JP3414500B2 - 焦点検出装置 - Google Patents
焦点検出装置Info
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Description
なる瞳を通った2つの像のずれ量から求める、いわゆる
位相差式焦点検出法を用いた焦点検出装置に関するもの
である。
して、被写体からの光束を異なる瞳を通った2つの像の
ずれ量から求める、いわゆる位相差式焦点検出法という
ものが知られている。例えば、特開昭59ー12651
7号公報のカメラのピント検出装置によれば、一対のラ
インセンサ、それぞれを複数の重なり合ったブロックに
分割して、その各ラインセンサ上に形成される2像のう
ち、基準部となる一方のラインセンサの各ブロックのコ
ントラストを求める。そして、コントラストが高いブロ
ックについて、参照部としての他方のラインセンサの対
応するブロック部分との2像の一致度を相関演算によっ
て求める手法が開示されている。この手法では、まず初
めに基準部のラインセンサの中からコントラストの高い
部分(ブロック)を探し、参照部のラインセンサの中で
それに対応する部分(ブロック)とでしか相関演算を行
わないため、この相関演算に要する時間を短くすること
ができる。
開昭59−126517号公報による手法では、広視野
において十分デフォーカス検出ができるような仕様とし
たとき、即ち、一対のラインセンサにおいて各ラインセ
ンサが長く、センサの画素数が多い仕様としたとき、合
焦点検出の演算結果の精度が悪くなる場合が生じ易いと
いう問題点を有している。
一視野内に存在する、いわゆる、被写体の遠近混在の状
態が起こり易く、この遠近混在の状態においてはどの被
写体情報に基づいて合焦検出を行えば良いかの判断が的
確にできないためである。
ためになされたものであり、ファインダ視野内に存在す
る被写体が遠近混在している場合においても、その影響
を受けることなく意図する被写体に対する正確な合焦点
検出が可能な焦点検出装置を提供することを目的とす
る。
に、請求項1に記載の焦点検出装置は、一対の被写体光
束を受光し、2つの像信号を出力する受光手段と、上記
像信号を複数の視野ブロックに分割し、該視野ブロック
ごとに2像の相関演算を行なう第1相関演算手段と、上
記第1相関演算手段の演算結果に基づいて、上記複数の
視野ブロックの中から相関度が最少になる視野ブロック
を含む複数の視野ブロックを選択する選択手段と、上記
選択手段で選択された複数の視野ブロックについて第2
の相関演算を行なう第2相関演算手段と、上記第2相関
演算手段の演算結果にしたがって、合焦判定を行う合焦
判定手段と、を具備することを特徴とする。
は、上記第2相関演算手段の信頼性を判定する信頼性判
定手段を含み、この信頼性判定手段によって上記第2相
関演算結果の信頼性が低いと判定された場合には、異な
る視野ブロックの組み合わせによって再度上記第2相関
演算を行うようにしたことを特徴とする。
受光し、2つの像信号を出力する受光手段と、上記像信
号を複数の視野ブロックに分割し、該視野ブロックごと
に2像の相関演算を行なう第1相関演算手段と、上記第
1相関演算手段の演算結果に基づいて、上記複数の視野
ブロックの中から相関度が最少になる視野ブロックを含
む複数の視野ブロックを選択する選択手段と、上記選択
手段で選択された複数の視野ブロックについて第2の相
関演算を行なう第2相関演算手段と、上記第2相関演算
手段の演算結果にしたがって、合焦判定を行う合焦判定
手段と、を具備することを特徴とする。
判定する信頼性判定手段を含み、この信頼性判定手段に
よって上記第2相関演算結果の信頼性が低いと判定され
た場合には、異なる視野ブロックの組み合わせによって
再度上記第2相関演算を行うようにしたことを特徴とす
る。
する。図1は、本発明に係る実施例の焦点検出装置の構
成を示すブロック図である。この焦点検出装置は、装置
全体の動作を制御するCPU1と、このCPU1から指
