JPH08288734A - フェーズドアレイアンテナの性能補償方法およびフェ ーズドアレイアンテナ - Google Patents
フェーズドアレイアンテナの性能補償方法およびフェ ーズドアレイアンテナInfo
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- JPH08288734A JPH08288734A JP7086721A JP8672195A JPH08288734A JP H08288734 A JPH08288734 A JP H08288734A JP 7086721 A JP7086721 A JP 7086721A JP 8672195 A JP8672195 A JP 8672195A JP H08288734 A JPH08288734 A JP H08288734A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 温度変化により変動するフェーズドアレイア
ンテナの特性の変動を補償する。 【構成】 複数の放射素子４から放出された信号を遠方
界で受信したものと等価な合成出力をモニタするインテ
グラル・モニタ・マニホールド５と、被測定移相器３’
の位相を所定量ずつシフトさせながら、マニホールド５
により得られる第１の合成出力および被測定移相器３’
以外の前記複数の移相器３の位相を反転させた後、被測
定位相器３’の位相を所定量ずつシフトさせながら、マ
ニホールド５により得られる第２の合成出力とに基づい
て、被測定移相器３’の位相誤差を算出するＣＰＵ９
と、算出された位相誤差に基づいて、被測定移相器３’
の移相量を補正するビーム走査制御器８とを備える。
ンテナの特性の変動を補償する。 【構成】 複数の放射素子４から放出された信号を遠方
界で受信したものと等価な合成出力をモニタするインテ
グラル・モニタ・マニホールド５と、被測定移相器３’
の位相を所定量ずつシフトさせながら、マニホールド５
により得られる第１の合成出力および被測定移相器３’
以外の前記複数の移相器３の位相を反転させた後、被測
定位相器３’の位相を所定量ずつシフトさせながら、マ
ニホールド５により得られる第２の合成出力とに基づい
て、被測定移相器３’の位相誤差を算出するＣＰＵ９
と、算出された位相誤差に基づいて、被測定移相器３’
の移相量を補正するビーム走査制御器８とを備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル移相器を電
子的に走査してビームを形成するフェーズドアレイアン
テナの性能補償方法およびフェーズドアレイアンテナに
関し、特に、温度変化によるフェーズドアレイアンテナ
の特性の変動を補償することを可能としたフェーズドア
レイアンテナの性能補償方法およびフェーズドアレイア
ンテナに関する。
子的に走査してビームを形成するフェーズドアレイアン
テナの性能補償方法およびフェーズドアレイアンテナに
関し、特に、温度変化によるフェーズドアレイアンテナ
の特性の変動を補償することを可能としたフェーズドア
レイアンテナの性能補償方法およびフェーズドアレイア
ンテナに関する。
【０００２】
【従来の技術】フェーズドアレイアンテナは、アレイ状
に並べられた放射素子の給電位相を電気的に制御するこ
とにより所望の方向にビームを形成し、このビームを走
査するものであり、例えば、マイクロ波着陸システム
（以下、ＭＬＳ：Ｍｉｃｒｏｗａｖｅ Ｌａｎｄｉｎｇ
Ｓｙｓｔｅｍ という）における方位誘導装置および
高低誘導装置や、レーダシステム等に広く用いられてい
る。
に並べられた放射素子の給電位相を電気的に制御するこ
とにより所望の方向にビームを形成し、このビームを走
査するものであり、例えば、マイクロ波着陸システム
（以下、ＭＬＳ：Ｍｉｃｒｏｗａｖｅ Ｌａｎｄｉｎｇ
Ｓｙｓｔｅｍ という）における方位誘導装置および
高低誘導装置や、レーダシステム等に広く用いられてい
る。
【０００３】このようなフェーズドアレイアンテナで
は、走査角度の精度が１／１００°以上のものが要求さ
れているが、気温の変化やアンテナ筐体内の温度の変化
が原因で、ビームの特性が劣化したり、また、アンテナ
筐体内の温度分布の変化が原因で、ビーム方位が偏位
し、システム性能を満足しなくなるといった問題点が生
じる。
は、走査角度の精度が１／１００°以上のものが要求さ
れているが、気温の変化やアンテナ筐体内の温度の変化
が原因で、ビームの特性が劣化したり、また、アンテナ
筐体内の温度分布の変化が原因で、ビーム方位が偏位
し、システム性能を満足しなくなるといった問題点が生
じる。
【０００４】そこで、従来から、システムを運用してい
る状態で、フェーズドアレイアンテナを構成する各放射
素子への給電位相を測定・計算し、その結果をフィード
バックすることにより、所望のアンテナ性能を維持する
手段が提案されている。このようなフェーズドアレイア
ンテナの性能補償技術は、例えば、特開平３−１７４８
０５号公報に開示されている。ここで、この従来のフェ
ーズドアレイアンテナの性能補償装置について図面を参
照して説明する。
る状態で、フェーズドアレイアンテナを構成する各放射
素子への給電位相を測定・計算し、その結果をフィード
バックすることにより、所望のアンテナ性能を維持する
手段が提案されている。このようなフェーズドアレイア
ンテナの性能補償技術は、例えば、特開平３−１７４８
０５号公報に開示されている。ここで、この従来のフェ
ーズドアレイアンテナの性能補償装置について図面を参
照して説明する。
【０００５】図１は、一般的なフェーズドアレイアンテ
ナの性能補償装置の構成を示すブロック図であり、図８
は、従来のフェーズドアレイアンテナの性能補償方法の
動作を説明するフローチャートである。このフローチャ
ートにおける各ステップにかかる処理は、ビーム走査制
御器内のＣＰＵで行われる。
ナの性能補償装置の構成を示すブロック図であり、図８
は、従来のフェーズドアレイアンテナの性能補償方法の
動作を説明するフローチャートである。このフローチャ
ートにおける各ステップにかかる処理は、ビーム走査制
御器内のＣＰＵで行われる。
【０００６】送信源１から送られてきたＲＦ電力は電力
分配器２によって所定の電力比に分割され、移相器３を
通して放射素子４に給電される。移相器３は、位相をシ
