JPH08220001A - 表面疵検査方法 - Google Patents
表面疵検査方法Info
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- JPH08220001A JPH08220001A JP5206995A JP5206995A JPH08220001A JP H08220001 A JPH08220001 A JP H08220001A JP 5206995 A JP5206995 A JP 5206995A JP 5206995 A JP5206995 A JP 5206995A JP H08220001 A JPH08220001 A JP H08220001A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、ＵＯ鋼管溶接部等の表面疵を光切
断像で撮像して疵の有無及び疵の大きさなどを判定する
表面疵検査方法に関する。特に表面疵検査を高速に、連
続的に行なう場合に好適である。 【構成】 被検査対象面に対してスリット光を照射する
スリット光投光手段と、撮像装置により前記被対象面上
のスリット光を撮像する撮像手段と、この撮像手段によ
り得た光切断像を前処理により信号形式を変換する前処
理手段と、この前処理手段により得られた情報を処理し
て前記被検査体表面の疵を検出すＲる後処理手段を有す
る方法において、前記スリット光投光手段は、前処理手
段の結果として得られる光切断像の照度情報を基に、ス
リット光の出力値を制御し、光切断像の信号レベルを常
に一定に保つことを特徴とする。
断像で撮像して疵の有無及び疵の大きさなどを判定する
表面疵検査方法に関する。特に表面疵検査を高速に、連
続的に行なう場合に好適である。 【構成】 被検査対象面に対してスリット光を照射する
スリット光投光手段と、撮像装置により前記被対象面上
のスリット光を撮像する撮像手段と、この撮像手段によ
り得た光切断像を前処理により信号形式を変換する前処
理手段と、この前処理手段により得られた情報を処理し
て前記被検査体表面の疵を検出すＲる後処理手段を有す
る方法において、前記スリット光投光手段は、前処理手
段の結果として得られる光切断像の照度情報を基に、ス
リット光の出力値を制御し、光切断像の信号レベルを常
に一定に保つことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＵＯ鋼管溶接部等の表
面疵を光切断像で撮像して疵の有無及び疵の大きさなど
を判定する表面疵検査方法に関する。特に表面疵検査を
高速に、連続的に行なう場合に好適である。
面疵を光切断像で撮像して疵の有無及び疵の大きさなど
を判定する表面疵検査方法に関する。特に表面疵検査を
高速に、連続的に行なう場合に好適である。
【０００２】
【従来の技術】従来の光切断法を用いたＵＯ鋼管溶接部
表面疵検査方法は、例えば図１に示すように、ＵＯ鋼管
１０１、溶接部１０２、スリット光投光器１０３、撮像
装置１０５、前処理回路１０６、後処理回路１０７から
構成されている。
表面疵検査方法は、例えば図１に示すように、ＵＯ鋼管
１０１、溶接部１０２、スリット光投光器１０３、撮像
装置１０５、前処理回路１０６、後処理回路１０７から
構成されている。
【０００３】従来のＵＯ鋼管溶接部表面疵検査方法（特
願平７−１９８７７号）では、図２に示すように撮像装
置１０５で得られたアナログ画像２０１を、光切断像２
０２を横切る方向の走査線に従って有限な本数の区画２
０３に分解する。さらにこの各区画において、一撮像素
子単位２０４の持つ光強度値により光強度分布２０５を
求め、この光強度値が予め設定した閾値２０６以上とな
る境界点２０７の座標を１点のみ選択する走査を、各走
査線ごとの区画で繰り返し行ない、これを連ねることに
よりアナログ画像である光切断像をディジタル画像２０
８として再現し、ＵＯ鋼管表面の凹凸形状及び疵等が検
査される。
願平７−１９８７７号）では、図２に示すように撮像装
置１０５で得られたアナログ画像２０１を、光切断像２
０２を横切る方向の走査線に従って有限な本数の区画２
０３に分解する。さらにこの各区画において、一撮像素
子単位２０４の持つ光強度値により光強度分布２０５を
求め、この光強度値が予め設定した閾値２０６以上とな
る境界点２０７の座標を１点のみ選択する走査を、各走
査線ごとの区画で繰り返し行ない、これを連ねることに
よりアナログ画像である光切断像をディジタル画像２０
８として再現し、ＵＯ鋼管表面の凹凸形状及び疵等が検
査される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ＵＯ鋼管表面からの反
射光強度は、ＵＯ鋼管の表面状態により異なる。図３は
異なる表面状態のＵＯ鋼管で得られる反射光強度分布を
示す。
射光強度は、ＵＯ鋼管の表面状態により異なる。図３は
異なる表面状態のＵＯ鋼管で得られる反射光強度分布を
示す。
【０００５】上述の従来の表面疵検査方法では、反射光
強度分布が変化する場合、閾値２０６との境界点２０７
もこれに伴って変化することとなり、計測再現性の点で
不利となる。
強度分布が変化する場合、閾値２０６との境界点２０７
もこれに伴って変化することとなり、計測再現性の点で
不利となる。
【０００６】本発明は上述の問題点に鑑み、ＵＯ鋼管溶
接部の表面疵を高い信頼性で検出できるようにすること
を目的とする。
接部の表面疵を高い信頼性で検出できるようにすること
を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段および作用】本発明のＵＯ
鋼管溶接部表面疵検査方法は、図１の撮像装置１０５で
得られた光切断像において、この光切断像の照度を求
