JPH08334534A - 電力用半導体構成要素の負荷電流検出用回路装置 - Google Patents

電力用半導体構成要素の負荷電流検出用回路装置

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JPH08334534A
JPH08334534A JP8165204A JP16520496A JPH08334534A JP H08334534 A JPH08334534 A JP H08334534A JP 8165204 A JP8165204 A JP 8165204A JP 16520496 A JP16520496 A JP 16520496A JP H08334534 A JPH08334534 A JP H08334534A
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terminal
resistor
circuit device
load current
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JP8165204A
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Jenoe Tihanyi
チハニ イエネ
Adam-Istvan Koroncai
コロンカイ アダム‐イストフアン
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Siemens AG
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    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
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    • H03K17/14Modifications for compensating variations of physical values, e.g. of temperature
    • H03K17/145Modifications for compensating variations of physical values, e.g. of temperature in field-effect transistor switches
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電界効果により制御可能な電力用半導体構成
要素の負荷電流を検出するための回路装置を、負荷の大
きさに無関係に使用できるようにする。 【解決手段】 負荷電流を検出しようとする電界効果に
より制御可能な電力用半導体構成要素1に電界効果によ
り制御可能な別の半導体構成要素2を設け、両半導体構
成要素1、2のドレイン端子及びゲート端子をそれぞれ
互いに接続し、別の半導体構成要素2のソース端子に制
御可能な抵抗6を介して抵抗5を直列に接続し、抵抗5
の他方の端子は固定電位に接続し、別の半導体構成要素
2に流れる電流を制御可能な抵抗6により、両半導体構
成要素1、2のドレイン‐ソース間電圧が等しくなるよ
うに調節する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電界効果により制
御可能な電力用半導体構成要素の負荷電流を検出するた
めの回路装置に関する。
【0002】
【従来の技術】電界効果により制御可能な電力用半導体
構成要素の負荷電流を検出するため、電界効果により制
御可能な別の半導体構成要素を有し、両半導体構成要素
のドレイン端子およびゲート端子がそれぞれ互いに接続
されており、別の半導体構成要素を通って負荷電流の一
部分が流れ、別の半導体構成要素に直列に接続されてい
る抵抗を有し、この抵抗から負荷電流に比例する電圧が
取り出され得るような回路装置は、例えばフランク(R.
Frank )およびプシェニツヒ(A.Pshaenich )の論文
「残存している短絡回路(Surviving Short Circuits)
」、Machine Design、1990年3月8日、第89〜
96頁に記載されている。この論文には、電力用MOS
FETの負荷電流が、電力用MOSFETにそれよりも
面積が小さい類似のMOSFETが並列に接続され、こ
の小さいほうのMOSFET、いわゆるセンスFETに
ソース側に測定抵抗が直列に接続されることにより検出
され得る原理が示されている。電力用FETがドレイン
側で負荷と接続されているならば、別のFETを通って
負荷電流にほぼ比例する電流が流れる。その際に比例係
数はセンスFETの電流を導く面積と電力用FETのそ
れとの比に関係する。負荷、従ってまた電力用FETを
通って負荷電流が流れると、負荷電流にほぼ比例する部
分がセンスFETおよび測定抵抗を通って流れる。その
測定抵抗から負荷電流にほぼ比例する電圧を取り出すこ
とができる。
【0003】その際の前提条件は、測定抵抗が負荷に合
わされていることである。従って、他の負荷では測定抵
抗が変更されるか、電圧を検出する評価論理が変更され
るかしなければならない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、上述
のような回路を、負荷の大きさに無関係に使用可能であ
るように構成することである。さらに、本発明の課題は
ハイサイド(High-side)スイッチのたいていの場合に使
用可能なようにすることにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、本発明によれば、測定抵抗が一方では固定電位にあ
る端子と接続されており、他方では制御可能な抵抗を介
して別の半導体構成要素のソース端子と接続されてお
り、別の半導体構成要素の電流が制御可能な抵抗によ
り、両半導体構成要素のドレイン‐ソース間電圧が互い
に等しいように調節される。
【0006】回路装置が電力用MOSFETではなくI
GBTにより作動する場合には、用語“ソース”を“エ
ミッタ”により置換すればよい。
【0007】本発明の他の構成は請求項2以下に記載さ
れている。
【0008】
【実施例】以下、図面に示す実施例により本発明を一層
詳細に説明する。
【0009】図1による回路は電力用MOSFET1を
含んでおり、そのソース側に負荷4が直列に接続されて
いる。それによって電力用MOSFET1はハイサイド
スイッチをなしている。回路はさらに別のMOSFET
2を含んでいる。このMOSFET2は前記のセンスF
ETを形成しており、一般に電力用MOSFET1のい
くつかのセルにより形成されている。それは例えば10
のセルを含んでおり、他方において電力用MOSFET
