JPH08315938A - Ｉｃソケット - Google Patents
ＩｃソケットInfo
- Publication number
- JPH08315938A JPH08315938A JP7120022A JP12002295A JPH08315938A JP H08315938 A JPH08315938 A JP H08315938A JP 7120022 A JP7120022 A JP 7120022A JP 12002295 A JP12002295 A JP 12002295A JP H08315938 A JPH08315938 A JP H08315938A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- lead
- lead pins
- pins
- lead pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣの電気的検査信号を得る線材の接続作業
を容易に行うこと。 【構成】 両端側のリードピン２ａ，２ｇの間に位置す
るリードピン２ｂ〜２ｆの先端部には、夫々と隣接する
リードピンとの間のピッチ以上の空間が存在するので、
夫々の空間が、ＩＣ用の電気的検査装置に信号を送るた
めの線材を接続する作業領域とすることができる。その
ため、従来技術のように、リードピンのピッチが狭くて
も、広い作業領域をとれるので、線材の接続を容易にか
つ確実に行うことができる。
を容易に行うこと。 【構成】 両端側のリードピン２ａ，２ｇの間に位置す
るリードピン２ｂ〜２ｆの先端部には、夫々と隣接する
リードピンとの間のピッチ以上の空間が存在するので、
夫々の空間が、ＩＣ用の電気的検査装置に信号を送るた
めの線材を接続する作業領域とすることができる。その
ため、従来技術のように、リードピンのピッチが狭くて
も、広い作業領域をとれるので、線材の接続を容易にか
つ確実に行うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣパッケージのよう
なＩＣを電気的に検査する際に用いるＩＣソケットに係
り、特に電気的検査を良好に行うのに好適なものに関す
る。
なＩＣを電気的に検査する際に用いるＩＣソケットに係
り、特に電気的検査を良好に行うのに好適なものに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のＩＣソケットにはリードピンが複
数設けられており、それらリードピンの長さは、製造上
の誤差を除けば、全て同一となっている。
数設けられており、それらリードピンの長さは、製造上
の誤差を除けば、全て同一となっている。
【０００３】ＩＣパッケージのようなＩＣを電気的に検
査する場合、そのＩＣをプリント基板上に搭載したＩＣ
ソケットに装着し、そのＩＣソケットのリードピンに対
し信号を伝達するための線材を接続することにより、行
っている。即ち、ＩＣソケットのリードピンを、基板に
設けられたスルーホールに差込み、これを半田などによ
って接続固定する。そして、ＩＣソケットのリードピン
に、ＩＣの電気的検査を行う装置に信号を伝えるために
必要な線材を接続し、これによってＩＣソケットに装着
されたＩＣを検査し得るようにしている。
査する場合、そのＩＣをプリント基板上に搭載したＩＣ
ソケットに装着し、そのＩＣソケットのリードピンに対
し信号を伝達するための線材を接続することにより、行
っている。即ち、ＩＣソケットのリードピンを、基板に
設けられたスルーホールに差込み、これを半田などによ
って接続固定する。そして、ＩＣソケットのリードピン
に、ＩＣの電気的検査を行う装置に信号を伝えるために
必要な線材を接続し、これによってＩＣソケットに装着
されたＩＣを検査し得るようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年では、
ＩＣの多機能化や小型化により、ＩＣパッケージの形状
が多様化すると共に、リードピンの数も増加する傾向に
あるので、リードピン間のピッチも挟まってきた。
ＩＣの多機能化や小型化により、ＩＣパッケージの形状
が多様化すると共に、リードピンの数も増加する傾向に
あるので、リードピン間のピッチも挟まってきた。
【０００５】このため、ＩＣソケットを媒体として電気
的検査を実施する場合、ＩＣソケットのリードピンを差
し込めるスルーホールを有するプリント基板が容易に得
られない。そこで、信号を伝えるための線材の接続は、
ＩＣソケットのリードピンに直接接続しているのが現状
であった。
的検査を実施する場合、ＩＣソケットのリードピンを差
し込めるスルーホールを有するプリント基板が容易に得
られない。そこで、信号を伝えるための線材の接続は、
ＩＣソケットのリードピンに直接接続しているのが現状
であった。
【０００６】そのため、特にＩＣソケットのリードピン
間のピッチが狭い場合、線材による接続を行う際には、
隣列するリードピンが作業の妨げとなってしまう結果、
接続作業が容易に行うことができず、また接続したとし
ても接続不良が発生したりする問題があった。
間のピッチが狭い場合、線材による接続を行う際には、
隣列するリードピンが作業の妨げとなってしまう結果、
接続作業が容易に行うことができず、また接続したとし
ても接続不良が発生したりする問題があった。
