JPH08283007A - 複合ガス中に含まれる不純物の除去方法 - Google Patents

複合ガス中に含まれる不純物の除去方法

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JPH08283007A JP8010407A JP1040796A JPH08283007A JP H08283007 A JPH08283007 A JP H08283007A JP 8010407 A JP8010407 A JP 8010407A JP 1040796 A JP1040796 A JP 1040796A JP H08283007 A JPH08283007 A JP H08283007A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 空気から、一酸化炭素及び水素不純物の少な
くとも1種を実質的に除去する方法を提供すること。 【解決手段】 複合ガス中に含まれる、一酸化炭素及び
水素不純物の少なくとも1種を実質的に除去する方法で
あって、(a)一酸化炭素及び水素不純物の少なくとも
1種を、それぞれ二酸化炭素及び水を形成するために、
二酸化チタンにより担持された、金及びパラジウムから
なる群から選ばれた少なくとも1種の粒子を含む触媒と
接触させ、酸素と反応させる工程と、(b)任意に、形
成された二酸化炭素及び水を前記複合ガスから除去する
工程と、(c)一酸化炭素及び/又は水素不純物を実質
的に含まない前記複合ガスを回収する工程を具備するこ
とを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複合ガス、特に、
空気のような窒素及び/又はアルゴンと酸素の混合物中
に含まれる、一酸化炭素及び水素不純物の少なくとも1
種を実質的に除去する方法に関する。この方法による
と、前記不純物の1つが触媒と接触している酸素と反応
する。
【0002】
【従来の技術】例えば、製薬産業及びエレクトロニクス
産業において、大量の不活性ガス、特にアルゴン、とり
わけ窒素が使用される。とりわけ後者の場合、これらの
不活性ガスは、出来るだけ純粋でなければならず、また
特に、半導体の品質及び性能を劣化させる、一酸化炭素
及び水素のような不純物を実質的に含まないものでなけ
ればならない。最近は、数百ppb(部/百万容量部)
のオ−ダ−の一酸化炭素及び/又は水素含量が許容され
るものであった。
【0003】しかし、エレクトロニクス産業は、最近、
高純度の、即ち約10ppb未満の水素、及び5ppb
未満の一酸化炭素を含む、窒素のような不活性ガスを必
要とする。
【0004】一酸化炭素、水素、及び炭化水素のような
低分子量の化合物を酸化する方法が英国特許出願GB−
2,234,450号において提案されている。この方
法によると、酸化は、Fe2 3 、Ce2 3 、ZrO
2 、CaO、TiO2 、希土類の酸化物、MnO2 、V
2 5 、及びCr2 3 から選ばれた還元性金属の酸化
物により担持された少なくとも1種の貴金属からなる触
媒の存在下で実施される。
【0005】特に、その実施例の1つでは、この文献
は、α−アルミナと組合された二酸化チタンにより担持
されたプラチナを含む触媒の助けによる、一酸化炭素の
変換プロセスを記載している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、出願人は、そ
のような触媒は、一酸化炭素及び水素の有効な除去を許
容しないを見出すことが出来た。
【0007】高純度窒素の製造に関し、出願人は、欧州
特許出願EP−A−0,454,531号において、
銅、及びプラチナ系金属、即ちルテニウム、ロジウム、
パラジウム、オスミウム、イリジウム、及びプラチナか
らなる群から選ばれた少なくとも1種の金属元素の粒子
からなる触媒上に空気を通過させることにより、空気か
ら一酸化炭素及び/又は水素不純物が除去される方法を
記載した。これらの粒子は、高い比表面を有する担体に
より担持されている。上記担体は、ゼオライト、シリ
カ、アルミナからなるものとし得る。触媒上の通過によ
り処理された空気は、しばしば、コンプレッサ−を用い
て圧縮された空気である。このコンプレッサ−の出口に