フトさせるものであり、その位相シフト量（以下、移相
量とする）はビーム走査制御器８からの移相器制御デー
タによって制御される。このように移相器３の移相量が
制御されて、放射素子４から放射された信号は、空間で
ビームを形成する。一方、インテグラル・モニタ・マニ
ホールド５が、それぞれの放射素子４から放出された信
号の一部を検出するために配置されており、これは、各
放射素子４から放出された信号を遠方界で受信したのと
等価な信号としてモニタ出力を得ることができる。ま
た、このインテグラル・モニタ・マニホールド５は、所
定の方向にてビームが形成された場合に、そのビームを
合成して得られた受信出力の振幅が最大値となるように
設計されている。各移相器３の移相量の補正を行う場
合、まず、ビーム走査制御器８により、インテグラル・
モニタ・マニホールド５からの受信出力の振幅が最大と
なるように、ビームの方位を設定する。そのインテグラ
ル・モニタ・マニホールド５からの合成された受信出力
は、検波器６により検波され、その検波された信号はＡ
／Ｄ変換器７によりＡ／Ｄ変換される。Ａ／Ｄ変換され
た信号に基づいて、ビーム走査制御器８内のＣＰＵ９に
より、各移相器３の位相誤差を算出するとともに、必要
があれば、各移相器３の移相量を補正する。
分配器２によって所定の電力比に分割され、移相器３を
通して放射素子４に給電される。移相器３は、位相をシ
フトさせるものであり、その位相シフト量（以下、移相
量とする）はビーム走査制御器８からの移相器制御デー
タによって制御される。このように移相器３の移相量が
制御されて、放射素子４から放射された信号は、空間で
ビームを形成する。一方、インテグラル・モニタ・マニ
ホールド５が、それぞれの放射素子４から放出された信
号の一部を検出するために配置されており、これは、各
放射素子４から放出された信号を遠方界で受信したのと
等価な信号としてモニタ出力を得ることができる。ま
た、このインテグラル・モニタ・マニホールド５は、所
定の方向にてビームが形成された場合に、そのビームを
合成して得られた受信出力の振幅が最大値となるように
設計されている。各移相器３の移相量の補正を行う場
合、まず、ビーム走査制御器８により、インテグラル・
モニタ・マニホールド５からの受信出力の振幅が最大と
なるように、ビームの方位を設定する。そのインテグラ
ル・モニタ・マニホールド５からの合成された受信出力
は、検波器６により検波され、その検波された信号はＡ
／Ｄ変換器７によりＡ／Ｄ変換される。Ａ／Ｄ変換され
た信号に基づいて、ビーム走査制御器８内のＣＰＵ９に
より、各移相器３の位相誤差を算出するとともに、必要
があれば、各移相器３の移相量を補正する。
【０００７】次に、図８および図９を参照してＣＰＵに
おいて行われる補正処理について説明する。
おいて行われる補正処理について説明する。
【０００８】まず、インテグラル・モニタ・マニホール
ド５からの受信出力の振幅が最大となるように、各移相
器３の移相量を制御する（Ｓ２０１）。次に、測定すべ
き移相器３（以下、被測定移相器３’とする）を指定し
（Ｓ２０２）、その被測定移相器３’の位相を０°にセ
ットする（Ｓ２０３）。つまり、Ｓ２０２では、移相器
３の番号がｉ＝１と初期化され、Ｓ２０３では、被測定
移相器３’の位相の回転回数がｎ＝１と初期化される。
この状態で、インテグラル・モニタ・マニホールド５か
らの受信出力に基づいて、合成出力Ａｉｎを計測し、そ
のデータを取り込む（Ｓ２０４）。合成出力Ａｉｎ（こ
の場合はＡｉ１）が計測された後、被測定移相器３’の
位相を９０°回転させる（Ｓ２０５）。ここで、この被
測定移相器３’の位相の回転回数ｎはｎ＝２となる。位
相を回転させた後、前述と同様に、合成出力Ａｉ２を計
測し、そのデータを取り込む（Ｓ２０４）。このＳ２０
４およびＳ２０５の処理は、被測定移相器３’の位相の
回転角度が３６０°、つまり、回転回数ｎ＝４になるま
で繰り返される。
ド５からの受信出力の振幅が最大となるように、各移相
器３の移相量を制御する（Ｓ２０１）。次に、測定すべ
き移相器３（以下、被測定移相器３’とする）を指定し
（Ｓ２０２）、その被測定移相器３’の位相を０°にセ
ットする（Ｓ２０３）。つまり、Ｓ２０２では、移相器
３の番号がｉ＝１と初期化され、Ｓ２０３では、被測定
移相器３’の位相の回転回数がｎ＝１と初期化される。
この状態で、インテグラル・モニタ・マニホールド５か
らの受信出力に基づいて、合成出力Ａｉｎを計測し、そ
のデータを取り込む（Ｓ２０４）。合成出力Ａｉｎ（こ
の場合はＡｉ１）が計測された後、被測定移相器３’の
位相を９０°回転させる（Ｓ２０５）。ここで、この被
測定移相器３’の位相の回転回数ｎはｎ＝２となる。位
相を回転させた後、前述と同様に、合成出力Ａｉ２を計
測し、そのデータを取り込む（Ｓ２０４）。このＳ２０
４およびＳ２０５の処理は、被測定移相器３’の位相の
回転角度が３６０°、つまり、回転回数ｎ＝４になるま
で繰り返される。
【０００９】ここで、図９は、計測される合成出力を説
明する図であり、回転回数＝１の場合の合成出力Ａｉ１
は、被測定移相器３’に対応して設けられた放射素子４
からの出力ベクトルａｉ１を含む各放射素子４から放出
される個々の出力の合成ベクトルＡｉ１のスカラ量とし
て表される。また、回転回数ｎ＝２の場合の合成出力Ａ
ｉ２も、被測定移相器３’に対応して設けられた放射素
子４からの出力ベクトルａｉ２を含む各放射素子４から
放出される個々の出力の合成ベクトルＡｉ２のスカラ量
として表される。ここで、出力ベクトルａｉ２は、出力
ベクトルａｉ１に対して９０°回転している。このよう
に、被測定移相器３’に対応して設けられた放射素子４
からの出力ベクトルだけがそれぞれ０°、９０°、１８
０°および２７０°のように回転させることにより、そ
れぞれ回転回数ｎに対応した合成出力Ａｉｎを表すこと
ができる。
明する図であり、回転回数＝１の場合の合成出力Ａｉ１
は、被測定移相器３’に対応して設けられた放射素子４
からの出力ベクトルａｉ１を含む各放射素子４から放出
される個々の出力の合成ベクトルＡｉ１のスカラ量とし
て表される。また、回転回数ｎ＝２の場合の合成出力Ａ
ｉ２も、被測定移相器３’に対応して設けられた放射素
子４からの出力ベクトルａｉ２を含む各放射素子４から
放出される個々の出力の合成ベクトルＡｉ２のスカラ量
