JPH0831020A - 原盤作製方法と原盤加熱装置とスタンパー及び光ディスク - Google Patents

原盤作製方法と原盤加熱装置とスタンパー及び光ディスク

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JPH0831020A
JPH0831020A JP6186688A JP18668894A JPH0831020A JP H0831020 A JPH0831020 A JP H0831020A JP 6186688 A JP6186688 A JP 6186688A JP 18668894 A JP18668894 A JP 18668894A JP H0831020 A JPH0831020 A JP H0831020A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】データピットの形状を絵または文字等の所定の
模様に対応して変化させ、干渉効果により、前記模様が
外観目視により視認できる光ディスクとその光ディスク
原盤作製方法及びその原盤加熱装置を得る。 【構成】ガラス原盤4上に形成されたフォトレジスト層
5を加熱処理する装置において、前記フォトレジスト層
5を加熱するための手段と、所定の模様に対応した開口
部又は閉口部を有するマスク2を具備することを特徴と
する原盤加熱装置及び該装置を用いる原盤製造方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はコンパクトディスク(C
D)やレーザーディスク(LD)のように大量の情報が
予め記録されているプリマスタード光ディスクに関し、
原盤作製方法と原盤加熱装置とスタンパー及び光ディス
クに係るものである。
【0002】
【従来の技術】CD及びLD等のプリマスタード光ディ
スクにおいて、情報記録面のデータ記録部分以外のディ
スク外周部又は、及び内周部に絵又は文字等のパターン
に応じ、回折効果を有する微小パターンの集合体を形成
し、絵又は文字等の巨視的パターンが情報再生面からの
外観目視によって視認できるものがある。
【0003】しかし、上記光ディスクにおいて、絵又は
文字等の巨視的パターンが存在する領域にはオーディオ
・ビデオデータ等を記録することができず、収録時間が
短くなるという欠点があった。
【0004】上記欠点を解決するために、絵又は文字等
の巨視的パターンの領域に存在するデータピットと、該
領域を除く他の領域に存在するデータピットの形状を異
ならせることによって、データピットの形状の違いによ
る光の干渉の違いを利用して、外観目視により判読可能
な絵又は文字等のパターンを具備する光情報記録媒体が
特開平2ー179941号公報に開示されている。
【0005】また、前記公報には、その製造方法とし
て、データに対応した第1のフォトマスクを用いて第1
の露光を行い、さらに前記パターンに対応した第2のフ
ォトマスクを用いて第2の露光を行う方法や、前記パタ
ーンに対応した開口部又は暗部に存在するデータピット
が、他の部分のデータピットと比較して形状が異なって
いるフォトマスクを用いて前記第1と第2の露光を同時
に行う方法が開示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、絵又は
文字等の巨視的パターンを有するCD又はLD等の光デ
ィスクを得るためには、以下に示す問題点がある。
【0007】(1)CD又はLDのデータピットは1.
5〜1.6μmのトラックピッチで、再生信号レベルが
最大となるようにピット幅を0.5〜0.7μm程度に制
御しなくてはならない。つまり、規格を満たすピット幅
の許容範囲は中心値±15%程度の範囲で正確に制御す
る必要がある。
【0008】(2)CDの再生信号レベル及びプッシュ
プル信号レベルとピット深さの関係を図2に示した。同
図のように再生信号レベルはピットの深さがλ/4(約
0.2μm)で最大となるが、プッシュプル信号はλ/
8(約0.1μm)で最大となる。ここで、λは光ディ
スク基板の屈折率を考慮に入れたときの再生光の波長で
ある。また、()内は光ディスク基板の屈折率を1.5
5、再生光の波長を780nmとしたときの値である。
従って、ピット深さの許容範囲は、再生信号レベルとプ
ッシュプル信号レベルのいずれもがCDの規格を満たす
0.11〜0.13μmの範囲である。つまり中心値±1
0%程度の範囲で正確に制御する必要がある。
【0009】また、外観目視により判読可能な絵又は文
字等のパターンを具備する光ディスクを得るために、従
来のCD又はLDの製造工程では用いていないフォトマ
スクを用いる方法を応用した場合は以下の問題点があ
