィルタ演算した後、再度ずれ量を求めることを特徴
とする。
【0008】またこの発明は、一対の被写体光束をそれ
ぞれ結像し、一対のラインセンサでそれぞれ受光した2
像信号により撮影レンズの焦点状態を検出する焦点検出
装置に於いて、上記2像信号の一致度を演算する相関演
算手段と、この相関演算手段による相関演算結果に応答
して2像のずれ量を演算する補間演算手段と、この補間
演算手段による補間演算結果を評価するための信頼値を
演算する信頼値演算手段と、上記2像信号の空間周波数
の低い成分を除去するフィルタ演算手段とを備え、上記
ずれ量演算値を決定するにあたり、上記信頼値が予め決
められた所定値を越えないとき、その信頼値を一旦上記
所定値に置換え、上記フィルタ演算を実行した後、ずれ
量と信頼値とを再度演算し、これにより得られた新たな
信頼値が上記所定値を越えるときには、新たなずれ量演
算結果を有効とすることを特徴とする。
ぞれ結像し、一対のラインセンサでそれぞれ受光した2
像信号により撮影レンズの焦点状態を検出する焦点検出
装置に於いて、上記2像信号の一致度を演算する相関演
算手段と、この相関演算手段による相関演算結果に応答
して2像のずれ量を演算する補間演算手段と、この補間
演算手段による補間演算結果を評価するための信頼値を
演算する信頼値演算手段と、上記2像信号の空間周波数
の低い成分を除去するフィルタ演算手段とを備え、上記
ずれ量演算値を決定するにあたり、上記信頼値が予め決
められた所定値を越えないとき、その信頼値を一旦上記
所定値に置換え、上記フィルタ演算を実行した後、ずれ
量と信頼値とを再度演算し、これにより得られた新たな
信頼値が上記所定値を越えるときには、新たなずれ量演
算結果を有効とすることを特徴とする。
【0009】
【作用】この発明の焦点検出装置にあっては、被写体か
らの一対の光束が受光手段で受光されて一対の像信号が
出力される。そして、上記一対の像信号は、ずれ量演算
手段に入力されて2像のずれ量が求められる。このずれ
量演算結果、その信頼値が信頼値演算手段で求められ
る。そして、上記信頼値が所定値よりも低いと判断され
たときに限り、上記一対の像信号はフィルタ演算され、
その後、再度ずれ量が求められる。
らの一対の光束が受光手段で受光されて一対の像信号が
出力される。そして、上記一対の像信号は、ずれ量演算
手段に入力されて2像のずれ量が求められる。このずれ
量演算結果、その信頼値が信頼値演算手段で求められ
る。そして、上記信頼値が所定値よりも低いと判断され
たときに限り、上記一対の像信号はフィルタ演算され、
その後、再度ずれ量が求められる。
【0010】また、この発明の焦点検出装置では、一対
の被写体光束がそれぞれ結像され、一対のラインセンサ
でそれぞれ受光された2像信号により撮影レンズの焦点
状態が検出される。そして、相関演算手段で上記2像信
号の一致度が演算され、この相関演算手段による相関演
算結果に応答して、補間演算手段によって2像のずれ量
が演算される。また、この補間演算手段による補間演算
結果を評価するための信頼値が信頼値演算手段で演算さ
れる。更に、上記2像信号の空間周波数の低い成分がフ
ィルタ演算手段で除去される。そして、上記ずれ量演算
値を決定するにあたり、上記信頼値が予め決められた所
定値を越えないとき、その信頼値は一旦上記所定値に置
換えられ、上記フィルタ演算が実行された後、ずれ量と
信頼値とが再度演算される。これにより得られた新たな
信頼値が上記所定値を越えるときには、新たなずれ量演
算結果が有効とされる。これにより、センサ出力にノイ
ズが多く含まれている場合でも精度良く焦点検出が行え
る。
の被写体光束がそれぞれ結像され、一対のラインセンサ
でそれぞれ受光された2像信号により撮影レンズの焦点
状態が検出される。そして、相関演算手段で上記2像信
号の一致度が演算され、この相関演算手段による相関演
算結果に応答して、補間演算手段によって2像のずれ量
が演算される。また、この補間演算手段による補間演算
結果を評価するための信頼値が信頼値演算手段で演算さ
れる。更に、上記2像信号の空間周波数の低い成分がフ
ィルタ演算手段で除去される。そして、上記ずれ量演算
値を決定するにあたり、上記信頼値が予め決められた所
定値を越えないとき、その信頼値は一旦上記所定値に置
換えられ、上記フィルタ演算が実行された後、ずれ量と
信頼値とが再度演算される。これにより得られた新たな
信頼値が上記所定値を越えるときには、新たなずれ量演
