JPH08220104A - 検体検査自動化システム - Google Patents
検体検査自動化システムInfo
- Publication number
- JPH08220104A JPH08220104A JP2368395A JP2368395A JPH08220104A JP H08220104 A JPH08220104 A JP H08220104A JP 2368395 A JP2368395 A JP 2368395A JP 2368395 A JP2368395 A JP 2368395A JP H08220104 A JPH08220104 A JP H08220104A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- rack
- quality control
- supplied
- automatic analyzer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】一般検体の載った親検体用ラック４と，子検体
用ラック６は、分注ステーション８で親検体から子検体
に分注され、精度管理検体投入ユニット１で通過ラック
数を計数し、自動分析装置１０，１１，１２に供給す
る。精度管理検体投入ユニット１は、計数値がある値に
なった場合、精度管理用検体ラック２を自動分析装置に
供給し、計数値をクリアする。以上の処理を繰り返し行
うことにより、精度管理用検体ラック２を自動分析装置
に一定間隔で供給できる。 【効果】精度管理用検体ラックを一定間隔で自動分析装
置に自動的に供給が行え、ユーザの負担の軽減と，精度
管理用検体ラックの正確な供給に効果がある。
用ラック６は、分注ステーション８で親検体から子検体
に分注され、精度管理検体投入ユニット１で通過ラック
数を計数し、自動分析装置１０，１１，１２に供給す
る。精度管理検体投入ユニット１は、計数値がある値に
なった場合、精度管理用検体ラック２を自動分析装置に
供給し、計数値をクリアする。以上の処理を繰り返し行
うことにより、精度管理用検体ラック２を自動分析装置
に一定間隔で供給できる。 【効果】精度管理用検体ラックを一定間隔で自動分析装
置に自動的に供給が行え、ユーザの負担の軽減と，精度
管理用検体ラックの正確な供給に効果がある。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、精度管理用検体の供給
をラック方式で行う検体検査自動化システムに関する。
をラック方式で行う検体検査自動化システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、臨床検査において、前処理・後処
理過程を含めた検体検査の自動化が必要不可欠となっ
た。
理過程を含めた検体検査の自動化が必要不可欠となっ
た。
【０００３】まず、人口の高齢化及び、高度医療の推進
に伴い、検体検査の件数は増加を続けている。そういっ
た状況の中で検体検査自動化システムは、一度に多くの
生体試料を自動分析装置に供給することを目的として、
ラック方式によって生体試料を搬送するものが増えてき
た。
に伴い、検体検査の件数は増加を続けている。そういっ
た状況の中で検体検査自動化システムは、一度に多くの
生体試料を自動分析装置に供給することを目的として、
ラック方式によって生体試料を搬送するものが増えてき
た。
【０００４】しかし、この従来の検体検査自動化システ
ムでは、一般の生体試料の入ったラックは自動的に搬送
し、分注・分析を行えるが、自動分析装置の管理を行う
ための精度管理用検体の入ったラックを一定間隔で自動
分析装置へ搬送するための考慮はなされていなかった。
ムでは、一般の生体試料の入ったラックは自動的に搬送
し、分注・分析を行えるが、自動分析装置の管理を行う
ための精度管理用検体の入ったラックを一定間隔で自動
分析装置へ搬送するための考慮はなされていなかった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、自
動分析装置の管理を行うにあたり精度管理用検体の入っ
たラックはユーザにより自動分析装置に直接投入する必
要があり、ユーザの時間の浪費及び、投入間隔が一定と
ならず正確な管理が行えないという問題があった。
動分析装置の管理を行うにあたり精度管理用検体の入っ
たラックはユーザにより自動分析装置に直接投入する必
