JPH0829675A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH0829675A JPH0829675A JP16773194A JP16773194A JPH0829675A JP H0829675 A JPH0829675 A JP H0829675A JP 16773194 A JP16773194 A JP 16773194A JP 16773194 A JP16773194 A JP 16773194A JP H0829675 A JPH0829675 A JP H0829675A
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Abstract
測距による精度劣化を対策して且つ低消費エネルギー及
びタイムラグの短かい測距装置を提供することを目的と
する。 【構成】本発明は、任意のポイントを測距可能なマルチ
AF部1と、測距ポイントの変更を行う投光方向切換部
2と、カメラのピント合せ部3と、測距用光のパワーを
制御するパワーコントロール部7と、プリ測距で受光し
た反射信号光量によりAF結果が良否を判定する∞判定
部6と、判定基準レベルを設定するレベル切換部9と、
レベル切換及び測距装置全体を制御するCPU10とで
構成され、CPU10には、カメラのレリーズボタンの
半押し状態により閉成される第1レリーズSW4及び第
2レリーズSW5と、1st SW4,2nd SW5
の入力タイミングを計時するタイマ8とを備える測距装
置である。
Description
を投射し、その反射信号光を検出して、上記被写体の距
離を求めるカメラの測距装置に関する。
て、撮影する画面の複数のポイントに測距用光を投射
し、例えば図3(a)に示すように、画面中央部に主要
被写体となる人物がいない場合でも、中抜けにならず、
人物にピント合わせできるようにした複数のポイントを
測距する技術(マルチAF)が知られている。
する場合には、光投射型ならば投射光量を大きくした
り、投光回数を増加させる技術が知られている。しか
し、マルチAFにおいて各ポイントごとに、この投光回
数増加の技術を適用すると、タイムラグの増大となって
しまう。
号公報において、少ない投光回数にて各ポイントの測距
(プリ測距)を行ない、その結果に従って絞りこんだポ
イントのみを高精度で測距(メイン測距)する技術を提
案している。
写体が撮影画面内に雑然して存在する場合には、本来の
主要被写体の測距ポイントが選択されずに、結果として
ピンボケ現象が生じる場合がある。
号公報、特開平2−240643号公報等により上記ピ
ンボケ現象を防止する技術が提案されている。これは、
図3(b)に示すRのような構図で写真を撮影する場合
に、このままカメラのレリーズボタンを押しこむと、マ
ルチAFの効果により、主要被写体の人物15ではなく
花びん17や、その他の人物16にピントが合ってしま
う。
(b)のFL(破線)の位置にカメラをかまえ、主要被
写体15を正面中央にいれた状態でカメラのレリーズボ
タンを半押しして、そのあと構図を図3(b)Rの位置
に戻して撮影するようにしたテクニックを用いた時、レ
リーズボタン半押しタイミングにおける画面中央の測距
結果を優先させたものである。例えば、特開平1−18
5620号公報では上記レリーズボタンの半押し状態と
押しこみ状態で2度測距を行ない、測距結果に差があっ
た時、上記フォーカスロック状態と判定した。また、特
開平2−240643号公報では、レリーズボタン半押
しから、押しこみまでの時間からユーザーによる上記フ
ォーカスロック状態を検出した。
装置において、光投射型の場合に、遠距離測距を行った
時、反射光の減少により精度が劣化してしまう問題があ
る。すなわち、撮影する画面の中に遠距離被写体が存在
すると、プリ測距で得られる測距値に精度不足が発生し
て、正しい測距ポイントが選択されないことがあった。
報、特開平2−240643号公報及び特開平2−24
0643号公報に記載されるフォーカスロックを利用し
たピンボケ現象を防止したものは、フォーカスロックを
行った後、カメラを振って構図を変えているため、測距
したときからシャッタを押し込むまでに時間差を生じて
いる。特に、静止した被写体であれば問題はないが、動
きのある被写体であった場合には、撮影時にはフォーカ
スロックした状態と異なった被写体距離となっているこ
とがある。
図変更に伴う被写体距離変化によりどこにもピントの合
わない写真ができてしまう可能性がある。そこで本発明
は、構図内の主要被写体を測距し、プリ測距による精度
劣化を対策して且つ低消費エネルギー及びタイムラグの
短かい測距装置を提供することを目的とする。
するために、第1に、測距対象物に向けて測距用光を投
光する投光手段と、上記測距対象物からの反射光を受光
し、上記測距対象物までの距離に応じた光電変換信号を
出力する受光手段と、この受光手段からの上記光電変換