算結果が有効とされる。これにより、センサ出力にノイ
ズが多く含まれている場合でも精度良く焦点検出が行え
る。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例を説
明する。図1は、この発明の焦点検出装置に適用される
センサ信号処理回路のブロック図である。
明する。図1は、この発明の焦点検出装置に適用される
センサ信号処理回路のブロック図である。
【0012】図1に於いて、マイクロコンピュータ10
は、センサ動作を制御し、同時に出力信号をA/D変換
して演算処理するものである。このマイクロコンピュー
タ10以外の構成要素は、全てセンサチップ上に形成さ
れている。上記マイクロコンピュータ10には、このマ
イクロコンピュータ10からの信号を受けてセンサ回路
各部に対して動作を行う制御部11が接続されている。
は、センサ動作を制御し、同時に出力信号をA/D変換
して演算処理するものである。このマイクロコンピュー
タ10以外の構成要素は、全てセンサチップ上に形成さ
れている。上記マイクロコンピュータ10には、このマ
イクロコンピュータ10からの信号を受けてセンサ回路
各部に対して動作を行う制御部11が接続されている。
【0013】また、一対の測光用フォトダイオードのア
ノード及びカソードがそれぞれ並列接続された測光部1
2は、この測光部12からの信号処理を行う圧縮部13
を経た後、出力部14から端子AEDATAとして、マ
イクロコンピュータ10のA/D変換入力部へ接続され
る。上記測光部12の測光出力は、センサが動作状態の
時は、常に出力される。
ノード及びカソードがそれぞれ並列接続された測光部1
2は、この測光部12からの信号処理を行う圧縮部13
を経た後、出力部14から端子AEDATAとして、マ
イクロコンピュータ10のA/D変換入力部へ接続され
る。上記測光部12の測光出力は、センサが動作状態の
時は、常に出力される。
【0014】一方、測距部は、制御部11からの命令で
各部の動作を行う。ラインセンサ15は、像信号出力部
である受光部15aと、遮光された画素からの出力を得
る遮光部15bとから成り、制御部11に接続されてい
る。上記受光部15a及び遮光部15bの出力は、ピー
ク検出部16a、16bを介して、引算器とサンプルホ
ールド回路17を経て出力部へ導かれる。ピーク検出部
16a、16bで検出された出力は、上記モニタ出力
と、後述するAF信号出力とが制御部11からの命令に
より切替えられて、端子AFDATAからマイクロコン
ピュータ10へ供給される。
各部の動作を行う。ラインセンサ15は、像信号出力部
である受光部15aと、遮光された画素からの出力を得
る遮光部15bとから成り、制御部11に接続されてい
る。上記受光部15a及び遮光部15bの出力は、ピー
ク検出部16a、16bを介して、引算器とサンプルホ
ールド回路17を経て出力部へ導かれる。ピーク検出部
16a、16bで検出された出力は、上記モニタ出力
と、後述するAF信号出力とが制御部11からの命令に
より切替えられて、端子AFDATAからマイクロコン
ピュータ10へ供給される。
【0015】上記受光部15aは、被写体の明るさに応
じて感度が自動的に高感度と低感度に切替わるような構
成になっている。受光部15aでは、制御部11からの
信号を受けて初期化され、蓄積が開始される。そして、
所定量の電荷が蓄積されると、各画素に蓄積された電荷
は、蓄積終了信号と共に読出し部18へ同時に送られ
る。そして、読出し信号によって、シフトレジスタ19
が読出し部18に保持された電荷を順次読出す。読出さ
れた信号は、受光部15aから遮光部15bの信号分が
引かれ、予め設定された増幅率に基いて、増幅部20で
所定の大きさの信号に増幅される。
じて感度が自動的に高感度と低感度に切替わるような構
成になっている。受光部15aでは、制御部11からの
信号を受けて初期化され、蓄積が開始される。そして、
所定量の電荷が蓄積されると、各画素に蓄積された電荷
は、蓄積終了信号と共に読出し部18へ同時に送られ
る。そして、読出し信号によって、シフトレジスタ19
が読出し部18に保持された電荷を順次読出す。読出さ
れた信号は、受光部15aから遮光部15bの信号分が
引かれ、予め設定された増幅率に基いて、増幅部20で
所定の大きさの信号に増幅される。
【0016】尚、21は電源であり、図1に於いては結
線は省略されているが、各構成要素に所定の電圧を供給