おいて、空気は、通常、80〜120℃の温度を有す
る。このように精製された空気は、例えばモレキュラ−
シ−ブにより吸着することにより除去される水及び一酸
化炭素を含む。これの後、空気の他の成分、基本的には
酸素から窒素を分離する蒸留塔に送られる。出願人は、
特に触媒が大量のパラジウム及びプラチナのような粒子
を含むときに、このプロセスを用いて良好な結果が得ら
れることを見出すことが出来た。しかし、これらの貴金
属は比較的高価であり、高純度窒素の製造のための全プ
ロセスコストを増加させる。
【0008】更に、出願人は、欧州特許出願EP−A−
0,454,531号に記載された触媒が、一酸化炭素
及び水素の効果的な除去のため、しばしば、例えば1日
に2回、再生されねばならず、即ち約200℃に昇温さ
れた圧縮空気と接触させられねばならないことを、気付
くことができた。
【0009】触媒の頻繁な再生は、一方は空気の精製を
行い、他方は再生を行う、交互に動作する、並列の触媒
床の使用に導く。上で指摘したように、圧縮空気は、通
常80℃〜120℃の温度でコンプレッサ−を出る。そ
れ故、加熱手段は、触媒と接触を始める空気を200℃
に加熱するために利用されるべきである。欧州特許出願
EP−A−0,454,531号による触媒の使用は、
精巧で、特に上記加熱手段のため、エネルギ−の点で高
価な装置を必要とする。
【0010】従って、出願人は、上述の欠点を取り除
く、一酸化炭素及び水素不純物の少なくとも1種を実質
的に除去する方法を求める。
【0011】このように、本発明の第1の主題は、低貴
金属含量を有する触媒を用いて採用され得る、複合ガス
から前記不純物の1つを除去する方法を提供することで
ある。
【0012】本発明の第2の主題は、触媒を再生するこ
と、又は複合ガスを200℃の温度で処理するために加
熱することを必要とせずに、長期にわたり、例えば数週
間、又は数ヶ月、又は数年でさえも実施され得る方法を
提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、複合ガス中に
含まれる、一酸化炭素及び水素不純物の少なくとも1種
を実質的に除去する方法であって、(a)一酸化炭素及
び水素不純物の少なくとも1種を、それぞれ二酸化炭素
及び水を形成するために、二酸化チタンにより担持され
た、金及びパラジウムからなる群から選ばれた少なくと
も1種の粒子を含む触媒と接触させ、酸素と反応させる
工程と、(b)任意に、形成された二酸化炭素及び水を
前記複合ガスから除去する工程と、(c)一酸化炭素及
び/又は水素不純物を実質的に含まない前記複合ガスを
回収する工程を具備する不純物の除去方法に関する。
【0014】以下、図1及び図2を参照して、本発明を
より詳細に説明する。
【0015】二酸化チタンにより担持された金粒子の含
有量は、一般に、前記触媒の全重量に対し、0.1〜
2.5重量%、好ましくは0.1〜0.7重量%であ
る。二酸化チタンにより担持されたパラジウム粒子の含
有量は、前記触媒の全重量に対し、0.3〜2.5重量
%、好ましくは0.3〜1重量%である。
【0016】本発明の有利な態様によると、触媒は、担
持された金及びパラジウム粒子からなる。この場合、金
粒子とプラチナ系金属粒子の重量比は、75/25ない
し25/75、好ましくは50/50のオ−ダ−であ
る。
【0017】本発明による触媒は、特に、機械的特性の
改善を考慮して、酸化セリウム(CeO2 )の層でコ−
トされ得る。この酸化セリウムの重量は、触媒の全重量
に対し、5〜15%である。
【0018】担体は、様々な形状、例えば、チップ状、
ハニカム状(モノリシック構造)であり得る。反応器内
に容易に配置され得るボ−ル状又はロッド状の形が好ま
しい。担体は、通常は気孔質であり、1cm3 /g以
下、好ましくは0.2〜0.5cm3 /gの気孔率であ
り得る。気孔の半径は、25nm以下、好ましくは1〜
15nmである。二酸化チタン担体の比表面は、10〜
300m2 /g、好ましくは50〜250m2 /g、よ
り好ましくは50〜150m2 /gである。
【0019】担体の密度は、500〜1000g/l、
好ましくは600〜900g/lである。
【0020】本発明の方法に使用される触媒は、共析
出、又は、好ましくは含浸の公知の方法により製造され
