JPH0816611B2 - レンズのコバ厚測定方法およびそのための装置 - Google Patents
レンズのコバ厚測定方法およびそのための装置Info
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- JPH0816611B2 JPH0816611B2 JP1296956A JP29695689A JPH0816611B2 JP H0816611 B2 JPH0816611 B2 JP H0816611B2 JP 1296956 A JP1296956 A JP 1296956A JP 29695689 A JP29695689 A JP 29695689A JP H0816611 B2 JPH0816611 B2 JP H0816611B2
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B47/00—Drives or gearings; Equipment therefor
- B24B47/22—Equipment for exact control of the position of the grinding tool or work at the start of the grinding operation
- B24B47/225—Equipment for exact control of the position of the grinding tool or work at the start of the grinding operation for bevelling optical work, e.g. lenses
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、眼鏡レンズのコバ厚を測定する方法とその
ための装置に関する。
ための装置に関する。
(従来技術) 従来のレンズのコバ厚測定方法およびそのための装置
の一例は、本願出願人が先に出願した特願昭60−115079
号に開示の玉摺機の構成要素として詳細に記載されてい
る。
の一例は、本願出願人が先に出願した特願昭60−115079
号に開示の玉摺機の構成要素として詳細に記載されてい
る。
この従来のコバ厚測定装置は、第6図に模式的に示し
たフレーム形状測定装置10により測定された眼鏡フレー
ムのレンズ枠形状に基いて、第7図にブロック図で示し
たコバ厚測定装置でコバ厚を測定するように構成されて
いる。
たフレーム形状測定装置10により測定された眼鏡フレー
ムのレンズ枠形状に基いて、第7図にブロック図で示し
たコバ厚測定装置でコバ厚を測定するように構成されて
いる。
フレーム形状測定装置10は、先端にソロバン玉形状の
フイーラー11を自転可能に支持し、自身もフイーラー11
の接触端11aを通る垂線ASを回転軸としてフイーラー支
持台13に回動可能に支持されたフイーラーアーム12を有
する。フイーラー支持台13は、パルス発生機17からのパ
ルスで駆動されるパルスモータ16で回転されるレール14
上を、レール14の図示なき他端に固着されたバネ15の引
張力により、移動可能に保持されている。
フイーラー11を自転可能に支持し、自身もフイーラー11
の接触端11aを通る垂線ASを回転軸としてフイーラー支
持台13に回動可能に支持されたフイーラーアーム12を有
する。フイーラー支持台13は、パルス発生機17からのパ
ルスで駆動されるパルスモータ16で回転されるレール14
上を、レール14の図示なき他端に固着されたバネ15の引
張力により、移動可能に保持されている。
フイーラー11の接触端11aが眼鏡フレームのレンズ枠
Fのヤゲン溝Vfに当接したときのフイーラー11の移動量
ρiは、エンコーダまたはポジションセンサーからなる
検出器19で検出され、パルスモータ16への供給パルスθ
iと共にレンズ枠形状メモリ18に記憶される。
Fのヤゲン溝Vfに当接したときのフイーラー11の移動量
ρiは、エンコーダまたはポジションセンサーからなる
検出器19で検出され、パルスモータ16への供給パルスθ
iと共にレンズ枠形状メモリ18に記憶される。
レンズ枠Fのヤゲン溝全周に渡って測定されたフイー
ラー移動量ρ1とアーム回転量すなわち動径角θ1は、
レンズ枠Fの動径情報(ρi,θi)(ここで、i=0,1,
2,3,…N)としてレンズ枠形状メモリ18に記憶される。
ラー移動量ρ1とアーム回転量すなわち動径角θ1は、
レンズ枠Fの動径情報(ρi,θi)(ここで、i=0,1,
2,3,…N)としてレンズ枠形状メモリ18に記憶される。
コバ厚測定装置は、第7図に示すように、コバ厚セン
サー部20と電気回路部30とから構成されており、コバ厚
センサー部20は、ガイドレール21上を送りネジ26の駆動
により移動されるレンズフイーラー支持部材22を有して
いる。送りネジ26はパルスモータ25で回転駆動される。
レンズ回転軸28,28により生地レンズLが挾持され、パ
ルスモータ29の駆動によりレンズ回転軸28,28が回転さ
れ、これにより生地レンズLが回転される。レンズフイ
ーラー支持部材22には、レンズフイーラー23A,23Bと、
レンズフイーラー23A,23Bを引っ張るバネ25A,25Bおよび
レンズフイーラー23A,23Bの移動量を検出するエンコー
ダまたはポジションセンサーからなる検出器24A,24Bと
を有している。
サー部20と電気回路部30とから構成されており、コバ厚
センサー部20は、ガイドレール21上を送りネジ26の駆動
により移動されるレンズフイーラー支持部材22を有して
いる。送りネジ26はパルスモータ25で回転駆動される。
レンズ回転軸28,28により生地レンズLが挾持され、パ
ルスモータ29の駆動によりレンズ回転軸28,28が回転さ
れ、これにより生地レンズLが回転される。レンズフイ
ーラー支持部材22には、レンズフイーラー23A,23Bと、
レンズフイーラー23A,23Bを引っ張るバネ25A,25Bおよび
レンズフイーラー23A,23Bの移動量を検出するエンコー
ダまたはポジションセンサーからなる検出器24A,24Bと
を有している。
レンズ枠形状メモリ18に記憶されているレンズ枠Fの
動径情報(ρi,θi)の動径長ρiに基くパルスがパル
スモータ25に供給され、レンズフイーラー支持部材22を
移動することにより、レンズフイーラー23A,23Bはレン
ズ回転軸28,28の回転軸線から動径長ρiの位置に位置
付けられる。他方、動径角θiに基くパルスがパルスモ
ータ29に供給され、レンズ回転軸28,28を介して生地レ
ンズLが基準位置から動径角θiだけ回転させられる。
動径情報(ρi,θi)の動径長ρiに基くパルスがパル
スモータ25に供給され、レンズフイーラー支持部材22を
移動することにより、レンズフイーラー23A,23Bはレン
ズ回転軸28,28の回転軸線から動径長ρiの位置に位置
付けられる。他方、動径角θiに基くパルスがパルスモ
ータ29に供給され、レンズ回転軸28,28を介して生地レ
ンズLが基準位置から動径角θiだけ回転させられる。
レンズフイーラー23Aは、バネ25Aの引張力によりレン
ズLの前側屈折面LFに当接され、その移動量fZiが検出
器24Aで検出されレンズデータメモリ31に記憶される。
同様に、レンズフイーラー23Bは、バネ25Bの引張力によ
りレンズLの後側屈折面LBに当接され、その移動量bZi
が検出器24Bで検出されレンズデータメモリ31に記憶さ
れる。この検出動作を動径情報(ρi,θi)(ここで、
i=0,1,2,3,…N)の全てについて実行し、レンズLの
レンズ枠Fの動径形状軌跡(ρi,θi)上における前側
屈折面位置情報(fZi,θi)および後側屈折面位置情報
(bZi,θi)(ここで、i=0,1,2,3,…N)がレンズデ
ータメモリ31に記憶される。
ズLの前側屈折面LFに当接され、その移動量fZiが検出
器24Aで検出されレンズデータメモリ31に記憶される。
同様に、レンズフイーラー23Bは、バネ25Bの引張力によ
りレンズLの後側屈折面LBに当接され、その移動量bZi
が検出器24Bで検出されレンズデータメモリ31に記憶さ
れる。この検出動作を動径情報(ρi,θi)(ここで、
i=0,1,2,3,…N)の全てについて実行し、レンズLの
レンズ枠Fの動径形状軌跡(ρi,θi)上における前側
屈折面位置情報(fZi,θi)および後側屈折面位置情報
(bZi,θi)(ここで、i=0,1,2,3,…N)がレンズデ
ータメモリ31に記憶される。
コバ厚センサー部20の電気回路部30の演算回路32は、
前側屈折面位置情報(fZi,θi)および後側屈折面位置
情報(bZi,θi)から動径形状軌跡(ρi,θi)上のレ
ンズLのコバ厚情報(Δi,θi)(ここで、i=0,1,2,
3,…N)を演算し、このコバ厚情報(Δi,θi)から最
大コバ厚Δmaxと最小コバ厚Δminを選出し、これら最大
コバ厚Δmaxと最小コバ厚Δminの値に基いてレンズLの
コバ面に形成すべき加工ヤゲン頂点位置情報(kZi,ρi,
θi)(ここで、i=0,1,2,3,…N)を自動的に演算
し、これに基いて生地レンズLを自動研削加工できる。
また、表示器33にレンズLのコバ断面形状を図形表示す
るように構成されている。
前側屈折面位置情報(fZi,θi)および後側屈折面位置
情報(bZi,θi)から動径形状軌跡(ρi,θi)上のレ
ンズLのコバ厚情報(Δi,θi)(ここで、i=0,1,2,
3,…N)を演算し、このコバ厚情報(Δi,θi)から最
大コバ厚Δmaxと最小コバ厚Δminを選出し、これら最大
コバ厚Δmaxと最小コバ厚Δminの値に基いてレンズLの
コバ面に形成すべき加工ヤゲン頂点位置情報(kZi,ρi,
θi)(ここで、i=0,1,2,3,…N)を自動的に演算
し、これに基いて生地レンズLを自動研削加工できる。
また、表示器33にレンズLのコバ断面形状を図形表示す
るように構成されている。
(発明が解決しようとする課題) 第7図に示すように、レンズフイーラー23A,23Bがレ
ンズLと当接する位置は、レンズLがヤゲン加工された
ときに形成されるヤゲン頂点Yの接線Q上になる。そし
て、この接線Qにおけるコバ厚Δiが演算回路32で演算
される。
ンズLと当接する位置は、レンズLがヤゲン加工された
ときに形成されるヤゲン頂点Yの接線Q上になる。そし
て、この接線Qにおけるコバ厚Δiが演算回路32で演算
される。
しかし、レンズLの前側屈折面の曲率半径Rと後側屈
折面の曲率半径Rは相違するため、ヤゲンが形成される
レンズLのコバ面の基部Bのコバ厚は実際にはΔi′で
