JPH08285789A - 欠点検出方法における２値化レベルの決定方法 - Google Patents
欠点検出方法における２値化レベルの決定方法Info
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- JPH08285789A JPH08285789A JP9205395A JP9205395A JPH08285789A JP H08285789 A JPH08285789 A JP H08285789A JP 9205395 A JP9205395 A JP 9205395A JP 9205395 A JP9205395 A JP 9205395A JP H08285789 A JPH08285789 A JP H08285789A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 欠点をガスによる丸泡欠点とガス以外の異物
欠点とに分類して検出する欠点検出方法における２値化
レベルの決定方法を提供する。 【構成】 搬送する透光性板状体の一方の面から光を照
射し、他方の面で透光性板状体をカメラで撮影し、前記
カメラの出力する輝度信号を２値化レベルで２値化し、
２値画像により前記透光性板状体中に存在する欠点を検
出する欠点検出方法において、２値化レベルを、丸泡欠
点の２値画像の形状が丸泡欠点の輪郭部のみとなるよう
に決定する。
欠点とに分類して検出する欠点検出方法における２値化
レベルの決定方法を提供する。 【構成】 搬送する透光性板状体の一方の面から光を照
射し、他方の面で透光性板状体をカメラで撮影し、前記
カメラの出力する輝度信号を２値化レベルで２値化し、
２値画像により前記透光性板状体中に存在する欠点を検
出する欠点検出方法において、２値化レベルを、丸泡欠
点の２値画像の形状が丸泡欠点の輪郭部のみとなるよう
に決定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、板ガラスのような透光
性板状体の欠点検出において、欠陥をガスによる泡欠点
とガス以外の異物欠点とに分離して検出する欠点検出方
法および装置に関し、特に２値化処理における２値化レ
ベルの決定方法に関する。
性板状体の欠点検出において、欠陥をガスによる泡欠点
とガス以外の異物欠点とに分離して検出する欠点検出方
法および装置に関し、特に２値化処理における２値化レ
ベルの決定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】板ガラスは、現在ほとんどフロート製法
により生産されている。フロート製法では、溶解窯にお
いて原料を溶解し、均一なガラス素地を作り、錫のよう
な溶融金属の入ったフロートバスに溶融したガラス素子
を流し、ガラスを板状に成形する。成形された板ガラス
は徐冷窯で徐冷された後、切断され、パッキングされ
る。
により生産されている。フロート製法では、溶解窯にお
いて原料を溶解し、均一なガラス素地を作り、錫のよう
な溶融金属の入ったフロートバスに溶融したガラス素子
を流し、ガラスを板状に成形する。成形された板ガラス
は徐冷窯で徐冷された後、切断され、パッキングされ
る。
【０００３】このようなフロート製法においては、特
に、原料の溶解過程の際に発生したガスが気泡となって
溶融ガラスに存在する。このような気泡を溶融ガラス中
から除去することは「清澄」と呼ばれているが、完全に
清澄されずに溶融ガラス中に残存したものが泡欠点であ
る。また、このような泡欠点以外に、溶解およびフロー
ト過程の際に気泡以外の異物、たとえば未溶解成分から
なる異物が溶融ガラス中に残存した異物欠点がある。
に、原料の溶解過程の際に発生したガスが気泡となって
溶融ガラスに存在する。このような気泡を溶融ガラス中
から除去することは「清澄」と呼ばれているが、完全に
清澄されずに溶融ガラス中に残存したものが泡欠点であ
る。また、このような泡欠点以外に、溶解およびフロー
ト過程の際に気泡以外の異物、たとえば未溶解成分から
なる異物が溶融ガラス中に残存した異物欠点がある。
【０００４】通常の板ガラスなどの透光性板状体におい
て局所的に存在する欠陥を検査する従来の欠点検出装置
は、検査対象物体である通常の板ガラスを一定方向に搬
送させながら、この板ガラスの一方の面からその全幅に
わたって光を照射して、板ガラスの他方の面から適当に
離れた位置に配置したラインセンサの受光部により、こ