得る。
【0021】そのような触媒を製造するために、金塩、
パラジウム塩、又はそのような塩の混合物を含む溶液で
担体を含浸させることが出来る。前記金塩又はパラジウ
ム塩は、ハロゲン化物、特に塩化物、又は有利には硝酸
塩である。含浸後、含浸された担体は、例えば500〜
150℃の温度に12〜48時間供することにより、乾
燥される。次いで、担体は、好ましくは300〜550
℃の温度で焼成される。含浸され、乾燥された担体は、
空気中で、好ましくは乾燥空気中で焼成される。焼成
後、金属粒子は、例えば、水素又は水素と窒素のような
不活性ガスとの混合物のような還元ガスを流すことによ
り、昇温下で還元される。
【0022】本発明の方法は、特に、少なくとも1種の
不活性ガスと酸素との混合物からなる複合ガスについて
実施され得る。不活性ガスは、窒素又はアルゴンであ
り、複合ガスは、好ましくは空気である。
【0023】触媒と接触する一酸化炭素及び水素不純物
の反応は、特にガスが空気からなるときに、複合ガス中
に任意に含まれる酸素により、又は複合ガスに添加され
る酸素との間で行われ得る。このように添加される酸素
の量は、少なくとも、前記不純物から二酸化炭素と水を
生成するのに必要な化学量論的量に相当する量であるべ
きである。
【0024】触媒と接触する前記不純物及び酸素の反応
は、その温度が130℃未満、特に−40〜130℃の
温度、好ましくは80〜120℃の温度で実施され得
る。
【0025】本発明の方法によると、触媒と接触する前
記不純物及び酸素の反応中、複合ガスは、105 〜3・
106 Pa、好ましくは7・105 〜1.5・6 Paの
圧力にさらされる。
【0026】触媒と接触させられる複合ガスは、処理さ
れる複合ガスの圧力及び温度の関数である実際の空間時
間収率を有する。実際の空間時間収率は、一般に200
0h-1未満、好ましくは500〜1800h-1である。
【0027】本発明の方法により処理される複合ガスの
一酸化炭素及び水素含量は、これらの不純物のそれぞれ
について、40ppm(部/百万容量部)未満、より一
般的には1ppm〜200ppbのオ−ダ−である。本
発明の方法の実施後に回収された複合ガスは、10pp
b未満の水素、及び5ppb未満の一酸化炭素を含む。
これらの含量は、エレクトロニクス産業の仕様を満足す
るものである。
【0028】前記不純物と酸素との間の反応後、形成さ
れた一酸化炭素及び水は前記複合ガスから除去され得
る。この除去は、通常、モレキュラ−シ−ブ又はアルミ
ナのような吸着剤により実施される。この一酸化炭素及
び水の除去は、複合ガスが、空気の他の成分、基本的に
は酸素であり、任意にはアルゴンである他の成分から窒
素を分離するために、極低温蒸留によりその後に処理さ
れる空気であるときに、特に必要である。
【0029】一酸化炭素及び水素不純物を含まないか又
は実質的に含まない、回収された複合ガスは、それが混
合ガスであるとき、それを構成するガスのいくつか又は
それぞれを分離するために、後に処理される。このよう
に、複合ガスが空気であるならば、本発明の方法により
回収された空気は、窒素及び/又はアルゴンが空気中の
酸素から分離されるように、処理される。この分離は、
通常、極低温蒸留、選択吸着(PSA及びVSA法)又
は隔膜分離により実施される。
【0030】本発明の他の態様によると、空気から、一
酸化炭素及び水素不純物を実質的に含まない精製窒素を
製造する方法であって、(a)空気に含まれる一酸化炭
素及び水素不純物の少なくとも1種を、それぞれ二酸化
炭素及び水を形成するために、二酸化チタンにより担持
された、金及びパラジウムからなる群から選ばれた少な
くとも1種の金属の粒子を含む触媒と接触させ、空気中
の酸素と反応させる工程と、(b)任意に、形成された
二酸化炭素及び水を除去する工程と、(c)空気から窒
素を分離する工程と、(d)一酸化炭素及び水素不純物
を実質的に含まない高純度窒素を回収する工程を具備す
る窒素の製造方法を提供する。
【0031】空気中の酸素から窒素を分離する方法は、
通常の極低温蒸留が好ましい。
【0032】
【発明の実施の形態】以下に、本発明を例示するために
実施例を示す。
【0033】実施例1 0.5重量%の金粒子及び0.5重量%のパラジウム粒
