JPH081413B2 - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents
冷熱衝撃試験装置Info
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- JPH081413B2 JPH081413B2 JP1282692A JP1282692A JPH081413B2 JP H081413 B2 JPH081413 B2 JP H081413B2 JP 1282692 A JP1282692 A JP 1282692A JP 1282692 A JP1282692 A JP 1282692A JP H081413 B2 JPH081413 B2 JP H081413B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、各種物品（例えば電子
部品）に高温、低温の熱ストレスを与えて、その耐熱衝
撃性を試験したり、各種物品につき種々の温度変化を与
えて該物品の故障診断やスクリーニングなどを行うため
の冷熱衝撃試験装置に関する。
部品）に高温、低温の熱ストレスを与えて、その耐熱衝
撃性を試験したり、各種物品につき種々の温度変化を与
えて該物品の故障診断やスクリーニングなどを行うため
の冷熱衝撃試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の装置においては、その低温槽は
所定温度の低温気体を発生させて試験槽へ供給しなけれ
ばならないが、低温槽では、その運転により冷却器等に
霜着が発生し、その霜着を放置しておくと次第に気体冷
却能力が低下する。従って、定期的に或いは霜着の程度
に応じて適宜除霜しなければならない。
所定温度の低温気体を発生させて試験槽へ供給しなけれ
ばならないが、低温槽では、その運転により冷却器等に
霜着が発生し、その霜着を放置しておくと次第に気体冷
却能力が低下する。従って、定期的に或いは霜着の程度
に応じて適宜除霜しなければならない。
【０００３】この除霜は、通常、低温槽内に設けてある
温度制御用ヒータに通電して着霜を融解させることで行
われ、これにより生じた水は低温槽床の排水口から槽外
へ排出される。
温度制御用ヒータに通電して着霜を融解させることで行
われ、これにより生じた水は低温槽床の排水口から槽外
へ排出される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この除
霜方法によると、低温槽床面等に付着した水滴は槽外へ
流出し難く、また、除霜運転により低温槽内に雰囲気と
して存在する水蒸気を排出し難く、これら水滴や水蒸気
が次の早期霜着の原因となる。そこで本発明は、試験
槽、前記試験槽へ高温気体を供給する高温槽及び前記試
験槽へ低温気体を供給する低温槽を備え、該低温槽が、
冷却器、温度制御用ヒータ及び発生した低温気体を前記
試験槽へ供給する送風手段を内蔵している冷熱衝撃試験
装置であって、低温槽の除霜運転時、低温槽内に発生す
る水蒸気を速やかに槽外へ排出して槽内における残留水
分を従来より低減させることができ、それによって除霜
運転と除霜運転の間の時間を長くとって従来より長期に
わたる連続低温さらし運転を行える冷熱衝撃試験装置を
提供することを目的とする。
霜方法によると、低温槽床面等に付着した水滴は槽外へ
流出し難く、また、除霜運転により低温槽内に雰囲気と
して存在する水蒸気を排出し難く、これら水滴や水蒸気
が次の早期霜着の原因となる。そこで本発明は、試験
槽、前記試験槽へ高温気体を供給する高温槽及び前記試
験槽へ低温気体を供給する低温槽を備え、該低温槽が、
冷却器、温度制御用ヒータ及び発生した低温気体を前記
試験槽へ供給する送風手段を内蔵している冷熱衝撃試験
装置であって、低温槽の除霜運転時、低温槽内に発生す
る水蒸気を速やかに槽外へ排出して槽内における残留水
分を従来より低減させることができ、それによって除霜
運転と除霜運転の間の時間を長くとって従来より長期に
わたる連続低温さらし運転を行える冷熱衝撃試験装置を
提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の前記目的は、前
記冷熱衝撃試験装置において、前記低温槽が該低温槽外
に連通可能の吸気口及び排気口、前記送風手段と前記排
気口を連通させる排気ダクト、前記両口のそれぞれに設
けた開閉ダンパ、前記各ダンパに対し設けた形状記憶合
金ばねを備え、前記ばねは、前記低温槽の除霜運転時、
該槽内温度がばねの変態点以上に上昇することで前記ダ