の板ガラスを透過した光を受光するように構成されてい
る。そして、この受光部により受光した光を光電変換す
ることによって、１回の読み取り走査毎にその読み取り
画素信号が取り出される。
て局所的に存在する欠陥を検査する従来の欠点検出装置
は、検査対象物体である通常の板ガラスを一定方向に搬
送させながら、この板ガラスの一方の面からその全幅に
わたって光を照射して、板ガラスの他方の面から適当に
離れた位置に配置したラインセンサの受光部により、こ
の板ガラスを透過した光を受光するように構成されてい
る。そして、この受光部により受光した光を光電変換す
ることによって、１回の読み取り走査毎にその読み取り
画素信号が取り出される。
【０００５】この場合、板ガラスに照射される光は、こ
の板ガラス中の欠陥のない正常な領域ではそのほとんど
全部が透過して板ガラスから射出されるので、このよう
な正常な領域においては大きな透過光量が得られる。し
かし、板ガラスの内部の気泡や板ガラスの未溶解成分な
どから成る点状，線状，リング状などの遮光性欠陥があ
る領域では、この遮光性欠陥により光が吸収あるいは反
射されるので、このような欠陥領域においては透過光量
が小さくなる。このために、読み取り画素信号の値は、
板ガラスの欠陥領域では正常な領域に較べて低減する。
したがって、読み取り画素信号の値を或る基準値（２値
化レベル）以上のときには正常であり、かつ基準値未満
のときには遮光性欠陥があると判定する２値化処理によ
って、板ガラスの遮光性欠陥を容易に検出することがで
きる。
の板ガラス中の欠陥のない正常な領域ではそのほとんど
全部が透過して板ガラスから射出されるので、このよう
な正常な領域においては大きな透過光量が得られる。し
かし、板ガラスの内部の気泡や板ガラスの未溶解成分な
どから成る点状，線状，リング状などの遮光性欠陥があ
る領域では、この遮光性欠陥により光が吸収あるいは反
射されるので、このような欠陥領域においては透過光量
が小さくなる。このために、読み取り画素信号の値は、
板ガラスの欠陥領域では正常な領域に較べて低減する。
したがって、読み取り画素信号の値を或る基準値（２値
化レベル）以上のときには正常であり、かつ基準値未満
のときには遮光性欠陥があると判定する２値化処理によ
って、板ガラスの遮光性欠陥を容易に検出することがで
きる。
【０００６】この２値化処理の２値化レベルを決める方
法には、画素信号のヒストグラムを用いる方法や、検出
したい最小の大きさの欠点が検出できる２値化レベルを
経験的に決める方法がある。
法には、画素信号のヒストグラムを用いる方法や、検出
したい最小の大きさの欠点が検出できる２値化レベルを
経験的に決める方法がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】図１に欠点検出のため
の検査系を示す。図１において、検査対象物体は板ガラ
ス１である。図１（ａ）は、板ガラス１をラインセンサ
ＬＳ側から見た斜視図、（ｂ）は板ガラス１の断面図で
ある。
の検査系を示す。図１において、検査対象物体は板ガラ
ス１である。図１（ａ）は、板ガラス１をラインセンサ
ＬＳ側から見た斜視図、（ｂ）は板ガラス１の断面図で
ある。
【０００８】板ガラス１は図１に示すように、異物２，
丸泡３，破れ泡４などの種々の遮光性欠陥を有してい
る。なお、以下、「遮光性欠陥」を単に「欠点」とい
う。
丸泡３，破れ泡４などの種々の遮光性欠陥を有してい
る。なお、以下、「遮光性欠陥」を単に「欠点」とい
う。
【０００９】検出された欠点は複数の種類があり、それ
ぞれの欠点によって合否の基準が異なっている。例え
ば、破れ泡欠点４の様に板ガラスの流れ方向に長い欠点
は、他の欠点と明らかに異なるので種類を特定すること
が容易であるが、異物欠点２や丸泡欠点３は、欠点が同
じ様な縦と横の比率の大きさを持つ場合には、種類を特
定することが困難である。
ぞれの欠点によって合否の基準が異なっている。例え
ば、破れ泡欠点４の様に板ガラスの流れ方向に長い欠点
は、他の欠点と明らかに異なるので種類を特定すること
が容易であるが、異物欠点２や丸泡欠点３は、欠点が同
じ様な縦と横の比率の大きさを持つ場合には、種類を特
定することが困難である。
【００１０】この様な種類の特定が困難な欠点では、あ
る大きさ以上の欠点は種類によらず不合格であるが、そ
れ以下の欠点は、種類によって合否の大きさの規格が異
なっている場合がある。例えば、直径が約３ｍｍ以下の