要があり、ユーザの時間の浪費及び、投入間隔が一定と
ならず正確な管理が行えないという問題があった。
【０００６】本発明は、検体試料の供給をラック方式で
行う検体検査自動化システムにおいて、精度管理用検体
の入ったラックを自動的に一定間隔で自動分析装置に供
給すること及び、一般の生体試料がある一定時間以上跡
切れた場合、ラックの供給と、再び一般の生体試料が投
入された場合は、必ず先頭にラックを供給し、以後一定
間隔となるラック搬送制御方式により、ユーザの負坦の
軽減と精度管理用検体ラックの正確な供給を可能とす
る。
行う検体検査自動化システムにおいて、精度管理用検体
の入ったラックを自動的に一定間隔で自動分析装置に供
給すること及び、一般の生体試料がある一定時間以上跡
切れた場合、ラックの供給と、再び一般の生体試料が投
入された場合は、必ず先頭にラックを供給し、以後一定
間隔となるラック搬送制御方式により、ユーザの負坦の
軽減と精度管理用検体ラックの正確な供給を可能とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、精度管理用検体の入ったラックを複数個設置可能な
精度管理検体投入ユニットを搬送ラインの途中に設け、
予め決められたパラメータに従い、ラックを自動的に搬
送ライン上に投入し、自動分析装置に供給することを可
能とした。
に、精度管理用検体の入ったラックを複数個設置可能な
精度管理検体投入ユニットを搬送ラインの途中に設け、
予め決められたパラメータに従い、ラックを自動的に搬
送ライン上に投入し、自動分析装置に供給することを可
能とした。
【０００８】
【作用】検体試料の供給をラック方式で行う検体検査自
動化システムでは、一般検体を保持したラック群は、親
検体投入部に架設されるが、本発明の精度管理用検体ラ
ックは、搬送ライン上に設けた精度管理検体投入ユニッ
トに架設する。
動化システムでは、一般検体を保持したラック群は、親
検体投入部に架設されるが、本発明の精度管理用検体ラ
ックは、搬送ライン上に設けた精度管理検体投入ユニッ
トに架設する。
【０００９】システムを始動すると、検体投入部の検体
試料の架設されたラックは、一つずつ搬送ライン上に送
り出され分注位置まで搬送され自動分析装置で測定する
ための子検体ラックに分注する。分注後の子検体ラック
は搬送ライン上をながれ精度管理検体投入ユニットを通
過し自動分析装置に供給される。
試料の架設されたラックは、一つずつ搬送ライン上に送
り出され分注位置まで搬送され自動分析装置で測定する
ための子検体ラックに分注する。分注後の子検体ラック
は搬送ライン上をながれ精度管理検体投入ユニットを通
過し自動分析装置に供給される。
【００１０】本発明では、精度管理用検体投入ユニット
において、分注後の子検体ラックの通過した数を計数
し、ある設定値になった場合、精度管理用検体ラックを
搬送ライン上に送り出し自動分析装置に供給させ、計数
値をクリアする。以上の動作を繰り返すことにより、精
度管理用検体ラックを一定間隔で自動分析装置に自動供
給できる。
において、分注後の子検体ラックの通過した数を計数
し、ある設定値になった場合、精度管理用検体ラックを
搬送ライン上に送り出し自動分析装置に供給させ、計数
値をクリアする。以上の動作を繰り返すことにより、精
度管理用検体ラックを一定間隔で自動分析装置に自動供
給できる。
【００１１】また、一般検体が跡切れた場合は、タイマ
監視を行い精度管理用検体ラックの自動供給と、次に一
般検体が再投入された場合、先頭に精度管理用検体ラッ
クを供給することにより一般検体の先頭と最後に精度管
理用検体ラックを自動供給できる。
監視を行い精度管理用検体ラックの自動供給と、次に一
般検体が再投入された場合、先頭に精度管理用検体ラッ
クを供給することにより一般検体の先頭と最後に精度管
理用検体ラックを自動供給できる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の実施例を図に従って説明す
る。
る。
【００１３】図１は、本発明の一実施例を適用した検体
試料の供給をラック方式で行う検体検査自動化システム
の一部省略のブロック図である。
試料の供給をラック方式で行う検体検査自動化システム
の一部省略のブロック図である。
【００１４】検体検査自動化システムは、外部入出力装
置２１を含むコンピュータ２０により集中管理してい
る。
置２１を含むコンピュータ２０により集中管理してい