ンパをその閉位置から開位置へ偏位させるものであるこ
とを特徴とする。
記冷熱衝撃試験装置において、前記低温槽が該低温槽外
に連通可能の吸気口及び排気口、前記送風手段と前記排
気口を連通させる排気ダクト、前記両口のそれぞれに設
けた開閉ダンパ、前記各ダンパに対し設けた形状記憶合
金ばねを備え、前記ばねは、前記低温槽の除霜運転時、
該槽内温度がばねの変態点以上に上昇することで前記ダ
ンパをその閉位置から開位置へ偏位させるものであるこ
とを特徴とする。
【０００６】前記形状記憶合金ばねの変態点としては、
０℃以上が望ましい。試験槽内の物品を低温にさらす低
温さらし運転時、該運転に備えての待機運転時には前記
ダンパは閉じなければならず、また、除霜運転により開
いたダンパは次の低温槽運転時には閉じなければならな
いが、これはオペレータが手動で閉じる場合のほか、適
当なバイアス手段により閉じる場合が考えられる。かか
るバイアス手段としては、形状記憶合金ばねがその変態
点より低温にさらされるとダンパが閉じ得る自重をもっ
たダンパ自体、ダンパに連結したバイアス用のおもり、
ダンパに連結したバイアスばね等が考えられる。
０℃以上が望ましい。試験槽内の物品を低温にさらす低
温さらし運転時、該運転に備えての待機運転時には前記
ダンパは閉じなければならず、また、除霜運転により開
いたダンパは次の低温槽運転時には閉じなければならな
いが、これはオペレータが手動で閉じる場合のほか、適
当なバイアス手段により閉じる場合が考えられる。かか
るバイアス手段としては、形状記憶合金ばねがその変態
点より低温にさらされるとダンパが閉じ得る自重をもっ
たダンパ自体、ダンパに連結したバイアス用のおもり、
ダンパに連結したバイアスばね等が考えられる。
【０００７】
【作用】本発明の冷熱衝撃試験装置によると、低温槽で
は、その本来の運転中は、形状記憶合金ばねが手動又は
バイアス手段により変形されて両ダンパが閉じられてい
るが、除霜を行うときは、普通には冷却器が運転停止さ
れ、温度制御用ヒータに通電される。
は、その本来の運転中は、形状記憶合金ばねが手動又は
バイアス手段により変形されて両ダンパが閉じられてい
るが、除霜を行うときは、普通には冷却器が運転停止さ
れ、温度制御用ヒータに通電される。
【０００８】かくして、低温槽内温度が上昇し、着霜は
融解して水となり始める一方、槽内温度が形状記憶合金
ばねの変態点以上に上昇すると該ばねの復元力が発生
し、各ダンパが開位置へ偏位する。このようにダンパが
開き、今まで閉じられていた吸気口及び排気口が開くこ
とと、送風手段の運転により、低温槽内に、該吸気口か
ら送風手段、排気ダクト、排気口へと順次向かう風の流
れが生じ、これによって低温槽内に発生する水蒸気が速
やかに槽外へ運び去られ、また、これによって、槽内全
体の水分が十分槽外へ運び去られる。
融解して水となり始める一方、槽内温度が形状記憶合金
ばねの変態点以上に上昇すると該ばねの復元力が発生
し、各ダンパが開位置へ偏位する。このようにダンパが
開き、今まで閉じられていた吸気口及び排気口が開くこ
とと、送風手段の運転により、低温槽内に、該吸気口か
ら送風手段、排気ダクト、排気口へと順次向かう風の流
れが生じ、これによって低温槽内に発生する水蒸気が速
やかに槽外へ運び去られ、また、これによって、槽内全
体の水分が十分槽外へ運び去られる。
【０００９】かくして、除霜運転が終了し、再び低温槽
が正規に運転され始めることで、槽内温度がばねの変態
点より低下すると、手動又はバイアス手段にて両ダンパ
が閉じられる。
が正規に運転され始めることで、槽内温度がばねの変態
点より低下すると、手動又はバイアス手段にて両ダンパ
が閉じられる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は一実施例の正面方向から見た概略断面図で
ある。この冷熱衝撃試験装置は、試験槽１、該試験槽に
連設した高温槽２及び低温槽３を備えている。
する。図１は一実施例の正面方向から見た概略断面図で
ある。この冷熱衝撃試験装置は、試験槽１、該試験槽に
連設した高温槽２及び低温槽３を備えている。
【００１１】高温槽２は加熱器２１、送風ファン２２を
備えており、高温さらし時には、試験槽１に臨むダンパ
２３、２４を開けて、該試験槽と高温槽に所定高温の熱
気を循環させることができる。低温槽３は冷却器３１、
温度制御用（温調用）ヒータ３２及び送風ファン３３を
備えており、低温さらし時には、試験槽に臨むダンパ３
４、３５を開けて、該試験槽と低温槽に所定低温の冷気
