JPH08311641A - 溶解Ruスパッタリングターゲットの製造方法 - Google Patents

溶解Ruスパッタリングターゲットの製造方法

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JPH08311641A
JPH08311641A JP14267695A JP14267695A JPH08311641A JP H08311641 A JPH08311641 A JP H08311641A JP 14267695 A JP14267695 A JP 14267695A JP 14267695 A JP14267695 A JP 14267695A JP H08311641 A JPH08311641 A JP H08311641A
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JP
Japan
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hot
sputtering target
powder
electron beam
target
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JP14267695A
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English (en)
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Akira Mori
暁 森
Naoki Uchiyama
直樹 内山
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Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 内部にボイドのない高純度溶解Ruスパッタ
リングターゲットの製造方法を提供する。 【構成】 Ru粉末に、アルカリ金属、アルカリ土類金
属、Al,Ti,Siの内の1種または2種以上を0.
05〜5重量%添加混合し、ホットプレスしてホットプ
レス成形体を作製し、このホットプレス成形体の表面か
ら電子ビームまたはアークを当てて裏面にホットプレス
成形体の未溶解層が残留するように溶解し、次にこのホ
ットプレス成形体を裏返して裏面を溶解し、これを複数
回繰り返すことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、内部にボイドのない
高純度溶解Ruスパッタリングターゲットの製造方法に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、高集積度の半導体メモリーのキャ
パシタの電極にはスパッタリングにより形成されたPt
膜が使用されていた。しかし、Pt膜はドライエッチン
グによる加工性が悪いことおよび誘電体である(BaS
r)TiO3 のTiとSi基板のSiがPt膜に拡散し
て複合化合物を形成し、キャパシタ特性を変化させるな
どの欠点があるために、近年、半導体メモリーのキャパ
シタ用電極にRu膜を使用することが検討されはじめて
いる。
【0003】このキャパシタ用電極のRu膜は、Ru粉
末をホットプレスして得られたホットプレスRuターゲ
ットまたは上記ホットプレスRuターゲットを電子ビー
ム溶解して得られた溶解Ruターゲットをスパッタリン
グすることにより形成される。
【0004】ホットプレスRuターゲットを用いて形成
されたRu膜と溶解Ruターゲットを用いて形成された
Ru膜を比較すると、溶解Ruターゲットを用いて形成
されたRu膜の方が膜質が優れているところから、特に
高集積度の半導体メモリーのキャパシタ用電極のRu膜
は溶解Ruターゲットを用いて形成された方が好まし
い。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、溶解Ruター
ゲットは内部にボイドが生じやすく、この内部にボイド
のある溶解Ruターゲットを用いて形成したRu膜は、
上記ホットプレスRuターゲットを用いて形成したRu
膜よりも膜厚が不均一になるなど膜質が劣化する。その
ため、内部にボイドのない溶解Ruターゲットが求めら
れていた。
【0006】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明者等は、
内部にボイドのない溶解Ruターゲットを得るべく研究
を行った結果、(a) 市販のRu粉末に、アルカリ金
属、アルカリ土類金属、Al,Ti,Siを通常の不純
物よりも多量に添加したのち、ホットプレスすることに
よりホットプレスRuターゲットを作製し、このホット
プレスRuターゲットを電子ビームまたはアーク溶解し
て得られた溶解Ruターゲットは、内部にボイドが全く
見られない、(b) 上記アルカリ金属、アルカリ土類
金属、Al,Ti,Siの添加量は0.05〜5重量%
が好ましく、0.1〜2重量%が一層好ましい、(c)
添加したアルカリ金属、アルカリ土類金属、Al,T
i,Siは、ホットプレスRuターゲットを電子ビーム
溶解またはアーク溶解すると消失し、最終的に通常の不
純物として含まれるアルカリ金属、アルカリ土類金属、
Al,Ti,Siの含有量よりも低下し、高純度化す
る、(d) 上記電子ビーム溶解またはアーク溶解は複
数回続けて繰り返し行うと一層効果的にアルカリ金属、
アルカリ土類金属、Al,Ti,Siを除去することが
できる、(e) 上記ホットプレス成形体を電子ビーム
溶解またはアーク溶解するには、まず、ホットプレス成
形体の表面から電子ビームまたはアークを当ててホット
プレス成形体の未溶解層が裏面に残るように不完全に溶
解し、次にこのホットプレス成形体を裏返して裏面を未
溶解層が残るように溶解することが好ましい、などの研
究結果が得られたのである。
【0007】この発明は、かかる研究結果に基づいてな
されたものであって、(1) Ru粉末に、アルカリ金
属、アルカリ土類金属、Al,Ti,Siの内の1種ま
たは2種以上(以下、これら金属を脱酸金属と総称す
る)を0.05〜5重量%添加混合し、ホットプレスし
てホットプレス成形体を作製し、このホットプレス成形
体の表面から電子ビームまたはアークを当てて裏面にホ
ットプレス成形体の未溶解層が残留するように溶解し、
次にこのホットプレス成形体を裏返して裏面と溶解する
溶解Ruスパッタリングターゲットの製造方法、(2)
上記電子ビーム溶解またはアーク溶解は複数回繰り返
す上記(1)記載の溶解Ruスパッタリングターゲット
の製造方法、に特徴を有するものである。