【０００７】本発明の目的は、上記従来技術の問題点に
鑑み、ＩＣの電気的検査信号を得るための線材の接続を
容易にかつ確実に行い得るＩＣソケットを提供すること
にある。
鑑み、ＩＣの電気的検査信号を得るための線材の接続を
容易にかつ確実に行い得るＩＣソケットを提供すること
にある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明のＩＣソケットに
おいては、互いに隣列する二つのリードピンのうち、何
れか一方のリードピンを他方のリードピンより短く形成
することを特徴とするものである。
おいては、互いに隣列する二つのリードピンのうち、何
れか一方のリードピンを他方のリードピンより短く形成
することを特徴とするものである。
【０００９】
【作用】本発明では、上述の如く、互いに隣列する二つ
のリードピンのうち、何れか一方のリードピンを他方の
リードピンより短く形成するように構成したので、両端
側のリードピンの間に位置する夫々のリードピンの先端
部には、夫々と隣接するリードピンとの間のピッチ以上
の空間が存在することなり、夫々の空間が、ＩＣ用の電
気的検査装置に信号を送るための線材を接続する作業領
域とすることができる。そのため、従来技術のように、
リードピンのピッチが狭くても、広い作業領域をとれる
ので、線材の接続を容易にかつ確実に行うことができ
る。
のリードピンのうち、何れか一方のリードピンを他方の
リードピンより短く形成するように構成したので、両端
側のリードピンの間に位置する夫々のリードピンの先端
部には、夫々と隣接するリードピンとの間のピッチ以上
の空間が存在することなり、夫々の空間が、ＩＣ用の電
気的検査装置に信号を送るための線材を接続する作業領
域とすることができる。そのため、従来技術のように、
リードピンのピッチが狭くても、広い作業領域をとれる
ので、線材の接続を容易にかつ確実に行うことができ
る。
【００１０】また、上述の如く、一方のリードピンを短
く形成することによって広い作業領域を確保できるの
で、ＩＣソケットをプリント基板に搭載しかつスルーホ
ールに接続することが不要になり、ＩＣを装着したＩＣ
ソケットに直接に線材を接続することができる。そのた
め、従来技術のようにプリント基板にＩＣソケットを接
続する手間を省くことができ、検査の段取り時間及び労
力を大幅に削減し得、検査時間を向上させることができ
る。
く形成することによって広い作業領域を確保できるの
で、ＩＣソケットをプリント基板に搭載しかつスルーホ
ールに接続することが不要になり、ＩＣを装着したＩＣ
ソケットに直接に線材を接続することができる。そのた
め、従来技術のようにプリント基板にＩＣソケットを接
続する手間を省くことができ、検査の段取り時間及び労
力を大幅に削減し得、検査時間を向上させることができ
る。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１乃至図３によ
り説明する。図１は本発明のＩＣソケットの一実施例を
示す要部の側面図、図２は同じくＩＣソケットの正面
図、図３は同じくＩＣソケットの底面図である。
り説明する。図１は本発明のＩＣソケットの一実施例を
示す要部の側面図、図２は同じくＩＣソケットの正面
図、図３は同じくＩＣソケットの底面図である。
【００１２】図２に示す実施例のＩＣソケットは、ソケ
ット本体１と、該本体１の底部両側に長手方向に沿いリ
ードピンが下方に向かって複数突設され、リードピン列
２，３を形成している。各リードピン列２，３は、互い
に所定間隔をもって配列されている。なお、図２及び図
３には双方のリードピン列２，３が図示されているが、
図１においては一方のリードピン列２しか図示していな
いので、以降は一方のリードピン列２について説明す
る。
ット本体１と、該本体１の底部両側に長手方向に沿いリ
ードピンが下方に向かって複数突設され、リードピン列
２，３を形成している。各リードピン列２，３は、互い
に所定間隔をもって配列されている。なお、図２及び図
３には双方のリードピン列２，３が図示されているが、
図１においては一方のリードピン列２しか図示していな
いので、以降は一方のリードピン列２について説明す
る。
【００１３】本発明では、リードピン列２において、互
いに隣列する二本のリードピンのうち、何れか一方のリ
ードピンが他方のリードピンより短く形成されている。
具体的に述べると、図１に示すように、順次配列された
リードピン２ａ〜２ｇを有するリードピン列２におい
て、リードピン２ａと２ｂ、リードピン２ｂと２ｃ、リ
ードピン２ｃと２ｄ、リードピン２ｄと２ｅ、リードピ
ン２ｅと２ｆ、２ｆと２ｇとのうち、リードピン２ａ，
２ｃ，２ｅ，２ｇの長さがそのままの寸法に形成される
と共に、リードピン２ｂ，２ｄ，２ｆが夫々短い寸法に
形成され、従って、リードピンが二種類の長さをなして
いる。以下、他方のリードピン列３においても同様に形
成されるのは勿論である。
いに隣列する二本のリードピンのうち、何れか一方のリ
ードピンが他方のリードピンより短く形成されている。
具体的に述べると、図１に示すように、順次配列された
リードピン２ａ〜２ｇを有するリードピン列２におい
て、リードピン２ａと２ｂ、リードピン２ｂと２ｃ、リ
ードピン２ｃと２ｄ、リードピン２ｄと２ｅ、リードピ
ン２ｅと２ｆ、２ｆと２ｇとのうち、リードピン２ａ，
２ｃ，２ｅ，２ｇの長さがそのままの寸法に形成される
