JPH08222492A - 基板の表面処理装置 - Google Patents
基板の表面処理装置Info
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- JPH08222492A JPH08222492A JP4633895A JP4633895A JPH08222492A JP H08222492 A JPH08222492 A JP H08222492A JP 4633895 A JP4633895 A JP 4633895A JP 4633895 A JP4633895 A JP 4633895A JP H08222492 A JPH08222492 A JP H08222492A
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Abstract
テナンスを行なう際にも、インターフェイス部の周囲環
境が清浄にかつ一定に保たれ、クリーンエアーの吹出し
部が作業の妨げとならない装置を提供する。 【構成】 基板処理ユニット10に対し下向きにクリーン
エアーを吹き出すクリーンベンチ26とは独立して、イン
ターフェイス部14に対しクリーンエアーを吹き出すクリ
ーンベンチ28を設ける。露光機16のメンテナンスに際し
インターフェイス部を前方の退避位置へ移動させたとき
に、インターフェイス部と一体にその上方のクリーンベ
ンチが移動するようにした。
Description
プロセス、液晶表示デバイス製造プロセスなどにおい
て、半導体ウエハ、ガラス基板等の基板に対して表面処
理を施すのに使用される基板の表面処理装置に関する。
エハの表面にフォトレジスト液を塗布してフォトレジス
ト膜を被着形成し、半導体ウエハの表面に形成されたフ
ォトレジスト膜を露光し現像処理するような半導体デバ
イス製造装置では、処理が行なわれる周囲の環境を清浄
にかつ一定の状態に保つことが要求される。このため
に、これらの装置は所定の条件に空調されたいわゆるク
リーンルーム内に設けられるのであるが、さらに厳密に
管理された環境が必要となる場合もある。このような場
合は、さらに、例えば図5の(a)及び(b)に模式平
面図及び模式正面図をそれぞれ示すように、スピンコー
タやスピンデベロッパといった回転処理器が配設された
基板処理ユニット1と、この基板処理ユニット1に隣接
して配設され、基板処理ユニット1へ未処理基板を搬入
し基板処理ユニット1から処理済み基板を受け取るイン
デクサ部2と、基板処理ユニット1と露光機4との間に
基板処理ユニット1に隣接して介設され、基板処理ユニ
ット1と露光機4との間で基板の受け渡しを行なうイン
ターフェイス部3との全体の上方空間を覆うように、ク
リーンベンチ5が配設される。そして、クリーンベンチ
5から基板処理ユニット1、インデクサ部2及びインタ
ーフェイス部3に対して下向きにそれぞれクリーンエア
ー(清浄空気)を吹き出すようにして、このダウンフロ
ーにより、基板の表面処理が行なわれ基板の移し替えや
一時保管、搬送が行なわれる周囲環境を清浄にかつ一定
の状態に維持するようにしている。
基板処理ユニット1に隣接してインターフェイス部3を
設け、基板処理ユニット1と露光機4とをインライン化
した構成の装置では、露光機4の露光ステージ、光源、
電装部などのメンテナンスを行なう場合、基板の受け渡
し面側(基板処理ユニット1との対向面側)から作業を
行なうことが多く、このため、図5の(a)に二点鎖線
で示すようにインターフェイス部3をインライン方向に
対して直交する方向における前方側(或いは後方側)へ
移動させることができるようにしている。また、基板処
理ユニット1のメンテナンスのために、インデクサ部2
を移動させることができる装置構成とすることもある。
では、クリーンベンチ5は、基板処理ユニット1、イン
デクサ部2及びインターフェイス部3の全体を覆うよう
にそれらの上方に固定されている。このため、露光機4
のメンテナンスの際にインターフェイス部3を移動させ
たときに、また、基板処理ユニット1のメンテナンスの
際にインデクサ部2を移動させたときに、インターフェ
イス部3上もしくはインデクサ部2上へはクリーンベン
チ5からのダウンフローが供給されず、その周囲環境が
一定の清浄な状態に保たれなくなる、といった心配があ
る。また、露光機4のメンテナンスの際に、インターフ
ェイス部3を移動させて退避させたとしても、また、基
板処理ユニット1のメンテナンスの際にインデクサ部2
を移動させて退避させたとしても、グリーンベンチ5が
邪魔になってメンテナンス作業の妨げとなっている、と
いった問題点がある。
れたものであり、2種類の基板処理部の間にインターフ
ェイス部を介設して両基板処理部をインライン構成とし
た装置において、また、基板処理部にインデクサ部を隣