丸泡欠点３と異物欠点２は縦と横の比率がほぼ等しい形
状を持っているが、ある大きさの丸泡欠点３は合格とな
り、同じ大きさの異物欠点２は不合格となる。これは、
ある大きさ以上の異物欠点２は板ガラスの切断や磨き工
程で割れの原因になることがあるので、他の欠点と判別
して検出する必要があるからである。
る大きさ以上の欠点は種類によらず不合格であるが、そ
れ以下の欠点は、種類によって合否の大きさの規格が異
なっている場合がある。例えば、直径が約３ｍｍ以下の
丸泡欠点３と異物欠点２は縦と横の比率がほぼ等しい形
状を持っているが、ある大きさの丸泡欠点３は合格とな
り、同じ大きさの異物欠点２は不合格となる。これは、
ある大きさ以上の異物欠点２は板ガラスの切断や磨き工
程で割れの原因になることがあるので、他の欠点と判別
して検出する必要があるからである。
【００１１】図１の検査系で、丸泡欠点３と異物欠点２
のラインセンサＬＳからの輝度信号５を採取して、ライ
ンセンサの分解能で規格化した目視による直径に対する
輝度のグラフを作成したものの一例を図２に示す。図３
には、図２で示した直径に対する輝度分布が、異物欠点
２および丸泡分布３の輝度分布のどの部分に対応するか
を示してある。肉眼で観察すると、丸泡欠点３は輪郭の
み輝度が小さく中央は輝度が大きなリング状に見える。
のラインセンサＬＳからの輝度信号５を採取して、ライ
ンセンサの分解能で規格化した目視による直径に対する
輝度のグラフを作成したものの一例を図２に示す。図３
には、図２で示した直径に対する輝度分布が、異物欠点
２および丸泡分布３の輝度分布のどの部分に対応するか
を示してある。肉眼で観察すると、丸泡欠点３は輪郭の
み輝度が小さく中央は輝度が大きなリング状に見える。
【００１２】図２において、６は異物欠点の直径に対す
る輝度分布の一例を示しており、直径が大きくなるにし
たがって輝度が低下している。また、７は丸泡欠点の最
も輝度の小さい部分の直径に対する輝度分布の一例を示
しており、直径が大きくなるにしたがって輝度が低下し
ている。また、８はリング状の丸泡欠点のリング部の直
径に対する輝度分布の一例、９はリング状の丸泡欠点の
穴部の直径に対する輝度分布の一例を示しており、直径
約３．５付近で丸泡欠点がリング状になり始めることが
理解されるであろう。輝度分布８は直径が大きくなるに
したがって低下し、輝度分布９は直径が大きくなるにし
たがって上昇する。
る輝度分布の一例を示しており、直径が大きくなるにし
たがって輝度が低下している。また、７は丸泡欠点の最
も輝度の小さい部分の直径に対する輝度分布の一例を示
しており、直径が大きくなるにしたがって輝度が低下し
ている。また、８はリング状の丸泡欠点のリング部の直
径に対する輝度分布の一例、９はリング状の丸泡欠点の
穴部の直径に対する輝度分布の一例を示しており、直径
約３．５付近で丸泡欠点がリング状になり始めることが
理解されるであろう。輝度分布８は直径が大きくなるに
したがって低下し、輝度分布９は直径が大きくなるにし
たがって上昇する。
【００１３】従来の２値化方法では、小さな丸泡欠点を
検出するために、例えば、検出したい丸泡欠点の最小の
大きさを優先してその大きさを直径１とすると、図２の
例では、丸泡欠点３の最低輝度７よりも高い輝度レベル
に２値化レベルを設定しなければならない。照明および
欠点のばらつきによる輝度レベルの変動の合計が仮に５
％あるとしたら、確実に直径１の丸泡欠点３を検出する
ためには、約−１０％から−１５％付近に２値化レベル
を設定する必要があるが、この２値化レベルで２値化し
た場合には、得られた丸泡欠点の２値画像がリング状に
ならない場合があり、丸泡欠点と異物欠点との区別がで
きない、すなわち欠点の分類を確実に行うことができな
い。
検出するために、例えば、検出したい丸泡欠点の最小の
大きさを優先してその大きさを直径１とすると、図２の
例では、丸泡欠点３の最低輝度７よりも高い輝度レベル
に２値化レベルを設定しなければならない。照明および
欠点のばらつきによる輝度レベルの変動の合計が仮に５
％あるとしたら、確実に直径１の丸泡欠点３を検出する
ためには、約−１０％から−１５％付近に２値化レベル
を設定する必要があるが、この２値化レベルで２値化し
た場合には、得られた丸泡欠点の２値画像がリング状に
ならない場合があり、丸泡欠点と異物欠点との区別がで
きない、すなわち欠点の分類を確実に行うことができな
い。
【００１４】本発明の目的は、欠点をガスによる丸泡欠