子を担持する二酸化チタンロッドからなる本発明の触媒
を反応器内に配置する。この触媒は、酸化セリウム層で
被覆されていてもいなくてもよい。
【0034】担体として使用された二酸化チタンは、9
15g/lの密度及び140m2 /gの比表面を有して
いた。7バ−ルに圧縮された空気流を、それから一酸化
炭素及び水素不純物を除去するために、反応器内で処理
した。反応器を通る空気の実際の空時収量は、1800
-1であった。
【0035】一酸化炭素及び水素不純物の上流(反応器
の入口)と下流(反応器の出口)を、トレ−スアナリテ
ィカル社により市販されているRGA3分析器により測
定した。その検出閾値は、水素の場合5ppb以下、一
酸化炭素の場合3ppb以下である。
【0036】反応器に入った空気は、1000ppbの
水素、500ppbの炭素を含有していた。
【0037】触媒の動作寿命(時間)及び反応器の出口
で回収された空気中の水素及び一酸化炭素の下流におけ
る含有量を以下の表Iに示す。
【0038】動作寿命は、水素及び一酸化炭素の下流含
有量がエレクトロニクス産業の仕様に対応する、即ち水
素含量10ppb未満、一酸化炭素顔料5ppb未満で
ある期間に相当する。前記不純物の下流含量が前記仕様
により定められた値を越えるやいなや、テストは中止さ
れる。しかし、テストが厳密に20時間を越える動作寿
命を示す時、テストの期間が触媒の有効性を充分に示し
ていることを考慮する限り、実験者により意図的に中止
される。
【0039】上流空気の見ず含量、下流空気の水素及び
一酸化炭素含量、及び触媒の動作寿命を以下の表Iに示
す。
【0040】 表I テスト 温度 CeO2 下流含量 H2 O 期間 (℃) (ppb) (g/Nm3 ) (h) H2 CO 1 100 Y ND 3 7 125 2 110 Y ND 3 10 50 3 110 Y ND 3 7 60 4 120 Y ND 3 10 24 5 100 N ND 3 10 20 6 110 N ND 3 10 150 ND = 検出不可 Y = CeO2 被覆あり N = CeO2 被覆なし 実施例2 本発明の又は本発明ではない触媒を反応器内に順次配置
した。本発明の触媒は、二酸化チタンにより担持され
た、パラジウム粒子、又はパラジウム粒子及び金粒子か
らなる。本発明ではない触媒は、アルミナにより担持さ
れた、パラジウム粒子、金粒子と組合されたパラジウム
粒子からなる。
【0041】800ppbの水素及び種々の水濃度を含
む空気を、これらの触媒を用いて処理した。水素の全体
の除去(即ち測定装置により測定可能な最小含量である
少なくとも5ppb未満の含量)に必要な最小温度が、
測定された。
【0042】得られた結果を下記表IIに示す。
【0043】 表II テスト 担体 触媒含量 CeO2 2h処理後の 50h処理後の (重量%) 最低温度(℃) 最大温度(℃) H2 O H2 O Au Pd 1g/Nm3 6g/Nm3 10g/Nm3 6g/Nm3 7 TiO2 2 N 70 115 120 115 8 TiO2 0.5 0.5 Y 100 110 110 9 TiO2 0.5 0.5 N 70 100 110 100 A Al2O3 2 N 90 130 150 B Al2O3 2 Y 100 110 120 130 C Al2O3 0.5 0.5 Y 100 130 150 テスト7〜9は本発明であり、テストA〜Cは本発明ではない。
【0044】テストは、二酸化チタンに基づく担体は、
担体がアルミナであるときに必要とするよりも低い温度
でその水素不純物に関し空気を純粋にすることを可能と
することを示している。また、50時間の処理後に、T
iO2 担体を含む触媒は、120℃以下の温度で水素の
効果的な除去を可能とすることもわかる。これに対し、
同一の条件で、アルミナに基づく触媒は、満足すべき水
素の除去のためには、130℃以上の温度を必要とす
る。換言すれば、本発明の方法の実施は、空気を加熱す
ることなく、コンプレッサ−の出口で直接空気を処理す
ることを可能とする。
【0045】実施例3 本発明の(テスト10及び11)又は本発明ではない
(テスト12及び13)触媒を反応器内に順次配置し
た。本発明の触媒は、0.5重量%のパラジウム粒子を