令を受けて焦点検出部の回路各部の動作を制御する制御
部2と、被写体からの光束を受光して焦点検出を行うた
めの信号を出力する焦点検出部3から構成される。ここ
で、制御部2と焦点検出部3は一つのセンサチップ上に
形成される。
を制御し、同時に、焦点検出部3からの出力信号をアナ
ログ/デジタル(以下A/Dと記す)変換して演算処理
を行う。
電圧をサンプルホールドする信号MON、蓄積された電
荷をリセットする信号RES、電荷の蓄積を終了する信
号END、チップイネーブル信号CEN、保持された電
荷の読み出しを制御する信号READ、焦点検出信号の
利得を制御する信号GAINを出力し、上記制御部2は
これら信号を受けて、焦点検出部3の回路各部の動作を
制御する。
からの光束を受光し像信号を出力する画素から成る受光
部4aと、当該ラインセンサ4の暗電流に相当する電流
を出力する遮光された画素から成る遮光部4bとから構
成される。なお、図1は簡略化のため、一対のラインセ
ンサ4を一つのブロックで示している。
積状態をモニタするためのピーク検出部5aが接続さ
れ、また、上記遮光部4bにはピーク検出部5bが接続
されている。これらピーク検出部5a、5bによりピー
ク検出された出力は、引き算器6で両者の差が求めら
れ、サンプルホールド回路7を介して出力部8へ導かれ
る。
て自動的に感度が、高感度と低感度に切り換えるような
構成になっている。(なお、この切り換えは不図示の感
度切り換え制御部の制御により、被写体の明るさに応じ
て自動的に行われる。) そして、制御部2はCPU1からの信号ENDに応じ
て、スイッチ部9a、9bを切り換える。この切り換え
は、上記蓄積状態をモニタするときにはスイッチ部9a
から出力されるように切り換えて、上記ピーク検出部5
a、5bによりピーク検出された出力がCPU1のA/
D変換入力部へ出力されるようにする。一方、上記制御
により蓄積が信号ENDにより終了すると、スイッチ部
9bから出力されるように切り換えて、後述するAF信
号出力が測距出力AFDATAとしてCPU1のA/D
変換入力部へ出力されるようにする。
U1からの信号RESを受信するのに応じて初期化さ
れ、蓄積を開始する。受光部4aが所定量の電荷を蓄積
すると、受光部4aの各画素に蓄積された電荷は蓄積終
了の信号ENDに応じて、読み出し部10に送られる。
なお、受光部4aからの蓄積電荷の読み出しは、一対の
ラインセンサ4のうち基準部としての一方のラインセン
サと参照部としての他方のラインセンサとが交互に行わ
れる。さらに、制御部2はCPU1からの信号READ
に応じて、シフトレジスタ11により上記読み出し部1
0に保持された電荷を順次読み出す。
率に基づいて増幅部12で所定の大きさの信号に増幅さ
れた後、引き算器13で受光部4aの信号から遮光部4
bの信号分が差し引かれ、AF信号出力となる。
センサ4上のうち、視野Vに相当する各画素への光量に
対応した出力例を示す図であり、図2(b)はその測距
視野を示す図である。
0Rはそれぞれ不図示カメラの光学系によって導かれた
測距用の光束を受光する一対のラインセンサ4の中の測
距視野に相当する部分を表している。なお、ここでは一
対のラインセンサ4のうち基準部としての一方のライン
センサ中の測距視野に相当部分をセンサ列20L、参照
部としての他方のラインセンサ中の測距視野に相当部分
をセンサ列20Rとする。
報は光電変換され、A/D変換されて、出力21のよう
に各素子の光量に対応した大きさの出力として得られ
る。そのi番目の画素出力をD(i)と表すことにす
る。
相関を行うときに、まず、センサ列20Lの出力から所
定の画素出力値を得る。すなわちに、センサ列20Lを
4分割して4つのブロック22、23、24、25に分
け、それぞれの両端の位置に当たる画素出力値を得る。
さらに、各ブロックにおいて、上記両端の画素によって
囲まれる範囲中の各々の画素での出力値から最大値と最
小値とを検出する。