を循環させることができる。
備えており、高温さらし時には、試験槽１に臨むダンパ
２３、２４を開けて、該試験槽と高温槽に所定高温の熱
気を循環させることができる。低温槽３は冷却器３１、
温度制御用（温調用）ヒータ３２及び送風ファン３３を
備えており、低温さらし時には、試験槽に臨むダンパ３
４、３５を開けて、該試験槽と低温槽に所定低温の冷気
を循環させることができる。
【００１２】試験槽１は内槽１１と、その外側の断熱材
層１２を含む。断熱材層１２は高温槽２及び低温槽３も
囲繞している。試験槽前面は図示しない断熱扉により開
閉できる。また、低温層３は除霜時用排気機構を備えて
いる。すなわち、低温槽３には槽外に連通できる吸気口
４１及び排気口４２が設けられ、これらには断熱ダンパ
５１、５２が開閉可能に設けられている。なお、床部に
は槽外へ通じる排水口４０を設けてある。
層１２を含む。断熱材層１２は高温槽２及び低温槽３も
囲繞している。試験槽前面は図示しない断熱扉により開
閉できる。また、低温層３は除霜時用排気機構を備えて
いる。すなわち、低温槽３には槽外に連通できる吸気口
４１及び排気口４２が設けられ、これらには断熱ダンパ
５１、５２が開閉可能に設けられている。なお、床部に
は槽外へ通じる排水口４０を設けてある。
【００１３】ダンパ５１には、これを閉位置へ偏位させ
るためのバイアスばね６１と、開位置へ偏位させるため
の形状記憶合金ばね７１が付設され、ダンパ５２には、
これを閉位置へ偏位させるためのバイアスばね６２と、
開位置へ偏位させるための形状記憶合金ばね７２が付設
されている。また、ダンパ５１、５２の下面には気密シ
ール用パッキンリング５１ａ、５２ａが設けてある。
るためのバイアスばね６１と、開位置へ偏位させるため
の形状記憶合金ばね７１が付設され、ダンパ５２には、
これを閉位置へ偏位させるためのバイアスばね６２と、
開位置へ偏位させるための形状記憶合金ばね７２が付設
されている。また、ダンパ５１、５２の下面には気密シ
ール用パッキンリング５１ａ、５２ａが設けてある。
【００１４】さらに、ファン３３から排気口４２へ向け
てこれらを連通させる排気ダクト８が形成されている。
形状記憶合金ばね７１、７２はその変態点が０℃以上に
設定されており、従って、低温さらし運転時や低温さら
しに備えての待機運転時においては、バイアスばね６
１、６２が、ばね７１、７２を変形させ、ダンパ５１、
５２を閉位置へ偏位させることにより、吸気口４１及び
排気口４２は閉じられる。
てこれらを連通させる排気ダクト８が形成されている。
形状記憶合金ばね７１、７２はその変態点が０℃以上に
設定されており、従って、低温さらし運転時や低温さら
しに備えての待機運転時においては、バイアスばね６
１、６２が、ばね７１、７２を変形させ、ダンパ５１、
５２を閉位置へ偏位させることにより、吸気口４１及び
排気口４２は閉じられる。
【００１５】この実施例装置によると、例えば試験槽１
に配置した被試験体Ｗを高温さらしするときには、低温
槽３の空気流通口をダンパ３４、３５で閉じ、これに代
わって高温槽２のダンパ２３、２４を開き、該槽２から
所定温度の高温空気を試験槽１へ供給し、該空気を試験
槽と高温槽２との間で循環させ、被試験体Ｗを高温さら
しする。
に配置した被試験体Ｗを高温さらしするときには、低温
槽３の空気流通口をダンパ３４、３５で閉じ、これに代
わって高温槽２のダンパ２３、２４を開き、該槽２から
所定温度の高温空気を試験槽１へ供給し、該空気を試験
槽と高温槽２との間で循環させ、被試験体Ｗを高温さら
しする。
【００１６】一方、被試験体Ｗを低温さらしするときに
は、高温槽２のダンパ２３、２４を閉じ、これに代わっ
て低温槽３のダンパ３４、３５を開き、槽３で発生する
所定温度の低温空気を試験槽１へ供給し、該空気を試験
槽１と低温槽３との間で循環させ、被試験体Ｗを低温さ
らしする。この低温さらしの間、低温槽３のダンパ５
１、５２は吸気口４１、排気口４２を前述のとおり閉じ
ている。
は、高温槽２のダンパ２３、２４を閉じ、これに代わっ
て低温槽３のダンパ３４、３５を開き、槽３で発生する
所定温度の低温空気を試験槽１へ供給し、該空気を試験
槽１と低温槽３との間で循環させ、被試験体Ｗを低温さ
らしする。この低温さらしの間、低温槽３のダンパ５
１、５２は吸気口４１、排気口４２を前述のとおり閉じ
ている。
【００１７】低温槽３を所定温度の低温空気を発生させ
るために運転を行う結果、該槽内に低温槽の本来の能力
を低下させるような、除去しなければならない霜着があ
ると、例えば高温さらし運転中等の待機時等において除