含み、本発明ではない触媒は、0.5重量%の白金粒子
を含んでいる。すべての触媒は、915g/lの密度、
140m2 /gの比表面の二酸化チタン担体を含んでい
る。
【0046】900ppbの水素、600ppbの一酸
化炭素、8.5g/m3 の水を含む空気を、これらの触
媒で処理した。
【0047】処理された空気の空時収量は、1800h
-1であった。
【0048】その結果を下記の表III に示す。
【0049】 表III テスト 担持された粒子 空気温度 下流含量 期間 ℃ (ppb) (h) H2 CO 10 Pd 110 20 3 >24 11 Pd 130 ND 3 >200 12 Pt 110 500 8 5 13 Pt 130 3 3 70 ND = 決定不可 実施例4 実施例1と同様に、金粒子及びパラジウム粒子を担持す
る二酸化チタンロッドからなる本発明の触媒を反応器内
に配置した。触媒中のパラジウム及び金の含量は、いず
れも0.5重量%であった。二酸化チタン担体は、78
0g/lの密度及び95m2 /gの比表面を有してい
た。
【0050】これに同様に、本発明ではない、パラジウ
ム粒子を担持するアルミナボ−ルからなる触媒を、実施
例1と同一の反応器に配置した。触媒中のパラジウム濃
度は、1重量%であった。
【0051】7バ−ルに圧縮され、約1000ppbの
水素及び10g/Nm3 の水を含む同様の空気流(2つ
の平行流に分割)を、これらの反応器のそれぞれにおい
て処理した。反応器入口の実際の空時収量は、72日間
で1800h-1であり、その後、空時収量は、1200
-1に減少した。それぞれの反応器に入る空気の温度
は、常に110〜130℃であった。
【0052】得られた結果を図1に示す。それらは特
に、二酸化チタンに基づく担体を含む本発明の触媒がエ
レクトロニクス産業の仕様に従って、即ち10ppb未
満の処理された空気の水素含量に、空気の水素精製を可
能とすることを示している。空時収量が1200h-1
あるとき、長期にわたり、水素含量が10ppb未満で
ある空気を回収することが出来る。
【0053】その担体がアルミナに基づく本発明ではな
い触媒によっては、そのような結果を得ることが出来な
かった。水素不純物を除去された空気は、形成された
水、及び処理された空気中にもともと存在する水及び二
酸化炭素を除去するために、アルミナと接触させて処理
され得る。その後、このように純粋にされた空気は、水
素含量が、上述の本発明の方法により処理された空気中
に存在するものと同一であるか又はほぼ同一である窒素
を得るために、通常の方法で、極低温蒸留により蒸留さ
れ得る。
【0054】実施例5 2つの反応器を含む、実施例3と同一の装置において、
実施例3で用いたアルミナに基づく触媒を第1の反応器
内に配置した。二酸化チタンにより担持された1重量%
のパラジウム粒子を含む本発明の触媒を第2の反応器に
配置した。この担体は、実施例3で用いたものと同一の
特性を有していた。これらの反応器のそれぞれで処理さ
れた空気は、実施例3で処理されたものと同一の特性を
有していた。ここで再び、反応器入口の実際の空時収量
は、72日間で1800h-1であり、その後、空時収量
は、1200h-1に減少した。
【0055】その結果を図2に示す。それらは、本発明
の方法により処理された空気の水素含量は、110℃の
空気温度で、約9日間の期間にわたって、エレクトロニ
クス産業の仕様に従っていることを示している。空時収
量が1200h-1に減少するとき、本発明の触媒は、処
理された空気内の水素含量を、エレクトロニクス産業の
仕様により必要とされるもの(即ち、10ppb未満の
含量)よりも小さい、又は極くわずかに大きい含量に維
持することを可能とする。
【0056】これに対し、アルミナに基づく担体を含む
本発明ではない触媒では、水素含量がエレクトロニクス
産業の仕様による空気が得られない。
【0057】水素不純物が除去された空気は、形成され
た水、及び処理された空気中にもともと存在する水及び
二酸化炭素を除去するために、アルミナと接触させて処
理され得る。その後、このように純粋にされた空気は、
水素含量が、上述の本発明の方法により処理された空気
中に存在するものと同一であるか又はほぼ同一である窒
素を得るために、通常の方法で、極低温蒸留により蒸留