め、その値を予め設定した目標値になるようにスリット
光投光器の出力を制御する処理を具備している。
鋼管溶接部表面疵検査方法は、図１の撮像装置１０５で
得られた光切断像において、この光切断像の照度を求
め、その値を予め設定した目標値になるようにスリット
光投光器の出力を制御する処理を具備している。
【０００８】この方法によれば、ＵＯ鋼管の表面状態や
図１の検出ヘッド１０８とＵＯ鋼管表面との距離が変化
した場合でも、常に安定な光切断像が得られ、信頼性の
高い計測が可能となる。
図１の検出ヘッド１０８とＵＯ鋼管表面との距離が変化
した場合でも、常に安定な光切断像が得られ、信頼性の
高い計測が可能となる。
【０００９】なお、スリット光投光器の出力を制御する
際に参照する値は、光切断像の照度の平均値、最大値、
最小値を利用する方法がある。
際に参照する値は、光切断像の照度の平均値、最大値、
最小値を利用する方法がある。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の表面疵検査方法の一実施例
を、ＵＯ鋼管表面疵検査例の図面を参照しながら説明す
る。
を、ＵＯ鋼管表面疵検査例の図面を参照しながら説明す
る。
【００１１】図１は本発明の一実施例を説明するための
疵検査装置の一例を示すブロック図である。図１におい
て、１０１はＵＯ鋼管、１０２はその溶接部、１０３は
スリット光投光器、１０４は溶接部１０２とその周辺に
照射された平行状のスリット光、１０５は撮像装置、１
０６は撮像装置１０５で得られた画像の前処理回路、１
０７は前処理回路１０６より得られる情報を扱う後処理
回路、１０８はスリット光投光器１０３と撮像装置１０
５から成る検出ヘッドである。
疵検査装置の一例を示すブロック図である。図１におい
て、１０１はＵＯ鋼管、１０２はその溶接部、１０３は
スリット光投光器、１０４は溶接部１０２とその周辺に
照射された平行状のスリット光、１０５は撮像装置、１
０６は撮像装置１０５で得られた画像の前処理回路、１
０７は前処理回路１０６より得られる情報を扱う後処理
回路、１０８はスリット光投光器１０３と撮像装置１０
５から成る検出ヘッドである。
【００１２】図２は前処理回路１０６における処理内容
を説明するためのものである。撮像装置１０５で得られ
るアナログ画像２０１は、一般に光切断像２０２と呼ば
れる溶接部１０２の凹凸形状に対応した凹凸状となる。
このアナログ画像２０１を走査線に従って、Ｎ本の区画
２０３に分解する。さらにこの各区画において、各撮像
素子２０４の持つ光強度情報により、光強度分布２０５
を求める。このようにして得られた光強度分布２０５に
対して、予め設定した閾値２０６との境界点２０７を選
択する処理を、Ｎ本の区画全てに対して行ない、これを
元のアナログ画像２０１で分解した順序通りに連ねるこ
とにより、アナログ画像２０１をディジタル画像２０８
として再現する。
を説明するためのものである。撮像装置１０５で得られ
るアナログ画像２０１は、一般に光切断像２０２と呼ば
れる溶接部１０２の凹凸形状に対応した凹凸状となる。
このアナログ画像２０１を走査線に従って、Ｎ本の区画
２０３に分解する。さらにこの各区画において、各撮像
素子２０４の持つ光強度情報により、光強度分布２０５
を求める。このようにして得られた光強度分布２０５に
対して、予め設定した閾値２０６との境界点２０７を選
択する処理を、Ｎ本の区画全てに対して行ない、これを
元のアナログ画像２０１で分解した順序通りに連ねるこ
とにより、アナログ画像２０１をディジタル画像２０８
として再現する。
【００１３】図３は異なる表面状態、または検出ヘッド
１０８とＵＯ鋼管表面との距離が変化した場合の、反射
光強度分布２０５の違いを示す図である。
１０８とＵＯ鋼管表面との距離が変化した場合の、反射
光強度分布２０５の違いを示す図である。
【００１４】スリット光投光器の出力が一定であれば、
表面状態、または検出ヘッド１０８とＵＯ鋼管表面との
距離によって、反射光強度分布２０５は図３の如く変化
する。この時、閾値２０６を一定に保つならば、その境
界点２０７は反射光強度分布の変化に伴い、流動的とな
る。
表面状態、または検出ヘッド１０８とＵＯ鋼管表面との
距離によって、反射光強度分布２０５は図３の如く変化
する。この時、閾値２０６を一定に保つならば、その境
界点２０７は反射光強度分布の変化に伴い、流動的とな
る。
【００１５】閾値２０６を一定に保ったままで、境界点
２０７を安定にするためには、反射光強度レベルを常に
一定に保たなければならない。そのため、光切断像２０
２の反射光強度情報よりスリット光投光器１０３の出力
を制御し、反射光強度分布を常に一定に保つことによ
り、境界点２０７を安定にする。
２０７を安定にするためには、反射光強度レベルを常に
一定に保たなければならない。そのため、光切断像２０
２の反射光強度情報よりスリット光投光器１０３の出力
を制御し、反射光強度分布を常に一定に保つことによ
り、境界点２０７を安定にする。
【００１６】
【発明の効果】上述したような本発明の方法によれば、
従来安定とされてきた反射光強度のピーク点を検出する
方法と安定性の面でほぼ同等なアナログ画像からディジ
タル画像変換が可能となる。これにより、疵部のより深
い位置、または逆により高い位置の情報を検出すること
が可能となり、疵の有害／無害性を常に正確に判断する
ことが可能となる。
従来安定とされてきた反射光強度のピーク点を検出する
方法と安定性の面でほぼ同等なアナログ画像からディジ
タル画像変換が可能となる。これにより、疵部のより深
い位置、または逆により高い位置の情報を検出すること
が可能となり、疵の有害／無害性を常に正確に判断する
ことが可能となる。
【図１】本発明の一実施例を説明するための疵検査装置