霜運転する。この除霜運転は、低温槽３における冷却器
３１を停止する一方、ヒータ３２に通電し、槽内温度を
０℃以上に上昇させることで行う。
るために運転を行う結果、該槽内に低温槽の本来の能力
を低下させるような、除去しなければならない霜着があ
ると、例えば高温さらし運転中等の待機時等において除
霜運転する。この除霜運転は、低温槽３における冷却器
３１を停止する一方、ヒータ３２に通電し、槽内温度を
０℃以上に上昇させることで行う。
【００１８】この除霜運転により、低温槽内温度が０℃
以上に上昇し始めると、着霜が融解し始める一方、槽内
温度が合金ばね７１、７２の変態点以上に上昇すること
で、図２、図３に示すように、これらばねがバイアスば
ね６１、６２に抗して記憶形状へ復元し、これによって
各ダンパ５１、５２が開位置へ偏位され、吸気口４１、
排気口４２が開かれる。
以上に上昇し始めると、着霜が融解し始める一方、槽内
温度が合金ばね７１、７２の変態点以上に上昇すること
で、図２、図３に示すように、これらばねがバイアスば
ね６１、６２に抗して記憶形状へ復元し、これによって
各ダンパ５１、５２が開位置へ偏位され、吸気口４１、
排気口４２が開かれる。
【００１９】この状態で、又はそれ以前からファン３３
が運転され、外気が吸気口４１から槽内へ吸い込まれ、
槽内に発生した水蒸気を持ち去るようにして、ファン３
３から排気ダクト８を経て、排気口４２より槽外へ流出
する。また、生じた水は排水口４０から槽外へ流出す
る。かくして、除霜運転により低温槽３内に発生する水
蒸気は効率良く、十分槽外へ運び去られ、また、これに
よって低温槽床等に付着する水滴を含む槽内水分が十分
低減される。
が運転され、外気が吸気口４１から槽内へ吸い込まれ、
槽内に発生した水蒸気を持ち去るようにして、ファン３
３から排気ダクト８を経て、排気口４２より槽外へ流出
する。また、生じた水は排水口４０から槽外へ流出す
る。かくして、除霜運転により低温槽３内に発生する水
蒸気は効率良く、十分槽外へ運び去られ、また、これに
よって低温槽床等に付着する水滴を含む槽内水分が十分
低減される。
【００２０】以上により除霜運転後、低温槽３内に残留
する次の着霜の原因となる水分はきわめて少なくなり、
次の除霜運転までの時間を十分とることができる。ま
た、そのため、低温さらし運転を所望の長時間連続する
ことも可能となる。除霜運転の終了により低温槽内温度
が合金ばね７１、７２の変態点より低下すると、バイア
スばね６１、６２が、ダンパ５１、５２を閉位置へ偏位
させるので、吸気口４１、排気口４２が閉じられ、引き
続く低温槽３の本来の運転に支障の無い状態となる。
する次の着霜の原因となる水分はきわめて少なくなり、
次の除霜運転までの時間を十分とることができる。ま
た、そのため、低温さらし運転を所望の長時間連続する
ことも可能となる。除霜運転の終了により低温槽内温度
が合金ばね７１、７２の変態点より低下すると、バイア
スばね６１、６２が、ダンパ５１、５２を閉位置へ偏位
させるので、吸気口４１、排気口４２が閉じられ、引き
続く低温槽３の本来の運転に支障の無い状態となる。
【００２１】なお、前記実施例では、試験槽１の上に低
温槽３が、下に高温槽２が配置されているが、低温槽３
における除霜時、ダンパ３４、３５上部にたまった水が
次の低温さらし時に試験槽１内へ落下する恐れがあるこ
とや、装置全体の重量バランス等を考慮して、試験槽１
の上に高温槽２を、下に低温槽３を設けてもよい。この
場合、低温槽３における前記吸排気口４１、４２、その
開閉ダンパ５１、５２、ばね６１、７１、６２、７２、
排気ダクト８等の排気機構部は装置背面側に設けること
が考えられる。
温槽３が、下に高温槽２が配置されているが、低温槽３
における除霜時、ダンパ３４、３５上部にたまった水が
次の低温さらし時に試験槽１内へ落下する恐れがあるこ
とや、装置全体の重量バランス等を考慮して、試験槽１
の上に高温槽２を、下に低温槽３を設けてもよい。この
場合、低温槽３における前記吸排気口４１、４２、その
開閉ダンパ５１、５２、ばね６１、７１、６２、７２、
排気ダクト８等の排気機構部は装置背面側に設けること
が考えられる。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によると、試
験槽、前記試験槽へ高温気体を供給する高温槽及び前記
試験槽へ低温気体を供給する低温槽を備え、該低温槽
が、冷却器、温度制御用ヒータ及び発生した低温気体を
前記試験槽へ供給する送風手段を内蔵している冷熱衝撃