信号に基づいて無限遠判定を行う判定手段と、上記投光
手段による上記測距用光の投光量または投光回数を切換
える光量切換手段と、この光量切換手段によって上記投
光量または投光回数が切換られた際に、上記判定手段に
よる無限遠の判定レベルを切換える判定レベル切換手段
とで構成された測距装置を提供する。
次、測距用光を投光可能な投光手段と、上記測距ポイン
トからの反射光を受光し、測距対象物までの距離に応じ
た光電変換信号を出力する受光手段と、上記光電変換信
号に基づいて上記測距対象物までの距離を演算する距離
演算手段と、上記投光手段により複数の測距ポイントに
対して順次、投光し、上記測距演算手段によって距離を
求める第1測距モードと、上記投光手段により所定の1
か所の測距ポイントについて投光し、上記距離演算手段
によって距離を求める第2測距モードとを切換える測距
モード制御手段と、上記第2測距モードが選択された場
合には、上記第1測距モードが選択された場合に比べ
て、上記投光手段による上記測距用光の投光量を増加さ
せる投光量制御手段とで構成された測距装置を提供す
る。
操作される第1スイッチ手段と、この第1スイッチ手段
の操作の後に、上記レリーズ動作を行うための第2スイ
ッチ手段と、上記第1スイッチ手段の操作後に、撮影画
面の略中央部を測距する中央測距手段と、上記第2スイ
ッチ手段の操作後に、複数の測距ポイントについて予備
測距を行う予備測距手段と、この予備測距手段による測
距結果の内、上記中央測距手段による測距結果に近い測
距ポイントを選択し、この選択された測距ポイントにつ
いて本測距を行う本測距手段とで構成された測距装置を
提供する。
対象物に最初に近距離側に測距用光の投光量または投光
回数と、無限遠判定がかかり易くなるような判定レベル
に設定され、低レベルの測距用光が投光され、その反射
光を受光して、上記測距対象物までの距離に応じた光電
変換信号が出力される。この光電変換信号と無限遠の判
定レベルとを比較し、無限遠(∞)判定が行なわれる。
この判定レベルはかかり易くなるように設定される。こ
の判定により測距用光の投光量または投光回数の切換え
が行われ、判定レベルも切換えられる。
ベルの投光量でかかり易い判定レベルに設定されたプリ
測距用光が投光され、得られたプリ測距結果と所定距離
を比較し、不十分な場合に、再測距が行われ、複数の測
距ポイントに対して順次、投光し距離を求めるプリ測距
(第1測距)モード若しくは、所定の1か所の測距ポイ
ントに投光し、距離を求めるメイン測距(第2測距)モ
ードが選択され、測距用光が投光され測距対象物までの
距離が演算される。第2測距モードが選択された場合に
は、第1測距モードよりも投光量が増加された測距用光
が投光される。
レリーズスイッチをオンさせた後に、撮影画面の略中央
部が測距され、次にさらにレリーズボタンを押下して2
ndレリーズスイッチをオンさせると、撮影画面内の複
数の測距ポイントについて予備測距が行なわれる。この
予備測距の結果の内、中央測距による測距結果に近い測
距ポイントを選択し、その測距ポイントについて本測距
が行なわれる。
に説明する。図1には、本発明による第1実施例として
の測距装置の概略的な構成を示し説明する。
れた測距ポイントのうち、任意のポイントを測距可能な
マルチAF部1と、測距ポイントの変更を行う投光方向
切換部2と、前記マルチAF部1の測距用光のパワーを
制御するパワーコントロール部7と、前記マルチAF部
1の受光した反射信号光量より、その時のAF結果が信
頼できるものであるか否かを判定する判定部(∞判定
部)6と、この判定用の基準レベルを切換可能にするレ
ベル切換部9と、前記レベル切換及び測距装置全体のシ
ーケンスを制御する、ワンチップマイコン等からなる演
算制御部(CPU)10とで構成される。さらに、前記
CPU10に設けられ、ON/OFFにより測距シーケ
ンスやカメラのピント合せ部3を前記CPU10が制御
するためのカメラのレリーズボタンの半押し状態により
閉成される第1レリーズSW(1st SW)4及びレ
リーズボタンの押しこみ状態により閉成される第2レリ
ーズSW(2nd SW)5と、1st SW4,2n
d SW5の入力タイミングを計時する計時部8とを備
えている。この計時部8の機能はCPU10に内蔵して
もよい。
述した構成の測距装置の動作について説明する。まず、
CPU10が第1レリーズSW4の押しこみを検知する
と(ステップS1)、CPU10はパワーコントロール
部7を介して、AF部1の投光光量を低めのレベルDA
にセットする(ステップS2)。これは、強力な光量で
多くのポイントをプリ測距(マルチAF)すると、消費
エネルギーが大きくなってしまうということと、強力な
光を投光することにより反射信号光が強すぎてAF回路
1が飽和してしまうことを防止する目的によるものであ
る。
テップS3)。本実施例では、∞判定部6の判定レベル