するように接続している。図2は、一対のラインセンサ
の中の測距視野に相当する部分を表したものである。同
図に於いて、30L、30Rは、それぞれ光学系によっ
て導かれた測距用の光束を受光する一対のラインセンサ
の中の測距視野に相当する部分(基準ブロック)であ
る。上記センサ列で受光された被写体光情報からは、光
電変換され、A/D変換されて、図示されるように各素
子の光量に対応した大きさの出力30が得られる。ここ
で、そのi番目の画素出力をD(i)と表すことにす
る。
線は省略されているが、各構成要素に所定の電圧を供給
するように接続している。図2は、一対のラインセンサ
の中の測距視野に相当する部分を表したものである。同
図に於いて、30L、30Rは、それぞれ光学系によっ
て導かれた測距用の光束を受光する一対のラインセンサ
の中の測距視野に相当する部分(基準ブロック)であ
る。上記センサ列で受光された被写体光情報からは、光
電変換され、A/D変換されて、図示されるように各素
子の光量に対応した大きさの出力30が得られる。ここ
で、そのi番目の画素出力をD(i)と表すことにす
る。
【0017】ラインセンサ30Lと30Rとの相関演算
を行うときには、先ず30L列の出力から所定画素のデ
ータを得られる。同図では、(La,D(La))、
(Lb,D(Lb))のみ記されているが、同様に、L
列が4分割されて、その両端の位置に当たる画素のデー
タが得られる。次に、上記データによって囲まれる範囲
の中の各々の位置での信号中の最大値と最小値とが検出
される。
を行うときには、先ず30L列の出力から所定画素のデ
ータを得られる。同図では、(La,D(La))、
(Lb,D(Lb))のみ記されているが、同様に、L
列が4分割されて、その両端の位置に当たる画素のデー
タが得られる。次に、上記データによって囲まれる範囲
の中の各々の位置での信号中の最大値と最小値とが検出
される。
【0018】したがって、1分割内で4つの特徴点が検
出される。図2に於いては、そのうち一番左のブロック
に相当する位置での最大値と画素番号(mx,D(m
x))、及び最小値と画素番号(mn,D(mn))の
み示される。
出される。図2に於いては、そのうち一番左のブロック
に相当する位置での最大値と画素番号(mx,D(m
x))、及び最小値と画素番号(mn,D(mn))の
み示される。
【0019】上記処理で視野内がブロック分割され、各
ブロック毎に両端の値とブロック内の最大値、最小値
と、それぞれの座標が求められる。これらの4点が、そ
のブロックの代表値として扱われる。
ブロック毎に両端の値とブロック内の最大値、最小値
と、それぞれの座標が求められる。これらの4点が、そ
のブロックの代表値として扱われる。
【0020】ここで、同図の視野は、Vで示される大き
さを持つ。次に、図3及び図4のフローチャートを参照
して、信号処理の動作を説明する。
さを持つ。次に、図3及び図4のフローチャートを参照
して、信号処理の動作を説明する。
【0021】先ず、基準ブロック30L列側のブロック
シフト量Sa、測距視野内ブロック変数BLが初期化さ
れる(ステップS1、S2)。ブロック変数BLの相関
計算は、以下のようにして行われる。
シフト量Sa、測距視野内ブロック変数BLが初期化さ
れる(ステップS1、S2)。ブロック変数BLの相関
計算は、以下のようにして行われる。
【0022】図2の基準ブロック30L列に示される測
距視野が4分割され、ブロックの左側端面のデータLa
の値が決定される。そして、ブロック両端の値D(L
a),D(Lb)が読込まれる(ステップS3、S
4)。
距視野が4分割され、ブロックの左側端面のデータLa
の値が決定される。そして、ブロック両端の値D(L
a),D(Lb)が読込まれる(ステップS3、S
4)。
【0023】次に、ブロック内の最大値mx、最小値m
nと、その座標が計算され、その差SINN=mx−m
nがコントラスト条件CMIN以下になっているかが判
断される(ステップS5、S6)。コントラストが十分
にある時は、シフト演算1が実行される(ステップS
7)。シフト演算1では、上記の4点が用られ、L列と
R列とは SL(BL)=|D(La)−D(La+a)| +|D(Lb)−D(Lb+a)| +|D(mx)−D(mx+a)| +|D(mn)−D(mn+a)| によって求められる。
nと、その座標が計算され、その差SINN=mx−m