試験装置であって、低温槽の除霜運転時、低温槽内に発
生する水蒸気を自動的に速やかに槽外へ排出して槽内に
おける残留水分を従来より低減させることができ、それ
によって除霜運転と除霜運転の間の時間を長くとって従
来より長期にわたる連続低温さらし運転を行える冷熱衝
撃試験装置を提供することができる。
験槽、前記試験槽へ高温気体を供給する高温槽及び前記
試験槽へ低温気体を供給する低温槽を備え、該低温槽
が、冷却器、温度制御用ヒータ及び発生した低温気体を
前記試験槽へ供給する送風手段を内蔵している冷熱衝撃
試験装置であって、低温槽の除霜運転時、低温槽内に発
生する水蒸気を自動的に速やかに槽外へ排出して槽内に
おける残留水分を従来より低減させることができ、それ
によって除霜運転と除霜運転の間の時間を長くとって従
来より長期にわたる連続低温さらし運転を行える冷熱衝
撃試験装置を提供することができる。
【図１】本発明の一実施例の正面方向から見た概略断面
図である。
図である。
【図２】低温槽における除霜時の吸排気ダンパの開状態
を示す正面方向から見た断面図である。
を示す正面方向から見た断面図である。
【図３】低温槽の吸排気ダンパの開閉と低温槽内温度の
関係を示すグラフである。
関係を示すグラフである。
１ 試験槽 ２ 高温槽 ３ 低温槽 ３１ 冷却器 ３２ 温度制御用ヒータ ３３ 送風ファン ４０ 排水口 ４１ 吸気口 ４２ 排気口 ５１、５２ ダンパ ５１ａ、５２ａ 気密シール用パッキンリング ６１ ６２ バイアスばね ７１、７２ 形状記憶合金ばね ８ 排気ダクト
Claims (1)
- 【請求項１】 試験槽、前記試験槽へ高温気体を供給す
る高温槽及び前記試験槽へ低温気体を供給する低温槽を
備え、該低温槽が、冷却器、温度制御用ヒータ及び発生
した低温気体を前記試験槽へ供給する送風手段を内蔵し
ている冷熱衝撃試験装置において、前記低温槽が該低温
槽外に連通可能の吸気口及び排気口、前記送風手段と前
記排気口を連通させる排気ダクト、前記両口のそれぞれ
に設けた開閉ダンパ、前記各ダンパに対し設けた形状記
憶合金ばねを備え、前記ばねは、前記低温槽の除霜運転
時、該槽内温度がばねの変態点以上に上昇することで前
記ダンパをその閉位置から開位置へ偏位させるものであ
ることを特徴とする冷熱衝撃試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1282692A JPH081413B2 (ja) | 1992-01-28 | 1992-01-28 | 冷熱衝撃試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1282692A JPH081413B2 (ja) | 1992-01-28 | 1992-01-28 | 冷熱衝撃試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05203557A JPH05203557A (ja) | 1993-08-10 |
| JPH081413B2 true JPH081413B2 (ja) | 1996-01-10 |
Family
ID=11816191
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1282692A Expired - Fee Related JPH081413B2 (ja) | 1992-01-28 | 1992-01-28 | 冷熱衝撃試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH081413B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5499332B2 (ja) * | 2011-05-24 | 2014-05-21 | エスペック株式会社 | 冷熱衝撃試験装置およびこれを含む環境試験システム |
| KR101634624B1 (ko) * | 2014-10-10 | 2016-07-11 | 넥센타이어 주식회사 | 열풍 순환 장치가 구비된 고무재료 피로 및 피로 균열 진전 시험 장치 |
-
1992
- 1992-01-28 JP JP1282692A patent/JPH081413B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05203557A (ja) | 1993-08-10 |
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