され得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 一方において、二酸化トタンにより担持され
たパラジウム及び金を含む触媒の使用による本発明の方
法に従った、他方においてアルミナにより担持されたパ
ラジウムを含む触媒の使用による本発明ではない方法に
従った、空気からの水素の除去を示す特性図。
【図2】 一方において、二酸化トタンにより担持され
たパラジウムを含む触媒の使用による本発明の方法に従
った、他方においてアルミナにより担持されたパラジウ
ムを含む触媒の使用による本発明ではない方法に従っ
た、空気からの水素の除去を示す特性図。

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複合ガス中に含まれる、一酸化炭素及び
    水素不純物の少なくとも1種を実質的に除去する方法で
    あって、 (a)一酸化炭素及び水素不純物の少なくとも1種を、
    それぞれ二酸化炭素及び水を形成するために、二酸化チ
    タンにより担持された、金及びパラジウムからなる群か
    ら選ばれた少なくとも1種の粒子を含む触媒と接触さ
    せ、酸素と反応させる工程と、 (b)任意に、形成された二酸化炭素及び水を前記複合
    ガスから除去する工程と、 (c)一酸化炭素及び/又は水素不純物を実質的に含ま
    ない前記複合ガスを回収する工程を具備する不純物の除
    去方法。
  2. 【請求項2】 前記触媒は、担持された金及び及びパラ
    ジウムを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 【請求項3】 金粒子とプラチナ系金属粒子の重量比
    は、75/25ないし25/75、好ましくは50/5
    0のオ−ダ−である特徴とする請求項2に記載の方法。
  4. 【請求項4】 金粒子の含有量は、前記触媒の全重量に
    対し、0.1〜2.5重量%、好ましくは0.1〜0.
    7重量%である特徴とする請求項1〜3のうちの1項に
    記載の方法。
  5. 【請求項5】 パラジウム粒子の含有量は、前記触媒の
    全重量に対し、0.3〜2.5重量%、好ましくは0.
    3〜1重量%であることを特徴とする請求項1〜4のう
    ちの1項に記載の方法。
  6. 【請求項6】 複合ガスは、不活性ガスと酸素の少なく
    とも1種の混合物、特に酸素と窒素の混合物であること
    を特徴とする請求項1〜5のうちの1項に記載の方法。
  7. 【請求項7】 複合ガスは、空気であることを特徴とす
    る請求項1〜6のうちの1項に記載の方法。
  8. 【請求項8】 触媒と接触している複合ガスは、105
    〜3・106 Pa、好ましくは7・105 〜1.5・6
    Paの圧力であることを特徴とする請求項1〜7のうち
    の1項に記載の方法。
  9. 【請求項9】 触媒と接触させられるガスの温度は、1
    30℃未満、好ましくは80〜120℃であり、実際の
    空間時間収率は、2000h-1未満、好ましくは500
    〜1800h-1であることを特徴とする請求項1〜8の
    うちの1項に記載の方法。
  10. 【請求項10】 一酸化炭素及び水素不純物の少なくと
    も1種を含む空気から窒素を製造する方法であって、 (a)空気に含まれる一酸化炭素及び水素不純物の少な
    くとも1種を、それぞれ二酸化炭素及び水を形成するた
    めに、二酸化チタンにより担持された、金及びパラジウ
    ムからなる群から選ばれた少なくとも1種の金属の粒子
    を含む触媒と接触させ、空気中の酸素と反応させる工程
    と、 (b)任意に、形成された二酸化炭素及び水を除去する
    工程と、 (c)空気から窒素を分離する工程と、 (d)一酸化炭素及び水素不純物を実質的に含まない高
    純度窒素を回収する工程を具備する窒素の製造方法。
  11. 【請求項11】 空気中の窒素と酸素を極低温蒸留によ
    り分離することを特徴とする請求項10に記載の方法。
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