nがコントラスト条件CMIN以下になっているかが判
断される(ステップS5、S6)。コントラストが十分
にある時は、シフト演算1が実行される(ステップS
7)。シフト演算1では、上記の4点が用られ、L列と
R列とは SL(BL)=|D(La)−D(La+a)| +|D(Lb)−D(Lb+a)| +|D(mx)−D(mx+a)| +|D(mn)−D(mn+a)| によって求められる。
【0024】ここで、aは2像間隔を表し、図5に示さ
れる30L列のブロック位置に対し、対応する30R列
のブロック位置との間隔を表す。そして、その位置から
前後に±3シフトした位置までaを変化させ、結局シフ
ト演算1の処理でブロック変数BLについて、計7回の
シフト演算が行われる。その中で、シフト演算の結果求
められた相関値が小さい、すなわち相関度が高い時の演
算結果とシフト位置とが記憶される。また、ブロック両
端の値La,Lbは、ブロック変数BLの値により定め
られる変数である。
れる30L列のブロック位置に対し、対応する30R列
のブロック位置との間隔を表す。そして、その位置から
前後に±3シフトした位置までaを変化させ、結局シフ
ト演算1の処理でブロック変数BLについて、計7回の
シフト演算が行われる。その中で、シフト演算の結果求
められた相関値が小さい、すなわち相関度が高い時の演
算結果とシフト位置とが記憶される。また、ブロック両
端の値La,Lbは、ブロック変数BLの値により定め
られる変数である。
【0025】以上の動作で、1ブロックのシフト演算1
の動作を終了する。シフト演算1の終了、或いはSIN
NがCMIN以下の時は、次のブロック変数BLに移る
(ステップS8、S9)。
の動作を終了する。シフト演算1の終了、或いはSIN
NがCMIN以下の時は、次のブロック変数BLに移る
(ステップS8、S9)。
【0026】そして、上記ステップS3〜S9にて、B
L=0〜3の各ブロックについて同様に行われ、ブロッ
ク毎に相関最小値とそのときのシフト位置とが求められ
る。一方、全ブロックの計算が終了、すなわち上記ステ
ップS8に於いてBL>3の時は、基準ブロック30L
列が、Sa=Sa+d(同実施例ではd=3)だけシフ
トされる(ステップS10、S11)。こうして、図5
に示される基準部30Lと参照部30Rの全範囲でシフ
ト演算が行われるまで、すなわち、Sa>Sastopにな
るまで、シフト演算が繰返される。
L=0〜3の各ブロックについて同様に行われ、ブロッ
ク毎に相関最小値とそのときのシフト位置とが求められ
る。一方、全ブロックの計算が終了、すなわち上記ステ
ップS8に於いてBL>3の時は、基準ブロック30L
列が、Sa=Sa+d(同実施例ではd=3)だけシフ
トされる(ステップS10、S11)。こうして、図5
に示される基準部30Lと参照部30Rの全範囲でシフ
ト演算が行われるまで、すなわち、Sa>Sastopにな
るまで、シフト演算が繰返される。
【0027】シフト演算が終わると、その結果から後述
する方法で視野ブロックが決定される(ステップS1
2)。そして、選択された視野内の全データが用いられ
て、シフト演算2が実行される(ステップS13)。
する方法で視野ブロックが決定される(ステップS1
2)。そして、選択された視野内の全データが用いられ
て、シフト演算2が実行される(ステップS13)。
【0028】次いで、シフト演算2で最小となる、すな
わち2像の一致度が最も高いずれ量と、その前後の値と
から、後述する方法で補間計算1が行われる(ステップ
S14)。更に、信頼性の判断が行われて(ステップS
15)、信頼性係数SKが求められる。
わち2像の一致度が最も高いずれ量と、その前後の値と
から、後述する方法で補間計算1が行われる(ステップ
S14)。更に、信頼性の判断が行われて(ステップS
15)、信頼性係数SKが求められる。
【0029】ずれ量の計算結果が信頼できるかどうか
は、所定の基準値SK0よりも計算結果が良いかどうか
が比較されて判断される(ステップS16)。ここで、
SK<SK0のときは計算結果が十分信頼できるものと
判断され、補間1の結果をもって合焦判定が行われる
(ステップS25)。これに対して、SK≧SK0のと
きは、SKがSK1に代入されて記憶される。
は、所定の基準値SK0よりも計算結果が良いかどうか
が比較されて判断される(ステップS16)。ここで、
SK<SK0のときは計算結果が十分信頼できるものと