画素出力の特徴点が検出される。図2(a)において
は、簡略化のため、そのうち一番左のブロック22に相
当する位置で、両端の位置に当たる画素番号とその出力
値(La、D(La))、(Lb、D(Lb))、最大
値を取る画素番号とその最大値(mx,D(mx))、
及び最小値を取る画素番号とその最小値(mn,D(m
n))のみを示している。他のブロックについても同様
である。
し、各ブロック毎に両端の値とブロック内の最大値、最
小値が求められる。この4つの出力をそのブロックの代
表値として扱う。
示す大きさを持ち、フィルム面26に対しては図2
(b)に示すような関係になっている。図3,4は、上
記実施例の測距時のおけるCPU1の合焦点検出処理を
示す一連のフローチャートである。
するセンサ列20L側のブロックシフト量Saを“0”
に初期化し(ステップS1)、さらに、測距視野内のブ
ロック変数BLを“0”に初期化する(ステップS
2)。
関計算を以下のように行う。図2(a)に示すセンサ列
20Lの測距視野を左側から、22、23、24、25
と4つのブロックに分割し、ブロック22の両端の画素
番号であるLa、Lbの値を決める(ステップS3)。
そして、ブロック22両端の出力値、D(La)、D
(Lb)を読み込む(ステップS4)。ここで、ステッ
プS3中の+11BL、+10は一つのブロックが10
画素であることによるものである。
(mx)、最小値D(mn)と、その画素番号を計算し
(ステップS5)、その差Sinn=D(mx)−D
(mn)がコントラスト条件のCmin以下になってい
るかを判断する(ステップS6)。
いないとき、すなわち、コントラストが十分にあるとき
は、シフト演算1を実行する。このシフト演算1は上記
の4つの出力値を用い、センサ列20Lとセンサ列20
Rとの相関値SLを以下の式によって求めるものであ
る。
a)|+|D(Lb)−D(Lb+a)|+|D(m
x)−D(mx+a)|+|D(mn)−D(mn+
a)| ここで、aは2像間隔を表しており、すなわちそれは、
図5に示す基準部としてのラインセンサ51Lのブロッ
ク位置に対して、対応する参照部としてのラインセンサ
51Rのブロック位置との間隔を表す。そして、その位
置から前後に±3シフトした位置までaを変化させ、結
局、シフト演算1の処理でブロック変数BLについて、
計7回のシフト演算が行われる。そのシフト演算結果の
中から、CPU1は求められた相関値が小さい、すなわ
ち、相関度が高いときの演算結果とシフト位置とを記憶
する。なお、このシフト演算1については後で詳細に説
明する。
a、Lbは、ブロック変数BLの値により定められる変
数である。以上の処理で1ブロックのシフト演算1の処
理を終了する(ステップS7)。
innがCmin以下のときは、ブロック変数BL≧3
かどうかを判断し(ステップS8)、ブロック変数BL
が3より小さいときはブロック変数BLに1を加え、次
のブロックに移る処理を行い(ステップS9)、ステッ
プS3へ戻る。一方、ブロック変数BLが3以上のとき
はステップS10へ移行する。
の処理をブロック変数BL=0〜3の各ブロックについ
て同様に行い、ブロック毎に相関最小値とそのときのシ
フト位置とを求める。
テップS8でブロック変数BL≧3のとき、基準ブロッ
クL列を、Sa=Sa+d(本実施例ではd=3)だけ
シフトし(ステップS10、11)、ステップS2へ戻
る。
サ51Lと参照部のラインセンサ51Rの全範囲でシフ
ト演算1を行うまで、すなわち、ステップS10、S1
1でSa≧Sastopになるまで、シフト演算1を繰
り返し行う。
り、シフト演算1が終わるとステップS12へ移行し、
上記シフト演算結果から相関最小値が求められたかどう
かを調べる。相関最小値はFminとして記憶されてお
り、その初期値は“1000”とする。
どうかが判断され、相関最小値が算出されたときはFm
in<1000が成立し、ステップS13へ移行する。
一方、相関最小値が算出されないときはFmin<10
