JPH08145622A - 光走査型変位測定装置 - Google Patents

光走査型変位測定装置

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JPH08145622A
JPH08145622A JP28101894A JP28101894A JPH08145622A JP H08145622 A JPH08145622 A JP H08145622A JP 28101894 A JP28101894 A JP 28101894A JP 28101894 A JP28101894 A JP 28101894A JP H08145622 A JPH08145622 A JP H08145622A
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gantry
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Application number
JP28101894A
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English (en)
Inventor
Masayuki Okumura
雅之 奥村
Takeshi Hashimoto
健 橋本
Takayasu Ito
隆康 伊藤
Atsuyuki Hirono
淳之 広野
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 異常発生を検出してこれに対処することがで
きる。 【構成】 被測定物に光ビームを照射する投光手段と、
被測定物の表面での光ビームの反射光を受光する受光手
段と、受光手段の検出出力に基づいて被測定物までの距
離を求める信号処理部と、投光手段および受光手段を取
り付けた架台をリニアモータを動力として移動させて被
測定物の上で投光スポットを走査する走査手段と、架台
の移動方向における位置を検出する位置検出手段とを具
備している光走査型変位測定装置において、リニアモー
タの駆動電流値を検出して該電流値から異常検出を行う
異常検出手段を設ける。架台の走行異常について駆動電
流値から確実に検出することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被測定物上を走査する
光スポットを受光することによって被測定物表面の二次
元変位である凹凸形状を測定する光走査型変位測定装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種の光走査型変位測定装置では、被
測定物までの距離を測定するにあたり、半導体レーザや
発光ダイオードのような投光素子と、この投光素子から
の光を細く絞る投光光学系とによって被測定物表面に光
スポットを形成する投光手段を構成するとともに、受光
光学系を通して受光面に投光スポットの像が形成される
受光素子に、受光スポットの位置に応じた出力が得られ
るPSDやCCD等の位置検出素子を用いて受光手段を
構成し、投光手段と受光手段との間の距離を基線長とし
た三角測量法を用いたり、投光手段からの光ビームを参
照光と物体光とに分離し、物体光を光ビームとして被測
定物に照射し、規定長の光路を通した参照光と物体光の
反射光との干渉を利用して被測定物までの距離を求める
もの(たとえばヘテロダイン干渉法)等があるが、被測
定物表面に形成する光スポットを走査することによっ
て、被測定物表面の二次元変位を測定するにあたって
は、特開平1−245103号公報等に記載されている
ように、走査ミラーのような偏向手段を用いていた。
【0003】しかし、走査ミラーのような偏向手段で走
査する場合、偏向手段の直下位置以外では被測定物の表
面に光ビームが斜めに入射することになるために、被測
定物によっては影になって光スポットを照射できない部
位が生じることになる。また、偏向手段からの等距離線
は円弧の一部であるから、受光素子の出力から距離を求
める際に偏向手段からの振り角に応じた補正が必要にな
るという問題などもある。
【0004】このために、偏向手段によって光スポット
の走査を行うのではなく、リニアモータを動力として移
動する架台に発光手段及び受光手段を配設するととも
に、架台の位置を検出することができる位置検出手段を
設けて、架台を移動させることで走査を行うようにした
ものが提案されている。この場合、偏向手段を用いた場
合の上記のような問題を排除することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、発光手段及び
受光手段を配した架台を移動させるリニアモータ、たと
えばボイスコイル型リニア直流モータやリニアパルスモ
ータ等は、装置の傾斜、衝撃、振動、温度、摺動部の異