接させて配設した構成の装置において、インターフェイ
ス部を移動させ、また、インデクサ部を移動させて装置
のメンテナンスを行なう際にも、インターフェイス部も
しくはインデクサ部の周囲環境が清浄にかつ一定に保た
れるとともに、クリーンエアーの吹出し部がメンテナン
ス作業の妨げとなるようなことがない基板の表面処理装
置を提供することを目的とする。
係る各発明では、それぞれエアー吹出し部を分割し、そ
の分割されたエアー吹出し部の一部がインターフェイス
部もしくはインデクサ部と共に移動することができる構
成とした。すなわち、請求項1に係る発明は、基板を表
面処理する第1の基板処理部と、この第1の基板処理部
での表面処理とは別の表面処理を基板に施す第2の基板
処理部と、前記第1の基板処理部と第2の基板処理部と
の間に、それぞれの基板処理部に隣接するように介設さ
れ、第1の基板処理部と第2の基板処理部との間で基板
を受け渡しするインターフェイス部と、前記第1の基板
処理部及びインターフェイス部の上方空間を覆うように
配設され、第1の基板処理部及びインターフェイス部に
対して下向きにクリーンエアーを吹き出すエアー吹出し
部とを備えた基板表面処理装置において、前記インター
フェイス部に対してクリーンエアーを吹き出すインター
フェイス吹出し部を他の部分から独立させるとともに、
インターフェイス部を、前記第1及び第2の各基板処理
部においてそれぞれ基板の表面処理が行なわれる定常運
転時の位置とメンテナンス時の退避位置との間で移動可
能とし、かつ、前記インターフェイス吹出し部をインタ
ーフェイス部と一体に移動可能とする移動手段を設けた
ことを特徴とする。
処理する基板処理部と、この基板処理部に隣接して配設
され、基板処理部へ未処理基板を搬入し基板処理部から
処理済み基板を受け取るインデクサ部と、前記基板処理
部及びインデクサ部の上方空間を覆うように配設され、
基板処理部及びインデクサ部に対して下向きにクリーン
エアーを吹き出すエアー吹出し部とを備えた装置におい
て、前記インデクサ部に対してクリーンエアーを吹き出
すインデクサ吹出し部を他の部分から独立させるととも
に、インデクサ部を、前記基板処理部において基板の表
面処理が行なわれる定常運転時の位置とメンテナンス時
の退避位置との間で移動可能とし、かつ、前記インデク
サ吹出し部をインデクサ部と一体に移動可能とする移動
手段を設けたことを特徴とする。
図4の(a)及び(b)に模式平面図及び模式正面図を
それぞれ示すように、第1の基板処理部(基板処理ユニ
ット)1及びインターフェイス部3の上方空間を覆うよ
うに配設されたエアー吹出し部(クリーンベンチ)が、
第1の基板処理部1に対して下向きにクリーンエアーを
吹き出す部分6とインターフェイス部3に対して下向き
にクリーンエアーを吹き出すインターフェイス吹出し部
7とに分割され、インターフェイス吹出し部7が他の部
分の6から独立しており、第2の基板処理部(露光機)
4のメンテナンスに際し、図4の(a)に二点鎖線で示
すように、インターフェイス部3を移動手段によって退
避位置へ移動させたときに、インターフェイス吹出し部
7もインターフェイス部3と一体に移動する。従って、
メンテナンス時においても、インターフェイス吹出し部
7からインターフェイス部3に対して下向きにクリーン
エアーが吹き出され、その周囲環境が清浄にかつ一定の
状態に保たれる。また、インターフェイス吹出し部7は
インターフェイス部3と共に退避位置へ移動するので、
第2の基板処理部3のメンテナンスの際に、エアー吹出
し部が作業の妨げとなることもない。
装置では、基板処理部及びインデクサ部の上方空間を覆
うように配設されたエアー吹出し部が、基板処理部に対
して下向きにクリーンエアーを吹き出す部分とインデク
サ部に対して下向きにクリーンエアーを吹き出すインデ
クサ吹出し部とに分割され、インデクサ吹出し部が他の
部分から独立しており、基板処理部のメンテナンスに際
し、インデクサ部を移動手段によって退避位置へ移動さ
せたときに、インデクサ吹出し部もインデクサ部と一体
に移動する。従って、メンテナンス時においても、イン
デクサ吹出し部からインデクサ部に対して下向きにクリ
ーンエアーが吹き出され、その周囲環境が清浄にかつ一
定の状態に保たれる。また、インデクサ吹出し部はイン
デクサ部と共に退避位置へ移動するので、基板処理部の
メンテナンスの際に、エアー吹出し部が作業の妨げとな
ることもない。
を参照しながら説明する。
示し、図1は、回転処理器が設けられた基板処理ユニッ
トと露光機とをインライン構成とした基板の表面処理装
置の概略平面図、図2は、その概略正面図であり、図3
は、装置の一部(インターフェイス部)を示す正面図で
ある。但し、図1においては、クリーンベンチを取り外
した状態を示しており、また、図3においては、インタ