を判定がかかりやすくして、遠距離のデータを無視し、
精度の高い領域のデータのみを使用するようにした。つ
まり、三角測距を応用した光投射型のAFの場合、AF
部1の出力ADと被写体距離Lの逆数1/Lの関係は、
図7(a)に示すようになる。DC が論理的な関係であ
るが、実際にはS/Nの関係でDA ,DB として示した
ようにバラつきの幅を生じる。光量DA は、光量が少な
い場合なので、投光光量の多い場合、DB よりもバラつ
き幅が大きくなる。
せると、図7(a)にΔ1/Lの誤差として示したよう
に、距離L1 とL2 が判別できなくなってしまうという
問題を生じる。従って、画面内のあるポイントP1 の測
距結果がL1 、他のポイントP2 がL2 の測距結果を示
す時、至近選択の時、実際にはポイントP1 の距離L1
の方が近距離であり、ポイントP1 に対してメイン測距
を行なわねばならないのに、このバラつきによってポイ
ントP2 を再測距してしまうという問題があった。
る距離L3 以遠の測距結果は、誤差が大きいものと見な
して、図7(b)に示すように採用しないように切りす
ててしまうようにする。
ての技術は、従来から知られており、本発明のメイン発
光においても図7(b)のように距離L4 以遠のデータ
は信頼できないとして、これを切りすてるようにしてい
る。つまり、距離L4 以遠は無限遠であるという処理を
行なうので、このような処理を「無限遠(∞)判定」と
呼んでいる。
∞判定のレベルを、図7(b)の距離L3 ,L4 のよう
に投光光量によって切りかえて、さらに信頼性の高いマ
ルチAFの選択を達成したことである。
離判定レベルLA を設定して、図2(b)のように画面
14の各ポイント12に対して測距用光を投射、各ポイ
ントのプリ測距を行なう(ステップS4)。
測距結果を示したポイントPx を選択し(ステップS
5)、次にポイントPx のプリ測距結果と所定距離L0
を比較し(ステップS6)、ポイントPx の結果が所定
距離L0 より近い時は(YES)、十分なS/Nにて測
距ができているものと判定し、この測距結果Lx をピン
ト合せ距離と決定し(ステップS10)、ステップS1
1に移行する。しかし、測距結果Lx が所定距離L0 よ
り遠い時は(NO)、測距結果Lx の測距結果の精度が
十分でないものと判定して、次のステップS7に移行し
て、再測距(メイン測距)を行なう。
ーコントロール部7を介して投光光量を大きい値DB に
セットし直す(ステップS7)、また、レベル切換部9
を制御して判定レベルLB がプリ測距の時よりも判定が
かかりにくいように設定する(ステップS8)。そし
て、ポイントPx に向けメイン測距を行ない(ステップ
S9)、レリーズボタンの押しこみを判定し(ステップ
S11)、その押しこみを判定すると(YES)、メイ
ン測距結果Lp にピント合せし(ステップS12)、カ
メラの露光動作を行なう(ステップS13)。
すように、5点のプリ測距の場合には小さく、ポイント
Px に対するメイン測距の場合には大きくなる。また、
本実施例では、これらのプリ測距を第1測距モード、メ
イン測距を第2測距モードとする。
くのポイントを測距しながら、主被写体に対しては正確
にピントが合せられる測距装置が提供可能となる。次
に、図5には本発明による第2実施例として、図1に示
した測距装置のマルチAF部の構成を示し説明する。
受光部で構成される。この投光部は、測距用光を生成す
る赤外線発光ダイオード(IRED)22a,22b,
22cと、前記各IREDを順次、駆動するドライバ4
0と、3つのポイントに対して測距用光を投射する投光
レンズ21とで構成される。
した反射光を集光する受光レンズ24と、反射光から光
電変換により入射した光の入射位置に依存した2つの電
流i1 ,i2 を出力する光位置検出素子(PSD)25
と、信号電流を所定増幅するプリアンプ31,32と、
上記信号光以外の背景光成分を除去する定常光除去回路
30と、前記出力電流i1 ,i2 の和に比例した電流信
号を生成する比電流信号生成回路33と、前記PSD2
5の2つの出力電流i1 ,i2 の比の演算を行う比演算
回路34と、比演算回路34からの出力電流を電圧に変
更する抵抗35と、電圧レベルと基準の電圧Vref と比
較するのがコンパレータ6と、基準電圧Vref を生成す
る抵抗36と、電流源37,38と、デコーダ39とで
構成される。
は、図示しない被写体で反射され、その反射光が受光レ
ンズ24を介して光位置検出素子(PSD)25上に入
射する。三角測距の原理より、被写体が近距離である
程、上記反射光(信号光)は、PSD上のIRED側か
ら遠い位置に入射する。
た光の入射位置に依存した2つの電流i1 ,i2 を出力
し、プリアンプ31,32で、所定の大きさまで該信号
電流を増幅する。また前記PSD25には、上記信号光
以外に背景光が入射しているので、この成分を除去する
定常光除去回路30を設ける。