として表される。ここで、出力ベクトルａｉ２は、出力
ベクトルａｉ１に対して９０°回転している。このよう
に、被測定移相器３’に対応して設けられた放射素子４
からの出力ベクトルだけがそれぞれ０°、９０°、１８
０°および２７０°のように回転させることにより、そ
れぞれ回転回数ｎに対応した合成出力Ａｉｎを表すこと
ができる。
【００１０】図８に戻り、動作の説明を続けると、こう
して、得られた合成出力Ａｉ１，Ａｉ２，Ａｉ３および
Ａｉ４は、検波器６により検波された時点で、スカラ量
となっており、これらの値により、以下に示す式を用い
て、第ｉ番目の被測定移相器３’の位相誤差φを算出す
る（Ｓ２０６）。また、この位相誤差φの計算方法の詳
細は、特開昭６２−１３０３号公報に開示されている。
して、得られた合成出力Ａｉ１，Ａｉ２，Ａｉ３および
Ａｉ４は、検波器６により検波された時点で、スカラ量
となっており、これらの値により、以下に示す式を用い
て、第ｉ番目の被測定移相器３’の位相誤差φを算出す
る（Ｓ２０６）。また、この位相誤差φの計算方法の詳
細は、特開昭６２−１３０３号公報に開示されている。
【００１１】
【００１２】算出された位相誤差φが、予め定められた
その被測定移相器３’の給電位相に対し、許容値以上ず
れているか否かを判定し、ずれている場合には、その被
測定移相器３’の移相量を補正する（Ｓ２０７）。そし
て、このＳ２０２からＳ２０７までの処理を、全部の移
相器３に対して、つまり、ｉ＝１からｉ＝ｉｍａｘ（設
置された移相器３の個数）になるまで、繰り返し実行す
る。
その被測定移相器３’の給電位相に対し、許容値以上ず
れているか否かを判定し、ずれている場合には、その被
測定移相器３’の移相量を補正する（Ｓ２０７）。そし
て、このＳ２０２からＳ２０７までの処理を、全部の移
相器３に対して、つまり、ｉ＝１からｉ＝ｉｍａｘ（設
置された移相器３の個数）になるまで、繰り返し実行す
る。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】この従来のフェーズド
アレイアンテナの性能補償装置では、複数の放射素子の
合成ベクトルの中から、任意の１素子の対応した移相器
（被測定移相器）の位相を回転させて信号を取り出して
いたため、不要な信号成分、つまり、被測定移相器に対
応する放射素子からの放出信号成分に対する所望の信号
成分、つまり、被測定移相器に対応して設けられた放射
素子からの放出信号成分の比率（以下、Ｄ／Ｕ比）が低
かった。その結果、気温やアンテナ筐体内の温度が変化
し、インテグラル・モニタ・マニホールドからの受信出
力中の被測定移相器に対応する放射素子以外の放射素子
によるベクトルの位相が変動すると、所望の信号への影
響も大きくなり、計測精度が非常に劣化するという問題
点があった。
アレイアンテナの性能補償装置では、複数の放射素子の
合成ベクトルの中から、任意の１素子の対応した移相器
（被測定移相器）の位相を回転させて信号を取り出して
いたため、不要な信号成分、つまり、被測定移相器に対
応する放射素子からの放出信号成分に対する所望の信号
成分、つまり、被測定移相器に対応して設けられた放射
素子からの放出信号成分の比率（以下、Ｄ／Ｕ比）が低
かった。その結果、気温やアンテナ筐体内の温度が変化
し、インテグラル・モニタ・マニホールドからの受信出
力中の被測定移相器に対応する放射素子以外の放射素子
によるベクトルの位相が変動すると、所望の信号への影
響も大きくなり、計測精度が非常に劣化するという問題
点があった。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明のフェーズドアレイアンテナの性能補償方
法は、複数の移相器に対応して設けられる複数の放射素
子から放出される信号と等価な信号の合成出力を第１の
合成出力として計測するとともに、被測定移相器を除く
全ての移相器の位相を反転させた状態で、複数の放射素
子から放出される信号と等価な信号の合成出力を第２の
合成出力として計測する。そして、第１の合成出力およ
び第２の合成出力に基づいて、被測定移相器の位相誤差
を算出し、その位相誤差にしたがって、被測定移相器の
移相量を補正するものである。
めに、本発明のフェーズドアレイアンテナの性能補償方
法は、複数の移相器に対応して設けられる複数の放射素
子から放出される信号と等価な信号の合成出力を第１の
合成出力として計測するとともに、被測定移相器を除く
全ての移相器の位相を反転させた状態で、複数の放射素
子から放出される信号と等価な信号の合成出力を第２の
合成出力として計測する。そして、第１の合成出力およ
び第２の合成出力に基づいて、被測定移相器の位相誤差
を算出し、その位相誤差にしたがって、被測定移相器の
移相量を補正するものである。
【００１５】さらに、本発明は、被測定移相器の位相を
所定量ずつシフトさせながら、第１の合成出力を計測
し、さらに、被測定移相器と除く全ての移相器の移相を
反転させた状態で、被測定移相器の位相を所定量ずつシ
フトさせながら、第２の合成出力を計測し、こうして計
測された第１および第２の合成出力に応じて被測定位相
器の位相誤差を算出するものである。ここで、第１およ
び第２の合成出力を計測する際に段階的にシフトされる
被測定移相器の位相のシフト量は、移相器によりシフト
される移相量の最小単位量としてもよい。
所定量ずつシフトさせながら、第１の合成出力を計測
し、さらに、被測定移相器と除く全ての移相器の移相を
反転させた状態で、被測定移相器の位相を所定量ずつシ
フトさせながら、第２の合成出力を計測し、こうして計
測された第１および第２の合成出力に応じて被測定位相
器の位相誤差を算出するものである。ここで、第１およ
び第２の合成出力を計測する際に段階的にシフトされる
被測定移相器の位相のシフト量は、移相器によりシフト
される移相量の最小単位量としてもよい。
【００１６】一方、本発明のフェーズドアレイアンテナ
は、送信電力を複数に分配する分配器と、その分配器に
より分配された出力をそれぞれ受ける複数の移相器と、
その複数の移相器の出力を受けるアレイ状に配置された
複数の放射素子と、その複数の移相器の移相量を制御す
ることによってビーム走査方向を制御するビーム走査制
御器とを備えるフェーズドアレイアンテナにおいて、複
数の放射素子から放出された信号を遠方界で受信したも