ーフェイス部の前扉を開けた状態を示し、かつ、インタ
ーフェイス部上方のクリーンベンチの図示を省略してい
る。
8、スピンデベロッパ20、ホットプレート22、クー
リングプレート24、搬送ロボット25などを備えた基
板処理ユニット10、この基板処理ユニット10の一方
の側面側に隣接して配設され、基板処理ユニット10へ
未処理基板を搬入し、また、基板処理ユニット10から
処理済み基板を受け取るインデクサ部12、基板処理ユ
ニット10の他方の側面側に隣接して配設されたインタ
ーフェイス部14、並びに、基板処理ユニット10にお
いて表面にフォトレジスト膜が被着形成された基板に対
し露光・焼付け処理を施す露光機16から構成されてい
る。基板処理ユニット10とインデクサ部12とインタ
ーフェイス部14とは相互に連続されて一体化するよう
構成されており、基板処理ユニット10のインターフェ
イス部14の側に、インターフェイス部14に近接して
露光機16が設置されていて、インターフェイス部14
を介して基板処理ユニット10と露光機16との間での
基板の受け渡しが行なわれるようになっている。尚、ホ
ットプレート22及びクーリングプレート24は、それ
ぞれ複数が上下方向に積み重ねて設けられる。また、基
板処理ユニット10における基板の表面処理工程やイン
デクサ部12及びインターフェイス部14における基板
の移し替えや一時保管などの動作については、この発明
の要旨と関係しないので、これ以上の詳しい説明を省略
する。
インデクサ部12の上方空間を覆うようにクリーンベン
チ26が配設されており、また、インターフェイス部1
4の上方空間を覆うようにインデクサ部専用のクリーン
ベンチ28が配設されている。両クリーンベンチ26、
28は、互いに独立しており、一方のクリーンベンチ2
6は、基板処理ユニット10の上面に固着された支柱3
0によって基板処理ユニット10及びインデクサ部12
上に支持され、他方のクリーンベンチ28は、インター
フェイス部14の上面に固着された支柱32によってイ
ンターフェイス部14上に支持されている。そして、一
方のクリーンベンチ26から基板処理ユニット10及び
インデクサ部12に対して下向きにクリーンエアーが吹
き出され、また、他方のクリーンベンチ28からインタ
ーフェイス部14に対して下向きにクリーンエアーが吹
き出されて、それぞれの周囲環境が清浄にかつ一定の状
態に保たれるようになっている。尚、送風ファンは、各
クリーンベンチ26、28にそれぞれ個別に設けるよう
にしてもよいし、或いは、一方のクリーンベンチ26だ
けに送風ファンを設けておき、その一方のクリーンベン
チ26からダクト等を通してクリーンエアーの一部を他
方のクリーンベンチ28へ導入するようにしてもよい。
理ユニット10に対して前後方向に移動可能に連結して
いる。すなわち、図3に示すように、インターフェイス
部14の下面にはキャスタ34が取着されており、基板
処理ユニット10とインターフェイス部14とが、基板
処理ユニット10の側に取着された複数個の溝付きコロ
36とインターフェイス部14の側に取着され溝付きコ
ロ36に係合したガイド棒38とを介し、互いに連結さ
れている。そして、インターフェイス部14は、図1に
実線で示した定常運転時の位置から前方へ引き出して、
それを同図に破線で示すようにメンテナンス時の退避位
置へ移動させることができるようになっている。また、
インターフェイス部14をメンテナンス時の退避位置か
ら後方へ押し込んで定常運転時の位置に戻したときに、
インターフェイス部14が基板処理ユニット10に対し
前後方向において正確に位置決め固定されるように、イ
ンターフェイス部14に、基板処理ユニット10側に設
けられた係止部42に係止するねじ込み式位置決めピン
40が取り付けられている。尚、図1及び図2に示す装
置全体は、いわゆるクリーンルーム内に設置される。
露光機16のメンテナンスの際に、インターフェイス部
14を前方の退避位置へ引き出すと、インターフェイス
部14上に支持されたクリーンベンチ28もインターフ
ェイス部14と一体に移動する。従って、クリーンベン
チ28がメンテナンス作業の邪魔になるようなことはな
く、また、メンテナンス作業の間中も、クリーンベンチ
28からインターフェイス部14に対して下向きにクリ
ーンエアーが吹き出され、そのダウンフローによってイ
ンターフェイス部14の周囲環境は一定の清浄な状態に
維持される。尚、基板処理ユニット10内の各機器やイ
ンターフェイス部14は、それぞれの四方側面に側壁4
4を有しており、クリーンベンチ26、28から各機器
の内部へ送られたクリーンエアーは側壁44に囲まれた
空間を下方に向かって流れる。また、搬送ロボット25
が基板を各機器と受け渡しするため、搬送ロボット25
側の側壁44には、基板出し入れ用のスリット状の開口