る。
【００１５】検体搬送部は、一般検体の載った親検体用
ラック４を親検体投入ユニット３に架設する。
ラック４を親検体投入ユニット３に架設する。
【００１６】また、分注後、自動分析装置１０，１１，
１２で測定するための子検体用ラック６は、予め、空の
サンプルカップを載せ子検体投入ユニット５に架設後、
親検体投入ユニット３のスタートＳＷを投入することに
より搬送ライン１５，１６により搬送し、バーコードリ
ーダユニット７にて、親／子検体ラックＮＯ及び、一般
検体容器に貼られたバーコードラベルを読み取り、分注
ステーション８の分注位置に停止させる。
１２で測定するための子検体用ラック６は、予め、空の
サンプルカップを載せ子検体投入ユニット５に架設後、
親検体投入ユニット３のスタートＳＷを投入することに
より搬送ライン１５，１６により搬送し、バーコードリ
ーダユニット７にて、親／子検体ラックＮＯ及び、一般
検体容器に貼られたバーコードラベルを読み取り、分注
ステーション８の分注位置に停止させる。
【００１７】分注ステーション８は、コンピュータ２０
に対して、分注問い合わせを行いその分注指示により一
般検体の載った親検体用ラック１３から子検体用ラック
１４に分注処理を行い、その結果はコンピュータ２０に
格納され、その情報をもとに自動分析装置１０，１１，
１２の制御を行う。
に対して、分注問い合わせを行いその分注指示により一
般検体の載った親検体用ラック１３から子検体用ラック
１４に分注処理を行い、その結果はコンピュータ２０に
格納され、その情報をもとに自動分析装置１０，１１，
１２の制御を行う。
【００１８】分注終了後の親検体用ラック１３は、搬送
ライン１６を流れ検体収納ユニット９に順次収納され
る。
ライン１６を流れ検体収納ユニット９に順次収納され
る。
【００１９】また、分注後の子検体用ラック１４は、コ
ンピュータ２０の指示により搬送ライン１５を流れ対応
する自動分析装置に供給される。
ンピュータ２０の指示により搬送ライン１５を流れ対応
する自動分析装置に供給される。
【００２０】一方、自動分析装置１０，１１，１２で
は、装置の状態を逐次監視するために試料濃度の既知の
精度管理用検体を一定間隔で測定し装置の状態を監視し
ている。従来方式ではユーザが各自動分析装置に対して
精度管理用検体ラックを一定間隔で供給するため時間の
浪費となっていた。
は、装置の状態を逐次監視するために試料濃度の既知の
精度管理用検体を一定間隔で測定し装置の状態を監視し
ている。従来方式ではユーザが各自動分析装置に対して
精度管理用検体ラックを一定間隔で供給するため時間の
浪費となっていた。
【００２１】本発明では、精度管理用検体ラック２を精
度管理検体投入ユニット１にまとめて架設しておくこと
により、図２の精度管理ラック搬入間隔３１，３２，３
３の値だけ子検体用ラック１４を自動分析装置１０，１
１，１２に供給後、精度管理用検体ラック２を自動分析
装置１０，１１，１２に繰り返し一定間隔で供給する動
作を精度管理検体投入ユニット１が行う。
度管理検体投入ユニット１にまとめて架設しておくこと
により、図２の精度管理ラック搬入間隔３１，３２，３
３の値だけ子検体用ラック１４を自動分析装置１０，１
１，１２に供給後、精度管理用検体ラック２を自動分析
装置１０，１１，１２に繰り返し一定間隔で供給する動
作を精度管理検体投入ユニット１が行う。
【００２２】また、親検体用ラック４が途中で跡切れた
場合、精度管理検体投入ユニット１は、監視タイマ３４
の時間後、自動的に精度管理用検体ラック２を自動分析
装置１０，１１，１２に供給し、子検体用ラック１４の
搬送カウンタをクリアする。これにより、ある間隔にな
らずに一般検体が跡切れた場合でも精度管理用検体ラッ
ク２を供給できる。
場合、精度管理検体投入ユニット１は、監視タイマ３４
の時間後、自動的に精度管理用検体ラック２を自動分析
装置１０，１１，１２に供給し、子検体用ラック１４の
搬送カウンタをクリアする。これにより、ある間隔にな
らずに一般検体が跡切れた場合でも精度管理用検体ラッ
ク２を供給できる。
【００２３】ある時間経過後、一般検体が集まり運転を
再開した場合、分注後の子検体用ラック１４が精度管理
検体投入ユニット１まで搬送されて来ると、投入ユニッ
ト１は、搬送カウンタがクリアされているため子検体用
ラック１４の前に精度管理用検体ラック２を供給し、以
後、精度管理ラック搬入間隔３１，３２，３３の値で繰