判断され、補間1の結果をもって合焦判定が行われる
(ステップS25)。これに対して、SK≧SK0のと
きは、SKがSK1に代入されて記憶される。
【0030】その後、センサ出力に対してフィルタ処理
が行われる。同実施例では、 D(i)=128−(D(i+3)−D(i)) により、フィルタ処理が行われる(ステップS18)。
この式は、一種の微分処理を表し、低周波ノイズの影響
を受けにくいよう、3画素離れた位置の差分をとってい
る。例えば2像間にDC的なノイズが発生しているとき
は、この処理によって直流分を無視でき、ノイズをキャ
ンセルすることができる。そして、上記処理された信号
からシフト演算2が再び行われる(ステップS19)。
が行われる。同実施例では、 D(i)=128−(D(i+3)−D(i)) により、フィルタ処理が行われる(ステップS18)。
この式は、一種の微分処理を表し、低周波ノイズの影響
を受けにくいよう、3画素離れた位置の差分をとってい
る。例えば2像間にDC的なノイズが発生しているとき
は、この処理によって直流分を無視でき、ノイズをキャ
ンセルすることができる。そして、上記処理された信号
からシフト演算2が再び行われる(ステップS19)。
【0031】その結果を基に補間計算がなされ、続いて
信頼性判断がなされる(ステップS20、S21)。こ
こで、フィルタ処理後の信頼性係数SKが、SK<SK
1のときのフィルタ処理で求められた結果をもって合焦
判定が行われる(ステップS23、S24)。
信頼性判断がなされる(ステップS20、S21)。こ
こで、フィルタ処理後の信頼性係数SKが、SK<SK
1のときのフィルタ処理で求められた結果をもって合焦
判定が行われる(ステップS23、S24)。
【0032】一方、上記ステップS22にてSK≧SK
1のときは、非合焦判定として(ステップS23)検出
動作が終了する。図5は、上記シフト演算のシフトの様
子を表した図である。
1のときは、非合焦判定として(ステップS23)検出
動作が終了する。図5は、上記シフト演算のシフトの様
子を表した図である。
【0033】ここで、基準部30Lをdだけシフトした
とき、30L列のブロック内の最大値、最小値はブロッ
クがシフトするので再計算する必要がある。しかしなが
ら、30L列のシフトによる変化は、dの大きさだけし
か起こらない。よって、シフトした後のブロック内の最
大値、最小値は、新たに移動分dに対してのみ行えば良
いので、計算規模は小さくて済む。
とき、30L列のブロック内の最大値、最小値はブロッ
クがシフトするので再計算する必要がある。しかしなが
ら、30L列のシフトによる変化は、dの大きさだけし
か起こらない。よって、シフトした後のブロック内の最
大値、最小値は、新たに移動分dに対してのみ行えば良
いので、計算規模は小さくて済む。
【0034】図6は、視野ブロックの選択について示し
たものである。シフト演算の結果、各ブロック毎に求め
られた相関値SL(BL)、BL=0〜3のうちの最小
値を与える位置をSmin(BL)とする。BL=0〜
3の各位置は、図2に示されたブロック301 、30
2 、303 及び304 の各位置に対応する。
たものである。シフト演算の結果、各ブロック毎に求め
られた相関値SL(BL)、BL=0〜3のうちの最小
値を与える位置をSmin(BL)とする。BL=0〜
3の各位置は、図2に示されたブロック301 、30
2 、303 及び304 の各位置に対応する。
【0035】視野は、最小ブロックが検出されると、そ
のブロックと隣接するもう1つのブロックの2つのブロ
ックが選択される。すなわち、BL=1または2のと
き、視野はBL=1とBL=2が選択される。BL=0
のとき、視野はBL=0とBL=1が選択される。そし
て、BL=3のとき、視野はBL=2とBL=3が選択
される。以上は、各ブロックの相関値が最小の条件での
場合を述べたものである。
のブロックと隣接するもう1つのブロックの2つのブロ
ックが選択される。すなわち、BL=1または2のと
き、視野はBL=1とBL=2が選択される。BL=0
のとき、視野はBL=0とBL=1が選択される。そし
て、BL=3のとき、視野はBL=2とBL=3が選択
される。以上は、各ブロックの相関値が最小の条件での
場合を述べたものである。
【0036】次に、上記の条件での検出結果、信頼性が
低い場合、2番目に小さい相関値を与えるブロックで視
野を決定する場合の選択方法について述べる。2番目に