のと等価な合成出力をモニタするモニタ手段と、被測定
移相器の位相を所定量ずつシフトさせながら、モニタ手
段により得られる第１の合成出力と、被測定移相器以外
の複数の移相器の位相を反転させた後、被測定位相器の
位相を所定量ずつシフトさせながら、モニタ手段により
得られる第２の合成出力とに基づいて、被測定移相器の
位相誤差を算出する手段と、算出された位相誤差に基づ
いて、被測定移相器の移相量を補正する手段とを備える
ものである。
は、送信電力を複数に分配する分配器と、その分配器に
より分配された出力をそれぞれ受ける複数の移相器と、
その複数の移相器の出力を受けるアレイ状に配置された
複数の放射素子と、その複数の移相器の移相量を制御す
ることによってビーム走査方向を制御するビーム走査制
御器とを備えるフェーズドアレイアンテナにおいて、複
数の放射素子から放出された信号を遠方界で受信したも
のと等価な合成出力をモニタするモニタ手段と、被測定
移相器の位相を所定量ずつシフトさせながら、モニタ手
段により得られる第１の合成出力と、被測定移相器以外
の複数の移相器の位相を反転させた後、被測定位相器の
位相を所定量ずつシフトさせながら、モニタ手段により
得られる第２の合成出力とに基づいて、被測定移相器の
位相誤差を算出する手段と、算出された位相誤差に基づ
いて、被測定移相器の移相量を補正する手段とを備える
ものである。
【００１７】
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面を参照
して詳細に説明する。
して詳細に説明する。
【００１８】本実施例は、被測定移相器の位相を所定量
ずつ回転させながら複数の移相器に対応して設けられた
複数の放射素子から放射される信号と等価な信号の合成
出力を計測し、その後、被測定移相器を除く全ての移相
器の位相を反転させた状態で、同様に、被測定移相器の
移相器を所定量ずつ回転させながら前述と同様の合成出
力を計測する。そして、双方の計測結果に基づいて、不
要な信号による誤差成分を除去し、その不要な成分が除
去された位相誤差にしたがって、被測定移相器の移相量
を補正するものである。
ずつ回転させながら複数の移相器に対応して設けられた
複数の放射素子から放射される信号と等価な信号の合成
出力を計測し、その後、被測定移相器を除く全ての移相
器の位相を反転させた状態で、同様に、被測定移相器の
移相器を所定量ずつ回転させながら前述と同様の合成出
力を計測する。そして、双方の計測結果に基づいて、不
要な信号による誤差成分を除去し、その不要な成分が除
去された位相誤差にしたがって、被測定移相器の移相量
を補正するものである。
【００１９】図２は、本実施例の処理手順を示すフロー
チャートであり、図１に示す一般的なフェーズドアレイ
アンテナの性能補償装置のビーム走査制御器内のＣＰＵ
で行われる処理手順を示すものである。
チャートであり、図１に示す一般的なフェーズドアレイ
アンテナの性能補償装置のビーム走査制御器内のＣＰＵ
で行われる処理手順を示すものである。
【００２０】図１のフェーズドアレイアンテナの性能補
償装置の構成は、既に説明してあるため、その説明は省
略し、図２に示すフローチャートにしたがって、本実施
例の動作について説明する。
償装置の構成は、既に説明してあるため、その説明は省
略し、図２に示すフローチャートにしたがって、本実施
例の動作について説明する。
【００２１】まず、インテグラル・モニタ・マニホール
ド５からの受信出力の振幅が最大となるように、各移相
器３の移相量を制御する（Ｓ１０１）。次に、測定すべ
き移相器３（以下、被測定移相器３’とする）を指定し
（Ｓ１０２）、その被測定移相器３’の位相を０°にセ
ットする（Ｓ１０３）。つまり、Ｓ１０２では、移相器
３の番号がｉ＝１と初期化され、Ｓ１０３では、被測定
移相器３’の位相の回転回数がｎ＝１と初期化される。
この状態で、インテグラル・モニタ・マニホールド５か
らの受信出力に基づいて、合成出力Ａｉｎ（この場合
は、ｎ＝１）を計測し、そのデータを取り込む（Ｓ１０
４）。合成出力Ａｉ１が計測された後、被測定移相器
３’の位相を９０°回転させる（Ｓ１０５）。ここで、
この被測定移相器３’の位相の回転回数ｎはｎ＝２とな
る。位相を回転させた後、前述と同様に、合成出力Ａｉ
２を計測し、そのデータを取り込む（Ｓ１０４）。この
Ｓ１０４およびＳ１０５の処理は、被測定移相器３’の
位相の回転角度が３６０°、つまり、回転回数ｎ＝４に
なるまで繰り返される。ここまでの処理は、前述の従来
のフェーズドアレイアンテナの性能補償装置の動作にお
けるＳ２０１〜Ｓ２０５までの処理と同様である。
ド５からの受信出力の振幅が最大となるように、各移相
器３の移相量を制御する（Ｓ１０１）。次に、測定すべ
き移相器３（以下、被測定移相器３’とする）を指定し
（Ｓ１０２）、その被測定移相器３’の位相を０°にセ
ットする（Ｓ１０３）。つまり、Ｓ１０２では、移相器
３の番号がｉ＝１と初期化され、Ｓ１０３では、被測定
移相器３’の位相の回転回数がｎ＝１と初期化される。
この状態で、インテグラル・モニタ・マニホールド５か
らの受信出力に基づいて、合成出力Ａｉｎ（この場合
は、ｎ＝１）を計測し、そのデータを取り込む（Ｓ１０
４）。合成出力Ａｉ１が計測された後、被測定移相器
３’の位相を９０°回転させる（Ｓ１０５）。ここで、
この被測定移相器３’の位相の回転回数ｎはｎ＝２とな
る。位相を回転させた後、前述と同様に、合成出力Ａｉ
２を計測し、そのデータを取り込む（Ｓ１０４）。この
Ｓ１０４およびＳ１０５の処理は、被測定移相器３’の
位相の回転角度が３６０°、つまり、回転回数ｎ＝４に
なるまで繰り返される。ここまでの処理は、前述の従来
のフェーズドアレイアンテナの性能補償装置の動作にお
けるＳ２０１〜Ｓ２０５までの処理と同様である。
【００２２】被測定移相器３’の移相の回転回数がｎ＝
４となると、この回転回数ｎは再びｎ＝１に初期化され
る（Ｓ１０６）。次に、第ｉ番目の移相器３、つまり、
被測定移相器３’を除く全ての移相器３の位相を１８０
°反転させる（Ｓ１０７）。この状態で、前述のＳ１０
４およびＳ１０５の処理が、被測定移相器３’の位相の
回転角度が３６０°、つまり、回転回数ｎ＝４になるま
で繰り返される（Ｓ１０８およびＳ１０９）。Ｓ１０８
では、被測定移相器３’の位相の回転回数の各状態ごと