あり、加工ヤゲン頂点位置情報(kZi,ρi,θi)はこの
基部Bのコバ厚Δi′に基いて算出しなければその正確
度が低下する欠点を有していた。
折面の曲率半径Rは相違するため、ヤゲンが形成される
レンズLのコバ面の基部Bのコバ厚は実際にはΔi′で
あり、加工ヤゲン頂点位置情報(kZi,ρi,θi)はこの
基部Bのコバ厚Δi′に基いて算出しなければその正確
度が低下する欠点を有していた。
即ち、従来のコバ厚測定方法は、出願人が先に出願し
た特願昭60−115079号(特開昭61−274859号公報)の第
18図(A)、(B)及び第19図(A)、(B)に示すと
おり、レンズ枠の動径情報(rsρn,rsθn)に基づいた
位置、すなわちヤゲン頂点位置を通るレンズの前面及び
後面の位置にレンズフィーラー651,653を接触させ、軌
跡Tとしてトレースすることにより、被加工レンズのコ
バ厚を測定していた(特開昭61−274859号公報第13頁左
下欄第8行〜同頁右下欄第13行、第14頁左下欄第5行〜
同頁右下欄第14行)。
た特願昭60−115079号(特開昭61−274859号公報)の第
18図(A)、(B)及び第19図(A)、(B)に示すと
おり、レンズ枠の動径情報(rsρn,rsθn)に基づいた
位置、すなわちヤゲン頂点位置を通るレンズの前面及び
後面の位置にレンズフィーラー651,653を接触させ、軌
跡Tとしてトレースすることにより、被加工レンズのコ
バ厚を測定していた(特開昭61−274859号公報第13頁左
下欄第8行〜同頁右下欄第13行、第14頁左下欄第5行〜
同頁右下欄第14行)。
ところが、本願の第7図及び第8図に示すとおり、レ
ンズLの前側屈折面と後側屈折面のそれぞれの曲率半径
が異なるため、レンズ枠の(rsρn,rsθn)に基づいた
位置におけるコバ厚と、ヤゲンが形成されるレンズのコ
バ面の基部のコバ厚とは厚さが実際には異なるものであ
る。
ンズLの前側屈折面と後側屈折面のそれぞれの曲率半径
が異なるため、レンズ枠の(rsρn,rsθn)に基づいた
位置におけるコバ厚と、ヤゲンが形成されるレンズのコ
バ面の基部のコバ厚とは厚さが実際には異なるものであ
る。
そのため、特開昭61−274859号公報におけるように、
ヤゲン頂点を通るレンズ枠の動径情報(rsρn,rsθn)
の位置でコバ厚を測定し、このコバ厚測定に際して得ら
れたレンズ回転軸28,28に沿う方向の座標位置を基に、
レンズにヤゲンを付ける位置を決定した場合には、加工
ヤゲン頂点位置がずれてしまい、レンズ枠の加工レンズ
を装着する場合に出っ張り過ぎていたり、引っ込み過ぎ
たりして、レンズ枠に的確にレンズLを装着できないと
いう第1の問題点があった。
ヤゲン頂点を通るレンズ枠の動径情報(rsρn,rsθn)
の位置でコバ厚を測定し、このコバ厚測定に際して得ら
れたレンズ回転軸28,28に沿う方向の座標位置を基に、
レンズにヤゲンを付ける位置を決定した場合には、加工
ヤゲン頂点位置がずれてしまい、レンズ枠の加工レンズ
を装着する場合に出っ張り過ぎていたり、引っ込み過ぎ
たりして、レンズ枠に的確にレンズLを装着できないと
いう第1の問題点があった。
そこで、本願発明の第1の目的は、適正な位置にヤゲ
ンを形成するために必要なレンズのコバ厚を測定するコ
バ厚測定方法およびそのための装置を提供することにあ
る。すなわち、動径形状軌跡(ρi,θi)におけるレン
ズフイーラー23A,23Bの位置は、動径長ρiから玉摺機
のヤゲン砥石Gのヤゲン溝頂点YGと基部YBとの予め既知
の溝深さHを引いたρi′=ρi−Hに移動して測定す
ることにより、レンズLがヤゲン砥石Gでヤゲン研削加
工されたときのレンズLに形成されるコバ面の基部Bの
コバ厚Δi′を測定し、コバ厚Δi′に基いてレンズL
がヤゲン砥石Gでヤゲン研削加工時の加工ヤゲン頂点位
置情報(kZi,ρi,θi)を算出する方法およびそのため
の装置が本発明である。
ンを形成するために必要なレンズのコバ厚を測定するコ
バ厚測定方法およびそのための装置を提供することにあ
る。すなわち、動径形状軌跡(ρi,θi)におけるレン
ズフイーラー23A,23Bの位置は、動径長ρiから玉摺機
のヤゲン砥石Gのヤゲン溝頂点YGと基部YBとの予め既知
の溝深さHを引いたρi′=ρi−Hに移動して測定す
ることにより、レンズLがヤゲン砥石Gでヤゲン研削加
工されたときのレンズLに形成されるコバ面の基部Bの
コバ厚Δi′を測定し、コバ厚Δi′に基いてレンズL
がヤゲン砥石Gでヤゲン研削加工時の加工ヤゲン頂点位
置情報(kZi,ρi,θi)を算出する方法およびそのため
の装置が本発明である。
しかしながら、この方法により測定されたコバ厚Δi
に基づいて、第9図に示すように、例えばコバ厚Δi′
を1:1に分割する位置にヤゲン頂点Yが形成されるよう
に加工ヤゲン頂点位置情報(kZi,ρi,θi)を求めたと
しても、コバ厚Δi′がヤゲン砥石Gのヤゲン溝幅Wよ
り狭いと、レンズLが実際にヤゲン加工されるコバ面K
は、レンズLの前側屈折面の曲率半径Rfと後側屈折面の
曲率半径Rbの相違のために測定コバ面KMの位置からず
れ、レンズLに実際に形成されるヤゲンは図示のように
片ヤゲンとなってしまう第2の問題点があった。
に基づいて、第9図に示すように、例えばコバ厚Δi′
を1:1に分割する位置にヤゲン頂点Yが形成されるよう
に加工ヤゲン頂点位置情報(kZi,ρi,θi)を求めたと
しても、コバ厚Δi′がヤゲン砥石Gのヤゲン溝幅Wよ
り狭いと、レンズLが実際にヤゲン加工されるコバ面K
は、レンズLの前側屈折面の曲率半径Rfと後側屈折面の
曲率半径Rbの相違のために測定コバ面KMの位置からず
れ、レンズLに実際に形成されるヤゲンは図示のように
片ヤゲンとなってしまう第2の問題点があった。
そこで、本願発明の第2の目的は、上述したコバ厚が
ヤゲン砥石のヤゲン溝幅よりも狭いようなレンズをヤゲ
ン砥石を用いて研削する場合、いわゆる片ヤゲンが形成
されることなく、所望の比率の位置で且つ適正な位置に
ヤゲンを形成して、的確にレンズ枠にフィットさせ得る
位置で、レンズのコバ厚を測定できるコバ厚測定方法お
よびそのための装置を提供することにある。
ヤゲン砥石のヤゲン溝幅よりも狭いようなレンズをヤゲ
ン砥石を用いて研削する場合、いわゆる片ヤゲンが形成
されることなく、所望の比率の位置で且つ適正な位置に
ヤゲンを形成して、的確にレンズ枠にフィットさせ得る
位置で、レンズのコバ厚を測定できるコバ厚測定方法お
よびそのための装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 上記課題を解決するため、第1の発明は、被加工レン
ズが枠入れされる眼鏡フレームのレンズ枠の全周動径情
報(ρi,θi)を入力する第1ステップと、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から
前記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石の
ヤゲン深さ(H)を減算し全周動径情報(ρi′,θ
i)を求める第2ステップと、 前記全周動径情報(ρi′,θi)に基づいて前記被
加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全
周に亘って測定する第3ステップとを有するレンズのコ
バ厚測定方法としたことを特徴とする。
ズが枠入れされる眼鏡フレームのレンズ枠の全周動径情
報(ρi,θi)を入力する第1ステップと、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から
前記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石の
ヤゲン深さ(H)を減算し全周動径情報(ρi′,θ
i)を求める第2ステップと、 前記全周動径情報(ρi′,θi)に基づいて前記被
加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全
周に亘って測定する第3ステップとを有するレンズのコ
バ厚測定方法としたことを特徴とする。
また、第2の発明は、被加工レンズが枠入れされる眼
鏡フレームのレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入
力する入力手段と、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から
前記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石の
ヤゲン深さ(H)を減算し全周動径情報(ρi′,θ
i)を求める演算手段と、 前記全周動径情報(ρi′,θi)に基づいて前記被
加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全
周に亘って測定するコバ厚測定手段とを有するレンズの
コバ厚測定装置としたことを特徴とする。
鏡フレームのレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入
力する入力手段と、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から
前記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石の
ヤゲン深さ(H)を減算し全周動径情報(ρi′,θ
i)を求める演算手段と、 前記全周動径情報(ρi′,θi)に基づいて前記被
加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全
周に亘って測定するコバ厚測定手段とを有するレンズの
コバ厚測定装置としたことを特徴とする。
更に、第3の発明は、被加工レンズが枠入れされる眼
鏡フレームのレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入
力する第1ステップと、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から
前記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石の
ヤゲン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,
θi)を求める第2ステップと、 前記全周測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記