り返し供給する。
再開した場合、分注後の子検体用ラック１４が精度管理
検体投入ユニット１まで搬送されて来ると、投入ユニッ
ト１は、搬送カウンタがクリアされているため子検体用
ラック１４の前に精度管理用検体ラック２を供給し、以
後、精度管理ラック搬入間隔３１，３２，３３の値で繰
り返し供給する。
【００２４】図２は、外部入出力装置２１にて精度管理
用検体ラック２の搬入パラメータ設定画面で、本画面情
報によれば自動分析装置１０，１１，１２へ分注後の子
検体用ラック１４を２０ラック供給後、精度管理用検体
ラック２を１個供給する動作を繰り返す。
用検体ラック２の搬入パラメータ設定画面で、本画面情
報によれば自動分析装置１０，１１，１２へ分注後の子
検体用ラック１４を２０ラック供給後、精度管理用検体
ラック２を１個供給する動作を繰り返す。
【００２５】また、子検体用ラック１４が１０分間供給
されない場合は、精度管理用検体ラック２を供給する設
定となっている。
されない場合は、精度管理用検体ラック２を供給する設
定となっている。
【００２６】これらの搬入パラメータの入力は、外部入
出力装置２１から入力し、精度管理検体投入ユニット１
へ送り、投入ユニット１内でそのパラメータに基づいて
処理される。
出力装置２１から入力し、精度管理検体投入ユニット１
へ送り、投入ユニット１内でそのパラメータに基づいて
処理される。
【００２７】以上、本実施例によれば、精度管理用検体
ラックの供給は、予め、パラメータを入力しておけばシ
ステムがそれに基づいて自動的に供給するためユーザの
負担の軽減と精度管理用検体ラックの正確な供給に効果
がある。
ラックの供給は、予め、パラメータを入力しておけばシ
ステムがそれに基づいて自動的に供給するためユーザの
負担の軽減と精度管理用検体ラックの正確な供給に効果
がある。
【００２８】
【発明の効果】本発明によれば、検体試料の供給をラッ
ク方式で行う検体検査自動化システムにおいて、予め精
度管理用検体をまとめ架設しておけば、設定されたパラ
メータにより一定間隔で自動分析装置に供給ができ、ユ
ーザの手間の省略と負担の軽減になる。
ク方式で行う検体検査自動化システムにおいて、予め精
度管理用検体をまとめ架設しておけば、設定されたパラ
メータにより一定間隔で自動分析装置に供給ができ、ユ
ーザの手間の省略と負担の軽減になる。
【００２９】これらの事により、ユーザの負担の軽減
と，自動分析装置への精度管理用検体の正確な供給に効
果がある。
と，自動分析装置への精度管理用検体の正確な供給に効
果がある。
【図１】本発明を適用した検体試料の供給をラック方式
で行う検体検査自動化システムの一部省略のブロック
図。
で行う検体検査自動化システムの一部省略のブロック
図。
【図２】精度管理用ラックの搬入パラメータを設定する
説明図。
説明図。
１…精度管理検体投入ユニット、２…精度管理用検体ラ
ック、３…親検体投入ユニット、４，１３…親検体用ラ
ック、５…子検体投入ユニット、６，１４…子検体用ラ
ック、７…バーコードリーダユニット、８…分注ステー
ション、９…検体収納ユニット、１０，１１，１２…自
動分析装置、１５，１６…搬送ライン、２０…コンピュ
ータ、２１…外部入出力装置、３１，３２，３３…精度
管理ラック搬入間隔、３４…監視タイマ。
ック、３…親検体投入ユニット、４，１３…親検体用ラ
ック、５…子検体投入ユニット、６，１４…子検体用ラ
ック、７…バーコードリーダユニット、８…分注ステー
ション、９…検体収納ユニット、１０，１１，１２…自
動分析装置、１５，１６…搬送ライン、２０…コンピュ
ータ、２１…外部入出力装置、３１，３２，３３…精度
管理ラック搬入間隔、３４…監視タイマ。
Claims (3)
- 【請求項１】検体の測定を行う自動分析装置と，検体を
搬送する搬送ライン及び、検体の分注を行う分注ステー
ションと，測定項目，各種パラメータの入出力を行うた
めの外部入出力装置と，精度管理用検体の入った容器を
保持するラックを定期的に自動分析装置に供給する精度
管理検体投入ユニットを備えた検体検査自動化システム
において、前記外部入出力装置から入力したパラメータ
に基づいて、前記ラックを一定間隔で自動分析装置へ供
給することを特徴とする検体検査自動化システム。 - 【請求項２】請求項１において、検体が一定時間跡切れ
た場合、一定間隔にならない場合でも、前記ラックを供
給する検体検査自動化システム。 - 【請求項３】請求項２において、検体が一定時間跡切れ