に、インテグラル・モニタ・マニホールド５からの受信
出力に基づいて、合成出力Ｂｉｎを計測し、そのデータ
を取り込む。
４となると、この回転回数ｎは再びｎ＝１に初期化され
る（Ｓ１０６）。次に、第ｉ番目の移相器３、つまり、
被測定移相器３’を除く全ての移相器３の位相を１８０
°反転させる（Ｓ１０７）。この状態で、前述のＳ１０
４およびＳ１０５の処理が、被測定移相器３’の位相の
回転角度が３６０°、つまり、回転回数ｎ＝４になるま
で繰り返される（Ｓ１０８およびＳ１０９）。Ｓ１０８
では、被測定移相器３’の位相の回転回数の各状態ごと
に、インテグラル・モニタ・マニホールド５からの受信
出力に基づいて、合成出力Ｂｉｎを計測し、そのデータ
を取り込む。
【００２３】ここで、図３は、Ｓ１０４およびＳ１０８
において得られた合成出力ＡｉｎおよびＢｉｎを説明す
る図であり、詳細は、従来技術の説明の欄で既に説明し
てある。ここで、合成出力Ｂｉｎを構成する被測定移相
器３’を除く他の放射素子４からの個々の出力ベクトル
１０’は、被測定移相器３’を除く全ての移相器３の位
相が反転されているために、被測定移相器３’に対応し
て設けられた放射素子４からの出力ベクトル以外は、全
て合成出力Ａｉｎを構成する被測定移相器３’を除く他
の放射素子４からの個々の出力ベクトル１０と点対象の
関係となっている。
において得られた合成出力ＡｉｎおよびＢｉｎを説明す
る図であり、詳細は、従来技術の説明の欄で既に説明し
てある。ここで、合成出力Ｂｉｎを構成する被測定移相
器３’を除く他の放射素子４からの個々の出力ベクトル
１０’は、被測定移相器３’を除く全ての移相器３の位
相が反転されているために、被測定移相器３’に対応し
て設けられた放射素子４からの出力ベクトル以外は、全
て合成出力Ａｉｎを構成する被測定移相器３’を除く他
の放射素子４からの個々の出力ベクトル１０と点対象の
関係となっている。
【００２４】図２に戻り、本実施例の動作説明を続ける
と、Ｓ１０４およびＳ１０８において得られた合成出力
Ａｉｎ（ｎ＝１、２、３、４）およびＢｉｎ（ｎ＝１、
２、３、４）は、検波器６により検波された時点で、ス
カラ量となっており、これらの値により、以下に示す式
を用いて、第ｉ番目の被測定移相器３’の位相誤差φを
算出する（Ｓ１１０）。
と、Ｓ１０４およびＳ１０８において得られた合成出力
Ａｉｎ（ｎ＝１、２、３、４）およびＢｉｎ（ｎ＝１、
２、３、４）は、検波器６により検波された時点で、ス
カラ量となっており、これらの値により、以下に示す式
を用いて、第ｉ番目の被測定移相器３’の位相誤差φを
算出する（Ｓ１１０）。
【００２５】
【００２６】算出された位相誤差φが、予め定められた
その被測定移相器３’の給電位相に対し、許容値以上ず
れているか否かを判定し、ずれている場合には、その被
測定移相器３’の移相量を補正する（Ｓ１１１）。そし
て、このＳ１０２からＳ１１１までの処理を、全部の移
相器３に対して、つまり、ｉ＝１からｉ＝ｉｍａｘ（設
置された移相器３の個数）になるまで、繰り返し実行す
る。
その被測定移相器３’の給電位相に対し、許容値以上ず
れているか否かを判定し、ずれている場合には、その被
測定移相器３’の移相量を補正する（Ｓ１１１）。そし
て、このＳ１０２からＳ１１１までの処理を、全部の移
相器３に対して、つまり、ｉ＝１からｉ＝ｉｍａｘ（設
置された移相器３の個数）になるまで、繰り返し実行す
る。
【００２７】本実施例では、１つの被測定移相器ごとに
その移相量を補正するようにしたが、全ての補正データ
を格納しておき、システム運用中の所定のタイミング
で、その補正データに基づいて、全ての移相器の移相量
を補正するようにしてもよい。また、所定期間、この位
相誤差の算出を継続し、その平均補正データに基づい
て、各移相器の移相量を補正するようにしてもよい。
その移相量を補正するようにしたが、全ての補正データ
を格納しておき、システム運用中の所定のタイミング
で、その補正データに基づいて、全ての移相器の移相量
を補正するようにしてもよい。また、所定期間、この位
相誤差の算出を継続し、その平均補正データに基づい
て、各移相器の移相量を補正するようにしてもよい。
【００２８】さらに、本実施例では、被測定移相器の位
相を９０°ずつ回転させながら、その合成ベクトルを検
出し、その検出結果に基づいて、その被測定移相器の位
相誤差の計算を行っているが、この位相の１回の位相回
転角度は９０°に限定されるものではない。例えば、移
相器として、図４（ａ）に示すような４ビットの移相器
３を用いた場合には、その最小移相量は２２．５°であ
ることから、被測定移相器の１回の位相回転角度を２
２．５°とすれば、計算量は多くなるものの、算出され
る位相誤差の精度は向上することになる。
相を９０°ずつ回転させながら、その合成ベクトルを検
出し、その検出結果に基づいて、その被測定移相器の位
相誤差の計算を行っているが、この位相の１回の位相回
転角度は９０°に限定されるものではない。例えば、移
相器として、図４（ａ）に示すような４ビットの移相器
３を用いた場合には、その最小移相量は２２．５°であ
ることから、被測定移相器の１回の位相回転角度を２
２．５°とすれば、計算量は多くなるものの、算出され
る位相誤差の精度は向上することになる。
【００２９】ここで、４ビットの移相器３を用いて所望
の移相量を得る場合について図４を参照して説明する。
４ビットの移相器３は、２２．５°、４５°、９０°お
よび１８０°の４つの位相シフト回路１１が備えられて
おり、ビーム走査制御器８からの制御データに基づいて
ドライバ回路１２が所望の位相シフト回路１１を動作さ
せて所望の移相量を得るというものである。例えば、１
２３°の移相量が所望の場合、まず、２２．５°刻みで
１２３°に最も近い移相量を得る、つまり、２２．５°
で量子化する。すると、１２３／２２．５＝５．４６・
・・となり、この値を四捨五入した値５を４ビットで表
記すると図４（ｂ）のようになる。したがって、９０°
と２２．５°の位相シフト回路１１を動作させて合計１
１２．５°の移相量を得る。ここで、１１２．５°と１
２３°との差−１０．５°を位相誤差または量子化誤差
という。したがって、図２に示すフローチャートにおけ
るＳ１１１で行われる補正処理では、算出された位相誤
差を最小とするために必要であるならば、２２．５°の