る。
【0010】(3)フォトマスクをガラス原盤上に塗布
したフォトレジスト層に密着させて露光を行う場合、フ
ォトレジスト層に傷等の欠陥が発生する危険がある。半
導体のチップ等と異なり、CD又はLDのように面積の
大きいものの場合、1カ所でも欠陥が発生すれば不良品
となり製品とならない。
【0011】(4)フォトマスクをフォトレジスト層か
ら離して露光する場合、マスクにより光の回折が発生
し、微小なデータピットを形成することが困難になる。
【0012】(5)露光にレーザ光を用いる場合、レー
ザ光がマスクを透過したときに発生する収差を小さくす
るために、NA(開口数:Numerical Aperture)の低い
対物レンズを用いる必要があるが、低NAの対物レンズ
では1.0μm以下の小さなピットの記録が困難であ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明では従来の光ディスク原盤作製工程中、原盤
上に形成されたフォトレジストのプリベーキング工程に
おいて、フォトレジスト層に任意の巨視的パターンに対
応した温度差を与えることを特徴とする原盤作製方法を
用いる。
【0014】
【作用】本発明では、CD又はLD等の光ディスクの任
意の記録データ領域のピット形状を微小変化させるため
に、フォトレジストの露光感度が処理温度によって変化
するという特性を利用する。
【0015】一般にCD又はLD等の光ディスクは、ガ
ラス原盤上にフォトレジスト層を形成後、露光、現像処
理することでデータピットを形成させ、このガラス原盤
をマスターとし、このマスターからスタンパーを作製し
(マスターをスタンパーとすることもある)、このスタ
ンパーを用いて射出成型を行いレプリカを作製し、さら
にアルミニウム反射膜を形成するという工程により製造
している。
【0016】ここで、フォトレジスト層をガラス原盤上
に形成した後、フォトレジスト層の安定化、残留溶媒の
除去、感度調整等のためにプリベーキングという加熱処
理を施している。
【0017】フォトレジストは、ある温度以上に加熱さ
れると感光基が分解し、露光感度が低下するという特性
を有している。この特性を利用して、特定の領域におい
てプリベーキングの温度を変え、フォトレジストの露光
感度をその領域だけ変化させれば、露光、現像処理を経
て形成されるデータピットもその領域において微小の段
差、大きさの違いといった形状の変化となって現れる。
【0018】ここで任意の絵又は文字等の巨視的パター
ンに対応させて温度差が生じるようにプリベーキングす
ることにより、データピットの形状を前記パターンに対
応させて微小変化させることができる。
【0019】図3はフォトレジスト中の感光基が熱分解
することによって生成する窒素のイオン濃度の熱処理温
度依存性の一例を示したものである。90℃付近の温度
から感光基の熱分解による窒素が発生し始め、135℃
付近で最大となり、155℃で全ての感光基が分解し、
窒素の発生が無くなる。
【0020】このように熱処理温度を調節することによ
り、フォトレジスト中の感光基量を制御できるため、任
意の露光感度を選択することができ、微小なピット形状
の正確な制御を行うことができる。
【0021】
【実施例】本発明による原盤加熱装置の一例を図を用い
て説明する。図1はガラス原盤のプリベーキング処理部
の一例を表した模式図である。ホットプレート1上に、
図4に示すような絵又は文字等のパターンに対応した開
口部又は閉口部6を有するマスク2を設置する。
【0022】このマスク2は金、銀、銅又はアルミニウ
ム等の金属若しくはフッ素樹脂、シリコン樹脂等の耐熱
性樹脂等の平板をエッチング等の手法を用い、絵又は文
字等のパターンに対応した開口部又は閉口部6となるよ
うに加工したものである。絵又は文字等のパターン部を
閉口部とする場合は、パターンの一部がリング状の外周
部に連結するようにすればよい。
【0023】ホットプレート1にてプリベーキングする
際にマスク2をホットプレート1上に設置することによ
り、絵又は文字等のパターンに対応した開口部又は閉口
部6と他の部分とで温度差が生じる。この場合、開口部
の温度は他の部分の温度よりも高くなる。
【0024】本実施例ではフォトレジスト層5が形成さ
れたガラス原盤4は、マスク2によって与えられた温度
差の影響を受けやすいように、フォトレジスト層5をホ
ットプレート1の加熱面に向けるようにし、フォトレジ
スト層5がマスク2と接触して傷がつかないように、ガ
ラス原盤4の最外周部を支持するスペーサ3を設置す
る。しかしマスク2からの温度差の影響が小さくならな
いように、マスク2とフォトレジスト層5の間隔は0.