点とガス以外の異物欠点とに分類して検出する欠点検出
方法における２値化レベルの決定方法を提供することに
ある。
点とガス以外の異物欠点とに分類して検出する欠点検出
方法における２値化レベルの決定方法を提供することに
ある。
【００１５】本発明の他の目的は、丸泡欠点と異物欠点
とを分類して検出すると共に、板ガラスの切断や磨き工
程で割れの原因になる異物欠点を確実に検出できる欠点
検出方法を提供することにある。
とを分類して検出すると共に、板ガラスの切断や磨き工
程で割れの原因になる異物欠点を確実に検出できる欠点
検出方法を提供することにある。
【００１６】本発明のさらに他の目的は、上記方法を実
施する欠点検出装置を提供することにある。
施する欠点検出装置を提供することにある。
【００１７】
【発明の概要】本発明によれば、搬送する透光性板状体
の一方の面から光を照射し、他方の面で前記透光性板状
体をカメラで撮影し、前記カメラの出力する輝度信号を
２値化レベルで２値化し、２値画像により前記透光性板
状体中に存在する欠点を検出する欠点検出方法におい
て、前記２値化レベルを、丸泡欠点の２値画像の形状が
丸泡欠点の輪郭部のみとなるように決定する。その結
果、丸泡欠点の２値画像はリング状となり、異物欠点の
２値画像とは明確に異なる。したがって、２値画像か
ら、丸泡欠点と異物欠点とを明確に分類しつつ、欠点の
検出が可能となる。
の一方の面から光を照射し、他方の面で前記透光性板状
体をカメラで撮影し、前記カメラの出力する輝度信号を
２値化レベルで２値化し、２値画像により前記透光性板
状体中に存在する欠点を検出する欠点検出方法におい
て、前記２値化レベルを、丸泡欠点の２値画像の形状が
丸泡欠点の輪郭部のみとなるように決定する。その結
果、丸泡欠点の２値画像はリング状となり、異物欠点の
２値画像とは明確に異なる。したがって、２値画像か
ら、丸泡欠点と異物欠点とを明確に分類しつつ、欠点の
検出が可能となる。
【００１８】
【実施例】本発明を、透過照明を用いて板ガラスの欠点
を検出する欠点検出装置に適用した一実施例を図面を参
照して説明する。本実施例では、図１に示した検出系を
用いるものとする。また、図４には、欠点検出装置の構
成を示す。
を検出する欠点検出装置に適用した一実施例を図面を参
照して説明する。本実施例では、図１に示した検出系を
用いるものとする。また、図４には、欠点検出装置の構
成を示す。
【００１９】図１に示すように、板ガラス１を所定の走
査ラインＬに沿って撮像するために、この板ガラス１の
一方の面に対向するようにラインセンサＬＳが配設さ
れ、また、他方の面に対向するように照明装置（図示せ
ず）が配設されている。そして、照明装置からの光が板
ガラス１を透過してからラインセンサＬＳの受光部に入
射するように構成されている。図１において、矢印Ｘ
は、走査ラインＬにおける走査方向を示し、矢印Ｙは、
板ガラス１の搬送方向であって、矢印Ｘとほぼ直交して
いる。矢印Ｚは、板ガラス１の厚み方向を示している。
査ラインＬに沿って撮像するために、この板ガラス１の
一方の面に対向するようにラインセンサＬＳが配設さ
れ、また、他方の面に対向するように照明装置（図示せ
ず）が配設されている。そして、照明装置からの光が板
ガラス１を透過してからラインセンサＬＳの受光部に入
射するように構成されている。図１において、矢印Ｘ
は、走査ラインＬにおける走査方向を示し、矢印Ｙは、
板ガラス１の搬送方向であって、矢印Ｘとほぼ直交して
いる。矢印Ｚは、板ガラス１の厚み方向を示している。
【００２０】この検査系で、丸泡欠点３と異物欠点２の
ラインセンサＬＳからの輝度信号５を採取して、ライン
センサの分解能で規格化した目視による直径に対する輝
度のグラフを作成したものの一例が前述した図２に示す
ものである。肉眼で観察すると、図３に示すように、丸
泡欠点３は輪郭のみ輝度が小さく中央は輝度が大きなリ
ング状に見える。７〜９は、丸泡欠点３の各部分の輝度
を表している。６は異物欠点２の輝度を表している。
ラインセンサＬＳからの輝度信号５を採取して、ライン
センサの分解能で規格化した目視による直径に対する輝
度のグラフを作成したものの一例が前述した図２に示す
ものである。肉眼で観察すると、図３に示すように、丸
泡欠点３は輪郭のみ輝度が小さく中央は輝度が大きなリ
ング状に見える。７〜９は、丸泡欠点３の各部分の輝度
を表している。６は異物欠点２の輝度を表している。
【００２１】図４に示す欠点検出装置において、ライン