と共に、リードピン２ｂ，２ｄ，２ｆが夫々短い寸法に
形成され、従って、リードピンが二種類の長さをなして
いる。以下、他方のリードピン列３においても同様に形
成されるのは勿論である。
【００１４】このように、各リードピン列２，３におい
て、互いに隣列する二本のリードピンのうち、一方のリ
ードピン２ｂ，２ｄ，２ｆの長さが短く形成されると、
その短い長さのリードピン２ｂ，２ｄ，２ｆ夫々には、
それら両側に位置するリードピンとの間の空間が存在す
ることとなる。即ち、リードピン２ｂに対しては、リー
ドピン２ａと２ｃとの間の空間が存在し、またリードピ
ン２ｄに対しては、リードピン２ｄに対してはリードピ
ン２ｃと２ｅとの間の空間が存在し、さらにリードピン
２ｆに対してはリードピン２ｅと２ｇとの間の空間が存
在することとなる。しかも、リードピン２ａに対しては
これとリードピン２ｃとの間の空間が存在し、またリー
ドピン２ｃに対してはリードピン２ａと２ｅとの間の空
間が存在し、さらにリードピン２ｅに対してはリードピ
ン２ｃと２ｆとの間の空間が存在し、かつ２ｇに対して
は２ａの場合と同様のことから、２ｅとの間の空間が存
在することとなる。
て、互いに隣列する二本のリードピンのうち、一方のリ
ードピン２ｂ，２ｄ，２ｆの長さが短く形成されると、
その短い長さのリードピン２ｂ，２ｄ，２ｆ夫々には、
それら両側に位置するリードピンとの間の空間が存在す
ることとなる。即ち、リードピン２ｂに対しては、リー
ドピン２ａと２ｃとの間の空間が存在し、またリードピ
ン２ｄに対しては、リードピン２ｄに対してはリードピ
ン２ｃと２ｅとの間の空間が存在し、さらにリードピン
２ｆに対してはリードピン２ｅと２ｇとの間の空間が存
在することとなる。しかも、リードピン２ａに対しては
これとリードピン２ｃとの間の空間が存在し、またリー
ドピン２ｃに対してはリードピン２ａと２ｅとの間の空
間が存在し、さらにリードピン２ｅに対してはリードピ
ン２ｃと２ｆとの間の空間が存在し、かつ２ｇに対して
は２ａの場合と同様のことから、２ｅとの間の空間が存
在することとなる。
【００１５】従って、各リードピン列２，３において、
両端側のリードピン２ａ，２ｇの間に位置する夫々のリ
ードピン２ｂ〜２ｆの先端部には、夫々と隣接するリー
ドピンとの間のピッチ以上の空間が存在するので、夫々
の空間が、ＩＣ用の電気的検査装置に信号を送るための
線材を接続する作業領域とすることができる。そのた
め、従来技術のように、リードピンのピッチが狭くて
も、広い作業領域をとれるので、線材の接続を容易にか
つ確実に行うことができる。
両端側のリードピン２ａ，２ｇの間に位置する夫々のリ
ードピン２ｂ〜２ｆの先端部には、夫々と隣接するリー
ドピンとの間のピッチ以上の空間が存在するので、夫々
の空間が、ＩＣ用の電気的検査装置に信号を送るための
線材を接続する作業領域とすることができる。そのた
め、従来技術のように、リードピンのピッチが狭くて
も、広い作業領域をとれるので、線材の接続を容易にか
つ確実に行うことができる。
【００１６】また、上述の如く、一方のリードピン２
ｂ，２ｄ，２ｆを短く形成することによって広い作業領
域を確保できるので、ＩＣソケットをプリント基板に搭
載し、スルーホールに接続することが不要になり、ＩＣ
を装着したＩＣソケットに直接に線材を接続することが
できる。そのため、従来技術のようにプリント基板にＩ
Ｃソケットを接続する手間を省くことができ、検査の段
取り時間及び労力を大幅に削減し得、検査時間を向上さ
せることができる。
ｂ，２ｄ，２ｆを短く形成することによって広い作業領
域を確保できるので、ＩＣソケットをプリント基板に搭
載し、スルーホールに接続することが不要になり、ＩＣ
を装着したＩＣソケットに直接に線材を接続することが
できる。そのため、従来技術のようにプリント基板にＩ
Ｃソケットを接続する手間を省くことができ、検査の段
取り時間及び労力を大幅に削減し得、検査時間を向上さ
せることができる。
【００１７】なお図示実施例では、一方のリードピン２
ｂ，２ｄ，２ｆを他方のリードピン２ａ，２ｃ，２ｅ，
２ｇより短い寸法に形成した例を示したが、長さを逆に
しても同様の作用効果を得ることができるのは勿論であ
る。
ｂ，２ｄ，２ｆを他方のリードピン２ａ，２ｃ，２ｅ，
２ｇより短い寸法に形成した例を示したが、長さを逆に
しても同様の作用効果を得ることができるのは勿論であ
る。
【００１８】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、互
いに隣列する二つのリードピンのうち、何れか一方のリ
ードピンを他方のリードピンより短く形成し、両端側の
リードピンの間に位置する夫々のリードピンの先端部に
は、夫々と隣接するリードピンとの間のピッチ以上の空
間が存在し、夫々の空間が、ＩＣ用の電気的検査装置に
信号を送るための線材を接続する作業領域とすることが
できるように構成したので、従来技術のように、リード
ピンのピッチが狭くても、線材の接続を容易にかつ確実
に行うことができ、またプリント基板にＩＣソケットを
接続する手間を省くことができ、検査時間を向上させる
ことができる結果、接続作業性を大幅に改善し得る効果
がある。
いに隣列する二つのリードピンのうち、何れか一方のリ
ードピンを他方のリードピンより短く形成し、両端側の
リードピンの間に位置する夫々のリードピンの先端部に