5mm以下とし、かつ、前記フォトレジスト層5とマス
ク2が密着しないようにした。
【0025】ここで熱源はホットプレート1に限るもの
ではなく、ヒーター又は熱線等、フォトレジスト層5全
面に均一に熱を与えられるものであればよい。ただし、
いずれの場合もマスク2をフォトレジスト層5に密着し
ないように設置する必要がある。
【0026】プリベーキング温度は、使用するフォトレ
ジストの種類で若干異なるが、マスク2によって与えら
れたフォトレジスト層5の高温領域の温度が、フォトレ
ジスト中の残留溶媒が蒸発し、かつ、感光基の熱分解が
発生する90〜150℃の温度範囲、好ましくは100
〜130℃の温度範囲となるように調整する。
【0027】また、マスク2の厚さは、その材質及びプ
リベーキング温度等で異なるが、マスク2によって与え
られたフォトレジスト層5の低温領域の温度が前記高温
領域よりも20℃以内、好ましくは10℃程度低くなる
ように調整する。
【0028】通常プリベーキング工程における所用時間
はおおよそ90秒程度としているため、この時間内で充
分にフォトレジスト層5を所定の温度に加熱するため
に、マスク2の材料には熱伝導率の高い金、銀、銅又は
アルミニウムを用い、マスク2の厚さは0.3mmから
1.0mm程度とする。
【0029】前記温度差であれば一定パワーの露光及び
現像後に、絵又は文字等のパターン部のデータピットと
その他の部分のデータピットとの幅の変化量が中心値±
15%以内、深さ又は高さの変化量が中心値±10%以
内に制御することができ、CD又はLD等の規格を満た
す光ディスクを得ることができる。
【0030】さらに、フォトレジスト層5の温度をさら
に正確に制御する実施例として、フォトレジスト層5中
の残留溶媒が蒸発し、かつ感光基が分解しない80℃か
ら90℃程度の温度でフォトレジスト層5を充分に加熱
し、マスク2の絵又は文字等のパターンに対応した開口
部又は閉口部6の部分を選択的に赤外線等の熱線等でフ
ォトレジスト層5中の感光基が分解する100℃から1
10℃程度の温度に加熱する方法もある。
【0031】以上のように、本発明による原盤加熱装置
を用いて、フォトレジスト層5を形成したガラス原盤4
を加熱すると、開口部6となっている領域に対応するフ
ォトレジスト層5の温度が上昇し、感光基が熱分解して
減少し、露光感度が低下するため、その後、一定の露光
条件及び一定の現像条件の工程によっても、絵又は文字
等のパターンに対応してデータピットの形状が変化す
る。
【0032】図5は本発明による原盤加熱装置を用いた
場合のCD、LD等の光ディスクの製造工程を示したフ
ローチャート図である。
【0033】以下、本発明による原盤加熱装置を用い
て、絵又は文字等のパターンが入った光ディスク原盤1
3、光ディスクスタンパー9及び光ディスク15を作製
した具体的な実施例を示す。
【0034】(実施例1)図5の工程aに示すように、
直径20cm、厚さ6mmの平滑なガラス原盤4上に、
酢酸セロソルブで10%に希釈したフォトレジストをス
ピンコータにより160rpmで回転塗布し、膜厚0.