センサＬＳからの信号５は入力回路１２によってアナロ
グ／デジタル変換され、２値化回路１３に送られる。２
値化回路１３において、２値化レベルをどのように設定
するかが、本発明の特徴である。以下に、その２値化レ
ベルの設定方法について述べる。
センサＬＳからの信号５は入力回路１２によってアナロ
グ／デジタル変換され、２値化回路１３に送られる。２
値化回路１３において、２値化レベルをどのように設定
するかが、本発明の特徴である。以下に、その２値化レ
ベルの設定方法について述べる。
【００２２】２値化レベルを決めるための条件には、検
出したい欠点の最小の大きさ、分類したい大きさ、全体
の輝度レベルの変動、同じ大きさと種類の欠点の輝度レ
ベルのばらつきなどがある。さらに本実施例では、丸泡
欠点と異物欠点とを分類して検出することを優先しつ
つ、さらに板ガラスの切断や磨き工程で割れの原因にな
る異物欠点を確実に検出することが条件である。
出したい欠点の最小の大きさ、分類したい大きさ、全体
の輝度レベルの変動、同じ大きさと種類の欠点の輝度レ
ベルのばらつきなどがある。さらに本実施例では、丸泡
欠点と異物欠点とを分類して検出することを優先しつ
つ、さらに板ガラスの切断や磨き工程で割れの原因にな
る異物欠点を確実に検出することが条件である。
【００２３】欠点の分類を優先するためには、丸泡欠点
３の輝度レベル８と９の間の一番狭い範囲に２値化レベ
ルを設定する。図２の例の場合、丸泡欠点３の輝度がリ
ング状になり始める直径３．５付近が一番狭いが、これ
は境界付近であるので、確実に分かれる直径４付近の輝
度レベル８と９の間のほぼ中間の約−２４％付近（矢印
１０で示す）に２値化レベル１１を設定すれば、５％の
照明および欠点のばらつきによる輝度レベルの変動が許
容できる。
３の輝度レベル８と９の間の一番狭い範囲に２値化レベ
ルを設定する。図２の例の場合、丸泡欠点３の輝度がリ
ング状になり始める直径３．５付近が一番狭いが、これ
は境界付近であるので、確実に分かれる直径４付近の輝
度レベル８と９の間のほぼ中間の約−２４％付近（矢印
１０で示す）に２値化レベル１１を設定すれば、５％の
照明および欠点のばらつきによる輝度レベルの変動が許
容できる。
【００２４】−２４％に２値化レベル１１を設定したと
きの丸泡欠点および異物欠点の２値画像を図５に示す。
この例では、直径１（分解能）以下では両欠点とも検出
不可能、直径１から直径２の範囲では丸泡欠点３は検出
が不確実で異物欠点２は検出可能、直径２から直径３．
５の範囲では分類不可能、直径３．５以上で丸泡欠点３
はリング状または部分的なリング状になるので分類可能
である。分類が必要な大きさをこの直径３．５で除算す
れば、必要な分解能を決定することができる。
きの丸泡欠点および異物欠点の２値画像を図５に示す。
この例では、直径１（分解能）以下では両欠点とも検出
不可能、直径１から直径２の範囲では丸泡欠点３は検出
が不確実で異物欠点２は検出可能、直径２から直径３．
５の範囲では分類不可能、直径３．５以上で丸泡欠点３
はリング状または部分的なリング状になるので分類可能
である。分類が必要な大きさをこの直径３．５で除算す
れば、必要な分解能を決定することができる。
【００２５】すなわち本実施例では、直径３．５以上で
は、丸泡欠点と異物欠点とを確実に分類検出でき、さら
に直径１以上の異物欠点を確実に検出することができ
る。
は、丸泡欠点と異物欠点とを確実に分類検出でき、さら
に直径１以上の異物欠点を確実に検出することができ
る。
【００２６】図４の欠点検出装置において、上記の方法
で決定された２値化レベルを用いて、２値化回路１３で
“１”および“０”に２値化される。ランレングス符号
化回路１４で、１走査分ずつランレングスデータに変換
してから、ラベリング回路１５に送られる。ラベリング
回路では、各欠点毎にラベル付けして、特徴量抽出回路
１６に送る。特徴量抽出回路１６では、欠点の幅，長
さ，穴の有無，分岐，結合，面積，その他必要な特徴量
を求める。欠点分類回路１７により、その特徴量を用い
図５の例に示した形状から異物欠点，丸泡欠点，基準値
以上の欠点に分類されて、欠点判定回路１８（異物欠点
判定回路１８ａ，丸泡欠点判定回路１８ｂ，基準値以上
の欠点判定回路１８ｃ）によりそれぞれの基準値に従い
合否の判定がなされて、総合判定回路１９によって、総
合的な合否の判定がなされる。
で決定された２値化レベルを用いて、２値化回路１３で