被加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の
全周に亘って測定する第3ステップと、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)と前記測定コ
バ厚(Δi)とを比較し、前記ヤゲン基部幅(W)より
狭いコバ厚(Δj)が測定された部分測定動径情報(ρ
j′,θj)(ここでj≦i)を求める第4ステップ
と、 部分再測定動径情報(ρj″,θj)(ここでj≦
i)の再測定動径長(ρj″)を (ここで、j≦i) として求める第5ステップと、 前記部分再測定動径情報(ρj″,θj)で前記被加
工レンズのコバ厚を再度部分的に測定する第6ステップ
とを有するレンズのコバ厚測定方法としたことを特徴と
する。
鏡フレームのレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入
力する第1ステップと、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から
前記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石の
ヤゲン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,
θi)を求める第2ステップと、 前記全周測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記
被加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の
全周に亘って測定する第3ステップと、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)と前記測定コ
バ厚(Δi)とを比較し、前記ヤゲン基部幅(W)より
狭いコバ厚(Δj)が測定された部分測定動径情報(ρ
j′,θj)(ここでj≦i)を求める第4ステップ
と、 部分再測定動径情報(ρj″,θj)(ここでj≦
i)の再測定動径長(ρj″)を (ここで、j≦i) として求める第5ステップと、 前記部分再測定動径情報(ρj″,θj)で前記被加
工レンズのコバ厚を再度部分的に測定する第6ステップ
とを有するレンズのコバ厚測定方法としたことを特徴と
する。
また、第4の発明は、被加工レンズが枠入れされる眼
鏡フレームのレンズ枠の動径情報(ρi,θi)を入力す
る第1ステップと、 前記動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前記
被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤゲ
ン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,
θi)を求める第2ステップと、 前記測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記被加
工レンズのコバ厚(Δi)を順次測定する第3ステップ
と、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)と前記測定コ
バ厚(Δi)とを順次比較し、第j番測定動径情報(ρ
j′,θj)の測定コバ厚(Δj)が前記ヤゲン基部幅
(W)より狭い場合は、前記ヤゲン砥石のヤゲン深さH
から第j+1番測定動径長(ρj+1′)を補正動径長
(τj+1) とする補正測定動径情報(τj+1,θj+1)を求め、この
補正測定動径情報(τj+1,θj+1)で前記被加工レンズ
のコバ厚(Δj+1)を測定する第4ステップと、 測定コバ厚(Δj+1)を前回の測定コバ厚(Δj)と
比較し、今回の測定コバ厚(Δj+1)が前回の測定コバ
厚(Δj)より狭い場合は、以後の測定動径情報(ρ
j+m′,θj+m)(ここで、m=2,3,4,…M、ただしM<
N)の測定動径長(ρj+m′)を補正測定動径長
(τj+m) (ここで、Hは前記ヤゲン砥石のヤゲン深さ) とする補正測定動径情報(τj+m,θj+m)を求め、この
補正測定動径情報(τj+m,θj+m)で前記被加工レンズ
のコバ厚(Δj+m)を、直前の測定コバ厚(Δj+m-1)が
前記ヤゲン基部幅(W)より広い場合まで、順次測定す
る第5ステップとを有するレンズのコバ厚測定方法とし
たことを特徴とする。
鏡フレームのレンズ枠の動径情報(ρi,θi)を入力す
る第1ステップと、 前記動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前記
被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤゲ
ン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,
θi)を求める第2ステップと、 前記測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記被加
工レンズのコバ厚(Δi)を順次測定する第3ステップ
と、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)と前記測定コ
バ厚(Δi)とを順次比較し、第j番測定動径情報(ρ
j′,θj)の測定コバ厚(Δj)が前記ヤゲン基部幅
(W)より狭い場合は、前記ヤゲン砥石のヤゲン深さH
から第j+1番測定動径長(ρj+1′)を補正動径長
(τj+1) とする補正測定動径情報(τj+1,θj+1)を求め、この
補正測定動径情報(τj+1,θj+1)で前記被加工レンズ
のコバ厚(Δj+1)を測定する第4ステップと、 測定コバ厚(Δj+1)を前回の測定コバ厚(Δj)と
比較し、今回の測定コバ厚(Δj+1)が前回の測定コバ
厚(Δj)より狭い場合は、以後の測定動径情報(ρ
j+m′,θj+m)(ここで、m=2,3,4,…M、ただしM<
N)の測定動径長(ρj+m′)を補正測定動径長
(τj+m) (ここで、Hは前記ヤゲン砥石のヤゲン深さ) とする補正測定動径情報(τj+m,θj+m)を求め、この
補正測定動径情報(τj+m,θj+m)で前記被加工レンズ
のコバ厚(Δj+m)を、直前の測定コバ厚(Δj+m-1)が
前記ヤゲン基部幅(W)より広い場合まで、順次測定す
る第5ステップとを有するレンズのコバ厚測定方法とし
たことを特徴とする。
更に、第5の発明は、被加工レンズが枠入れされる眼
鏡フレームのレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入
力する入力手段と、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から
前記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石の
ヤゲン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,
θi)を求める演算手段と、 前記全周測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記
被加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の
全周に亘って測定するコバ厚測定手段と、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)を予め記憶す
るための記憶手段と、 前記ヤゲン基部幅(W)と前記測定コバ厚(Δi)と
を比較し、前記ヤゲン基部幅(W)より狭いコバ厚(Δ
j)が測定された部分測定動径情報(ρj′,θj)
(ここで、j≦i)を求める比較手段とを有し、 前記演算手段は、部分再測定動径情報(ρj″,
θj)(ここで、j≦i)の再測定動径長(ρj″)を (ここで、j≦i) として求めるように構成されており、 前記コバ厚測定手段は前記部分再測定動径情報
(ρj″,θj)で前記被加工レンズのコバ厚を再度部
分的に測定するように構成されたレンズのコバ厚測定装
置としたことを特徴とする。
鏡フレームのレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入
力する入力手段と、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から
前記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石の
ヤゲン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,
θi)を求める演算手段と、 前記全周測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記
被加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の
全周に亘って測定するコバ厚測定手段と、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)を予め記憶す
るための記憶手段と、 前記ヤゲン基部幅(W)と前記測定コバ厚(Δi)と
を比較し、前記ヤゲン基部幅(W)より狭いコバ厚(Δ
j)が測定された部分測定動径情報(ρj′,θj)
(ここで、j≦i)を求める比較手段とを有し、 前記演算手段は、部分再測定動径情報(ρj″,
θj)(ここで、j≦i)の再測定動径長(ρj″)を (ここで、j≦i) として求めるように構成されており、 前記コバ厚測定手段は前記部分再測定動径情報
(ρj″,θj)で前記被加工レンズのコバ厚を再度部
分的に測定するように構成されたレンズのコバ厚測定装
置としたことを特徴とする。
また、第6の発明は、被加工レンズが枠入れされる眼
鏡フレームのレンズ枠の動径情報(ρi,θi)を入力す
る入力手段と、 前記動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前記
被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤゲ
ン深さ(H)を減算し測定動径情報(ρi′,θi)を
求める演算手段と、 前記測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記被加
工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡に亘っ