(図示せず)が形成される。
ンテナンスのために、インターフェイス部14を移動可
能とし、そのインターフェイス部14と一体にクリーン
ベンチ28が移動するようにしているが、基板処理ユニ
ットのメンテナンス等のために、インデクサ部も移動可
能とするとともに、そのインデクサ部にクリーンエアー
を供給するクリーンベンチを他の部分から独立させ、か
つ、そのクリーンベンチがインデクサ部と一体に移動す
るような構成としてもよい。また、露光機及びインター
フェイス部が設けられておらず、基板処理ユニットとイ
ンデクサ部とで構成されたような基板表面処理装置で
は、メンテナンスのために、基板処理ユニットに対しイ
ンデクサ部を移動可能とするとともに、クリーンベンチ
を分割して、インデクサ部専用のクリーンベンチがイン
デクサ部と一体に移動するような構成とすればよい。
部)を基板処理ユニットに対して移動可能に連結する機
構としては、上記実施例のように複数個の溝付きコロと
ガイド棒とを組み合わせたものに限らず、種々の機構の
ものを採用し得る。また、クリーンベンチをインターフ
ェイス部(又はインデクサ部)と一体に移動させること
ができるようにする構成としては、上記実施例のように
インターフェイス部(又はインデクサ部)上に支柱を介
してクリーンベンチを支持する構成に限らず、例えば、
クリーンベンチをインターフェイス部(又はインデクサ
部)と分離させ、キャスタ付きの支柱によりクリーンベ
ンチを、インターフェイス部(又はインデクサ部)の上
方空間を覆うように床上に支持し、メンテナンスに際し
てインターフェイス部(又はインデクサ部)を移動させ
たときに、その一部がクリーンベンチの支柱に係合し
て、クリーンベンチがインターフェイス部(又はインデ
クサ部)と一緒に移動するような構成としてもよい。
理装置として、スピンコータ及びスピンデベロッパを備
えた基板処理ユニットと露光機とをインライン化したも
のを例示したが、基板の表面処理の種類としては、フォ
トレジスト塗布や露光、現像といった処理に限らず、例
えば基板の熱処理炉のようなものでもよく、この発明
は、種々の処理を行なう基板の表面処理装置について適
用し得るものである。
基板処理部の間にインターフェイス部を介設して両基板
処理部をインライン構成とした装置において、基板処理
部のメンテナンスに際し、インターフェイス部を退避位
置へ移動させても、クリーンエアーの吹出しによってイ
ンターフェイス部の周囲環境が清浄にかつ一定に保たれ
るとともに、クリーンエアーの吹出し部がメンテナンス
作業の妨げとなるようなことがない基板の表面処理装置
を提供することができる。
処理部にインデクサ部を隣接させて配設した構成の装置
において、基板処理部のメンテナンスに際し、インデク
サ部を退避位置へ移動させても、クリーンエアーの吹出
しによってインデクサ部の周囲環境が清浄にかつ一定に
保たれるとともに、クリーンエアーの吹出し部がメンテ
ナンス作業の妨げとなるようなことがない基板の表面処
理装置を提供することができる。
ナが設けられた基板処理ユニットと露光機とをインライ
ン構成とした基板表面処理装置の、クリーンベンチを取
り外した状態を示す概略平面図である。
ェイス部)を示す拡大正面図である。
であって、(a)は模式平面図、(b)は模式正面図で
ある。
し、(a)は模式平面図、(b)は模式正面図である。
クリーンエアーを吹き出すクリーンベンチ 7、28 インターフェイス部に対してクリーンエアー
を吹き出すクリーンベンチ 30、32 支柱 34 キャスタ 36 溝付きコロ 38 ガイド棒 40 ねじ込み式位置決めピン
Claims (2)
- 【請求項1】 基板を表面処理する第1の基板処理部
と、 この第1の基板処理部での表面処理とは別の表面処理を
基板に施す第2の基板処理部と、 前記第1の基板処理部と第2の基板処理部との間に、そ
れぞれの基板処理部に隣接するように介設され、第1の
基板処理部と第2の基板処理部との間で基板を受け渡し
するインターフェイス部と、 前記第1の基板処理部及びインターフェイス部の上方空
間を覆うように配設され、第1の基板処理部及びインタ
ーフェイス部に対して下向きにクリーンエアーを吹き出
すエアー吹出し部とを備えた基板の表面処理装置におい
て、 前記エアー吹出し部を分割して、前記インターフェイス
部に対してクリーンエアーを吹き出すインターフェイス
吹出し部を他の部分から独立させるとともに、インター
フェイス部を、前記第1及び第2の各基板処理部におい
てそれぞれ基板の表面処理が行なわれる定常運転時の位
置とメンテナンス時の退避位置との間で移動可能とし、
かつ、前記インターフェイス吹出し部をインターフェイ
ス部と一体に移動可能とする移動手段を設けたことを特
徴とする基板の表面処理装置。 - 【請求項2】 基板を表面処理する基板処理部と、 この基板処理部に隣接して配設され、基板処理部へ未処