1 ,i2 の比i1 /(i1 +i2 )が距離Lの逆数1/
Lに比例することも知られている。この比の演算を比演
算回路34で行い、その比演算結果を図7にADとして
示す。
電流信号を作り出す回路33であり、この出力電流を電
圧に変更するのが抵抗35である。この電圧レベルと基
準の電圧Vref と比較するのがコンパレーター6であ
る。一方、基準電圧Vref は抵抗36に所定の電流を流
すことにより作られる。
切りかえることにより切換可能である。CPU10はデ
コーダ39を介して、条件に応じてこの2つの電流源3
7,38を切換制御し、コンパレーター6の出力を検出
することにより、各測距時の入射信号光量が十分なS/
N比を持っているかを判定できるようになっている。
ダ等からなる回路がレベル切換部9である。また、コン
パレーター6が図1の∞判定部に相当する。IREDを
何度も発光させ、各発光ごとの測距結果を平均化するこ
とにより測距精度を向上させる技術は一般に知られてい
る。本実施例は、CPU10がドライバ40を介して、
何度もIRED22a,22b,22cを発光させて精
度向上させるタイプのマルチAFに関し、第1実施例と
は異なり光量ではなくプリ測距とメイン測距で発光回数
を切りかえてタイムラグ対策としている。
には、少ない透光回数でIRED22a,22b,22
cを順次発光させ、マルチAFを行ない、メイン測距で
はプリ測距の結果によって、所定ポイントに対し、より
多い投光回数で投光を行ない、より高精度の測距を行な
う。
うに構成された第2実施例の動作について説明する。ま
ず、CPU10が図示しない第1レリーズSW4の押し
こみを検知すると(ステップS20)、電流源37を導
通(ON)し,電流源38を遮断(OFF)する(ステ
ップS21)。次にIRED22a,22b,22cを
3回ずつ発光させ距離La を測距する(ステップS2
2)。同様に、IRED22a,22b,22cを3回
ずつ発光させ距離Lb を測距し(ステップS23)、I
RED22a,22b,22cを3回ずつ発光させ距離
Lc を測距する(ステップS24)。
cを3回ずつ発光させるが、測距回数が少ないので精度
は十分ではない。そこで、電流源37をONし、多めの
判定電流を流してコンパレータ6を反転しやすくしてお
き、図7(b)のように距離L3 以遠の測距結果を無視
するようにする。つまり、CPU10はコンパレータ6
が反転した時、測距結果を∞とみなす処理を行うように
する。
で最至近距離を出力したポイントをPx とする(ステッ
プS25)。その後、電流源37を遮断(OFF)し、
電流源38を導通(ON)する(ステップS26)。こ
れはメイン測距に先立って、電流源38をONし、電流
源37よりも少ない電流を抵抗36に流すようにして∞
判定をかかりにくくしておくようにする。
て、メイン測距8回発光してその速記を結果の距離Lp
を得る。そしてレリーズボタンの押しこみを判定し(ス
テップS28)、その押しこみにより2nd SWがO
Nされれば(YES)、メイン測距結果Lp にピント合
せし(ステップS29)、カメラの露光動作を行なう
(ステップS30)。メイン測距では、発光回数を増加
させて精度を向上させる。
イムラグで高速に多くのポイントを測距しながら、主被
写体を正確に選択し、高精度測距できる測距装置が提供
できる。
しての測距装置の構成を示し説明する。この実施例は、
図5とは異なり投光素子として、ストロボ等に用いられ
るキセノン放電発光管(Xe管)を用いて、その前面に
開口部を持つマスク23をスキャンさせて投光方向を切
りかえるようにしている。
2と、Xe管22を発光させるための発光回路(パワー
コントロール部)7と、Xe管22の前方に移動可能に
設けられたマスク23と、マスク23を移動させるマス
ク切換部(投光方向切換部)2と、投光レンズ21と、
受光レンズ24と、被写体で反射した反射光を受光する
PSD25と、プリアンプ,比演算回路,∞判定回路及
びレベル切換回路等を含むAFIC26と、ピント合わ
せ部3と、1st SW4と、2nd SW5と、これ
らを制御するCPU10とで構成される。
スキャン等の位置制御は、CPU10がモータ送りネジ
等からなるマスク切換部2を介して行なう。このように
投光素子としてXe管を用いる場合、図4(b)のよう
に光量を制御したり、図8(a)のように細かく発光を
ON/OFFさせるような制御がしにくい。
は、発光時間を短くし、メイン測距時には発光を長めに
し、省エネと精度優先を切りかえるようにしている。つ
まり、発光部7は、Xe管電流の流れる時間を切りかえ
る機能を有する。CPU10は、図8(b)に示すよう
に、プリ測距の時には投光ごとにマスク位置を切りか
え、その結果に従ってマスク位置を決定し、メイン発光
を行うようにしている。被写体から反射して来た信号光
は、受光レンズ24を介して、PSD25に入力する。
AFIC26は、図5の26のブロックに相当し、プリ