12μmのフォトレジスト層5を形成した。
【0035】次に、図5の工程bに示すように、エッチ
ングにより形成した2cm四方の大きさのAの文字が開
口部6となっている直径20cm、厚さ0.5mmの銅
製のマスク2をホットプレート1上に設置し、その上に
ガラス原盤4の直径19.5mm以上の外周部を支持す
るリング状で耐熱性樹脂製のスペーサ3を取り付け、ガ
ラス原盤4をフォトレジスト層5が加熱面に向くように
設置した。
【0036】このときホットプレート1とフォトレジス
ト層5の間隔は0.5mmであった。ホットプレート1
を115℃に加熱したところ、フォトレジスト層5の前
記Aの文字の開口部に対応する領域の温度は112℃で
あり、その他の領域は100℃であった。この状態で9
0秒間加熱し、その後ガラス原盤4を取り外した。
【0037】以上のようにプリベーキング処理したガラ
ス原盤4を、図5の工程cに示すように、原盤カッティ
ング装置によって音楽信号をHeーNeレーザによって
記録パワー1.5mWで記録した。
【0038】続いて、ガラス原盤4を現像装置に設置
し、回転させながら現像液を塗布し、回折光をモニター
しながら、図5の工程dに示すように、露光された部分
のフォトレジストを溶解して除去した。規定の回折光強
度が得られた時点で現像を停止し、洗浄液で洗浄し、図
5の工程eに示すように、ガラス原盤4を80℃で30
分間ポストベーキング処理して乾燥させた。
【0039】このとき、ガラス原盤4のフォトレジスト
層5上に凹部としてデータピット7が形成され、外観目
視したところ前記Aの文字が干渉効果により識別できる
光ディスク原盤13を得た。
【0040】光ディスク原盤13に形成されたデータピ
ット7の大きさを接触式表面粗さ計で測定したところ、
前記Aの文字に対応する領域に存在するデータピット7
の形状は幅0.55μm、深さ0.11μmであり、上記
Aの文字に対応しない領域に存在するデータピット7の
形状は幅0.60μm、深さ0.12μmであった。
【0041】図5の工程fに示すように、ポストベーキ
ング処理したガラス原盤4のフォトレジスト層5の表面
にスパッタリングによりニッケル導電膜8を70nmの
膜厚で形成した。
【0042】次に、図5の工程gのように、この面にニ
ッケル層の電鋳を行って、0.5mm厚の光ディスクス
タンパー9を得た。ここで、前記Aの文字に対応する領
域に存在する凸部であるデータピット15の形状は幅
0.55μm、高さ0.11μmであり、上記Aの文字に
対応しない領域に存在するデータピット15の形状は幅
0.60μm、高さ0.12μmであった。
【0043】光ディスクスタンパー9の内外周を所定の
大きさに加工して射出成形機に取り付け、図5の工程h
に示すように、射出成形を行うことにより直径12c
m、厚さ1.2mmのポリカーボイト樹脂のレプリカ1
0を得た。このときレプリカ10の表面にはデータピッ
ト16である凹部が形成され、外観目視したところ前記
Aの文字が干渉効果により識別できた。
【0044】レプリカ10に形成されたデータピット1
6を接触式表面粗さ計を用いて検査したところ、上記A
の文字に対応する領域に存在するデータピット16の形
状は幅0.55μm、深さ0.11μmであり、上記Aの
文字に対応しない領域に存在するデータピット16の形
状は幅0.60μm、深さ0.12μmであった。
【0045】レプリカ10のデータピット16が形成さ
れた面に、図5の工程iに示すようにスパッタリングに
より反射層11を70nmの膜厚で形成し、さらにその
上に紫外線硬化樹脂の保護層12を3μmの膜厚で形成
し光ディスク14を得た。
【0046】光ディスク14の情報再生面側から外観目
視したところ、前記Aの文字が明瞭に識別でき、検査用
CDプレーヤによって、再生信号強度、プッシュプル信
号強度又はラジアルコントラスト等の規格で定められて
いるピット形状に係る項目を測定したところ全ての規格
値を満たした。また、市販のCDプレーヤで再生したと
ころ、通常のCDと何等変わることなく再生できた。
【0047】
【発明の効果】以上のように、本発明による原盤加熱装
置及び原盤作製方法によれば、通常の製造工程を殆ど変
更することなくCD及びLD等の規格を満足し、かつ、
外観目視により識別可能な絵又は文字等の巨視的パター
ンをデータ領域に記録したCD又はLDを得ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による原盤加熱装置によるプリベイク処
理の様子を表した模式図。
【図2】CDの再生信号レベル及びプッシュプル信号レ
ベルとピット深さの関係を示す特性図。
【図3】フォトレジスト中の感光基が熱分解することに
よって生成する窒素のイオン濃度の熱処理温度依存性を
示す特性図。
【図4】本発明による絵又は文字等の任意のパターンに
対応した開口部又は閉口部を有するマスクを示す模式
図。
【図5】本発明による原盤加熱装置を用いた場合のC
D、LD等の光ディスクの製造工程を示したフローチャ
ート図。
【符合の説明】
1 ホットプレート 2 マスク 3 スペーサ 4 ガラス原盤 5 フォトレジスト層 6 絵又は文字等のパターンに対応した開口部又は閉口