常などの外乱要因により、コイルに異常な電流が流れる
ことによる発熱またはそれによる光学系部材の熱破壊や
コイルの焼き付きが生じたりすることがあるほか、駆動
異常によって移動範囲の端に衝突することがあるなどの
欠点があった。
【0006】本発明はこのような点に鑑み為されたもの
であり、その目的とするところは異常発生を検出してこ
れに対処することができる光走査型変位測定装置を提供
するにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】しかして本発明は、被測
定物に光ビームを照射する投光手段と、被測定物の表面
での光ビームの反射光を受光する受光手段と、受光手段
の検出出力に基づいて被測定物までの距離を求める信号
処理部と、投光手段および受光手段を取り付けた架台を
リニアモータを動力として移動させて被測定物の上で投
光スポットを走査する走査手段と、架台の移動方向にお
ける位置を検出する位置検出手段とを具備している光走
査型変位測定装置において、リニアモータの駆動電流値
を検出して該電流値から異常検出を行う異常検出手段、
またはリニアモータの駆動電流値の微分値から異常検出
を行う異常検出手段、位置検出手段による位置情報と、
リニアモータの位置指令信号との比較から異常検出を行
う異常検出手段、位置検出手段による位置情報と架台の
移動範囲情報との比較から異常検出を行う異常検出手
段、あるいはリニアモータの閉ループ制御に使用される
上記位置検出手段のほかに、架台の移動方向における位
置を検出する第2の位置検出手段を設けて、この第2の
位置検出手段による位置情報から異常検出を行う異常検
出手段、振動センサーを備えて該振動センサーの出力か
ら異常検出を行う異常検出手段、温度センサーを備えて
該温度センサーの出力から異常検出を行う異常検出手段
のいずれかを備えていることに特徴を有している。
【0008】
【作用】本発明によれば、リニアモータの駆動電流値を
検出して該電流値または該電流値の微分値から異常検出
を行う異常検出手段を設けたものでは、架台の走行異常
について確実に検出することができ、位置検出手段によ
る位置情報と、リニアモータの位置指令信号との比較か
ら異常検出を行う異常検出手段を設けたものにおいて
も、架台の走査異常を検出することができ、位置検出手
段による位置情報と架台の移動範囲情報との比較から異
常検出を行う異常検出手段、あるいはリニアモータの閉
ループ制御に使用される上記位置検出手段のほかに、架
台の移動方向における位置を検出する第2の位置検出手
段を設けて、この第2の位置検出手段による位置情報か
ら異常検出を行う異常検出手段を設けたものでは、走査
範囲外にまで架台が移動した場合、これを検出すること
ができるとともに、後者においては閉ループ制御系が異
常状態に陥っても異常検出を行うことができ、振動セン
サーや温度センサーを備えて該振動センサーや温度セン
サーの出力から異常検出を行う異常検出手段を設けたも
のでは、振動や温度の点から動作異常を検出することが
できる。
【0009】
【実施例】以下本発明を図示実施例に基づいて詳述する
と、図1及び図2に示す実施例は、走査手段の動力源と
して、ボイスコイル型直流リニアモータ30を用いると
ともに、位置検出手段7として三角測量式の光学的距離
センサーを用いたもので、ここにおけるリニアモータ3
0は、棒状のセンターヨーク31と、センターヨーク3
1の両側に平行に配置された一対のサイドヨーク32
と、センターヨーク31とサイドヨーク32との長手方
向の各端部間に挟装されたスタンド33とからなる日字
状のヨークと、サイドヨーク32におけるセンターヨー
ク31との対向面に接着剤にて固着した永久磁石34と
からなる固定子を備えたもので、サイドヨーク32に対
してセンターヨーク31は断面積を略2倍に設定してあ
り、また、永久磁石34は、センターヨーク31との対
向面とサイドヨーク32に固着された面とが異極になる
ように着磁して、各センターヨーク31との対向面が同
極になるように配置してある。そしてセンターヨーク3
1が挿通されたボビン35と、ボビン35内を通る磁力
線がセンターヨーク31の長手方向に形成されるように
ボビン35に巻回されたコイル36とによって可動子が
形成されている。ここにおけるボビン35はセンターヨ
ーク31の長手方向に走行自在となるように寸法が設定
されているとともに、アルミニウムもしくは合成樹脂に
よって形成されており、アルミニウムを用いたボビン3
5では表面をアルマイト処理等でコイル36との絶縁を
行ない、かつコイル36を巻装する方向に直交するよう
にスリットを形成して渦電流が流れにくくなるようにし
てある。
【0010】一方、投光手段1と受光手段2とは、上記
ボビン35に固着される架台3に配設してある。投光手
段1として、ここでは半導体レーザもしくは発光ダイオ