アンプ、比演算回路、∞判定回路、レベル切換回路等か
らなる集積回路である。
∞判定がかかりやすくしメイン測距の時には、∞判定が
かかりにくくするのは、前述した実施例と同等であり、
ここでの説明は省略する。
に大きな光量の光を投射できるXe管を用いて測距する
ため、より遠距離まで高精度の測距が可能となる。ま
た、プリ測距の時は、短い投光時間にしたので、省エネ
設計が可能となり、なおかつ、高速で主要被写体を選択
するマルチAFが提供できる。
明する。この第4実施例の測距装置は、図1に示した構
成と同等であり、動作が異なっている実施例である。こ
の測距装置(マルチAF)は、図3(b)に示したよう
な撮影の画面においても、正しく主要被写体15に対し
てピント合せをする例である。
測距するAFを搭載したカメラで最至近距離優先の設計
とすれば、図3(a)のようなシーンにおいても、人物
15にピントが合せられるが、図3(b)Rのようなシ
ーンでは、主要被写体でない人物16にピントが合って
しまうという副作用があった。
状態になるように構えて、カメラのレリーズボタンを半
押しし、その後、画面をRの状態にしてレリーズボタン
を押しこむ、いわゆるフォーカスロックという撮影テク
ニックによって、中央部優先の測距を行ない人物15に
ピントを合せる方法を利用することが考えられる。
のみを測距するカメラに採用されたものであり、マルチ
AFにそのまま適用すると、中央優先の考え方から、今
度は、3(a)の画面ように人物が中央からずれている
場合には、人物15にピントが合わなくなってしまう。
更にともなってカメラと被写体までの距離が変化するの
で、対策する必要があった。図10に示すフローチャー
トを参照して、第4実施例の動作について説明する。こ
の実施例は、前述した問題を解決し、フォーカスロック
の動作によって、図3(b)Rの構図においても正し
く、人物15にピントが合うように考案されたものであ
る。
tSW4のONを検出する(ステップS40)。1st
SW4がON時(YES)、画面中央部Lc の測距を
行なう(ステップS41)。この測距によって、図3
(b)に示すFLのような構図において、人物15の距
離が測定できる。
初期化(t=0)し(ステップS42)、2nd SW
5がオンされるまで計時される(ステップS49,S5
0)。この時間tが長いとユーザーがレリーズボタン半
押し状態のままで構図変更を行ったとみなすことができ
る。よって、本実施例ではこの時間tの長さに基づき、
撮影者がフォーカスロックを行っているか否かの意志を
判定する。
ES)、プリ測距を行ない(ステップS44)、前述し
た時間tを予め定めた所定時間t0 と比較し長さによる
フォーカスロックか否か判別を行なう(ステップS4
5)。こうして、撮影開始時にONされる2nd SW
以降でマルチAFを行うようにしているので、本実施例
では、さらに省エネ設計が可能となる。
ーカスロック判別がなされると(YES)、マルチAF
結果のうちステップS41にて測距した中央測距結果L
c に近い距離を示したポイントに対しメイン測距を行な
い(ステップS48)、この結果をLp とする。
カスロック判定がなされない時は(NO)、プリ測距の
結果から最至近の値を示したポイントを選択し、その方
向に対しメイン測距を行なう(ステップS46)。この
結果をLp とする。
合せを行ない(ステップS47)、露光を行なう(ステ
ップS51)。この実施例でも、いろいろな方向への投
光が必要なプリ測距では光量を落とすようにして省エネ
としている。従って、発光の様子をタイムチャート的に
図示すると図10(b)のようになる。
リーズボタン半押し状態で中央部を測距し、その結果を
記憶し、リレーズボタン押しこみ時に行なうマルチAF
の結果と比較できるようにした。
時間間隔を測定できるようにしたことによりフォーカス
ロックの意志を判定できる。つまりこの時間間隔が長け
れば、ユーザーは構図変更を行ったと考えられるので、
上記1st SW4がON時の中央測距結果と、マルチ
AF結果を比較し、マルチAF結果ポイントのうち、上
記中央測距結果に近い距離を示すポイントを主要被写体
位置とみなすようにした。
ず、FLの位置でレリーズボタンを半押しにすると人物
15の距離Lc をあらかじめ記憶できる。次に、構図を
Rに変更して、レリーズボタンを押しこむと3つのポイ
ントをマルチAFするので、この3つのポイントのう
ち、最もLc に近い距離を示すのは左の測距ポイントな
ので、このポイントに対し再測距(メイン測距)を行
う。
測距を行ないこの結果に従ってピント合せするので、構
図変更にともなう距離変化の影響をうけない正確なピン
ト合せが可能となる。フォーカスロック判定のない時
(S45のN分岐)には、通常のマルチAFとなる。
ルチAFの副作用を解決しながら省エネ設計かつ高精度
のマルチAFを提供することができる。しかし、この第