相関の良いブロックがBL=1のとき、視野はBL=0
とBL=1とが選択される。また、BL=2のとき、視
野はBL=2、BL=3とが選択される。BL=0とB
L=3のとき、視野はBL=0とBL=3とが選択され
る。
低い場合、2番目に小さい相関値を与えるブロックで視
野を決定する場合の選択方法について述べる。2番目に
相関の良いブロックがBL=1のとき、視野はBL=0
とBL=1とが選択される。また、BL=2のとき、視
野はBL=2、BL=3とが選択される。BL=0とB
L=3のとき、視野はBL=0とBL=3とが選択され
る。
【0037】以上のようにして選択された各々2つのブ
ロックのうち、小さい方のブロック番号のL列、R列の
左端の画素番号を記憶すれば、シフト演算を行うときの
画素の位置はわかる。
ロックのうち、小さい方のブロック番号のL列、R列の
左端の画素番号を記憶すれば、シフト演算を行うときの
画素の位置はわかる。
【0038】次に、図7を参照して、シフト演算2につ
いて説明する。図7は、シフト演算のブロックを表した
ものであり、L列の選択された視野に対し、それに対応
するR列の位置が±3画素分シフトされる。これは、上
記視野選択の条件で選択された左端のブロックの2像間
隔が最小値に対してシフトしている場合があり、その分
と補間に必要なシフト分とを見込んだためである。
いて説明する。図7は、シフト演算のブロックを表した
ものであり、L列の選択された視野に対し、それに対応
するR列の位置が±3画素分シフトされる。これは、上
記視野選択の条件で選択された左端のブロックの2像間
隔が最小値に対してシフトしている場合があり、その分
と補間に必要なシフト分とを見込んだためである。
【0039】図8は、補間計算を説明するための図であ
る。補間は、シフト演算2の結果得られる最小値と、そ
の両端の値とを用いて計算する。同図に示されるよう
に、相関演算で得られた3点とL列の自己相関とから、
FM ≦FP のとき、 ZR=ZR0−(FP L−2×FM +FMIN +FP )/
(4×FP L) FM >FP のとき、 ZR=ZR0+(FM L−2×FP +FMIN +FM )/
(4×FM L) とから求められる。ここで、FP L、FM Lは自己相関
で求められた値であり、ZRは2像間隔、ZR0は基準
2像間隔を表す。詳細な説明は省略する。
る。補間は、シフト演算2の結果得られる最小値と、そ
の両端の値とを用いて計算する。同図に示されるよう
に、相関演算で得られた3点とL列の自己相関とから、
FM ≦FP のとき、 ZR=ZR0−(FP L−2×FM +FMIN +FP )/
(4×FP L) FM >FP のとき、 ZR=ZR0+(FM L−2×FP +FMIN +FM )/
(4×FM L) とから求められる。ここで、FP L、FM Lは自己相関
で求められた値であり、ZRは2像間隔、ZR0は基準
2像間隔を表す。詳細な説明は省略する。
【0040】図9は、自己相関で求められた傾きの信頼
性判断を説明する図である。SK値が所定値よりも大き
いときは信頼性がないと判断し、非合焦扱いとする。一
方、信頼性があるときは合焦と判断し、検出シーケンス
を終了する。
性判断を説明する図である。SK値が所定値よりも大き
いときは信頼性がないと判断し、非合焦扱いとする。一
方、信頼性があるときは合焦と判断し、検出シーケンス
を終了する。
【0041】信頼性は補間に用いる3点FMIN 、FM 及
びFP とを用いて、FM >FP のとき、 SK=(FMIN +FP )/(FM −FMIN ) FM ≦FP のとき、 SK=(FMIN +FM )/(FP −FMIN ) で計算する。
びFP とを用いて、FM >FP のとき、 SK=(FMIN +FP )/(FM −FMIN ) FM ≦FP のとき、 SK=(FMIN +FM )/(FP −FMIN ) で計算する。
【0042】以上、この発明の実施例について説明した
が、信号出力をフィルタ処理した後のシフト演算2(ス
テップS19)は、センサ出力から計算した結果の信頼
性がある程度高いときは省略しても問題なく補間計算が
できる。したがって、省略することで演算時間を更に短
縮することも可能である。
が、信号出力をフィルタ処理した後のシフト演算2(ス
テップS19)は、センサ出力から計算した結果の信頼
性がある程度高いときは省略しても問題なく補間計算が
できる。したがって、省略することで演算時間を更に短