1は10000のセルを有する。両MOSFETのドレ
イン端子Dもそれらのゲート端子も互いに接続されてい
る。それらのソース端子は互いに隔てられている。MO
SFET2のソース端子には制御可能な抵抗6が接続さ
れている。この制御可能な抵抗は他方の側で端子10を
介して測定抵抗5と接続されている。測定抵抗5の他方
の端子は固定電位、好ましくは接地点に接続されてい
る。この接地点は負荷4が接続されている接地点と同一
であってもよいし、同一でなくてもよい。
【0010】制御可能な抵抗6がMOSFETとして構
成されていることは目的にかなっている。その場合、そ
のソース端子は測定抵抗5と接続されており、そのドレ
イン端子はMOSFET2のソース端子と接続されてい
る。それはMOSFET2と逆のチャネル形式である。
MOSFET6のゲート端子は差動増幅器3の出力端と
接続されている。この差動増幅器3は2つの入力端を有
し、その負の入力端はMOSFET2のソース端子と、
また正の入力端は電力用MOSFET1のソース端子と
接続されている。
【0011】装置全体は端子11と接地点との間に与え
られる作動電圧+Vbbに接続されている。端子11はM
OSFET1および2のドレイン端子と接続されてい
る。両MOSFETのゲート端子は抵抗8を介して入力
端9と接続されており、この入力端9に例えばポンプ回
路を介して制御電圧が与えられ得る。
【0012】今制御電圧が入力端9に与えられると、電
力用MOSFET1および別のMOSFET2は導通状
態に制御される。負荷電流が負荷4を通って流れる。M
OSFET2、制御可能な抵抗6および測定抵抗5を通
って同じく電流が流れる。MOSFET1および2のソ
ース端子に、差動増幅器3の負または正の入力端に与え
られるそれぞれ1つの電圧が生ずる。これらの電圧の差
に関係して差動増幅器3の出力端に、MOSFET6を
制御する電圧が生ずる。
【0013】最初に、MOSFET2におけるソース‐
ドレイン間電圧がMOSFET1におけるそれよりも大
きいと仮定する。その場合、差動増幅器3の入力端にM
OSFET6をより高い抵抗の範囲に制御する電圧が生
ずる。MOSFET2を通る電流がそれにより減ぜら
れ、それによってそのドレイン‐ソース間電圧が増大す
る。MOSFET2を通る電流はいま、入力電圧の差が
零になるまで、すなわちMOSFET1および2のドレ
イン‐ソース間電圧が等しくなるまで調節される。この
ことは、調節された定常的な状態で測定抵抗5を通っ
て、負荷4の大きさに無関係に負荷電流に常に固定的に
比例している電流が流れることを意味する。すなわち、
作動の進行中に負荷4が例えば部分的な短絡により、ま
たはいくつかの並列に接続されている負荷の故障により
変化すると、電力用MOSFET1におけるドレイン‐
ソース間電圧が増大または減少し、またそれによって可
変の抵抗6が減少または増大方向に、増幅器3の入力端
における電圧差が零になるまで制御される。
【0014】固定的な比例性の前提条件は、MOSFE
T1および2のID /UDS特性曲線が互いに類似してい
ることである。すなわち、各電圧値UDSに対して別のF
ET2を通って、負荷電流の1つの固定的な一部分であ
る電流が流れることである。この電流は抵抗5に、接地
点を基準にして負荷電流に比例している電圧を発生し、
この電圧が端子10から取り出され得る。類似性は前記
のようにMOSFET2が電力用MOSFET1のいく
つかのセルにより形成されていることにより容易に達成
され得る。比はたとえば10:10000であってよ
い。
【0015】特性曲線が互いに類似していないならば、
負荷電流に関係する調節誤差が生ずる。
【0016】図2による回路装置が図1による回路装置
と相違する点は、付加の差動増幅器14が設けられてい
ることであり、その第1の入力端は電力用MOSFET
1のソース端子と接続されている。差動増幅器14の他
方の入力端には固定的な電圧が与えられている。差動増
幅器14の出力端はMOSFET1および2のゲート端
子と接続されている。付加の差動増幅器14はMOSF
ET1のドレイン‐ソース間電圧を差動増幅器3のオフ
セット電圧よりも高い値に設定する目的を有する。オフ
セット電圧が例えば5mVであれば、増幅器14の第2
の入力端に与えられている電圧は例えばVbb−0.1V
であってよい。それによってMOSFET1のドレイン
‐ソース間電圧は0.1Vに設定される。オフセット電
圧の前記の大きさの際に調節誤差は5/100mV=5
%に過ぎない。MOSFET1のドレイン‐ソース間電
圧が例えば0.1Vだけ高められても、電力用MOSF
ET1の順抵抗は問題とならない程度しか高くならな
い。それによって電力用MOSFET1内の損失の増大
は無視できるほど僅かである。
【0017】図3による実施例は図1による実施例にく
らべていくつかの構成部分が追加されている。増幅器3
の負の入力端はダイオード15を介して端子11と、ま
た電流源18を介して接地点と接続されている。他方の
入力端はダイオード16を介して端子11と、また電流
源20を介して接地点と接続されている。負の入力端は
さらにダイオード17を介してMOSFET2のソース
端子と接続されており、正の入力端はダイオード19を
介して電力用MOSFET1のソース端子と接続されて
いる。これらのダイオードおよび電流源は、増幅器3に
正しい動作点を設定する役割をする。すべてのダイオー
ドはMOSダイオードとして構成されていてよく、また
電流源は電流ミラー回路またはディプレッション形MO
SFETとして構成されてよい。
【0018】増幅器3の出力端とMOSFET6のゲー
ト端子との間に抵抗21が接続されていてよく、MOS
FET6のゲート端子と接続されているその端子はコン
デンサ22と接続されている。コンデンサ22の他方の
端子は接地点に接続されている。このRC組み合わせは
増幅器3が振動しようとするのを抑制する。増幅器3が
演算増幅器であることは目的にかなっている。
【0019】本発明による回路は、測定抵抗5自体が温
度に無関係かまたは温度に僅かしか関係しないならば、
ほぼ温度に無関係に作動し得る。このことは例えば、測
定抵抗5がポリシリコンから成っているか、または温度
補償抵抗として構成されていることにより達成され得
る。
【0020】本発明をハイサイドスイッチにより説明し
た。しかし本発明はローサイドスイッチににも応用可能
である。その場合、負荷は両MOSFETのドレイン側
に位置しており、また制御可能なスイッチ6および測定
抵抗5はMOSFET2のソース側に接続されたままで
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の接続図である。
【図2】本発明の別の実施例の接続図である。
【図3】本発明の更に別の実施例の接続図である。
【符号の説明】