“１”および“０”に２値化される。ランレングス符号
化回路１４で、１走査分ずつランレングスデータに変換
してから、ラベリング回路１５に送られる。ラベリング
回路では、各欠点毎にラベル付けして、特徴量抽出回路
１６に送る。特徴量抽出回路１６では、欠点の幅，長
さ，穴の有無，分岐，結合，面積，その他必要な特徴量
を求める。欠点分類回路１７により、その特徴量を用い
図５の例に示した形状から異物欠点，丸泡欠点，基準値
以上の欠点に分類されて、欠点判定回路１８（異物欠点
判定回路１８ａ，丸泡欠点判定回路１８ｂ，基準値以上
の欠点判定回路１８ｃ）によりそれぞれの基準値に従い
合否の判定がなされて、総合判定回路１９によって、総
合的な合否の判定がなされる。
【００２７】以上の説明では、簡単のために１台のライ
ンセンサカメラを用いて説明したが、検査対象物の幅や
分解能によって、複数台のカメラを用いることができ
る。また、２次元カメラを用いても良い。ただし、板ガ
ラスの製造ラインのように、幅が広く連続して生産され
るものにはラインセンサカメラの方が台数が少なくてす
むなどの利点がある。
ンセンサカメラを用いて説明したが、検査対象物の幅や
分解能によって、複数台のカメラを用いることができ
る。また、２次元カメラを用いても良い。ただし、板ガ
ラスの製造ラインのように、幅が広く連続して生産され
るものにはラインセンサカメラの方が台数が少なくてす
むなどの利点がある。
【００２８】
【発明の効果】本発明によって、ガスによる丸泡欠点が
輪郭部のみとなる２値化レベルにより得られた欠点の２
値画像から、特徴量を求めることによって、縦と横の比
率がほぼ等しい外形を持っている同じ様な大きさの異物
欠点と丸泡欠点を分類することができる。また、本発明
によれば、特に検査対象物が板ガラスの場合に、板ガラ
スの切断や磨き工程で割れの原因になる異物欠点を確実
に検出できる。
輪郭部のみとなる２値化レベルにより得られた欠点の２
値画像から、特徴量を求めることによって、縦と横の比
率がほぼ等しい外形を持っている同じ様な大きさの異物
欠点と丸泡欠点を分類することができる。また、本発明
によれば、特に検査対象物が板ガラスの場合に、板ガラ
スの切断や磨き工程で割れの原因になる異物欠点を確実
に検出できる。
【図１】板ガラスの欠陥を検出する検出系および板ガラ
スの断面を示す図である。
スの断面を示す図である。
【図２】丸泡欠点と異物欠点の直径に対する輝度の変化
の一例を示す図である。
の一例を示す図である。
【図３】丸泡欠点と異物欠点の２値画像の輝度の変化の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図４】本発明を板ガラスの欠陥を検出する欠点検出装
置に適用した一実施例のブロック図である。
置に適用した一実施例のブロック図である。
【図５】丸泡欠点と異物欠点の直径に対する形状の変化
の一例を示す図。
の一例を示す図。
ＬＳ ラインセンサカメラ Ｌ ラインセンサカメラの走査ライン Ｘ ラインセンサカメラの走査方向を示す矢印 Ｙ 板ガラスの搬送方向を示す矢印 Ｚ 板ガラスの厚み方向を示す矢印 １ 板ガラス ２ 異物欠点 ３ 丸泡欠点 ４ 破れ泡欠点 ５ ラインセンサＬＳからの輝度信号 ６ 異物欠点の直径に対する輝度分布の一例 ７ 丸泡欠点の最も輝度の小さい部分の直径に対する輝
度分布の一例 ８ リング状の丸泡欠点のリング部分の直径に対する輝
度分布の一例 ９ リング状の丸泡欠点の穴部分の直径に対する輝度分
布の一例 １０ ２値化レベルを設定できる範囲 １１ ２値化レベルを示す一例 １２ アナログ／デジタル変換のための入力回路 １３ ２値化回路 １４ ランレングス符号化回路 １５ ラベリング回路 １６ 特徴量抽出回路 １７ 欠点分類回路 １８ 欠点判定回路 １８ａ 異物欠点判定回路 １８ｂ 丸泡欠点判定回路 １８ｃ 基準以上の欠点判定回路 １９ 総合判定回路
度分布の一例 ８ リング状の丸泡欠点のリング部分の直径に対する輝
度分布の一例 ９ リング状の丸泡欠点の穴部分の直径に対する輝度分
布の一例 １０ ２値化レベルを設定できる範囲 １１ ２値化レベルを示す一例 １２ アナログ／デジタル変換のための入力回路 １３ ２値化回路 １４ ランレングス符号化回路 １５ ラベリング回路 １６ 特徴量抽出回路 １７ 欠点分類回路 １８ 欠点判定回路 １８ａ 異物欠点判定回路 １８ｂ 丸泡欠点判定回路 １８ｃ 基準以上の欠点判定回路 １９ 総合判定回路