て順次測定するコバ厚測定手段と、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)を予め記憶す
るための記憶手段と、 前記ヤゲン基部幅(W)と前記測定コバ厚(Δi)と
を順次比較する比較手段とを有し、 前記比較手段が第j番測定動径情報(ρj′,θj)
の測定コバ厚(Δj)が前記ヤゲン基部幅(W)より狭
いと判定した場合は、前記演算手段は、前記ヤゲン砥石
のヤゲン深さHから第j+1番測定動径長(ρj+1′)
を補正動径長(τj+1) とする補正測定動径情報(τj+1,θj+1)を求めるよう
に構成され、 前記コバ厚測定手段は、前記補正測定動径情報(τ
j+1,θj+1)で前記被加工レンズのコバ厚(Δj+1)を測
定し、 前記比較手段が前記測定コバ厚(Δj+1)を前回の測
定コバ厚(Δj)と比較し、今回測定コバ厚(Δj+1)
が前回の測定コバ厚(Δj)より狭いと判定した場合
は、前記演算手段は、以後の測定動径情報(ρj+m′,
θj+m)(ここで、m=2,3,4,…M、ただし、M<N)
の測定動径長(ρj+m′)を補正動径長(τj+m) (ここで、Hは前記ヤゲン砥石のヤゲン深さ) とする補正測定動径情報(τj+m,θj+m)を求め、 前記コバ厚測定手段は、前記補正測定動径情報(τ
j+m,θj+m)で前記被加工レンズのコバ厚(Δj+m)を、
直前の測定コバ厚(Δj+m-1)が前記ヤゲン基部幅
(W)より広い場合まで、順次測定するよう構成された
レンズのコバ厚測定装置としたことを特徴とする。
鏡フレームのレンズ枠の動径情報(ρi,θi)を入力す
る入力手段と、 前記動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前記
被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤゲ
ン深さ(H)を減算し測定動径情報(ρi′,θi)を
求める演算手段と、 前記測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記被加
工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡に亘っ
て順次測定するコバ厚測定手段と、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)を予め記憶す
るための記憶手段と、 前記ヤゲン基部幅(W)と前記測定コバ厚(Δi)と
を順次比較する比較手段とを有し、 前記比較手段が第j番測定動径情報(ρj′,θj)
の測定コバ厚(Δj)が前記ヤゲン基部幅(W)より狭
いと判定した場合は、前記演算手段は、前記ヤゲン砥石
のヤゲン深さHから第j+1番測定動径長(ρj+1′)
を補正動径長(τj+1) とする補正測定動径情報(τj+1,θj+1)を求めるよう
に構成され、 前記コバ厚測定手段は、前記補正測定動径情報(τ
j+1,θj+1)で前記被加工レンズのコバ厚(Δj+1)を測
定し、 前記比較手段が前記測定コバ厚(Δj+1)を前回の測
定コバ厚(Δj)と比較し、今回測定コバ厚(Δj+1)
が前回の測定コバ厚(Δj)より狭いと判定した場合
は、前記演算手段は、以後の測定動径情報(ρj+m′,
θj+m)(ここで、m=2,3,4,…M、ただし、M<N)
の測定動径長(ρj+m′)を補正動径長(τj+m) (ここで、Hは前記ヤゲン砥石のヤゲン深さ) とする補正測定動径情報(τj+m,θj+m)を求め、 前記コバ厚測定手段は、前記補正測定動径情報(τ
j+m,θj+m)で前記被加工レンズのコバ厚(Δj+m)を、
直前の測定コバ厚(Δj+m-1)が前記ヤゲン基部幅
(W)より広い場合まで、順次測定するよう構成された
レンズのコバ厚測定装置としたことを特徴とする。
(実施例) 以下、本発明の第1の実施例を第1図及び第2図に基
づいて説明する。
づいて説明する。
第1図は、本発明に係るコバ厚測定装置の実施例の構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
本実施例においては、特願昭60−115079号に開示の従
来のコバ厚測定装置(上述)の構成要素と同一または均
等もしくは類似の構成要素には同一の符号を付して、そ
の説明の重複をさける。
来のコバ厚測定装置(上述)の構成要素と同一または均
等もしくは類似の構成要素には同一の符号を付して、そ
の説明の重複をさける。
第1図に示した第1演算回路32は、検出器24A,24Bで
検出されたレンズLの前側屈折面位置情報(fZi,θi)
と後側屈折面位置情報(bZi,θi)とからコバ厚情報
(Δi,θi)を演算する。この第1演算回路32には、さ
らに比較回路41が接続されている。
検出されたレンズLの前側屈折面位置情報(fZi,θi)
と後側屈折面位置情報(bZi,θi)とからコバ厚情報
(Δi,θi)を演算する。この第1演算回路32には、さ
らに比較回路41が接続されている。
比較回路41には、ヤゲン砥石Gの予め既知であるヤゲ
ン基部幅Wとヤゲン深さHとを記憶している砥石形状メ
モリ42が接続されている。
ン基部幅Wとヤゲン深さHとを記憶している砥石形状メ
モリ42が接続されている。
第2演算回路43は、フレーム形状測定装置10のレンズ
枠形状メモリ18と、比較回路41と、砥石形状メモリ42と
が接続されている。
枠形状メモリ18と、比較回路41と、砥石形状メモリ42と
が接続されている。
尚、レンズ枠形状メモリ18に記憶されるレンズ枠動径
情報(ρi,θi)(ここで、i=0,1,2,3,…N)は、特
願昭60−115079号に開示の従来の装置のようにフレーム
形状測定装置10による測定値でもよいし、あるいはフロ
ッピーデイスクやICカード等の記憶媒体に記憶されてい
るデータでも、もしくはフレームメーカーやその代理店
からのオンラインによるデータでもよい。
情報(ρi,θi)(ここで、i=0,1,2,3,…N)は、特
願昭60−115079号に開示の従来の装置のようにフレーム
形状測定装置10による測定値でもよいし、あるいはフロ
ッピーデイスクやICカード等の記憶媒体に記憶されてい
るデータでも、もしくはフレームメーカーやその代理店
からのオンラインによるデータでもよい。
レンズ枠形状メモリ18からレンズ枠動径情報(ρi,θ
i)(ここで、i=0,1,2,3,…N)の動径長ρiは、第
2演算回路43に入力される。この第2演算回路43は、動
径長ρiから砥石形状メモリ42に記憶されているヤゲン
深さHを減算して、第2図に模式的に示すように、測定
動径情報(ρi′,θi)の測定動径長ρi′を ρi′=ρi−H ……(1) から求める。
i)(ここで、i=0,1,2,3,…N)の動径長ρiは、第
2演算回路43に入力される。この第2演算回路43は、動
径長ρiから砥石形状メモリ42に記憶されているヤゲン
深さHを減算して、第2図に模式的に示すように、測定
動径情報(ρi′,θi)の測定動径長ρi′を ρi′=ρi−H ……(1) から求める。
この求められた測定動径長ρi′はパルスモータ25に
入力され、またρi′に対応する動径角θiはパルスモ
ータ29に入力される。そして、この測定動径情報
(ρi′,θi)に対応してパルスモータ25,29が第2
演算回路43により駆動制御され、レンズフイーラー23A,
23Bが測定点Pi(第3A図および第3B図参照)に位置付け
られてレンズLにバネ25A,25Bの引張力で当接される。
入力され、またρi′に対応する動径角θiはパルスモ
ータ29に入力される。そして、この測定動径情報
(ρi′,θi)に対応してパルスモータ25,29が第2
演算回路43により駆動制御され、レンズフイーラー23A,
23Bが測定点Pi(第3A図および第3B図参照)に位置付け
られてレンズLにバネ25A,25Bの引張力で当接される。
このレンズフイーラー23A,23Bの移動量は、検出器24
A,24BによりレンズLの前側屈折面位置情報(fZi,
θi)と後側屈折面位置情報(bZi,θi)として検出さ
れる。そして、第1演算回路32は、これら前側屈折面位
置情報(fZi,θi)と後側屈折面位置情報(bZi,θi)
から、第3A図および第3B図に図示するように、測定点Pi
におけるコバ厚情報(Δi,θi)のΔiを Δi=bZi−fZi ……(2) として演算する。このコバ厚測定は、測定動径軌跡Sの
全周すなわち第0測定点から第N測定点までの全ての測
定点に渡って実行される。
A,24BによりレンズLの前側屈折面位置情報(fZi,
θi)と後側屈折面位置情報(bZi,θi)として検出さ
れる。そして、第1演算回路32は、これら前側屈折面位
置情報(fZi,θi)と後側屈折面位置情報(bZi,θi)
から、第3A図および第3B図に図示するように、測定点Pi
におけるコバ厚情報(Δi,θi)のΔiを Δi=bZi−fZi ……(2) として演算する。このコバ厚測定は、測定動径軌跡Sの
全周すなわち第0測定点から第N測定点までの全ての測
定点に渡って実行される。
次に、本発明の第2の実施例を第1図〜第5図に基づ
いて説明する。なお、動径長ρiから砥石形状メモリ42
に記憶されているヤゲン深さHを減算し、測定動径情報
(ρi′,θi)の測定動径長ρi′に基づいてコバ厚
(Δi,θi)を求めるまでのコバ厚測定方法およびその
ための装置は、第1の実施例と同様であるため、説明を
省略する。
いて説明する。なお、動径長ρiから砥石形状メモリ42
に記憶されているヤゲン深さHを減算し、測定動径情報
(ρi′,θi)の測定動径長ρi′に基づいてコバ厚
(Δi,θi)を求めるまでのコバ厚測定方法およびその
ための装置は、第1の実施例と同様であるため、説明を
省略する。
第1演算回路32で演算されたコバ厚(Δi,θi)(こ
こで、i=0,1,2,3,…N)は、砥石形状メモリ42に記憶
されているヤゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wと比較回路41
で比較され、ヤゲン基部幅Wより狭いコバ厚Δjを有す
る部分の測定動径(ρj′,θj)が選定される。
こで、i=0,1,2,3,…N)は、砥石形状メモリ42に記憶
されているヤゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wと比較回路41
で比較され、ヤゲン基部幅Wより狭いコバ厚Δjを有す
る部分の測定動径(ρj′,θj)が選定される。
第3A図はレンズLがマイナスレンズの場合の例示であ
る。この例では、測定点PaないしPbの部分測定軌跡S1を
求める部分測定動径(ρj′,θj)(ここで、j=a,