1 電力用MOSFET 2 別のMOSFET 3、14 差動増幅器 4 負荷 5 測定抵抗 6 制御可能な抵抗

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電界効果により制御可能な電力用半導体
    構成要素の負荷電流を検出するための回路装置であっ
    て、電界効果により制御可能な別の半導体構成要素を有
    し、両半導体構成要素のドレイン端子およびゲート端子
    がそれぞれ互いに接続されており、前記別の半導体構成
    要素を通って負荷電流の一部分が流れ、前記別の半導体
    構成要素に直列に接続されている抵抗を有し、この抵抗
    から負荷電流に比例する電圧が取り出され得る回路装置
    において、 前記抵抗(5)が一方では固定電位にある端子と接続さ
    れており、他方では制御可能な抵抗(6)を介して前記
    別の半導体構成要素(2)のソース端子と接続されてお
    り、前記別の半導体構成要素の電流が制御可能な抵抗に
    より、両半導体構成要素のドレイン‐ソース間電圧が互
    いに等しいように調節されることを特徴とする電力用半
    導体構成要素の負荷電流検出用回路装置。
  2. 【請求項2】 制御可能な抵抗(6)がMOSFETで
    あり、そのソース入力端が差動増幅器の出力端と接続さ
    れており、差動増幅器の第1の入力端が電力用半導体構
    成要素(1)のソース端子と接続されており、第2の入
    力端が別の半導体構成要素(2)のソース端子と接続さ
    れていることを特徴とする請求項1記載の回路装置。
  3. 【請求項3】 差動増幅器(3)が演算増幅器であるこ
    とを特徴とする請求項2記載の回路装置。
  4. 【請求項4】 固定電位が接地電位であることを特徴と
    する請求項1記載の回路装置。
  5. 【請求項5】 半導体構成要素(1、2)が互いに類似
    のID /UDS特性曲線を有することを特徴とする請求項
    1ないし4のいずれか1つに記載の回路装置。
  6. 【請求項6】 電力用半導体構成要素(1)および前記
    別の半導体構成要素(2)が単一のチップ上に集積され
    た多数のセルから成っていることを特徴とする請求項1
    ないし5のいずれか1つに記載の回路装置。
  7. 【請求項7】 電力用半導体構成要素(1)のドレイン
    端子が別の差動増幅器(14)の第1の入力端と接続さ
    れており、その差動増幅器(14)の第2の入力端に、
    第1の差動増幅器(3)のオフセット電圧より大きい電
    圧が与えられ得ることを特徴とする請求項1ないし6の
    いずれか1つに記載の回路装置。
JP8165204A 1995-06-07 1996-06-05 電力用半導体構成要素の負荷電流検出用回路装置 Pending JPH08334534A (ja)

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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6011413A (en) * 1997-06-05 2000-01-04 Denso Corporation Structure of current measuring circuit
JP2009075957A (ja) * 2007-09-21 2009-04-09 Renesas Technology Corp 電源回路および半導体装置
JP2009212704A (ja) * 2008-03-03 2009-09-17 Nec Electronics Corp 電源スイッチ回路
US7759982B2 (en) 2005-10-27 2010-07-20 Nec Electronics Corporation Current detection circuit
WO2012137670A1 (ja) * 2011-04-05 2012-10-11 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
EP3151284A1 (en) 2015-09-30 2017-04-05 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
US9835660B2 (en) 2015-04-14 2017-12-05 Renesas Electronics Corporation Current detection method of semiconductor device and semiconductor device
JP2018031705A (ja) * 2016-08-25 2018-03-01 株式会社デンソー 半導体装置
WO2020095561A1 (ja) * 2018-11-06 2020-05-14 日立オートモティブシステムズ株式会社 負荷駆動装置及び変速機の駆動システム

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19706946C2 (de) * 1997-02-21 2000-06-21 Daimler Chrysler Ag Battierüberwachungseinheit
DE19812920C2 (de) * 1998-03-24 2000-09-07 Siemens Ag Schaltungsanordnung zur Steuerung und Erfassung des Laststromes durch eine Last
EP1029248B1 (en) * 1998-06-09 2004-09-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. Current measuring device and telephone terminal using such a current measuring device
DE19830356C1 (de) * 1998-07-07 1999-11-11 Siemens Ag Verfahren zum Abgleichen eines Widerstands in einer integrierten Schaltung und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens
DE19838657B4 (de) * 1998-08-25 2008-01-24 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zum Erfassen des Laststromes eines Leistungs-Feldeffekt-Halbleiterbauelementes