ードを用いた投光素子と、投光光学系とからなるものを
用い、受光手段2として、PSDよりなる受光素子と、
受光素子の受光面に投光スポットを結像させる受光光学
系とからなるものを用いて、投光手段1と受光手段2と
が、架台3の走行方向(矢印で示す)とは略直交する面
内に各光軸が含まれるように配置するとともに、投光手
段1からの光ビームが被測定物10の主たる平面に略直
交するように照射するようにしてある。
【0011】また、上記架台3にはリニアガイド37を
固定してある。このリニアガイド37は、センターヨー
ク31と平行に配したレール38に沿って滑らかに走行
するもので、架台3の走行ががたつきなく行われるよう
に案内する。リニアガイド37とレール38とを用いる
代わりに、リニアボールベアリング、リニアローラベア
リング、リニアボールブッシュなどを用いてもよい。
【0012】位置検出手段7には、投光手段70と受光
手段71とを有して定位置に固定された三角測量式の光
学的距離センサーを用いており、架台3に取り付けた拡
散反射物体72に投光手段70から架台3の移動方向に
光ビームを投射することで生じた拡散反射物体72上の
光スポットを、受光手段71で受光して、図2に示すよ
うに、架台3の位置(A,B)によって変化する受光手
段71の受光素子上での受光スポット位置(a,b)か
ら、架台3の移動方向における位置を検出している。な
お、この位置検出手段7による位置情報出力は、被測定
物10の表面の変位測定だけでなく、図3に示すよう
に、リニアモータ30の閉ループ制御にも用いられる。
なお、位置検出手段7としては、上記の距離センサーの
ほか、リニアエンコーダやポテンショメータ等を用いる
ことができ、またリニアモータがパルスモータ(ステッ
プモータ)の場合には、その駆動パルス数を利用して架
台3の位置検出を行うことができる。
【0013】そして、図3及び図4に示す実施例におい
ては、リニアモータ30の駆動電流値を検出する電流値
モニタ部IMを設けるとともに、この電流値モニタ部I
Mと、あらかじめ設定してある電流閾値とを比較する比
較器CPを設けてある。ここにおける電流閾値は、リニ
アモータ30が架台3を走行させるにあたって、通常時
は取り得ることがない値をセットしてあり、駆動電流値
が電流閾値を越えた時、比較器CPは異常であるとして
異常検出信号を出力する。この異常検出信号により、こ
こでは閉ループ制御系における発振器OSに発振停止指
令を出力してリニアモータ30を停止させるとともに、
コイル36の電源ラインに挿入されているスイッチSW
をオフとしてコイル36を電源ラインから切り離すよう
にしている。架台3の移動案内部の傾斜、摺動抵抗など
の影響による駆動電流値の増加が原因のコイル36の発
熱や焼き付きまたはそれによる投光手段1の発光素子の
熱破壊、あるいは走査異常による端部への衝突による損
傷などを未然に防ぐことができる。
【0014】図5及び図6に示す実施例においては、電
流値モニタ部IMと比較器CPとの間に微分器Dを設け
て、比較器CPに電流微分値と、あらかじめ設定してあ
る電流微分閾値とが入力されるようにしている。この場
合、リニアモータ30の駆動電流の微分値が正常時なら
取り得ることがない値となった時、比較器CPから異常
検出信号が出力される。上記実施例の場合と同様に各種
異常を検出することができるとともに、駆動電流値が正
常範囲内であっても電流値に急激な変動が生じる異常を
検出することができる。
【0015】図7及び図8に示す実施例では、閉ループ
制御系における位置指令信号と、位置検出手段7から出
力される位置情報信号との差が、あらかじめ設定してあ
る誤差閾値より大きい時に異常検出信号を出力する比較
器CPを設けている。閉ループ制御系に異常が生じて正
常な駆動ができなくなったり、位置検出手段7に異常が
生じたりして正確な位置情報を得られなくなった時、こ
れを検出してリニアモータ30の停止や電源オフなどの
動作を行わせることができる。
【0016】図9及び図10に示す実施例では、位置検
出手段7が出力する位置情報信号が、架台3の本来の走
査範囲内にあるかどうかを比較器CPで検出して、走査
範囲外にある時には異常検出信号が比較器CPから出力
されるようにしている。この場合、走査範囲外まで架台
3が移動してしまう走査異常を検出することができる。
【0017】図11及び図12に示す実施例では、走査
範囲外に架台3が達したかどうかを閉ループ制御系に含
まれる位置検出手段7の出力から検出するのではなく、
別途通過センサ8などの閉ループ外検出手段によって検
出して、この閉ループ外検出手段が異常検出信号を出力
するようにしている。位置検出手段7が架台3の移動に
応じた位置情報信号を出力しないという異常が生じた時
にも、架台3の走査範囲外への移動を検出して異常検出
信号を出力することができる。