位相シフト回路１１や４５°の位相シフト回路１１の動
作を制御することにより、移相量が補正される。
の移相量を得る場合について図４を参照して説明する。
４ビットの移相器３は、２２．５°、４５°、９０°お
よび１８０°の４つの位相シフト回路１１が備えられて
おり、ビーム走査制御器８からの制御データに基づいて
ドライバ回路１２が所望の位相シフト回路１１を動作さ
せて所望の移相量を得るというものである。例えば、１
２３°の移相量が所望の場合、まず、２２．５°刻みで
１２３°に最も近い移相量を得る、つまり、２２．５°
で量子化する。すると、１２３／２２．５＝５．４６・
・・となり、この値を四捨五入した値５を４ビットで表
記すると図４（ｂ）のようになる。したがって、９０°
と２２．５°の位相シフト回路１１を動作させて合計１
１２．５°の移相量を得る。ここで、１１２．５°と１
２３°との差−１０．５°を位相誤差または量子化誤差
という。したがって、図２に示すフローチャートにおけ
るＳ１１１で行われる補正処理では、算出された位相誤
差を最小とするために必要であるならば、２２．５°の
位相シフト回路１１や４５°の位相シフト回路１１の動
作を制御することにより、移相量が補正される。
【００３０】図５は、ダイナミックにビーム走査を行
い、ビーム指向精度を計算した結果を示すものであり、
（ａ）に示す従来の方法による計算結果と、（ｂ）およ
び（ｃ）に示す本実施例の方法による計算結果を比較す
ることにより、本実施例の優位性つまり、ビーム指向精
度のばらつきが改善されていることが容易に理解でき
る。ここで、図５（ｂ）は、被測定移相器の位相を９０
°ずつ回転させた場合の計算結果であり、（ｃ）は、被
測定移相器の位相を２２．５°ずつ回転させた場合の計
算結果を示すものである。この図５に示すシミュレーシ
ョンは、ＭＬＳに適用されるフェーズドアレイアンテナ
を用い、さらに、パラメータ例として、（１）素子数
７８、（２）素子間隔 ３３ｍｍ、（３）周波数 ５０
６１ＭＨｚ、（４）移相器 ４ｂｉｔ（ディジタル）、
（５）放射素子パターン ｃｏｓθ、（６）ビーム形成
角 ０°を用いて、乱数により位相のばらつきの与え方
を変え、かつ、算出された位相誤差に基づいて位相補正
を行ったものである（ここで、試行回数は各ケースにつ
き３０回である）。
い、ビーム指向精度を計算した結果を示すものであり、
（ａ）に示す従来の方法による計算結果と、（ｂ）およ
び（ｃ）に示す本実施例の方法による計算結果を比較す
ることにより、本実施例の優位性つまり、ビーム指向精
度のばらつきが改善されていることが容易に理解でき
る。ここで、図５（ｂ）は、被測定移相器の位相を９０
°ずつ回転させた場合の計算結果であり、（ｃ）は、被
測定移相器の位相を２２．５°ずつ回転させた場合の計
算結果を示すものである。この図５に示すシミュレーシ
ョンは、ＭＬＳに適用されるフェーズドアレイアンテナ
を用い、さらに、パラメータ例として、（１）素子数
７８、（２）素子間隔 ３３ｍｍ、（３）周波数 ５０
６１ＭＨｚ、（４）移相器 ４ｂｉｔ（ディジタル）、
（５）放射素子パターン ｃｏｓθ、（６）ビーム形成
角 ０°を用いて、乱数により位相のばらつきの与え方
を変え、かつ、算出された位相誤差に基づいて位相補正
を行ったものである（ここで、試行回数は各ケースにつ
き３０回である）。
【００３１】本実施例では、複数の放射素子４からの放
出信号により形成される合成ビームをインテグラル・モ
ニタ・マニホールド５で検出し、その受信出力に基づい
て、各放射素子４に対応した移相器３の位相誤差を算出
しているが、図６に示すように、各放射素子４の給電部
付近にインテグラル・モニタ・マニホールド５’を設
け、これにより、各放射素子４への給電電力の一部を取
り出し、ビーム走査アンテナの放射波を空間で受信した
のと同様の信号を合成し、その受信出力に基づいて位相
誤差を算出するようにしてもよい。
出信号により形成される合成ビームをインテグラル・モ
ニタ・マニホールド５で検出し、その受信出力に基づい
て、各放射素子４に対応した移相器３の位相誤差を算出
しているが、図６に示すように、各放射素子４の給電部
付近にインテグラル・モニタ・マニホールド５’を設
け、これにより、各放射素子４への給電電力の一部を取
り出し、ビーム走査アンテナの放射波を空間で受信した
のと同様の信号を合成し、その受信出力に基づいて位相
誤差を算出するようにしてもよい。
【００３２】本実施例における補正処理は、例えば、本
実施例をＭＬＳに適用した場合には、図７に示すそのＭ
ＬＳの動作シーケンス中の休止期間を利用したタイミン
グで行う行うことができる。図７において、ＥＬは高低
誘導装置の動作タイミングを示し、ＡＺは方位誘導装置
の動作タイミングを示し、ＢＡＺは、後方方位誘導装置
の動作タイミングを示すものである。一例として、高低
誘導装置に本実施例の性能補償装置を適用した場合、Ｓ
ＥＱ１で、休止期間Ａ、ＢおよびＣのそれぞれのタイミ
ングで、各移相器の補正データを算出し、さらに、それ
らの平均値を算出する。そして、その平均補正データに
基づいて、休止期間Ｄで各移相器の移相量を補正する。
そして、移相器の移相量が補正された状態で、ＳＥＱ２
が実行されることになる。この補正処理をＳＥＱ１およ
びＳＥＱ２の双方において繰り返し実行するようにす
る。ただし、この補正処理の動作タイミングは、これに
限定されるものではない。
実施例をＭＬＳに適用した場合には、図７に示すそのＭ
ＬＳの動作シーケンス中の休止期間を利用したタイミン
グで行う行うことができる。図７において、ＥＬは高低
誘導装置の動作タイミングを示し、ＡＺは方位誘導装置
の動作タイミングを示し、ＢＡＺは、後方方位誘導装置
の動作タイミングを示すものである。一例として、高低
誘導装置に本実施例の性能補償装置を適用した場合、Ｓ
ＥＱ１で、休止期間Ａ、ＢおよびＣのそれぞれのタイミ
ングで、各移相器の補正データを算出し、さらに、それ
らの平均値を算出する。そして、その平均補正データに
基づいて、休止期間Ｄで各移相器の移相量を補正する。
そして、移相器の移相量が補正された状態で、ＳＥＱ２
が実行されることになる。この補正処理をＳＥＱ１およ
びＳＥＱ２の双方において繰り返し実行するようにす
る。ただし、この補正処理の動作タイミングは、これに