00が成立せず、ステップS32へ飛び、非合焦判定を
行い、本処理を終了する。
プS13では、後述するように視野ブロックの選択を行
う。このとき、最初に選ばれた視野ブロックを第1視野
とする。そして、選択された視野内の全データを用いて
シフト演算2を実行する(ステップS14)。なお、こ
の視野ブロックとシフト演算2については後で詳細に説
明する。
ち、2像の一致度が最も高いずれ量とその前後の値とか
ら、補間計算を行う(ステップS15)。なお、この補
間計算については後で詳細に説明する。
を行う信頼性係数SKの値を計算により求める(ステッ
プS16)。ずれ量の計算結果が信頼できるかどうかは
所定の基準値SK0よりも計算結果が良いかどうか、す
なわち、小さいかどうかを比較して判断する(ステップ
S17)。SK<SK0のときは計算結果が十分信頼で
きるものと判断し、引き続きステップS19へ移行し、
処理を行う。
点検出ができないと判断し、2番目に相関結果の小さい
ブロックの相関値Fmin2が算出されているかどうか
を調べる(ステップS17)。
かどうかが判断され、相関値が算出されたときはFmi
n2<1000が成立し、ステップS27へ移行する。
一方、相関値が算出されないときはFmin2<100
0が成立せず、ステップS32へ飛び、非合焦判定を行
い、本処理を終了する。
1視野で既に合焦判断ができている場合に実行される。
上述した計算の結果、CPU1は相関最小値Fminが
min1かmin2と等しいかどうかを判断し、等しい
ときは既に求められている第1視野での計算結果から合
焦判定を行い(ステップS19,S21)、本処理を終
了する。
たさないときは、min1、min2のどちらかに相関
結果が得られているかどうかを調べるため、min1<
1000、または、min2<1000を判断する(ス
テップS20)。いずれの条件も成立しないときは、第
2視野のコントラストが不足しているため、ステップS
21で第1視野での計算結果で合焦判定を行い、本処理
を終了する。
1、または、min2で最小値が求められているときは
その最小値を与えるブロックから、後述の条件に基づい
て第2視野を設定し、シフト演算2(ステップS2
2)、補間計算(ステップS23)、信頼性計算(ステ
ップS24)、及び、SKの値の判定を行う(ステップ
S25)。
の計算結果を基に合焦判定を行い(ステップS26)、
一方、SK≧SK0のときは第1視野で合焦判定を行い
(ステップS21)、本処理を終了する。
処理について説明する。この処理は第1視野での相関結
果が得られなかったときに行う処理で、第2視野につい
てシフト演算2(ステップS28)、補間計算(ステッ
プS29)、信頼性計算(ステップS30)、及び、S
Kの値の判定を行う(ステップS31)。このステップ
S28〜S31までの処理は、上記ステップS22〜S
25と同じ処理である。この処理は上述したように第1
視野での相関結果が得られなかったときに行う処理であ
るからSK<SK0のときは第2視野で合焦判定を行い
(ステップS26)、また、SK≧SK0のときは非合
焦判定を行い(ステップS32)、本処理を終了する。
以上の処理によって合焦点を検出する。
について詳細に説明する。図5は、上記実施例のシフト
演算1でのシフトの仕方を示す図である。ここで、基準
部の一方のラインセンサ51L内の視野ブロックをdだ
けシフトしたとき、この視野ブロック内の最大値、最小
値は、視野ブロックがシフトするので再計算する必要が
ある。
ックのシフトによる変化はdの大きさだけしか起こらな
い。よって、シフトした後の視野ブロック内の最大値、
最小値は新たな移動分dに対してのみ行えば良いため、
計算規模は小さくて済む。
方法を示す図である。シフト演算1の結果、各ブロック
(BL=0〜3)毎に求められた相関値SL(BL)の
うちの最小値を与えるブロックをsmin(BL)とす
る。BL=0〜3の各ブロックは第2図の22,23,
24,25の各ブロックにそれぞれ対応する。