【0018】図13及び図14に示す実施例では、振動
センサ9を設けて、架台3が移動範囲の端に衝突した
り、走行駆動系が異常振動をおこしたりした場合、振動
センサ9でこれを検出して比較器CPによる振動閾値と
の比較の後、振動が通常走行時の時よりも大きければ異
常検出信号を出力するようにしている。閉ループ制御系
になんらかの不具合が発生して架台3の正確な位置情報
が得られなくても、機械的な影響から異常を検出するこ
とができ、端部への連続衝突による損傷などを未然に防
ぐことができる。
【0019】図15及び図16に示す実施例では、リニ
アモータ30のコイル36の近傍や架台3上の投光手段
1における発光素子の近辺に温度センサTを配置し、検
出される温度が所定の温度閾値を越えた時には比較器C
Pから異常検出信号が出力されるようにしている。コイ
ル36の発熱による焼き付きや発光素子の熱破壊等を未
然に防ぐことができる。
【0020】
【発明の効果】以上のように本発明においては、リニア
モータの駆動電流値を検出して該電流値または該電流値
の微分値から異常検出を行う異常検出手段を設けたもの
では、走査手段や走行ガイド系の異常による架台の走行
異常について確実に検出することができ、リニアモータ
のコイルへの過剰電流によるコイルの異常発熱や焼き切
れなどを未然に防ぐことができる。
【0021】位置検出手段による位置情報と、リニアモ
ータの位置指令信号との比較から異常検出を行う異常検
出手段を設けたものにおいては、やはり架台の走査異常
を検出して、この走査異常に伴う障害を排除することが
できる。位置検出手段による位置情報と架台の移動範囲
情報との比較から異常検出を行う異常検出手段、あるい
はリニアモータの閉ループ制御に使用される上記位置検
出手段のほかに、架台の移動方向における位置を検出す
る第2の位置検出手段を設けて、この第2の位置検出手
段による位置情報から異常検出を行う異常検出手段を設
けたものでは、走査範囲外にまで架台が移動した場合、
これを検出することができて、このような移動が生じた
場合の問題を排除することができ、特に後者においては
閉ループ制御系が異常状態に陥っても異常検出を行うこ
とができる。
【0022】振動センサーや温度センサーを備えて該振
動センサーや温度センサーの出力から異常検出を行う異
常検出手段を設けたものでは、振動や温度の点から動作
異常を検出して、振動や温度によって生じる障害を無く
すことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明一実施例の斜視図である。
【図2】同上の位置検出手段の動作説明図である。
【図3】同上の走査系に関するブロック回路図である。
【図4】同上の動作を示すタイムチャートである。
【図5】第2の実施例の走査系に関するブロック回路図
である。
【図6】同上の動作を示すタイムチャートである。
【図7】第3の実施例の走査系に関するブロック回路図
である。
【図8】同上の動作を示すタイムチャートである。
【図9】第4の実施例の走査系に関するブロック回路図
である。
【図10】同上の動作を示すタイムチャートである。
【図11】第5の実施例の走査系に関するブロック回路
図である。
【図12】同上の動作を示すタイムチャートである。
【図13】第6の実施例の走査系に関するブロック回路
図である。
【図14】同上の動作を示すタイムチャートである。
【図15】第7の実施例の走査系に関するブロック回路
図である。
【図16】同上の動作を示すタイムチャートである。
【符号の説明】
1 投光手段 2 受光手段 3 架台 7 位置検出手段 30 リニアモータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 広野 淳之 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物に光ビームを照射する投光手段
    と、被測定物の表面での光ビームの反射光を受光する受
    光手段と、受光手段の検出出力に基づいて被測定物まで
    の距離を求める信号処理部と、投光手段および受光手段
    を取り付けた架台をリニアモータを動力として移動させ
    て被測定物の上で投光スポットを走査する走査手段と、
    架台の移動方向における位置を検出する位置検出手段と
    を具備している光走査型変位測定装置において、リニア
    モータの駆動電流値を検出して該電流値から異常検出を
    行う異常検出手段を備えていることを特徴とする光走査
    型変位測定装置。
  2. 【請求項2】 被測定物に光ビームを照射する投光手段
    と、被測定物の表面での光ビームの反射光を受光する受
    光手段と、受光手段の検出出力に基づいて被測定物まで
    の距離を求める信号処理部と、投光手段および受光手段