【0008】上記脱酸金属の添加量を0.05〜5重量
%にしたのは、0.05重量%未満添加しても所望の効
果が得られず、一方、5重量%を越えて添加すると電子
ビーム溶解またはアーク溶解の繰り返し回数が異常に多
くなってコストが高くなるなどの理由によるものであ
る。またホットプレス成形体を表と裏から未溶解層を残
すように溶解する理由は、表面からの電子ビーム溶解ま
たはアーク溶解にによりホットプレス成形体全部を溶解
するとホットプレス成形体を置いた水冷銅ハースの一部
まで溶解し、Cuが不純物として大量に混入するので好
ましくないという理由によるものであり、裏面からの電
子ビーム溶解またアーク溶解についても同じ理由による
ものである。
【0009】
【実施例】市販のRu粉末を用意し、このRu粉末の成
分組成を分析したところ、表1に示される分析結果が得
られた。
【0010】
【表1】
【0011】一方、脱酸金属粉末として、Ti−10%
Na粉末、Ti−10%K粉末、Ti−10%Ca粉
末、Ti−10%Mg粉末、Al粉末、Ti粉末および
Si粉末を用意し、上記市販のRu粉末に上記脱酸金属
粉末を表2の配合組成となるように配合し、混合し、 温度:1100℃、 保持時間:4時間、 雰囲気:0.1Torr以下の真空、 加圧荷重:50ton 、 の条件でホットプレスして直径:200mm、厚さ:10
mmの寸法を有するホットプレス成形体を作製した。この
ホットプレス成形体を直径:210mm、深さ:20mmの
水冷銅ハースに装入し、 電流値:1×10-5Torr、 電流値:1.5A、 電圧値:30KV、 の条件で、ホットプレス成形体の表面から7mmの厚さま
で溶解し、表裏をひっくり返したのち、裏面から7mmの
厚さまで溶解する溶解方法を表3に示される回数行い、
本発明溶解Ruスパッタリングターゲットの製造方法
(以下、本発明法という)1〜10を実施した。
【0012】本発明法1〜10により作製した溶解Ru
スパッタリングターゲットの成分組成を測定したのち、
本発明法1〜10により作製した溶解Ruスパッタリン
グターゲットを2分割し、分割面の1平方センチメート
ル当りのボイド数を目視により測定し、これら測定結果
を表3に示した。
【0013】比較のために、上記市販のRu粉末のみを
同上の条件でホットプレスして直径:200mm、厚さ:
10mmの寸法を有するホットプレス成形体を作製し、こ
のホットプレス成形体を同上の条件で表面から裏面まで
完全に溶解する従来溶解Ruスパッタリングターゲット
の製造方法(以下、従来法という)1を実施した。
【0014】この従来法1により作製した溶解Ruスパ
ッタリングターゲットの成分組成を測定したのち、ボイ
ドの数を測定し、それらの測定結果を表3に示した。
【0015】
【表2】
【0016】
【表3】
【0017】
【発明の効果】表2〜表3に示される結果から、従来法
1で作製した溶解RuスパッタリングターゲットはCu
含有量が極端に多くまたボイドも極めて多いために、半
導体メモリーのキャパシタ用電極のRu膜形成用スパッ
タリングターゲットとして好ましくないが、本発明法1
〜10で作製した溶解Ruスパッタリングターゲット
は、表1に示される市販のRu粉末よりも純度が向上
し、ボイドも発生しないことがわかる。
【0018】上述のように、この発明は、従来よりも優
れた溶解Ruスパッタリングターゲットを提供すること
ができ、特に半導体産業の発展に大いに貢献しうるもの
である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 Ru粉末に、アルカリ金属、アルカリ土
    類金属、Al,Ti,Siの内の1種または2種以上を
    0.05〜5重量%添加し、混合し、ホットプレスして
    得られたホットプレス成形体の表面を電子ビーム溶解ま
    たはアーク溶解し、ホットプレス成形体の表裏をひっく
    り返したのち、再びホットプレス成形体の裏面を電子ビ
    ーム溶解またはアーク溶解することを特徴とする溶解R
    uスパッタリングターゲットの製造方法。
  2. 【請求項2】 上記ホットプレス成形体の表面および裏
    面の電子ビーム溶解またはアーク溶解を複数回繰り返す
    ことを特徴とする請求項1記載の溶解Ruスパッタリン
    グターゲットの製造方法。
JP14267695A 1995-05-17 1995-05-17 溶解Ruスパッタリングターゲットの製造方法 Withdrawn JPH08311641A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1150163A (ja) * 1997-07-31 1999-02-23 Japan Energy Corp 高純度ルテニウムの製造方法および薄膜形成用高純度ルテニウム材料
JP2008538591A (ja) * 2005-04-21 2008-10-30 ハネウエル・インターナシヨナル・インコーポレーテツド ルテニウム系材料およびルテニウム合金
KR100885698B1 (ko) * 2007-08-17 2009-02-26 희성금속 주식회사 단상구조를 갖는 고온재료용 Ru계 금속간화합물의제조방법
KR100898746B1 (ko) * 2007-08-17 2009-05-25 희성금속 주식회사 분말야금법을 이용한 고밀도 단상의 RuAl 금속간화합물제조방법

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1150163A (ja) * 1997-07-31 1999-02-23 Japan Energy Corp 高純度ルテニウムの製造方法および薄膜形成用高純度ルテニウム材料
US6036741A (en) * 1997-07-31 2000-03-14 Japan Energy Corporation Process for producing high-purity ruthenium
JP2008538591A (ja) * 2005-04-21 2008-10-30 ハネウエル・インターナシヨナル・インコーポレーテツド ルテニウム系材料およびルテニウム合金
KR100885698B1 (ko) * 2007-08-17 2009-02-26 희성금속 주식회사 단상구조를 갖는 고온재료용 Ru계 금속간화합물의제조방법
KR100898746B1 (ko) * 2007-08-17 2009-05-25 희성금속 주식회사 분말야금법을 이용한 고밀도 단상의 RuAl 금속간화합물제조방법

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