4実施例では図3(a)のような構図で、長時間レリー
ズボタンを半押しにしていると、中央優先となり風景に
ピントが合ってしまうという不具合があった。
いて説明する。図11(a)には、第5実施例の構成を
示し、図11(b)には、その動作を説明するためのフ
ローチャートを示し説明する。
れた測距ポイントのうち、任意のポイントを測距可能な
マルチAF部1と、測距ポイントの変更を行う投光方向
切換部2と、前記マルチAF部1の測距用光の投光回数
を変更する投光回数切換部7aと、前記マルチAF部1
の受光した反射信号光量より、その時のAF結果が信頼
できるものであるか否かを判定する∞判定部6と、この
判定用の基準レベルを切換可能にするレベル切換部9
と、前記レベル切換及び測距装置全体のシーケンスを制
御する演算制御部(CPU)10とで構成される。さら
に、前記CPU10に設けられ、ON/OFFにより測
距シーケンスやカメラのピント合せ部3を前記CPU1
0が制御するためのカメラのレリーズボタンの半押し状
態により閉成される第1レリーズSW(1st SW)
4及びレリーズボタンの押しこみ状態により閉成される
第2レリーズSW(2nd SW)5と、1st SW
4,2nd SW5の入力タイミングを計時するタイマ
8と、ズームレンズ50と、ズームレンズ50の焦点距
離fを入力するエンコーダ等からなるf入力部51を備
えている。このタイマ8の機能はCPU10に内蔵して
もよい。
離(f)を加味するものであり、図11(a)に示すよ
うにカメラ撮影レンズがズームレンズの場合、ズームレ
ンズ50の焦点距離fをエンコーダ等からなるf入力部
51を介してCPU10が読みこみ可能な構成となって
いる。その他の構成部材は、図1に示す構成とほぼど同
等だが、投光パワーコントロール7にかわって投光回数
切換部7aを採用して、図8(a)のような発光回数切
換制御が可能となっている。
して説明する。この図11(b)のフローチャートは、
図10(a)のフローチャートとほぼ同じであり、特徴
部分のみを説明する。
プS65のプリ測距では、投光回数を少なめ(例えば3
回)とし、ステップS67,ステップS71の再測距で
は、投光回数を多めに(例えば8回)設定する。
回数の少ない時にはかかりやすく設定し投光回数の多い
時には比較的かかりにくく設定するように構成する。ま
た図11(b)のフローチャートは、ステップS61に
てf入力部51を介して撮影レンズの焦点距離を入力、
その結果を加味してステップS70にて、フォーカスロ
ックの判定を行っている。つまり、ステップS70にて
中央測距結果Lc が80×f以上であれば、ステップS
67へと分岐してフォーカスロックを行なわない。例え
ばf=50mmのレンズの場合、Lc が50mm×80
=4m以上の時は、フォーカスロックではないと判定す
る。
景が風景なので、Lc が4m以上となるため、フォーカ
スロックとはみなされず、ステップS67にて最至近選
択の再測距を行ない正しく人物15にピントを合せるこ
とが可能となる。
全身像相当の写真がとれる距離から求められたものであ
る。以上説明したように本実施例では副作用を解決した
マルチAFのカメラを提供できる。
以下のごとき構成が得られる。 (1) 測距対象物に向けて測距用光を投光する投光手
段と、上記測距対象物からの反射光を受光し、上記測距
対象物までの距離に応じた光電変換信号を出力する受光
手段と、この受光手段からの上記光電変換信号に基づい
て無限遠判定を行う判定手段と、 上記投光手段による
上記測距用光の投光量または投光回数を切換える光量切
換手段と、この光量切換手段によって上記投光量または
投光回数が切換られた際に、上記判定手段による無限遠
の判定レベルを切換える判定レベル切換手段と、を具備
したことを特徴とする測距装置。
ば、測距用光の光量に応じて無限遠判定の判定レベルを
切換えるので、より信頼性の高い測距装置となる。 (2) 上記判定レベル切換手段は、上記光量切換手段
によって投光量が小とされた場合に、より近距離側で無
限遠と判定されるレベルに切換える上記(1)記載の測
距装置。
ては、投光量が小さい場合には遠方よりの反射光が減少
し、信頼性が低くなるが、上記(2)記載の測距装置に
よれば、より信頼性の高い測距装置となる。
変更することにより、上記測距用光の投光量を切換える
上記(1)または(2)記載の測距装置。従って、上記
(3)記載の測距装置によれば、例えば閃光発光装置を
投光手段として使用した場合等、オンオフを繰り返すこ
とが面倒な場合に都合が良い。
りの投光量を一定にして、投光回数を変更する上記
(1)または(2)記載の測距装置。従って、上記
(4)記載の測距装置によれば、1回当たりの投光時間
を長くすることが難しい投光手段を使用する場合に都合
が良い。
であり、上記光量切換手段は連続的に複数点の測距を行
う場合に、投光量を減少させる上記(1)乃至(4)記
載の装置装置。
ば、複数点の測距を行う場合に、投光量を減少させるの