Claims (7)
- 【請求項１】搬送する透光性板状体の一方の面から光を
照射し、他方の面で前記透光性板状体をカメラで撮像
し、前記カメラの出力する輝度信号を２値化レベルで２
値化し、２値画像により前記透光性板状体中に存在する
欠点を検出する欠点検出方法において、 前記２値化レベルを、丸泡欠点の２値画像の形状が丸泡
欠点の輪郭部のみとなるように決定することを特徴とす
る、欠点検出方法における２値化レベルの決定方法。 - 【請求項２】搬送する透光性板状体の一方の面から光を
照射し、他方の面で前記透光性板状体をカメラで撮像
し、前記カメラの出力する輝度信号を２値化レベルで２
値化し、２値画像により前記透光性板状体中に存在する
欠点を検出する欠点検出方法において、 前記２値化レベルを、丸泡欠点の２値画像の形状が丸泡
欠点の輪郭部のみとなるように決定し、 前記２値画像から、丸泡欠点と異物欠点とを分類する、
ことを特徴とする欠点検出方法。 - 【請求項３】搬送する透光性板状体の一方の面から光を
照射し、 他方の面で前記透光性板状体をカメラで撮像し、 前記カメラの出力する輝度信号を２値化レベルで２値化
し、この場合の２値化レベルは、丸泡欠点の２値画像の
形状が丸泡欠点の輪郭部のみとなるように決定し、 ２値画像により欠点のラベル付けを行い、欠点の特徴量
を抽出し、特徴量によって欠点を分類し、前記透光性板
状体中に存在する欠点を検出する、ことを特徴とする欠
点検出方法。 - 【請求項４】前記カメラは、１次元カメラまたは２次元
カメラである請求項１〜３のいずれかに記載の欠点検出
方法。 - 【請求項５】搬送する透光性板状体の一方の面から光を
照射する手段と、 他方の面で前記透光性板状体を撮像するカメラと、 前記カメラの出力する輝度信号を２値化レベルで２値化
する手段とを備え、この場合の２値化レベルは、丸泡欠
点の２値画像の形状が丸泡欠点の輪郭部のみとなるよう
に決定し、 ２値画像により欠点のラベル付けを行い、欠点の特徴量
を抽出し、特徴量によって欠点を分類し、前記透光性板
状体中に存在する欠点を検出する手段と、を備えること
を特徴とする欠点検出装置。 - 【請求項６】搬送される透光性板状体の一方の面から光
を照射する照明装置と、前記透光性板状体の他方の面を
撮像するカメラとを備える欠点検出装置において、 前記カメラからの信号をアナログ／デジタル変換する入
力回路と、 前記入力回路の出力を２値化し２値画像を形成する２値
化回路とを備え、この２値化回路における２値化レベル
を、丸泡欠点の２値画像の形状が丸泡欠点の輪郭部のみ
となるように決定し、 ２値画像により欠点のラベル付けを行うラベリング回路
と、 ラベル付けされたデータから欠点の特徴量を検出する特
徴量検出回路と、 特徴量によって欠点を分類する欠点分類装置と、 分類された各欠点毎に合否の判定を行う欠点判定回路
と、 前記欠点判別回路の判定に基づいて総合的に合否の判定
を行う総合判定装置と、を備えることを特徴とする欠点
検出装置。 - 【請求項７】前記カメラは、１次元カメラまたは２次元
カメラである請求項５または６に記載の欠点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9205395A JPH08285789A (ja) | 1995-04-18 | 1995-04-18 | 欠点検出方法における２値化レベルの決定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9205395A JPH08285789A (ja) | 1995-04-18 | 1995-04-18 | 欠点検出方法における２値化レベルの決定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08285789A true JPH08285789A (ja) | 1996-11-01 |
Family
ID=14043775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9205395A Pending JPH08285789A (ja) | 1995-04-18 | 1995-04-18 | 欠点検出方法における２値化レベルの決定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08285789A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11230914A (ja) * | 1998-02-18 | 1999-08-27 | Nippon Maxis:Kk | 水晶基板のベベリング検査方法および装置 |