た後、再度投入された場合、先頭に前記ラックを供給
し、以後、一定間隔で供給する検体検査自動化システ
ム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2368395A JPH08220104A (ja) | 1995-02-13 | 1995-02-13 | 検体検査自動化システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2368395A JPH08220104A (ja) | 1995-02-13 | 1995-02-13 | 検体検査自動化システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08220104A true JPH08220104A (ja) | 1996-08-30 |
Family
ID=12117263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2368395A Pending JPH08220104A (ja) | 1995-02-13 | 1995-02-13 | 検体検査自動化システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08220104A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001099840A (ja) * | 1999-09-30 | 2001-04-13 | Toshiba Medical System Co Ltd | 自動分析装置 |
| JP2002277477A (ja) * | 2001-03-16 | 2002-09-25 | Olympus Optical Co Ltd | 自動分析システム |
| JP2007232510A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Sysmex Corp | 試料分析装置およびコンピュータプログラム |
| JP2009258140A (ja) * | 2009-08-14 | 2009-11-05 | Toshiba Medical System Co Ltd | 自動分析装置 |
| JP2010048585A (ja) * | 2008-08-19 | 2010-03-04 | Olympus Corp | 自動分析装置 |
-
1995
- 1995-02-13 JP JP2368395A patent/JPH08220104A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001099840A (ja) * | 1999-09-30 | 2001-04-13 | Toshiba Medical System Co Ltd | 自動分析装置 |
| JP4642954B2 (ja) * | 1999-09-30 | 2011-03-02 | 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 | 自動分析装置 |
| JP2002277477A (ja) * | 2001-03-16 | 2002-09-25 | Olympus Optical Co Ltd | 自動分析システム |
| JP2007232510A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Sysmex Corp | 試料分析装置およびコンピュータプログラム |
| JP2010048585A (ja) * | 2008-08-19 | 2010-03-04 | Olympus Corp | 自動分析装置 |
| JP2009258140A (ja) * | 2009-08-14 | 2009-11-05 | Toshiba Medical System Co Ltd | 自動分析装置 |
| JP4643733B2 (ja) * | 2009-08-14 | 2011-03-02 | 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 | 自動分析装置 |
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