    を取り付けた架台をリニアモータを動力として移動させ
    て被測定物の上で投光スポットを走査する走査手段と、
    架台の移動方向における位置を検出する位置検出手段と
    を具備している光走査型変位測定装置において、リニア
    モータの駆動電流値を検出して該電流値の微分値から異
    常検出を行う異常検出手段を備えていることを特徴とす
    る光走査型変位測定装置。
  3. 【請求項3】 被測定物に光ビームを照射する投光手段
    と、被測定物の表面での光ビームの反射光を受光する受
    光手段と、受光手段の検出出力に基づいて被測定物まで
    の距離を求める信号処理部と、投光手段および受光手段
    を取り付けた架台をリニアモータを動力として移動させ
    て被測定物の上で投光スポットを走査する走査手段と、
    架台の移動方向における位置を検出する位置検出手段と
    を具備している光走査型変位測定装置において、位置検
    出手段による位置情報と、リニアモータの位置指令信号
    との比較から異常検出を行う異常検出手段を備えている
    ことを特徴とする光走査型変位測定装置。
  4. 【請求項4】 被測定物に光ビームを照射する投光手段
    と、被測定物の表面での光ビームの反射光を受光する受
    光手段と、受光手段の検出出力に基づいて被測定物まで
    の距離を求める信号処理部と、投光手段および受光手段
    を取り付けた架台をリニアモータを動力として移動させ
    て被測定物の上で投光スポットを走査する走査手段と、
    架台の移動方向における位置を検出する位置検出手段と
    を具備している光走査型変位測定装置において、位置検
    出手段による位置情報と架台の移動範囲情報との比較か
    ら異常検出を行う異常検出手段を備えていることを特徴
    とする光走査型変位測定装置。
  5. 【請求項5】 被測定物に光ビームを照射する投光手段
    と、被測定物の表面での光ビームの反射光を受光する受
    光手段と、受光手段の検出出力に基づいて被測定物まで
    の距離を求める信号処理部と、投光手段および受光手段
    を取り付けた架台をリニアモータを動力として移動させ
    て被測定物の上で投光スポットを走査する走査手段と、
    架台の移動方向における位置を検出する位置検出手段と
    を具備している光走査型変位測定装置において、リニア
    モータの閉ループ制御に使用される上記位置検出手段の
    ほかに、架台の移動方向における位置を検出する第2の
    位置検出手段を設けて、この第2の位置検出手段による
    位置情報から異常検出を行う異常検出手段を備えている
    ことを特徴とする光走査型変位測定装置。
  6. 【請求項6】 被測定物に光ビームを照射する投光手段
    と、被測定物の表面での光ビームの反射光を受光する受
    光手段と、受光手段の検出出力に基づいて被測定物まで
    の距離を求める信号処理部と、投光手段および受光手段
    を取り付けた架台をリニアモータを動力として移動させ
    て被測定物の上で投光スポットを走査する走査手段と、
    架台の移動方向における位置を検出する位置検出手段と
    を具備している光走査型変位測定装置において、振動セ
    ンサーを備えて該振動センサーの出力から異常検出を行
    う異常検出手段を備えていることを特徴とする光走査型
    変位測定装置。
  7. 【請求項7】 被測定物に光ビームを照射する投光手段
    と、被測定物の表面での光ビームの反射光を受光する受
    光手段と、受光手段の検出出力に基づいて被測定物まで
    の距離を求める信号処理部と、投光手段および受光手段
    を取り付けた架台をリニアモータを動力として移動させ
    て被測定物の上で投光スポットを走査する走査手段と、
    架台の移動方向における位置を検出する位置検出手段と
    を具備している光走査型変位測定装置において、温度セ
    ンサーを備えて該温度センサーの出力から異常検出を行
    う異常検出手段を備えていることを特徴とする光走査型
    変位測定装置。
JP28101894A 1994-11-15 1994-11-15 光走査型変位測定装置 Pending JPH08145622A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001343218A (ja) * 2000-06-02 2001-12-14 Ss Pharmaceut Co Ltd 打錠用杵の長さ測定装置

Cited By (2)

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