で、発光エネルギの浪費を防止することができる。 (6) 複数の測距ポイントに対して測距用光を投光可
能な投光手段と、上記測距ポイントからの反射光を受光
し、測距対象物までの距離に応じた光電変換信号を出力
する受光手段と、上記光電変換信号に基づいて上記測距
対象物までの距離を演算する距離演算手段と、上記投光
手段により複数の測距ポイントに対して投光し、上記距
離演算手段によって距離を求める第1測距モードと、上
記投光手段により所定の1か所の測距ポイントについて
投光し、上記距離演算手段によって距離を求める第2測
距モードとを切換える測距モード制御手段と、上記第2
測距モードが選択された場合には、上記第1測距モード
が選択された場合に比べて、上記投光手段による上記測
距用光の投光量を増加させる投光量制御手段と、を具備
したことを特徴とする測距装置。
ば、複数点を測距する際でもエネルギの消耗を押さえる
ことができる。 (7) 上記第1測距モードでは、上記投光手段によっ
て順次異なる方向に向けて投光を行う上記(6)記載の
測距装置。
ば、複数点を順次測距するので、同時に複数点測距する
場合に比べて測距光が干渉することがない。 (8) 上記光電変換信号に基づいて無限遠か否かを判
定する判定手段を有し、上記第1測距モードと第2測距
モードとで、その判定レベルを異ならせる上記(6)ま
たは(7)記載の測距装置。
ば、無限遠の判定レベルが変更されるので、信頼性が高
い測距が行える。 (9) 上記測距モード切換手段は、上記第1測距モー
ドの終了後に上記第1測距モードによる測距結果に基づ
いて上記第2測距モードによる測距を行う上記(6)乃
至(8)記載の測距装置。
ば、複数点の測距結果に基づいて本測距が行えるので、
より精度の高い測距を短時間で行うことができる。 (10) 上記投光量制御手段は、上記投光手段の投光
時間もしくは投光回数を制御する上記(6)乃至(9)
記載の測距装置。
れば、投光量の制御を容易に行うことができる。 (11) カメラのレリーズ動作に先立って操作される
第1スイッチ手段と、この第1スイッチ手段の操作の後
に、上記レリーズ動作を行うための第2スイッチ手段
と、上記第1スイッチ手段の操作後に、撮影画面の略中
央部を測距する中央測距手段と、上記第2スイッチ手段
の操作後に、複数の測距ポイントについて予備測距を行
う予備測距手段と、この予備測距手段による測距結果の
内、上記中央測距手段による測距結果に近い測距ポイン
トを選択し、この選択された測距ポイントについて本測
距を行う本測距手段と、を具備したことを特徴とする測
距装置。
れば、第1スイッチ手段の操作がなされた際の画面中央
部の測距対象物に対して、後に本測距を行うので、正確
に測距を行うことができる。
ら上記第2スイッチ手段による操作のなされるまでの時
間を計時する計時手段を有し、この計時手段による計時
時間が所定値以上の場合に、上記本測距手段によって上
記中央測距手段による測距結果に近い測距ポイントにつ
いて本測距を行う上記(11)記載の測距装置。
れば、フォーカスロックを簡単に行え、かつ精度よく測
距を行うことができる。 (13) 上記本測距手段は、上記計時手段による計時
時間が所定値以内の場合に、上記中央測距手段による測
距結果に係わらず測距ポイントを選択して本測距を行う
上記(12)記載の測距装置。
れば、計時時間が所定値以内の場合には、フォーカスロ
ックに固定されない。 (14) 上記中央測距手段による測距結果が所定値以
遠の場合には、上記本測距手段による測距ポイントを変
更する上記(11)記載の測距装置。
れば、所定値以遠の場合には中抜けと判断され、測距ポ
イントが変更されるので、中抜けを防止することができ
る。
た値である上記(14)記載の測距装置。従って、上記
(15)記載の測距装置によれば、焦点距離に応じて中
抜けを防止することができる。
対し、順次測距用光を投射する投光手段と、上記投光方
向変更する投光方向変更手段と、上記測距用光の光量を
切換える光量切換手段と、上記測距用光の被写体からの
反射信号光を受光し、各ポイントの測距結果を出力する
受光手段と、上記測距用光を順次異なる方向に投射しな
がら、各ポイントの測距を行なう第1の測距モードと、
上記測距用光を所定の方向に投射して1ポイントの測距
を行なう第2の測距モードを切換える制御手段と、から
なることを特徴とする測距装置。
モードと第2の測距モードで、上記光量切換手段を変更
することを特徴とする上記(16)記載の測距装置。測
距装置。
のレベルを所定の判定レベルと比較する判定手段を具備
し、上記制御手段が上記第1の測距モードと第2の測距
モードで上記判定レベルを切換することを特徴とする上
記(16)記載の測距装置。
変更する形式である上記(16)記載の測距装置。 (20) カメラのレリーズボタン押しこみに先立って
閉成する第1のスイッチと、上記レリーズボタン押しこ
み時に閉成する第2のスイッチと、上記第1,第2のレ