JP3628576B2 (ja) 1999-02-14 2005-03-16 矢崎総業株式会社 微少電流検出装置
GB9908285D0 (en) * 1999-04-13 1999-06-02 Koninkl Philips Electronics Nv A power switching circuit
DE10019240A1 (de) 2000-04-18 2001-10-31 Fujitsu Siemens Computers Gmbh Schaltungsanordnung zur Messung der Stromaufnahme einer transistorgesteuerten Last
DE10057486A1 (de) 2000-06-15 2016-10-13 Continental Teves Ag & Co. Ohg Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erkennung eines Defekts von Halbleiterschaftelementen und dessen/deren Verwendung in Kraftfahrzeugen, insbesondere Bremskraft- und Fahrdynamikreglern
DE10032260B4 (de) * 2000-07-03 2004-04-29 Texas Instruments Deutschland Gmbh Schaltungsanordnung zur Verdoppelung der Spannung einer Batterie
TW531647B (en) 2000-10-13 2003-05-11 Primarion Inc System and method for current sensing
US6407532B1 (en) * 2000-12-29 2002-06-18 Nokia Mobile Phones, Ltd. Method and apparatus for measuring battery charge and discharge current
DE10195897D2 (de) 2001-01-23 2003-12-18 Continental Teves Ag & Co Ohg Schaltungsanordnung und Verfahren zur Messung des Stroms in Kraftfahrzeugbremssystemen
DE10103920A1 (de) 2001-01-30 2002-08-22 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung mit einem Lasttransistor und einer Strommessanordnung
DE10120524B4 (de) 2001-04-26 2015-08-20 Infineon Technologies Ag Vorrichtung zur Ermittlung des Stromes durch ein Leistungs-Halbleiterbauelement
ATE495454T1 (de) * 2002-04-02 2011-01-15 Dialog Semiconductor Gmbh Leistungsschalter mit stromabfühlschaltung
DE10240914B4 (de) 2002-09-04 2007-01-25 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung mit einem Lasttransistor und einer Strommessanordnung und Verfahren zur Ermittlung des Laststroms eines Lasttransistors sowie Verwendung eines Halbleiterbauelements
GB0312237D0 (en) * 2003-05-29 2003-07-02 Koninkl Philips Electronics Nv Undercurrent sense arrangement and method
DE102005009544B4 (de) * 2005-03-02 2008-09-04 Infineon Technologies Ag Bauelementanordnung mit einem Lasttransistor und einem Messtransistor
DE102005010337B4 (de) 2005-03-07 2013-02-21 Infineon Technologies Austria Ag Bauelementanordnung mit einem Bipolartransistor und einem Lastunterbrechungsdetektor
DE102005019955A1 (de) 2005-04-29 2006-11-02 Infineon Technologies Ag Variables Ansteuermodul zur Ansteuerung einer Last
US7952333B2 (en) 2005-06-01 2011-05-31 Nxp B.V. Circuit and method for determining current in a load
GB2431739A (en) * 2005-10-27 2007-05-02 Wolfson Microelectronics Plc Switch current sensing circuit
KR101221799B1 (ko) * 2005-11-21 2013-01-14 페어차일드코리아반도체 주식회사 전류감지 회로 및 이를 구비한 부스트 컨버터
DE102006037554B3 (de) * 2006-08-10 2007-11-22 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Einstellung eines Bezugspotentials eines Stromfühlers und Anordnung zur Bestimmung des Bezugspotentials einer Leistungshalbleitereinrichtung
DE102008055696A1 (de) 2008-01-25 2009-07-30 Continental Teves Ag & Co. Ohg Elektronische Schaltungseinrichtung zur Erfassung eines Detektionselementstroms und/oder einer Temperatur in diesem Detektionselement