a+1,a+2,…b−1,b)と、測定点PcないしPdの部分測
定軌跡S2を定める部分測定動径(ρj′,θj)(ここ
で、j=c,c+1,c+2,…d−1,d)が選定される。
る。この例では、測定点PaないしPbの部分測定軌跡S1を
求める部分測定動径(ρj′,θj)(ここで、j=a,
a+1,a+2,…b−1,b)と、測定点PcないしPdの部分測
定軌跡S2を定める部分測定動径(ρj′,θj)(ここ
で、j=c,c+1,c+2,…d−1,d)が選定される。
第3B図はレンズLがプラスレンズの場合の例示であ
る。この例では、測定点PeないしPfの部分測定軌跡S3を
定める部分測定動径(ρj′,θj)(ここで、j=e,
e+1,e+2,…f−1,f)と、測定点PgないしPhの部分測
定軌跡S4を定める部分測定動径(ρj′,θj)(ここ
で、j=g,g+1,g+2,…h−1,h)が選定される。そし
て、これらの測定動径長ρj′とコバ厚Δjとは第2演
算回路43に入力される。
る。この例では、測定点PeないしPfの部分測定軌跡S3を
定める部分測定動径(ρj′,θj)(ここで、j=e,
e+1,e+2,…f−1,f)と、測定点PgないしPhの部分測
定軌跡S4を定める部分測定動径(ρj′,θj)(ここ
で、j=g,g+1,g+2,…h−1,h)が選定される。そし
て、これらの測定動径長ρj′とコバ厚Δjとは第2演
算回路43に入力される。
第2図において、コバ厚Δjとコバ厚Δj′がほぼ等
しいとすると、ヤゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wとヤゲン
深さHとから H:W=(H−dj):Δj ……(3) の関係があり、これを補正量djについて解くと となる。
しいとすると、ヤゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wとヤゲン
深さHとから H:W=(H−dj):Δj ……(3) の関係があり、これを補正量djについて解くと となる。
第2演算回路43は、測定動径長ρj′と上記補正量dj
を利用して部分再測定動径情報(ρj″,θj)の再測
定動径長さρj″を ρj″=ρj′+dj ……(5) から求める。そして、第2演算回路43は、この求められ
た再測定動径長さρj″をパルスモータ25に入力し、再
測定動径角θjをパルスモータ29に各々入力する。この
入力により駆動制御されるパルスモータ25,29は、レン
ズフイーラー23A,23Bを第2図の23A′,23B′の位置に移
動させる。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、第3
A図および第3Bの部分再測定軌跡S1′ないしS4′におけ
るレンズLの前側屈折面位置情報(fZi,θi)と後側屈
折面位置情報(bZi,θi)とを測定する。
を利用して部分再測定動径情報(ρj″,θj)の再測
定動径長さρj″を ρj″=ρj′+dj ……(5) から求める。そして、第2演算回路43は、この求められ
た再測定動径長さρj″をパルスモータ25に入力し、再
測定動径角θjをパルスモータ29に各々入力する。この
入力により駆動制御されるパルスモータ25,29は、レン
ズフイーラー23A,23Bを第2図の23A′,23B′の位置に移
動させる。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、第3
A図および第3Bの部分再測定軌跡S1′ないしS4′におけ
るレンズLの前側屈折面位置情報(fZi,θi)と後側屈
折面位置情報(bZi,θi)とを測定する。
以後は、上述の特願昭60−115079号に開示のヤゲン頂
点位置算出、その画像表示、加工動径決定および加工の
ステップが図示なき回路で実行される。
点位置算出、その画像表示、加工動径決定および加工の
ステップが図示なき回路で実行される。
さらに、本発明の第3の実施例を説明する。
第4図および第5図は、上述のコバ厚測定装置の他の
コバ厚測定方法を示す模式図である。
コバ厚測定方法を示す模式図である。
レンズ枠形状メモリ18からのレンズ枠動径情報(ρi,
θi)(ここで、i=0,1,2,3,…N)の全ての動径長
(ρi)が第2演算回路43に入力される。この第2演算
回路43は、全ての動径長ρiから砥石形状メモリ42に記
憶されているヤゲン深さHを減算して、前記第(1)式
と同様の演算により測定動径情報(ρi′,θi)(こ
こで、i=0,1,2,3,…N)を求める。
θi)(ここで、i=0,1,2,3,…N)の全ての動径長
(ρi)が第2演算回路43に入力される。この第2演算
回路43は、全ての動径長ρiから砥石形状メモリ42に記
憶されているヤゲン深さHを減算して、前記第(1)式
と同様の演算により測定動径情報(ρi′,θi)(こ
こで、i=0,1,2,3,…N)を求める。
次に、第2演算回路43は、第0番測定動径長ρ0′を
パルスモータ25に入力する。また第0番動径角θ0をパ
ルスモータ29に入力する。これにより、レンズフイーラ
ー23A,23Bが測定点P0に位置付けられて、レンズLにバ
ネ25A,25Bの引張力で当接させられる。
パルスモータ25に入力する。また第0番動径角θ0をパ
ルスモータ29に入力する。これにより、レンズフイーラ
ー23A,23Bが測定点P0に位置付けられて、レンズLにバ
ネ25A,25Bの引張力で当接させられる。
レンズフイーラー23A,23Bの移動量は、検出器24A,24B
によりレンズLの第0番の前側屈折面位置情報(fZ0,θ
0)と第0番の後側屈折面位置情報(bZ0,θ0)として
検出される。第1演算回路32は、これら前側屈折面位置
情報(fZ0,θ0)と後側屈折面位置情報(bZ0,θ0)か
ら、第0番測定点P0における第0番コバ厚情報(Δ0,θ
0)のΔ0を前記第(2)式と同様に Δ0=bZ0−fZ0 ……(2′) として演算する。
によりレンズLの第0番の前側屈折面位置情報(fZ0,θ
0)と第0番の後側屈折面位置情報(bZ0,θ0)として
検出される。第1演算回路32は、これら前側屈折面位置
情報(fZ0,θ0)と後側屈折面位置情報(bZ0,θ0)か
ら、第0番測定点P0における第0番コバ厚情報(Δ0,θ
0)のΔ0を前記第(2)式と同様に Δ0=bZ0−fZ0 ……(2′) として演算する。
次に、第1演算回路32で演算された第0番コバ厚情報
(Δ0,θ0)は、砥石形状メモリ42に記憶されているヤ
ゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wと比較回路41で比較され
る。
(Δ0,θ0)は、砥石形状メモリ42に記憶されているヤ
ゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wと比較回路41で比較され
る。
第4図の例では、この第0番コバ厚Δ0はヤゲン基部
幅Wより広く形成されている。従って、第2演算回路43
は、次の第1番測定動径長ρ1′をパルスモータ25に入
力し、また第1番動径角θ1をパルスモータ29に入力し
て、レンズフイーラー23A,23Bを第1番測定点P1に位置
付ける。
幅Wより広く形成されている。従って、第2演算回路43
は、次の第1番測定動径長ρ1′をパルスモータ25に入
力し、また第1番動径角θ1をパルスモータ29に入力し
て、レンズフイーラー23A,23Bを第1番測定点P1に位置
付ける。
レンズフイーラー23A,23Bの移動量は、検出器24A,24B
によって、レンズLの第1番の前側屈折面位置情報(fZ
1,θ1)と第1番の後側屈折面位置情報(bZ1,θ1)と
して検出される。そして、第1演算回路32は、これら前
側屈折面位置情報(fZ1,θ1)と後側屈折面位置情報(
bZ1,θ1)とから、第1番測定点P1における第1番コバ
厚情報(Δ1,θ1)のΔ1を前記第(2′)式と同様に
演算する。
によって、レンズLの第1番の前側屈折面位置情報(fZ
1,θ1)と第1番の後側屈折面位置情報(bZ1,θ1)と
して検出される。そして、第1演算回路32は、これら前
側屈折面位置情報(fZ1,θ1)と後側屈折面位置情報(
bZ1,θ1)とから、第1番測定点P1における第1番コバ
厚情報(Δ1,θ1)のΔ1を前記第(2′)式と同様に
演算する。
次に、第1演算回路32で演算された第1番コバ厚情報
(Δ1,θ1)は、砥石形状メモリ42に記憶されているヤ
ゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wと比較回路41で比較され
る。第4図の例では第1番コバ厚Δ1はヤゲン基部幅W
より広い。以下同様の動作を最初として、コバ厚Δjが
ヤゲン基部幅Wより狭いと比較回路41で判定される第j
番測定動径情報(ρj′,θj)まで順次実行される。
(Δ1,θ1)は、砥石形状メモリ42に記憶されているヤ
ゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wと比較回路41で比較され
る。第4図の例では第1番コバ厚Δ1はヤゲン基部幅W
より広い。以下同様の動作を最初として、コバ厚Δjが
ヤゲン基部幅Wより狭いと比較回路41で判定される第j
番測定動径情報(ρj′,θj)まで順次実行される。
比較回路41が、第5図(a)に示すように、第j番測
定動径(ρj′,θj)における第j番コバ厚Δjがヤ
ゲン基部幅Wより狭いと判定した場合は、第2演算回路
43は、次の第j+1番測定動径(ρj+1′,θj+1)の第
j+1番測定動径長ρj+1′を、第4図に示すように、
第1番補正動径長τj+1に変更する。
定動径(ρj′,θj)における第j番コバ厚Δjがヤ
ゲン基部幅Wより狭いと判定した場合は、第2演算回路
43は、次の第j+1番測定動径(ρj+1′,θj+1)の第
j+1番測定動径長ρj+1′を、第4図に示すように、
第1番補正動径長τj+1に変更する。
ヤゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wとヤゲン深さHとか
ら、第1番補正量t1は前記第(4)式と同様に、 となり、第1番補正動径長τj+1は τj+1=ρj+1′+t1 ……(7) となる。
ら、第1番補正量t1は前記第(4)式と同様に、 となり、第1番補正動径長τj+1は τj+1=ρj+1′+t1 ……(7) となる。
第2演算回路43は、この第1番補正動径長τj+1をパ
ルスモータ25に、また第1番補正動径角θj+1(第j+
1番測定動径角θj+1に等しい)パルスモータ29に各々