部 7 データピット 8 ニッケル導電膜 9 光ディスクスタンパー 10 レプリカ 11 反射層 12 保護層 13 光ディスク原盤 14 光ディスク 15 データピット 16 データピット

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】原盤上にフォトレジスト層を形成する工程
    と、前記フォトレジスト層を加熱処理する工程と、前記
    フォトレジスト層に記録データと対応させて露光し記録
    する工程と、記録した前記フォトレジスト層を現像する
    工程からなる原盤作製方法において、前記加熱処理する
    工程が任意のパターンに対応した温度差を前記フォトレ
    ジスト層に与えながら加熱処理する工程であることを特
    徴とする原盤作製方法。
  2. 【請求項2】フォトレジスト層が形成された原盤を加熱
    処理する原盤加熱装置であって、該原盤加熱装置は前記
    フォトレジスト層を加熱するための手段と、前記フォト
    レジスト層に任意のパターンに対応した温度差を与える
    ための開口部又は閉口部を有するマスクとを具備し、該
    マスクは前記加熱するための手段と光ディスク原盤との
    間に位置することを特徴とする原盤加熱装置。
  3. 【請求項3】請求項2に記載の原盤加熱装置であって、
    前記マスクによって前記フォトレジスト層に生じた温度
    差のうち高温領域の温度が90℃から150℃の範囲内
    となり、低温領域の温度が前記高温領域の温度よりも2
    0℃以内で低くなるように加熱することを特徴とする原
    盤加熱装置。
  4. 【請求項4】請求項1記載の原盤作製方法によって作製
    される原盤から得られるスタンパーであって、任意のパ
    ターンに対応する領域に存在するデータピットの幅及び
    深さ若しくは高さが前記パターンに対応する領域を除く
    領域に存在するデータピットの幅及び深さ若しくは高さ
    に対して少なくともいずれか一つが異なっていることを
    特徴とするスタンパー。
  5. 【請求項5】請求項4記載のスタンパーであって、該ス
    タンパーに形成されたデータピットの幅が0.5μmか
    ら0.7μmの範囲内であり、かつ、任意のパターンに
    対応する領域に存在するデータピットの幅は前記パター
    ンに対応する領域を除く領域に存在するデータピットの
    幅と異なっていることを特徴とするスタンパー。
  6. 【請求項6】請求項4又は請求項5記載のスタンパーで
    あって、該スタンパーに形成されたデータピットの深さ
    又は高さが0.11μmから0.13μmの範囲内であ
    り、かつ、任意のパターンに対応する領域に存在するデ
    ータピットの深さ又は高さは前記パターンに対応する領
    域を除く領域に存在するデータピットの深さ又は高さと
    異なっていることを特徴とするスタンパー。
  7. 【請求項7】請求項1記載の原盤作製方法によって作製
    される原盤から得られる光ディスクであって、任意のパ
    ターンに対応する領域に存在するデータピットの幅及び
    深さ若しくは高さが前記パターンに対応する領域を除く
    領域に存在するデータピットの幅及び深さ若しくは高さ
    に対して少なくともいずれか一つが異なっていることを
    特徴とする光ディスク。
  8. 【請求項8】請求項7記載の光ディスクであって、該光
    ディスクに形成されたデータピットの幅が0.5μmか
    ら0.7μmの範囲内であり、かつ、任意のパターンに
    対応する領域に存在するデータピットの幅は前記パター
    ンに対応する領域を除く領域に存在するデータピットの
    幅と異なっていることを特徴とする光ディスク。
  9. 【請求項9】請求項7又は請求項8記載の光ディスクで
    あって、該光ディスクに形成されたデータピットの深さ
    又は高さが0.11μmから0.13μmの範囲内であ
    り、かつ、任意のパターンに対応する領域に存在するデ
    ータピットの深さ又は高さは前記パターンに対応する領
    域を除く領域に存在するデータピットの深さ又は高さと
    異なっていることを特徴とする光ディスク。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6168207B1 (en) 1997-10-09 2001-01-02 Victor Company Of Japan, Ltd. Optical discs, producing methods and production apparatus of the optical discs

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US6168207B1 (en) 1997-10-09 2001-01-02 Victor Company Of Japan, Ltd. Optical discs, producing methods and production apparatus of the optical discs

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