L(BL)が最小値となるブロックを検出すると、その
ブロックと隣あったもう1つのブロックを撰び、合わせ
て2つの視野ブロックを選ぶ。
ロックの相関最小値の大きさをそれぞれmin0,mi
n1,min2,min3とすると、最小値を与えるブ
ロックがBL=1、または、BL=2のとき、視野ブロ
ックとしてBL=1とBL=2を選ぶ。また、最小値を
与えるブロックがBL=0のとき、視野ブロックとして
BL=0とBL=1を選ぶ。最小値を与えるブロックが
BL=3のとき、視野ブロックとしてBL=2とBL=
3を選ぶ。以上は各ブロックの相関値が最小の条件の場
合である。
いと判断された場合、2番目に小さい相関値を与えるブ
ロックで視野ブロックを決定する場合の選択方法につい
て述べる。
すなわち、2番目に相関の良いブロックがBL=1のと
き、視野ブロックとしてBL=0とBL=1とを選ぶ。
また、2番目に相関の良いブロックがBL=2のとき、
視野ブロックとしてBL=2,BL=3とを選ぶ。ま
た、2番目に相関の良いブロックがBL=0とBL=3
のとき、視野はBL=0とBL=3とを選ぶ。
ブロックのうち、CPU1がラインセンサ51L、51
Rにおける相関値の小さい方のブロック番号の左端の画
素番号を記憶すれば、シフト演算2を行うときの画素の
位置がわかる。
て説明するための図である。図7における矩形は、シフ
ト演算の視野ブロックを表し、センサ列Lの選択された
視野ブロックに対し、それに対応するセンサ列Rの視野
ブロックの位置を±3画素分シフトする。ここで、±3
画素分シフトするのは、上記視野ブロック選択の条件で
選択した左端の視野ブロックの2像間隔が最小値に対し
てシフトしている場合があり、そのシフト分と補間に必
要なシフト分とを見込んだためである。
明する図である。この補間は、シフト演算2の結果得ら
れる最小値とその両端の値とを用いて計算する。
点とセンサ列Lの自己相関とから、FM≦FPのとき、 ZR=ZR0−(FPL−2×FM+Fmin+FP)
/(4×FPL)、 また、FM>FPのとき、 ZR=ZR0+(FML−2×FP+Fmin+FM)
/(4×FML)、 となり、これらから補間が求められる。
られた値であり、また、ZRは2像間隔、ZR0は基準
2像間隔を表すが、詳細な説明については省略する。図
9は、信頼性判断の実施例であり、SKの値が所定値よ
りも大きいときは信頼性がないと判断し、非合焦扱いと
する。一方、SKの値が所定値よりも小さいときは信頼
性があると判断し、合焦扱いとする。以上にて、信頼性
計算の検出シーケンスを終了する。
補間に用いる3点Fmin、FM、及び、FPとを用い
て、FM>FPのとき、 SK=(Fmin+FP)/(FM−Fmin)、 また、FM≦FPのとき、 SK=(Fmin+FM)/(FP−Fmin)、 にて計算する。
概要をまとめると以下のようになる。図3、4に示した
フローチャートにおいて、ステップS1〜S5にてライ
ンセンサ上の測距視野を4つのブロックに分割する。次
に、ステップS6〜S11にて分割されたブロック毎に
相関値を求める。次に、ステップS12〜S17、S1
9、S20にて第1視野ブロックの選択を行う。さら
に、ステップS18、S27〜S31、S20、S22
〜S25にて第1視野ブロックの相関値が信頼性がない
場合、第2視野ブロックの選択を選択を行う。そして、
ステップS21、S26にて合焦判定を行う。
撮影画面の周辺に被写体が存在し、かつ、撮影画面の中
央付近にも被写体が存在する、即ち、遠近混在している
場合においても、撮影を意図する被写体の中央部でその
影響を受けることなく合焦点検出が可能となる。
が、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
く、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可能で
ある。ここで、本発明の要旨をまとめると以下のように