は、夫々と隣接するリードピンとの間のピッチ以上の空
間が存在し、夫々の空間が、ＩＣ用の電気的検査装置に
信号を送るための線材を接続する作業領域とすることが
できるように構成したので、従来技術のように、リード
ピンのピッチが狭くても、線材の接続を容易にかつ確実
に行うことができ、またプリント基板にＩＣソケットを
接続する手間を省くことができ、検査時間を向上させる
ことができる結果、接続作業性を大幅に改善し得る効果
がある。
【図１】本発明のＩＣソケットの一実施例を示す要部の
側面図である。
側面図である。
【図２】同じくＩＣソケットの正面図である
【図３】同じくＩＣソケットの底面図である。
１…ソケット本体、２，３…リードピン列、２ａ〜２ｇ
…リードピン。
…リードピン。
Claims (1)
- 【請求項１】 複数のリードピンを有するＩＣソケット
において、互いに隣列する二つのリードピンのうち、何
れか一方のリードピンを他方のリードピンより短く形成
することを特徴とするＩＣソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7120022A JPH08315938A (ja) | 1995-05-18 | 1995-05-18 | Ｉｃソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7120022A JPH08315938A (ja) | 1995-05-18 | 1995-05-18 | Ｉｃソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08315938A true JPH08315938A (ja) | 1996-11-29 |
Family
ID=14775979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7120022A Pending JPH08315938A (ja) | 1995-05-18 | 1995-05-18 | Ｉｃソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08315938A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015006552A (ja) * | 2014-10-07 | 2015-01-15 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2016073667A (ja) * | 2015-11-30 | 2016-05-12 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2016105752A (ja) * | 2015-11-30 | 2016-06-16 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2017159074A (ja) * | 2017-04-24 | 2017-09-14 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2017159075A (ja) * | 2017-04-24 | 2017-09-14 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2017196419A (ja) * | 2017-05-26 | 2017-11-02 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
-
1995
- 1995-05-18 JP JP7120022A patent/JPH08315938A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015006552A (ja) * | 2014-10-07 | 2015-01-15 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2016073667A (ja) * | 2015-11-30 | 2016-05-12 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2016105752A (ja) * | 2015-11-30 | 2016-06-16 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2017159074A (ja) * | 2017-04-24 | 2017-09-14 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2017159075A (ja) * | 2017-04-24 | 2017-09-14 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
| JP2017196419A (ja) * | 2017-05-26 | 2017-11-02 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
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