入力する。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、第
4図および第5図(b)の第1補正測定点Tj+1の位置に
移動される。
ルスモータ25に、また第1番補正動径角θj+1(第j+
1番測定動径角θj+1に等しい)パルスモータ29に各々
入力する。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、第
4図および第5図(b)の第1補正測定点Tj+1の位置に
移動される。
この第1補正測定点Tj+1におけるレンズLの前側屈折
面位置情報と後側屈折面位置情報とが測定され、第j+
1番コバ厚Δj+1を第1演算回路32は求める。比較回路4
1は、前回のコバ厚すなわち第j番コバ厚Δjと今回の
第j+1番コバ厚Δj+1とを比較する。
面位置情報と後側屈折面位置情報とが測定され、第j+
1番コバ厚Δj+1を第1演算回路32は求める。比較回路4
1は、前回のコバ厚すなわち第j番コバ厚Δjと今回の
第j+1番コバ厚Δj+1とを比較する。
第5図(b)に示すように、今回の第j+1番コバ厚
Δj+1が前回の第j番コバ厚Δjより狭い場合は、第2
演算回路43は次の第j+2番測定動径(ρj+2′,
θj+2)の第j+2番測定動径長ρj+2′を、第4図に示
すように、第2番補正動径長τj+2に変更する。
Δj+1が前回の第j番コバ厚Δjより狭い場合は、第2
演算回路43は次の第j+2番測定動径(ρj+2′,
θj+2)の第j+2番測定動径長ρj+2′を、第4図に示
すように、第2番補正動径長τj+2に変更する。
ヤゲン砥石Gのヤゲン深さHと前回の第j番コバ厚Δ
jと今回の第j+1番コバ厚Δj+1とから、第2番補正
量t2は前記第(6)式と同様に、 となり、第2番補正動径長τj+2は τj+2=ρj+2′+(t1+t2) ……(9) となる。
jと今回の第j+1番コバ厚Δj+1とから、第2番補正
量t2は前記第(6)式と同様に、 となり、第2番補正動径長τj+2は τj+2=ρj+2′+(t1+t2) ……(9) となる。
第2演算回路43は、この第2番補正動径長τj+2をパ
ルスモータ25に、また第2番補正動径角θj+2(第j+
2番測定動径角θj+2に等しい)をパルスモータ29に各
々入力する。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、
第4図および第5図(c)の第2補正測定点Tj+2の位置
に移動される。
ルスモータ25に、また第2番補正動径角θj+2(第j+
2番測定動径角θj+2に等しい)をパルスモータ29に各
々入力する。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、
第4図および第5図(c)の第2補正測定点Tj+2の位置
に移動される。
この第2補正測定点Tj+2におけるレンズLの前側屈折
面位置情報と後側屈折面位置情報とが測定され、第j+
2番コバ厚Δj+2を第1演算回路32は求める。比較回路4
1は、前回のコバ厚すなわち第j+1番コバ厚Δj+1と今
回の第j+2番コバ厚Δj+2とを比較する。
面位置情報と後側屈折面位置情報とが測定され、第j+
2番コバ厚Δj+2を第1演算回路32は求める。比較回路4
1は、前回のコバ厚すなわち第j+1番コバ厚Δj+1と今
回の第j+2番コバ厚Δj+2とを比較する。
第5図(c)に示すように、今回の第j+2番コバ厚
Δj+2が前回の第j+1番コバ厚Δj+1より狭い場合は、
第2演算回路43は次の第j+3番測定動径(ρj+3′,
θj+3)の第j+3番測定動径長ρj+3′を、第4図に示
すように、第3補正動径長τj+3に変更する。
Δj+2が前回の第j+1番コバ厚Δj+1より狭い場合は、
第2演算回路43は次の第j+3番測定動径(ρj+3′,
θj+3)の第j+3番測定動径長ρj+3′を、第4図に示
すように、第3補正動径長τj+3に変更する。
ヤゲン砥石Gのヤゲン深さHと今回の第j+2番コバ
厚Δj+2と前回の第j+1番コバ厚Δj+1とから、第3番
補正量t3は前記第(6)式と同様に、 となり、第3番補正動径長τj+3は τj+3=ρj+3′+(t1+t2+t3) ……(11) となる。
厚Δj+2と前回の第j+1番コバ厚Δj+1とから、第3番
補正量t3は前記第(6)式と同様に、 となり、第3番補正動径長τj+3は τj+3=ρj+3′+(t1+t2+t3) ……(11) となる。
第2演算回路43は、この第3番補正動径長τj+3をパ
ルスモータ25に、また第3番補正動径角θj+3(第j+
3番測定動径角θj+3に等しい)をパルスモータ29に各
々入力する。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、
第4図および第5図(d)の第3補正測定点Tj+3の位置
に移動される。
ルスモータ25に、また第3番補正動径角θj+3(第j+
3番測定動径角θj+3に等しい)をパルスモータ29に各
々入力する。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、
第4図および第5図(d)の第3補正測定点Tj+3の位置
に移動される。
この第3補正測定点Tj+3におけるレンズLの前側屈折
面位置情報と後側屈折面位置情報とが測定され、第j+
3番コバ厚Δj+3を第1演算回路32は求める。比較回路4
1は、前回のコバ厚すなわち第j+2番コバ厚Δj+2と今
回の第j+3番コバ厚Δj+3とを比較する。
面位置情報と後側屈折面位置情報とが測定され、第j+
3番コバ厚Δj+3を第1演算回路32は求める。比較回路4
1は、前回のコバ厚すなわち第j+2番コバ厚Δj+2と今
回の第j+3番コバ厚Δj+3とを比較する。
第5図(d)に示すように、今回の第j+3番コバ厚
Δj+3が前回の第j+2番コバ厚Δj+2よりは広いがヤゲ
ン砥石Gのヤゲン基部幅Wよりは狭い場合は、第2演算
回路43は、次の第j+4番測定動径(ρj+4′,θj+4)
の第j+4番測定動径長ρj+4′を、第4図に示すよう
に、第4番補正動径長τj+4に変更する。
Δj+3が前回の第j+2番コバ厚Δj+2よりは広いがヤゲ
ン砥石Gのヤゲン基部幅Wよりは狭い場合は、第2演算
回路43は、次の第j+4番測定動径(ρj+4′,θj+4)
の第j+4番測定動径長ρj+4′を、第4図に示すよう
に、第4番補正動径長τj+4に変更する。
ヤゲン砥石Gのヤゲン深さHと今回の第j+3番コバ
厚Δj+3と前回の第j+2番コバ厚Δj+1とから、第4番
補正量t4は前記第(6)式と同様に、 となり、第4番補正動径長τj+4は τj+4=ρj+4′+(t1+t2+t3+t4) ……(13) となる(但し、t4は負の数)。
厚Δj+3と前回の第j+2番コバ厚Δj+1とから、第4番
補正量t4は前記第(6)式と同様に、 となり、第4番補正動径長τj+4は τj+4=ρj+4′+(t1+t2+t3+t4) ……(13) となる(但し、t4は負の数)。
第2演算回路43は、この第4番補正動径長τj+4をパ
ルスモータ25に、また第4番補正動径角θj+4(第j+
4番測定動径角θj+4に等しい)をパルスモータ29に各
々入力する。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、
第4図および第5図(e)の第4補正測定点Tj+4の位置
に移動される。
ルスモータ25に、また第4番補正動径角θj+4(第j+
4番測定動径角θj+4に等しい)をパルスモータ29に各
々入力する。これによりレンズフイーラー23A,23Bは、
第4図および第5図(e)の第4補正測定点Tj+4の位置
に移動される。
この第4補正測定点Tj+4におけるレンズLの前側屈折
面位置情報と後側屈折面位置情報とが測定され、第j+
4番コバ厚Δj+4を第1演算回路32は求める。比較回路4
1は、前回のコバ厚すなわち第j+3番コバ厚Δj+3と今
回の第j+4番コバ厚Δj+4とを比較する。
面位置情報と後側屈折面位置情報とが測定され、第j+
4番コバ厚Δj+4を第1演算回路32は求める。比較回路4
1は、前回のコバ厚すなわち第j+3番コバ厚Δj+3と今
回の第j+4番コバ厚Δj+4とを比較する。
第5図(e)に示すように、今回の第j+4番コバ厚
Δj+4がヤゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wに等しいかそれ
以上である場合は、次の第第j+5番測定動径
(ρj+5′,θj+5)がそのまま利用され、第5図(f)
に示すように、測定動径軌跡S上の測定点Tj+5について
コバ厚測定が実行される。
Δj+4がヤゲン砥石Gのヤゲン基部幅Wに等しいかそれ
以上である場合は、次の第第j+5番測定動径
(ρj+5′,θj+5)がそのまま利用され、第5図(f)
に示すように、測定動径軌跡S上の測定点Tj+5について
コバ厚測定が実行される。
上述のように、本実施例においては、直前の測定コバ
厚Δjが最初にヤゲン基部幅Wより狭くなると、次回の
測定動径長である第j+1番測定動径長ρj+1′の第1
番補正測定動径長τj+1は次の(6)式の第1番補正量t
1から(7)式に変更される。
厚Δjが最初にヤゲン基部幅Wより狭くなると、次回の
測定動径長である第j+1番測定動径長ρj+1′の第1
番補正測定動径長τj+1は次の(6)式の第1番補正量t
1から(7)式に変更される。
τj+1=ρj+1′+t1 ……(7) そして、この変更位置である第j+1番測定点Tj+1で、
第j+1番コバ厚Δj+1が測定される。
第j+1番コバ厚Δj+1が測定される。
それ以後は、第2番補正測定動径長τi+2、ないし直
前の測定コバ厚Δj+m-1がヤゲン基部幅Wより広くなる
第m番補正測定動径長τj+mに変更されることとなる。
前の測定コバ厚Δj+m-1がヤゲン基部幅Wより広くなる
第m番補正測定動径長τj+mに変更されることとなる。
上記第(8)式ないし第(13)式を一般形式で表現す
れば、第m番補正量tmは となり、第m番補正測定動径長τj+mは τj+m=ρj+m′+tm ……(15) で表現される。尚、第(14)式および第(15)式におい
ては、m=2,3,4,…M(M<N)である。
れば、第m番補正量tmは となり、第m番補正測定動径長τj+mは τj+m=ρj+m′+tm ……(15) で表現される。尚、第(14)式および第(15)式におい
ては、m=2,3,4,…M(M<N)である。
このように、測定コバ厚がヤゲン砥石Gのヤゲン基部
幅Wより狭い場合は、第4図に破線で示した補正軌跡
S′上の補正測定点でコバ厚測定がなされる。
幅Wより狭い場合は、第4図に破線で示した補正軌跡