限定されるものではない。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のフェーズ
ドアレイアンテナの性能補償方法および装置によれば、
被測定移相器を除く全ての移相器の位相を反転させるこ
とにより、不要な信号成分を除去したために、位相誤差
の計測がより高精度に行うことができる。したがって、
温度特性に非常に優れたフェーズドアレイアンテナを実
現することができる。
ドアレイアンテナの性能補償方法および装置によれば、
被測定移相器を除く全ての移相器の位相を反転させるこ
とにより、不要な信号成分を除去したために、位相誤差
の計測がより高精度に行うことができる。したがって、
温度特性に非常に優れたフェーズドアレイアンテナを実
現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】一般的なフェーズドアレイアンテナの性能補償
装置の構成を示すブロック図である。
装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施例の動作手順を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図３】本発明の一実施例における各放射素子からの放
射信号のベクトル合成図である。
射信号のベクトル合成図である。
【図４】本発明の一実施例で適用される移相器の一例を
示す図である。
示す図である。
【図５】フェーズドアレイアンテナからのビームの指向
精度を示す図であり、（ａ）は、従来の方法により補正
が行われた場合のビーム指向精度を示すものであり、
（ｂ）および（ｃ）は、本発明の第１の実施例により補
正が行われた場合のビーム指向精度を示すものである。
精度を示す図であり、（ａ）は、従来の方法により補正
が行われた場合のビーム指向精度を示すものであり、
（ｂ）および（ｃ）は、本発明の第１の実施例により補
正が行われた場合のビーム指向精度を示すものである。
【図６】本発明の他の実施例の主要部分の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図７】本発明のフェーズドアレイアンテナの性能補償
装置をマイクロ波着陸システムに用いた場合の制御信号
のフォーマットを示す図である。
装置をマイクロ波着陸システムに用いた場合の制御信号
のフォーマットを示す図である。
【図８】従来のフェーズドアレイアンテナの性能補償装
置の動作手順を示すフローチャートである。
置の動作手順を示すフローチャートである。
【図９】従来のフェーズドアレイアンテナの性能補償装
置における各放射素子からの放射信号のベクトル合成図
である。
置における各放射素子からの放射信号のベクトル合成図
である。
１ 送信源 ２ 電力分配器 ３ 移相器 ３’ 被測定移相器 ４ 放射素子 ５、５’ インテグラル・モニタ・マニホールド ６ 検波器 ７ Ａ／Ｄ変換器 ８ ビーム走査制御器 ９ ＣＰＵ １１ 位相シフト回路 １２ ドライブ回路
Claims (6)
- 【請求項１】 複数の移相器に対応して設けられる複数
の放射素子から放出される信号と等価な信号の合成出力
を第１の合成出力として計測する第１のステップと、 被測定移相器を除く全ての前記移相器の位相を反転させ
た状態で、前記複数の放射素子から放出される信号と等
価な信号の合成出力を第２の合成出力として計測する第
２のステップと、 前記第１の合成出力および第２の合成出力に基づいて、
前記被測定移相器の位相誤差を算出する第３のステップ
と、 前記位相誤差にしたがって、前記被測定移相器の移相量
を補正する第４のステップとを含むことを特徴とするフ
ェーズドアレイアンテナの性能補償方法。 - 【請求項２】 前記第１のステップは、 前記被測定移相器の移相を所定量ずつシフトさせなが
ら、前記複数の放射素子から放出される信号と等価な信
号の合成出力を第１の合成出力として計測するステップ
であり、 前記第２のステップは、 前記被測定移相器を除く全ての前記移相器の位相を１８
０°反転させた状態で、前記被測定移相器の位相を前記
所定量ずつシフトさせながら、前記複数の放射素子から
放出される信号と等価な信号の合成出力を第２の合成出
力として計測するステップであることを特徴とする前記
請求項１に記載のフェーズドアレイアンテナの性能補償
方法。 - 【請求項３】 前記所定量は、前記移相器によりシフト
可能な移相量の最小単位量であることを特徴とする前記
請求項２に記載のフェーズドアレイアンテナの性能補償
方法。 - 【請求項４】 送信電力を複数に分配する分配器と、 前記分配器により分配された出力をそれぞれ受ける複数
の移相器と、 前記複数の移相器の出力を受けるアレイ状に配置された
複数の放射素子と、 前記複数の移相器の移相量を制御することによってビー
ム走査方向を制御するビーム走査制御器とを備えるフェ
ーズドアレイアンテナにおいて、 前記複数の放射素子から放出された信号を遠方界で受信
したものと等価な信号の合成出力をモニタするモニタ手
段と、 前記モニタ手段のモニタ結果に基づいて、移相量を補正
すべき被測定移相器以外の他の全ての移相器による前記
合成出力における位相誤差成分を除去する除去手段と、 前記除去手段による位相誤差成分の除去の後、前記モニ
タ手段からの出力に基づいて前記被測定移相器の移相量
を補正する補正手段とを備えることを特徴とするフェー
ズドアレイアンテナ。 - 【請求項５】 送信電力を複数に分配する分配器と、 前記分配器により分配された出力をそれぞれ受ける複数
の移相器と、 前記複数の移相器の出力を受けるアレイ状に配置された
複数の放射素子と、 前記複数の移相器の移相量を制御することによってビー
ム走査方向を制御するビーム走査制御器とを備えるフェ
ーズドアレイアンテナにおいて、 前記複数の放射素子から放出された信号を遠方界で受信
したものと等価な信号の合成出力をモニタするモニタ手
段と、 被測定移相器の位相を所定量ずつシフトさせながら、前
記モニタ手段により得られる第１の合成出力と、前記被
測定移相器以外の前記複数の移相器の位相を反転させた
後、前記被測定位相器の位相を所定量ずつシフトさせな
がら、前記モニタ手段により得られる第２の合成出力と
に基づいて、前記被測定移相器の位相誤差を算出する手
段と、 算出された位相誤差に基づいて、前記被測定移相器の移
相量を補正する手段とを備えることを特徴とするフェー