理基板を搬入し基板処理部から処理済み基板を受け取る
インデクサ部と、 前記基板処理部及びインデクサ部の上方空間を覆うよう
に配設され、基板処理部及びインデクサ部に対して下向
きにクリーンエアーを吹き出すエアー吹出し部とを備え
た基板の表面処理装置において、 前記エアー吹出し部を分割して、前記インデクサ部に対
してクリーンエアーを吹き出すインデクサ吹出し部を他
の部分から独立させるとともに、インデクサ部を、前記
基板処理部において基板の表面処理が行なわれる定常運
転時の位置とメンテナンス時の退避位置との間で移動可
能とし、かつ、前記インデクサ吹出し部をインデクサ部
と一体に移動可能とする移動手段を設けたことを特徴と
する基板の表面処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4633895A JP3686115B2 (ja) | 1995-02-09 | 1995-02-09 | 基板の表面処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4633895A JP3686115B2 (ja) | 1995-02-09 | 1995-02-09 | 基板の表面処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08222492A true JPH08222492A (ja) | 1996-08-30 |
JP3686115B2 JP3686115B2 (ja) | 2005-08-24 |
Family
ID=12744358
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4633895A Expired - Lifetime JP3686115B2 (ja) | 1995-02-09 | 1995-02-09 | 基板の表面処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3686115B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6053058A (en) * | 1996-09-30 | 2000-04-25 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Atmosphere concentration monitoring for substrate processing apparatus and life determination for atmosphere processing unit of substrate processing apparatus |
JP2001093790A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-04-06 | Nec Corp | クリーンルーム及びクリーンルームの空調方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102403199B1 (ko) * | 2019-07-02 | 2022-05-27 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 |
-
1995
- 1995-02-09 JP JP4633895A patent/JP3686115B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6053058A (en) * | 1996-09-30 | 2000-04-25 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Atmosphere concentration monitoring for substrate processing apparatus and life determination for atmosphere processing unit of substrate processing apparatus |
JP2001093790A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-04-06 | Nec Corp | クリーンルーム及びクリーンルームの空調方法 |
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---|---|
JP3686115B2 (ja) | 2005-08-24 |
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