縮することも可能である。
【0043】尚、この発明の上記実施態様によれば、以
下の如き構成が得られる。 (1)一対の被写体光束を受光し、光電変換して一対の
像信号を出力する受光手段と、上記一対の像信号を入力
し、2像の一致度を求める第1の演算手段と、この第1
の演算手段の演算結果の信頼性を判断する信頼性判断手
段と、上記信頼性判断の結果、信頼性が所定値よりも低
いと判断されたときに限り上記第1の演算手段の入力信
号をフィルタ演算処理してから再度2像の一致度を求め
る第2の演算手段とを備え、上記第1、第2の演算手段
の結果に基いて結果を出力することを特徴とする焦点検
出装置。
下の如き構成が得られる。 (1)一対の被写体光束を受光し、光電変換して一対の
像信号を出力する受光手段と、上記一対の像信号を入力
し、2像の一致度を求める第1の演算手段と、この第1
の演算手段の演算結果の信頼性を判断する信頼性判断手
段と、上記信頼性判断の結果、信頼性が所定値よりも低
いと判断されたときに限り上記第1の演算手段の入力信
号をフィルタ演算処理してから再度2像の一致度を求め
る第2の演算手段とを備え、上記第1、第2の演算手段
の結果に基いて結果を出力することを特徴とする焦点検
出装置。
【0044】(2)上記信頼性判断手段は、第1の演算
の結果が所定の判定条件を満たさないときに限り、第2
の演算の結果を評価することを特徴とする上記(1)に
記載の焦点検出装置。
の結果が所定の判定条件を満たさないときに限り、第2
の演算の結果を評価することを特徴とする上記(1)に
記載の焦点検出装置。
【0045】(3)上記信頼性判断手段の判定条件は、
少なくとも信頼性と被写体コントラストのうち何れかを
含む方法であることを特徴とする上記(1)に記載の焦
点検出装置。
少なくとも信頼性と被写体コントラストのうち何れかを
含む方法であることを特徴とする上記(1)に記載の焦
点検出装置。
【0046】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、信号出
力から計算した焦点検出結果に応じて信頼性が比較的低
いときのみフィルタ処理を行い、その結果とフィルタ処
理無しの結果とを比較して信頼性の高い方の結果を基に
合焦動作を行う。したがって、検出信号が正確な信号と
して得られているときは勿論、検出信号にフレア等の低
周波ノイズが発生している場合でも、精度良く、且つ測
距時間も短い焦点検出が可能になる。
力から計算した焦点検出結果に応じて信頼性が比較的低
いときのみフィルタ処理を行い、その結果とフィルタ処
理無しの結果とを比較して信頼性の高い方の結果を基に
合焦動作を行う。したがって、検出信号が正確な信号と
して得られているときは勿論、検出信号にフレア等の低
周波ノイズが発生している場合でも、精度良く、且つ測
距時間も短い焦点検出が可能になる。
【図1】この発明の焦点検出装置に適用されるセンサ信
号処理回路のブロック図である。
号処理回路のブロック図である。
【図2】一対のラインセンサの中の測距視野に相当する
部分を表した図である。
部分を表した図である。
【図3】信号処理の動作を説明するフローチャートであ
る。
る。
【図4】信号処理の動作を説明するフローチャートであ
る。
る。
【図5】図2のセンサブロックに於けるシフト演算での
シフトの様子を表した図である。
シフトの様子を表した図である。
【図6】視野ブロックの選択について示した図である。
【図7】シフト演算2について説明するもので、シフト
演算のブロックを表した図である。
演算のブロックを表した図である。
【図8】補間計算を説明するための図である。
【図9】自己相関で求められた傾きの信頼性判断を説明
する図である。
する図である。
【図10】従来の位相差式焦点検出法による焦点検出の
概略を示した図である。
概略を示した図である。
10…マイクロコンピュータ、11…制御部、12…測
光部、13…圧縮部、14…出力部、15…ラインセン
サ、15a…受光部、15b…遮光部、16a、16b
…ピーク検出部、17…引算器とサンプルホールド回
路、18…読出し部、19…シフトレジスタ、20…増
幅部、21…電源、30L、30R…基準ブロック(ラ
インセンサ)。
光部、13…圧縮部、14…出力部、15…ラインセン
サ、15a…受光部、15b…遮光部、16a、16b
…ピーク検出部、17…引算器とサンプルホールド回
路、18…読出し部、19…シフトレジスタ、20…増