の一例を示すブロック図である。
の一例を示すブロック図である。
【図２】図１中の前処理回路１０６における処理内容を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図３】異なる表面状態、または検出ヘッドとＵＯ鋼管
表面との距離が変化した場合の、反射光強度分布の違い
を示す図である。
表面との距離が変化した場合の、反射光強度分布の違い
を示す図である。
１０１ ＵＯ鋼管 １０２ 溶接部 １０３ スリット光投光器 １０４ スリット光 １０５ 撮像装置 １０６ 前処理回路 １０７ 後処理回路 １０８ 検出ヘッド
Claims (1)
- 【請求項１】 被検査対象面に対してスリット光を照射
するスリット光投光手段と、撮像装置により前記被検査
対象面上のスリット光を撮像する撮像手段と、この撮像
手段により得た光切断像を前処理により信号形式を変換
する前処理手段と、この前処理手段により得られた情報
を処理して前記被検査体表面の疵を検出する後処理手段
を有する表面疵検査方法において、前記スリット光投光
手段は、前処理手段の結果として得られる光切断像の照
度情報を基に、スリット光の出力値を制御し、光切断像
の信号レベルを常に一定に保つことを特徴とする表面疵
検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5206995A JPH08220001A (ja) | 1995-02-17 | 1995-02-17 | 表面疵検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5206995A JPH08220001A (ja) | 1995-02-17 | 1995-02-17 | 表面疵検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08220001A true JPH08220001A (ja) | 1996-08-30 |
Family
ID=12904537
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5206995A Pending JPH08220001A (ja) | 1995-02-17 | 1995-02-17 | 表面疵検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08220001A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006263796A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 管材の外面疵検出方法及び装置 |
| JP2008045935A (ja) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Jfe Steel Kk | 突合せ溶接部の良否検査方法および装置 |
| JP2011173147A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Jfe Steel Corp | エッジシームを低減した熱延鋼帯の製造方法 |
| WO2012100802A1 (de) * | 2011-01-27 | 2012-08-02 | Sms Meer Gmbh | Automatisierung rohrformpresse mit einer lichtquelle zur messung der rohrinnenkontur |
-
1995
- 1995-02-17 JP JP5206995A patent/JPH08220001A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006263796A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 管材の外面疵検出方法及び装置 |
| JP4543386B2 (ja) * | 2005-03-25 | 2010-09-15 | 住友金属工業株式会社 | 管材の外面疵検出方法及び装置 |
| JP2008045935A (ja) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Jfe Steel Kk | 突合せ溶接部の良否検査方法および装置 |
| JP2011173147A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Jfe Steel Corp | エッジシームを低減した熱延鋼帯の製造方法 |
| WO2012100802A1 (de) * | 2011-01-27 | 2012-08-02 | Sms Meer Gmbh | Automatisierung rohrformpresse mit einer lichtquelle zur messung der rohrinnenkontur |
| JP2014508042A (ja) * | 2011-01-27 | 2014-04-03 | エスエムエス メーア ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 管内側輪郭を測定する光源を備える自動化された管成形プレス |
| CN107716606A (zh) * | 2011-01-27 | 2018-02-23 | Sms 米尔股份有限公司 | 带有用于测量管内轮廓的光源的自动化的管成型压力机 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20011009 |