S′上の補正測定点でコバ厚測定がなされる。
(発明の効果) 以上説明したように、特許請求の範囲第1項に係る第
1の発明によれば、全周動径情報(ρi,θi)の動径長
(ρi)から前記被加工レンズをヤゲン加工するための
ヤゲン砥石のヤゲン深さ(H)を減算して求めた全周測
定動径情報(ρi′,θi)に基いて、前記被加工レン
ズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全周に亘っ
て測定するレンズのコバ厚測定方法としたので、適正な
位置にヤゲンを形成するために必要なレンズのコバ厚を
測定することができる。
1の発明によれば、全周動径情報(ρi,θi)の動径長
(ρi)から前記被加工レンズをヤゲン加工するための
ヤゲン砥石のヤゲン深さ(H)を減算して求めた全周測
定動径情報(ρi′,θi)に基いて、前記被加工レン
ズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全周に亘っ
て測定するレンズのコバ厚測定方法としたので、適正な
位置にヤゲンを形成するために必要なレンズのコバ厚を
測定することができる。
また、特許請求の範囲第2項に係る第2の発明によれ
ば、全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前
記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤ
ゲン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,θ
i)を求める演算手段と、前記全周測定動径情報
(ρi′,θi)に基いて前記被加工レンズのコバ厚
(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全周に亘って測定する
コバ厚測定方法とを有する構成としたので、適正な位置
にヤゲンを形成するために必要なレンズのコバ厚を測定
することができると共に、測定されたコバ厚がヤゲン砥
石のヤゲン基部幅より大きい場合には、演算手段を用い
て測定されたコバ厚を基に適正な位置にヤゲンを求める
ことができる。
ば、全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前
記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤ
ゲン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,θ
i)を求める演算手段と、前記全周測定動径情報
(ρi′,θi)に基いて前記被加工レンズのコバ厚
(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全周に亘って測定する
コバ厚測定方法とを有する構成としたので、適正な位置
にヤゲンを形成するために必要なレンズのコバ厚を測定
することができると共に、測定されたコバ厚がヤゲン砥
石のヤゲン基部幅より大きい場合には、演算手段を用い
て測定されたコバ厚を基に適正な位置にヤゲンを求める
ことができる。
また、特許請求の範囲第3項,第5項に係る発明によ
れば、上述した特許請求の範囲第1項,第2項における
測定情報を基に、狭いコバ厚が測定された部分の再測定
動径長を ρj″=ρj′+dj dj=(1−Δj/W)・H として、これに基づき(ρj″,θj)で再度部分測定
を行う様に構成したので、コバ厚がヤゲン砥石のヤゲン
溝幅よりも狭いようなレンズを研削する場合、いわゆる
片ヤゲンが形成されることなく、所望の比率の位置で且
つ適正な位置にヤゲンを形成して、的確にレンズ枠にフ
ィットさせ得る様な位置で、レンズのコバ厚を測定でき
る。
れば、上述した特許請求の範囲第1項,第2項における
測定情報を基に、狭いコバ厚が測定された部分の再測定
動径長を ρj″=ρj′+dj dj=(1−Δj/W)・H として、これに基づき(ρj″,θj)で再度部分測定
を行う様に構成したので、コバ厚がヤゲン砥石のヤゲン
溝幅よりも狭いようなレンズを研削する場合、いわゆる
片ヤゲンが形成されることなく、所望の比率の位置で且
つ適正な位置にヤゲンを形成して、的確にレンズ枠にフ
ィットさせ得る様な位置で、レンズのコバ厚を測定でき
る。
さらに、特許請求の範囲第4項,第6項に係る発明に
よれば、特許請求の範囲第3項,第5項の再測定情報を
基に、測定コバ厚がヤゲン基部幅(W)よりも広いと判
断するまで補正動径情報(τj+m,θj+m)でコバ厚を順
次測定するようにしたので、コバ厚がヤゲン砥石のヤゲ
ン溝幅よりも狭いようなレンズを研削する場合、いわゆ
る片ヤゲンが形成されることなく、所望の比率の位置で
且つ適正な位置にヤゲンを形成して、的確にレンズ枠に
フィットさせ得る様な位置で、レンズのコバ厚を測定で
きると共に、その測定を簡易且つ自動的に行うことがで
きる。
よれば、特許請求の範囲第3項,第5項の再測定情報を
基に、測定コバ厚がヤゲン基部幅(W)よりも広いと判
断するまで補正動径情報(τj+m,θj+m)でコバ厚を順
次測定するようにしたので、コバ厚がヤゲン砥石のヤゲ
ン溝幅よりも狭いようなレンズを研削する場合、いわゆ
る片ヤゲンが形成されることなく、所望の比率の位置で
且つ適正な位置にヤゲンを形成して、的確にレンズ枠に
フィットさせ得る様な位置で、レンズのコバ厚を測定で
きると共に、その測定を簡易且つ自動的に行うことがで
きる。
これらの結果、第3〜第6の発明では、ヤゲン砥石の
ヤゲン基部幅より広い被加工レンズのレンズコバ厚の測
定をより適正な位置で行うことができる長所を有する
他、ヤゲン砥石のヤゲン基部幅より狭い被加工レンズの
コバ厚をも従来技術と比較して精度よく測定できる長所
を有する。コバ厚測定方法およびそのための装置を提供
できる。
ヤゲン基部幅より広い被加工レンズのレンズコバ厚の測
定をより適正な位置で行うことができる長所を有する
他、ヤゲン砥石のヤゲン基部幅より狭い被加工レンズの
コバ厚をも従来技術と比較して精度よく測定できる長所
を有する。コバ厚測定方法およびそのための装置を提供
できる。
第1図は本発明に係るコバ厚測定装置の実施例を示すブ
ロック図、 第2図は本発明に係るコバ厚測定方法の第1の実施例を
説明するための測定動径と、部分再測定動径およびレン
ズフイーラー並びに測定コバ厚とヤゲン砥石形状との関
係を示す模式図、 第3A図および第3B図はコバ測定方法の第1の実施例を説
明するための測定動径と、部分再測定動径と測定動径軌
跡と部分再測定動径軌跡との関係を示す模式図、 第4図はコバ厚測定方法の第2の実施例を説明するため
の測定動径と、補正測定動径と測定動径軌跡と補正測定
動径軌跡との関係を示す模式図、 第5図はコバ厚測定方法の第2の実施例を説明するため
の補正測定点およびそれに位置されたレンズフイーラー
並びに測定コバ厚とヤゲン砥石形状との関係を示す模式
図、 第6図は従来のフレーム形状測定装置の構成を示す模式
図、 第7図は従来のコバ厚測定装置の構成を示すブロック
図、 第8図は従来のコバ厚測定方法と本発明のコバ厚測定方
法とを比較して説明するための測定動径とレンズフイー
ラー並びに測定コバ厚とヤゲン砥石形状との関係を示す
模式図、 第9図は従来のコバ厚測定方法による測定コバ厚とヤゲ
ン砥石で研削されるレンズのコバ形状の関係を示す模式
図である。 18……レンズ枠形状メモリ 20……コバ厚測定センサー部 31……レンズデータメモリ 32……第1演算回路 41……比較回路 42……砥石形状メモリ、第2演算回路 G……ヤゲン砥石 L……被加工レンズ S……測定動径軌跡 S1′,S2′……部分再測定動径軌跡 S′……補正測定動径軌跡
ロック図、 第2図は本発明に係るコバ厚測定方法の第1の実施例を
説明するための測定動径と、部分再測定動径およびレン
ズフイーラー並びに測定コバ厚とヤゲン砥石形状との関
係を示す模式図、 第3A図および第3B図はコバ測定方法の第1の実施例を説
明するための測定動径と、部分再測定動径と測定動径軌
跡と部分再測定動径軌跡との関係を示す模式図、 第4図はコバ厚測定方法の第2の実施例を説明するため
の測定動径と、補正測定動径と測定動径軌跡と補正測定
動径軌跡との関係を示す模式図、 第5図はコバ厚測定方法の第2の実施例を説明するため
の補正測定点およびそれに位置されたレンズフイーラー
並びに測定コバ厚とヤゲン砥石形状との関係を示す模式
図、 第6図は従来のフレーム形状測定装置の構成を示す模式
図、 第7図は従来のコバ厚測定装置の構成を示すブロック
図、 第8図は従来のコバ厚測定方法と本発明のコバ厚測定方
法とを比較して説明するための測定動径とレンズフイー
ラー並びに測定コバ厚とヤゲン砥石形状との関係を示す
模式図、 第9図は従来のコバ厚測定方法による測定コバ厚とヤゲ
ン砥石で研削されるレンズのコバ形状の関係を示す模式
図である。 18……レンズ枠形状メモリ 20……コバ厚測定センサー部 31……レンズデータメモリ 32……第1演算回路 41……比較回路 42……砥石形状メモリ、第2演算回路 G……ヤゲン砥石 L……被加工レンズ S……測定動径軌跡 S1′,S2′……部分再測定動径軌跡 S′……補正測定動径軌跡
Claims (6)
- 【請求項1】被加工レンズが枠入れされる眼鏡フレーム
のレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入力する第1
ステップと、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前
記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤ
ゲン深さ(H)を減算し全周動径情報(ρi′,θi)
を求める第2ステップと、 前記全周動径情報(ρi′,θi)に基づいて前記被加
工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全周
に亘って測定する第3ステップとを有することを特徴と
するレンズのコバ厚測定方法。 - 【請求項2】被加工レンズが枠入れされる眼鏡フレーム
のレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入力する入力
手段と、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前
記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤ
ゲン深さ(H)を減算し全周動径情報(ρi′,θi)