ズドアレイアンテナ。 - 【請求項６】 前記移相器は、 前記放射素子から放出されるビームの位相をシフトする
複数の位相シフト回路と、 前記ビーム走査制御器からの制御信号により前記位相シ
フト回路を駆動するドライブ回路とを備えるものであっ
て、 前記所定量は、前記位相シフト回路によりシフトされる
移相量の最小単位量であることを特徴とする前記請求項
５に記載のフェーズドアレイアンテナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7086721A JP2877021B2 (ja) | 1995-04-12 | 1995-04-12 | フェーズドアレイアンテナの性能補償方法およびフェ ーズドアレイアンテナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7086721A JP2877021B2 (ja) | 1995-04-12 | 1995-04-12 | フェーズドアレイアンテナの性能補償方法およびフェ ーズドアレイアンテナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08288734A true JPH08288734A (ja) | 1996-11-01 |
| JP2877021B2 JP2877021B2 (ja) | 1999-03-31 |
Family
ID=13894747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7086721A Expired - Fee Related JP2877021B2 (ja) | 1995-04-12 | 1995-04-12 | フェーズドアレイアンテナの性能補償方法およびフェ ーズドアレイアンテナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2877021B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1123633A (ja) * | 1997-07-01 | 1999-01-29 | Mitsubishi Electric Corp | アンテナの励振定数測定装置 |
| EP0959522A1 (en) * | 1998-05-19 | 1999-11-24 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Method for determining phase correction values in radar apparatus |
| WO2004013644A1 (ja) * | 2002-08-06 | 2004-02-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | アンテナ測定装置および方法 |
| JP2012122874A (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Denso Corp | フェーズドアレイアンテナの位相校正方法及びフェーズドアレイアンテナ |
| WO2019107853A1 (ko) * | 2017-11-28 | 2019-06-06 | 삼성전자 주식회사 | 빔포밍을 위한 위상을 설정하는 방법, 이를 위한 전자 장치, 및 시스템 |
| CN112394328A (zh) * | 2020-10-20 | 2021-02-23 | 中国科学院空天信息创新研究院 | 一种波束控制方法和sar系统 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03174805A (ja) * | 1989-09-11 | 1991-07-30 | Nec Corp | フェーズドアレイ空中線の性能補償装置 |
| JPH03248602A (ja) * | 1990-02-27 | 1991-11-06 | Nec Corp | アンテナ開口位相面の自動補正方式 |
-
1995
- 1995-04-12 JP JP7086721A patent/JP2877021B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| EP0959522A1 (en) * | 1998-05-19 | 1999-11-24 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Method for determining phase correction values in radar apparatus |
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| JP2012122874A (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Denso Corp | フェーズドアレイアンテナの位相校正方法及びフェーズドアレイアンテナ |
| DE102011088046B4 (de) | 2010-12-09 | 2023-11-23 | Denso Corporation | Phased-Array-Antenne und Phasenkalibrierungsverfahren |
| WO2019107853A1 (ko) * | 2017-11-28 | 2019-06-06 | 삼성전자 주식회사 | 빔포밍을 위한 위상을 설정하는 방법, 이를 위한 전자 장치, 및 시스템 |
| CN112394328A (zh) * | 2020-10-20 | 2021-02-23 | 中国科学院空天信息创新研究院 | 一种波束控制方法和sar系统 |
| CN112394328B (zh) * | 2020-10-20 | 2023-07-14 | 中国科学院空天信息创新研究院 | 一种波束控制方法和sar系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2877021B2 (ja) | 1999-03-31 |
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