幅部、21…電源、30L、30R…基準ブロック(ラ
インセンサ)。
Claims (3)
- 【請求項1】 被写体からの一対の光束を受光し、一対
の像信号を出力する受光手段と、 上記一対の像信号を入力し、2像のずれ量を求めるずれ
量演算手段と、 ずれ量演算結果の信頼値を求める信頼値演算手段とを備
え、 上記信頼値が所定値よりも低いと判断されたときに限
り、上記一対の像信号をフィルタ演算した後、再度ずれ
量を求めることを特徴とする焦点検出装置。 - 【請求項2】 一対の被写体光束をそれぞれ結像し、一
対のラインセンサでそれぞれ受光した2像信号により撮
影レンズの焦点状態を検出する焦点検出装置に於いて、 上記2像信号の一致度を演算する相関演算手段と、 この相関演算手段による相関演算結果に応答して2像の
ずれ量を演算する補間演算手段と、 この補間演算手段による補間演算結果を評価するための
信頼値を演算する信頼値演算手段と、 上記2像信号の空間周波数の低い成分を除去するフィル
タ演算手段とを備え、 上記ずれ量演算値を決定するにあたり、上記信頼値が予
め決められた所定値を越えないとき、その信頼値を一旦
上記所定値に置換え、上記フィルタ演算を実行した後、
ずれ量と信頼値とを再度演算し、これにより得られた新
たな信頼値が上記所定値を越えるときには、新たなずれ
量演算結果を有効とすることを特徴とする焦点検出装
置。 - 【請求項3】 上記フィルタ演算は、センサからの離散
的な像信号に対して3画素離れたデータとの差をとり、
センサ出力のダイナミックレンジの中心点から折返す演
算処理であることを特徴とする請求項1若しくは2に記
載の焦点検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14291294A JPH085902A (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 焦点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14291294A JPH085902A (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 焦点検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH085902A true JPH085902A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15326517
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14291294A Withdrawn JPH085902A (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | 焦点検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH085902A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005338633A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Olympus Corp | 焦点検出装置 |
JP2013083768A (ja) * | 2011-10-07 | 2013-05-09 | Nikon Corp | 焦点検出装置および撮像装置 |
-
1994
- 1994-06-24 JP JP14291294A patent/JPH085902A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005338633A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Olympus Corp | 焦点検出装置 |
JP4532169B2 (ja) * | 2004-05-28 | 2010-08-25 | オリンパス株式会社 | 焦点検出装置 |
JP2013083768A (ja) * | 2011-10-07 | 2013-05-09 | Nikon Corp | 焦点検出装置および撮像装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010904 |