を求める演算手段と、 前記全周動径情報(ρi′,θi)に基づいて前記被加
工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全周
に亘って測定するコバ厚測定手段とを有することを特徴
とするレンズのコバ厚測定装置。 - 【請求項3】被加工レンズが枠入れされる眼鏡フレーム
のレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入力する第1
ステップと、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前
記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤ
ゲン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,θ
i)を求める第2ステップと、 前記全周測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記被
加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全
周に亘って測定する第3ステップと、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)と前記測定コバ
厚(Δi)とを比較し、前記ヤゲン基部幅(W)より狭
いコバ厚(Δj)が測定された部分測定動径情報
(ρj′,θj)(ここでj≦i)を求める第4ステッ
プと、 部分再測定動径情報(ρj″,θj)(ここで、j≦
i)の再測定動径長(ρj″)を (ここで、j≦i) として求める第5ステップと、 前記部分再測定動径情報(ρj″,θj)で前記被加工
レンズのコバ厚を再度部分的に測定する第6ステップと
を有することを特徴とするレンズのコバ厚測定方法。 - 【請求項4】被加工レンズが枠入れされる眼鏡フレーム
のレンズ枠の動径情報(ρi,θi)を入力する第1ステ
ップと、 前記動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前記被
加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤゲン
深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,θi)
を求める第2ステップと、 前記測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記被加工
レンズのコバ厚(Δi)を順次測定する第3ステップ
と、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)と前記測定コバ
厚(Δi)とを順次比較し、第j番測定動径情報
(ρj′,θj)の測定コバ厚(Δj)が前記ヤゲン基
部幅(W)より狭い場合は、前記ヤゲン砥石のヤゲン深
さHから第j+1番測定動径長(ρj+1′)を補正動径
長(τj+1) とする補正測定動径情報(τj+1,θj+1)を求め、この
補正測定動径情報(τj+1,θj+1)で前記被加工レンズ
のコバ厚(Δj+1)を測定する第4ステップと、 測定コバ厚(Δj+1)を前回の測定コバ厚(Δj)と比
較し、今回の測定コバ厚(Δj+1)が前回の測定コバ厚
(Δj)より狭い場合は、以後の測定動径情報
(ρj+m′,θj+m)(ここで、m=2,3,4,…M、ただし
M<N)の測定動径長(ρj+m′)を補正測定動径長
(τj+m) (ここで、Hは前記ヤゲン砥石のヤゲン深さ) とする補正測定動径情報(τj+m,θj+m)を求め、この
補正測定動径情報(τj+m,θj+m)で前記被加工レンズ
のコバ厚(Δj+m)を、直前の測定コバ厚(Δj+m-1)が
前記ヤゲン基部幅(W)より広い場合まで、順次測定す
る第5ステップとを有することを特徴とするレンズのコ
バ厚測定方法。 - 【請求項5】被加工レンズが枠入れされる眼鏡フレーム
のレンズ枠の全周動径情報(ρi,θi)を入力する入力
手段と、 前記全周動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前
記被加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤ
ゲン深さ(H)を減算し全周測定動径情報(ρi′,θ
i)を求める演算手段と、 前記全周測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記被
加工レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡の全
周に亘って測定するコバ厚測定手段と、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)を予め記憶する
ための記憶手段と、 前記ヤゲン基部幅(W)と前記測定コバ厚(Δi)とを
比較し、前記ヤゲン基部幅(W)より狭いコバ厚
(Δj)が測定された部分測定動径情報(ρj′,
θj)(ここで、j≦i)を求める比較手段とを有し、 前記演算手段は、部分再測定動径情報(ρj″,θj)
(ここで、j≦i)の再測定動径長(ρj″)を (ここで、j≦i) として求めるように構成されており、 前記コバ厚測定手段は前記部分再測定動径情報
(ρj″,θj)で前記被加工レンズのコバ厚を再度部
分的に測定するように構成されたことを特徴とするレン
ズのコバ厚測定装置。 - 【請求項6】被加工レンズが枠入れされる眼鏡フレーム
のレンズ枠の動径情報(ρi,θi)を入力する入力手段
と、 前記動径情報(ρi,θi)の動径長(ρi)から前記被
加工レンズをヤゲン加工するためのヤゲン砥石のヤゲン
深さ(H)を減算し測定動径情報(ρi′,θi)を求
める演算手段と、 前記測定動径情報(ρi′,θi)に基いて前記被加工
レンズのコバ厚(Δi)をレンズ枠の動径軌跡に亘って
順次測定するコバ厚測定手段と、 前記ヤゲン砥石のヤゲン基部の幅(W)を予め記憶する
ための記憶手段と、 前記ヤゲン基部幅(W)と前記測定コバ厚(Δi)とを
順次比較する比較手段とを有し、 前記比較手段が第j番測定動径情報(ρj′,θj)の
測定コバ厚(Δj)が前記ヤゲン基部幅(W)より狭い
と判定した場合は、前記演算手段は、前記ヤゲン砥石の
ヤゲン深さHから第j+1番測定動径長(ρj+1′)を
補正動径長(τj+1) とする補正測定動径情報(τj+1,θj+1)を求めるよう
に構成され、 前記コバ厚測定手段は、前記補正測定動径情報(τj+1,
θj+1)で前記被加工レンズのコバ厚(Δj+1)を測定
し、 前記比較手段が前記測定コバ厚(Δj+1)を前回の測定
コバ厚(Δj)と比較し、今回測定コバ厚(Δj+1)が
前回の測定コバ厚(Δj)より狭いと判定した場合は、
前記演算手段は、以後の測定動径情報(ρj+m′,
θj+m)(ここで、m=2,3,4,…M、ただし、M<N)
の測定動径長(ρj+m′)を補正動径長(τj+m) (ここで、Hは前記ヤゲン砥石のヤゲン深さ) とする補正測定動径情報(τj+m,θj+m)を求め、 前記コバ厚測定手段は、前記補正測定動径情報(τj+m,
θj+m)で前記被加工レンズのコバ厚(Δj+m)を、直前
の測定コバ厚(Δj+m-1)が前記ヤゲン基部幅(W)よ
り広い場合まで、順次測定するよう構成されたことを特
徴とするレンズのコバ厚測定装置。
Priority Applications (3)
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JP1296956A JPH0816611B2 (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | レンズのコバ厚測定方法およびそのための装置 |
EP19900403223 EP0433114B1 (en) | 1989-11-15 | 1990-11-14 | Method and apparatus for measuring the edge thickness of a spectacle lens |
DE1990622192 DE69022192T2 (de) | 1989-11-15 | 1990-11-14 | Verfahren und Vorrichtung zur Randdickeabmessung eines Brillenglases. |
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JP1296956A JPH0816611B2 (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | レンズのコバ厚測定方法およびそのための装置 |
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JPH03158714A JPH03158714A (ja) | 1991-07-08 |
JPH0816611B2 true JPH0816611B2 (ja) | 1996-02-21 |
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ID=17840363
Family Applications (1)
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- 1989-11-15 JP JP1296956A patent/JPH0816611B2/ja not_active Expired - Lifetime
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1990
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- 1990-11-14 DE DE1990622192 patent/DE69022192T2/de not_active Expired - Fee Related
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JPH03158714A (ja) | 1991-07-08 |
DE69022192D1 (de) | 1995-10-12 |
EP0433114B1 (en) | 1995-09-06 |
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