US20090295369A1 (en) * 2008-06-02 2009-12-03 Yang Doris Current sensing circuit
JP5171406B2 (ja) * 2008-06-05 2013-03-27 矢崎総業株式会社 負荷回路の過電流保護装置
DE102008044634B4 (de) 2008-08-27 2017-12-21 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen eines Durchschnittswerts eines geschalteten Stromes in einer Spule
US7911260B2 (en) 2009-02-02 2011-03-22 Infineon Technologies Ag Current control circuits
US8643068B2 (en) * 2009-03-12 2014-02-04 Infineon Technologies Ag Integrated circuit having field effect transistors and manufacturing method
DE102009001899B4 (de) 2009-03-26 2024-01-18 Robert Bosch Gmbh Messen eines Laststroms eines Unterbrechers
US20110185179A1 (en) * 2009-08-26 2011-07-28 Viswanathan Swaminathan System And Method For Digital Rights Management With A Lightweight Digital Watermarking Component
US8493136B2 (en) * 2011-04-08 2013-07-23 Icera Inc. Driver circuit and a mixer circuit receiving a signal from the driver circuit
EP2746890B1 (en) * 2012-12-19 2017-09-27 Nxp B.V. Current monitoring circuits and methods
US9194893B2 (en) 2013-02-07 2015-11-24 Texas Instruments Incorporated Bi-directional input, bi-directional output, lossless current sensing scheme with temperature compensation
US9853533B2 (en) * 2013-04-25 2017-12-26 Infineon Technologies Austria Ag Circuit arrangement and method for reproducing a current
US9360879B2 (en) * 2014-04-28 2016-06-07 Microsemi Corp.-Analog Mixed Signal Group, Ltd. Sense current generation apparatus and method
US9829387B2 (en) 2014-10-28 2017-11-28 Infineon Technologies Austria Ag System and method for temperature sensing
DE102016206958A1 (de) * 2016-04-25 2017-10-26 Continental Automotive Gmbh Verfahren zum Bestimmen eines Laststroms und Batteriesensor
US10014851B2 (en) * 2016-11-02 2018-07-03 Texas Instruments Incorporated Current sensing and control for a transistor power switch
US10498131B2 (en) * 2016-12-30 2019-12-03 Infineon Technologies Ag Electronic switch and protection circuit
IT201700091896A1 (it) * 2017-08-08 2019-02-08 Stmicroelectronics Shenzhen R&D Co Ltd Circuito rilevatore di corrente, dispositivo e procedimento corrispondenti
US11243235B2 (en) * 2018-07-06 2022-02-08 Texas Instruments Incorporated Load current sensing at low output voltage
US11239656B2 (en) * 2019-07-19 2022-02-01 Texas Instruments Incorporated Methods and apparatus for current sensing and current limiting
JP2021047057A (ja) * 2019-09-17 2021-03-25 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置、および、パワーデバイス
DE102021206080A1 (de) * 2021-06-15 2022-12-15 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Integrierte Schaltung und Verfahren zum Begrenzen eines schaltbaren Laststroms

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8503394A (nl) * 1985-12-10 1987-07-01 Philips Nv Stroomaftastschakeling voor een vermogenshalfgeleiderinrichting, in het bijzonder geintegreerde intelligente vermogenshalfgeleiderschakelaar voor met name automobieltoepassingen.