| US6256091B1 (en) | 1997-08-25 | 2001-07-03 | Nippon Maxis Co., Ltd. | Transparent substrate mounting platform, transparent substrate scratch inspection device, transparent substrate bevelling inspection method and device, and transparent substrate inspection method |
| JP2002122550A (ja) * | 2000-08-11 | 2002-04-26 | Ajinomoto Faruma Kk | 可撓性プラスチック容器の異物検査装置及びその異物検査方法 |
| JP2002340808A (ja) * | 2001-05-21 | 2002-11-27 | Dai Ichi Seiyaku Co Ltd | 液中異物の検出方法 |
| JP2007333662A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出方法 |
| CN102654465A (zh) * | 2012-04-11 | 2012-09-05 | 法国圣戈班玻璃公司 | 光学测量装置和光学测量方法 |
| JP2013033028A (ja) * | 2011-06-30 | 2013-02-14 | Shibaura Mechatronics Corp | 貼り合せ板状体検査装置及び方法 |
| JP2017161435A (ja) * | 2016-03-11 | 2017-09-14 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 透明体の検査方法 |
-
1995
- 1995-04-18 JP JP9205395A patent/JPH08285789A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6256091B1 (en) | 1997-08-25 | 2001-07-03 | Nippon Maxis Co., Ltd. | Transparent substrate mounting platform, transparent substrate scratch inspection device, transparent substrate bevelling inspection method and device, and transparent substrate inspection method |
| JPH11230914A (ja) * | 1998-02-18 | 1999-08-27 | Nippon Maxis:Kk | 水晶基板のベベリング検査方法および装置 |
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| JP2002340808A (ja) * | 2001-05-21 | 2002-11-27 | Dai Ichi Seiyaku Co Ltd | 液中異物の検出方法 |
| JP4580122B2 (ja) * | 2001-05-21 | 2010-11-10 | 第一三共株式会社 | 液中異物の検出方法 |
| JP2007333662A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出方法 |
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| JP2017161435A (ja) * | 2016-03-11 | 2017-09-14 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 透明体の検査方法 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
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