なる。 (1) 被写体からの光束を受光し、光電変換する受光
手段と、上記受光手段からの信号を複数のブロックに分
割した後に被写体の焦点状態を求める処理手段と、上記
処理手段の出力に応じて所定の関係を満足する第1の視
野を選択する第1の視野選択手段と、上記処理手段によ
る演算結果の信頼性を判断する信頼性判断手段と、上記
第1の視野選択手段で選択された視野が所定の視野か否
かを判定し、異なるときには上記処理手段で求められた
第2の視野の像との一致度を求める視野判定手段と、上
記第1の視野選択手段により選択された視野と上記視野
判定手段の出力に応じて第1の視野とは異なる第2の視
野を選択する第2の視野選択手段と、を具備することを
特徴とする焦点検出装置。 (2) 上記第1の視野選択手段は、上記ブロックごと
に特徴信号を抽出し、焦点状態の演算結果から視野を選
択することを特徴とする上記(1)に記載の焦点検出装
置。 (3) 上記第2の視野選択手段は、上記第1の視野選
択手段では焦点検出不能か、または所定の視野が選択さ
れなかったときのみ適用されることを特徴とする上記
(1)に記載の焦点検出装置。 (4) 上記信頼性判断手段で信頼性が低いと判断され
たとき、上記処理手段の結果に基づき2番目に一致度の
高い視野を選択することを特徴とする上記(1)に記載
の焦点検出装置。
インダ視野内に存在する被写体が遠近混在している場合
においても、その影響を受けることなく意図する被写体
に対する正確な合焦点検出が可能な焦点検出装置を提供
することができる。
すブロック図である。
各素子への光量に対応した出力例を示す図であり、
(b)はその測距視野を示す図である。
処理を示す一連のフローチャートである。
処理を示す一連のフローチャートである。
図である。
る。
図である。
センサ、4a…受光部、4b…遮光部、5a,5b…ピ
ーク検出部、6…引き算器、7…サンプルホールド回
路、8…出力部、9a,9b…スイッチ部、10…読み
出し部、11…シフトレジスタ、12…増幅部、13…
引き算器。
Claims (2)
- 【請求項1】 一対の被写体光束を受光し、2つの像信
号を出力する受光手段と、 上記像信号を複数の視野ブロックに分割し、該視野ブロ
ックごとに2像の相関演算を行なう第1相関演算手段
と、 上記第1相関演算手段の演算結果に基づいて、上記複数
の視野ブロックの中から相関度が最少になる視野ブロッ
クを含む複数の視野ブロックを選択する選択手段と、 上記選択手段で選択された複数の視野ブロックについて
第2の相関演算を行なう第2相関演算手段と、 上記第2相関演算手段の演算結果にしたがって、合焦判
定を行う合焦判定手段と、 を具備することを特徴とする
焦点検出装置。 - 【請求項2】 上記第2相関演算手段の信頼性を判定す
る信頼性判定手段を含み、この信頼性判定手段によって
上記第2相関演算結果の信頼性が低いと判定された場合
には、異なる視野ブロックの組み合わせによって再度上
記第2相関演算を行うようにしたことを特徴とする請求
項1に記載の焦点検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP14934294A JP3414500B2 (ja) | 1994-06-30 | 1994-06-30 | 焦点検出装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP14934294A JP3414500B2 (ja) | 1994-06-30 | 1994-06-30 | 焦点検出装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP14934294A Expired - Fee Related JP3414500B2 (ja) | 1994-06-30 | 1994-06-30 | 焦点検出装置 |
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