AT388944B (de) * 1986-05-27 1989-09-25 Austria Antriebstech Verfahren und einrichtung zur ueberwachung der funktion einer waschmaschine
IT1213415B (it) * 1986-12-17 1989-12-20 Sgs Microelettronica Spa Circuito per la misura lineare della corrente circolante su un carico.
GB2206010A (en) * 1987-06-08 1988-12-21 Philips Electronic Associated Differential amplifier and current sensing circuit including such an amplifier
WO1989004042A1 (en) * 1987-10-28 1989-05-05 Oki Electric Industry Co., Ltd. Optical head
FR2628217B1 (fr) * 1988-03-07 1990-07-27 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de mesure d'un courant
FR2642176B1 (fr) * 1989-01-20 1991-05-03 Sgs Thomson Microelectronics Dispositif et procede de detection du passage d'un courant dans un transistor mos
FR2656932B1 (fr) * 1990-01-09 1992-05-07 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de mesure du courant dans un transistor mos de puissance.
GB9222455D0 (en) * 1992-10-26 1992-12-09 Philips Electronics Uk Ltd A current sensing circuit

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6011413A (en) * 1997-06-05 2000-01-04 Denso Corporation Structure of current measuring circuit
US7759982B2 (en) 2005-10-27 2010-07-20 Nec Electronics Corporation Current detection circuit
JP2009075957A (ja) * 2007-09-21 2009-04-09 Renesas Technology Corp 電源回路および半導体装置
JP2009212704A (ja) * 2008-03-03 2009-09-17 Nec Electronics Corp 電源スイッチ回路
US8325451B2 (en) 2008-03-03 2012-12-04 Renesas Electronics Corporation Power switching circuit
WO2012137670A1 (ja) * 2011-04-05 2012-10-11 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
JPWO2012137670A1 (ja) * 2011-04-05 2014-07-28 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
JP5666694B2 (ja) * 2011-04-05 2015-02-12 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
US9835660B2 (en) 2015-04-14 2017-12-05 Renesas Electronics Corporation Current detection method of semiconductor device and semiconductor device
US10222403B2 (en) 2015-04-14 2019-03-05 Renesas Electronics Corporation Current detection method of semiconductor device and semiconductor device
EP3151284A1 (en) 2015-09-30 2017-04-05 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
US10031164B2 (en) 2015-09-30 2018-07-24 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
KR20170038696A (ko) 2015-09-30 2017-04-07 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤 반도체 장치
JP2018031705A (ja) * 2016-08-25 2018-03-01 株式会社デンソー 半導体装置
WO2018037769A1 (ja) * 2016-08-25 2018-03-01 株式会社デンソー 半導体装置
WO2020095561A1 (ja) * 2018-11-06 2020-05-14 日立オートモティブシステムズ株式会社 負荷駆動装置及び変速機の駆動システム
JPWO2020095561A1 (ja) * 2018-11-06 2021-09-24 日立Astemo株式会社 負荷駆動装置及び変速機の駆動システム
US11881846B2 (en) 2018-11-06 2024-01-23 Hitachi Astemo, Ltd. Load drive device and transmission drive system

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Publication number Publication date
DE59611364D1 (de) 2006-08-24
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