リーズタイミングの差を計時する計時手段を具備し、上
記制御手段が、上記第1のスイッチの閉成時には画面中
央部に対し、投光を行うように上記変更手段を制御し、
上記第2のスイッチの閉成時には、上記第1の測距モー
ドを制御し、上記計時手段の計時結果が所定の時間以上
の時には、上記第1の測距モードで得られた測距結果の
うち、上記画面中央の測距結果に最も近い測距結果を出
力する測距ポイントに対し、再度測距用光を投射するよ
うに上記投光手段を制御することを特徴とする上記(1
7)記載の測距装置。 (21) 上記画面中央の測距結果が所定距離以遠であ
れば、上記再測距のポイントを変更することを特徴とす
る上記(20)記載の測距装置。
リ測距による精度劣化を対策しながら低消費エネルギー
又はタイムラグの短かいマルチAFが可能な測距装置を
提供することができる。また、マルチAFで発生しやす
い構図によるボケを解決し、中央に人物がいないことに
よる、いわゆる中抜けによるピンボケが防止された測距
装置を提供することができる。
略的な構成を示し説明する。
である。
を示す図、図3(b)はフォーカスロックを行って撮影
する画面の被写体の配置例を示す図である。
ためのフローチャートである。
測距装置のマルチAF部の構成を示す図である。
成を示す図である。
の関係を示す図である。
ャートである。
ためのフローチャートである。
るためのフローチャートである。
図、図11(b)には、その動作を説明するためのフロ
ーチャートを示す図である。
せ部、4…第1レリーズSW(1st SW)、5…第
2レリーズSW(2nd SW)、6…判定部(∞判定
部)、7…パワーコントロール部、8…タイマ、9…レ
ベル切換部、10…演算制御部(CPU)。
Claims (3)
- 【請求項1】 測距対象物に向けて測距用光を投光する
投光手段と、 上記測距対象物からの反射光を受光し、上記測距対象物
までの距離に応じた光電変換信号を出力する受光手段
と、 この受光手段からの上記光電変換信号に基づいて無限遠
判定を行う判定手段と、 上記投光手段による上記測距用光の投光量または投光回
数を切換える光量切換手段と、 この光量切換手段によって上記投光量または投光回数が
切換られた際に、上記判定手段による無限遠の判定レベ
ルを切換える判定レベル切換手段と、を具備したことを
特徴とする測距装置。 - 【請求項2】 複数の測距ポイントに対して順次、測距
用光を投光可能な投光手段と、 上記測距ポイントからの反射光を受光し、測距対象物ま
での距離に応じた光電変換信号を出力する受光手段と、 上記光電変換信号に基づいて上記測距対象物までの距離
を演算する距離演算手段と、 上記投光手段により複数の測距ポイントに対して順次、
投光し、上記測距演算手段によって距離を求める第1測
距モードと、上記投光手段により所定の1か所の測距ポ
イントについて投光し、上記距離演算手段によって距離
を求める第2測距モードとを切換える測距モード制御手
段と、 上記第2測距モードが選択された場合には、上記第1測
距モードが選択された場合に比べて、上記投光手段によ
る上記測距用光の投光量を増加させる投光量制御手段
と、を具備したことを特徴とする測距装置。 - 【請求項3】 カメラのレリーズ動作に先立った操作さ
れる第1スイッチ手段と、 この第1スイッチ手段の操作の後に、上記レリーズ動作
を行うための第2スイッチ手段と、 上記第1スイッチ手段の操作後に、撮影画面の略中央部
を測距する中央測距手段と、 上記第2スイッチ手段の操作後に、複数の測距ポイント
について予備測距を行う予備測距手段と、 この予備測距手段による測距結果の内、上記中央測距手
段による測距結果に近い測距ポイントを選択し、この選
択された測距ポイントについて本測距を行う本測距手段
と、を具備したことを特徴とする測距装置。
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---|---|---|---|
JP16773194A JP3519782B2 (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 測距装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007010898A (ja) * | 2005-06-29 | 2007-01-18 | Casio Comput Co Ltd | 撮像装置及びそのプログラム |
-
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- 1994-07-20 JP JP16773194A patent/JP3519782B2/ja not_active Expired - Fee Related
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