JPH08136403A - 偏波依存性損失測定方法及びその装置 - Google Patents
偏波依存性損失測定方法及びその装置Info
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- JPH08136403A JPH08136403A JP27109194A JP27109194A JPH08136403A JP H08136403 A JPH08136403 A JP H08136403A JP 27109194 A JP27109194 A JP 27109194A JP 27109194 A JP27109194 A JP 27109194A JP H08136403 A JPH08136403 A JP H08136403A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高精度で被測定物の偏波依存性損失を測定で
きる偏波依存性損失測定方法及びその装置を提供する。 【構成】 測定光の偏光状態を可変にし、その測定光を
被測定物８に入射すると共に、その被測定物８から出射
される出射光より被測定物８の偏波依存性損失を測定す
る偏波依存性損失測定方法において、出射光を平行光と
した後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの
偏光成分から被測定物８の偏波依存性損失を測定するこ
とを特徴としている。
きる偏波依存性損失測定方法及びその装置を提供する。 【構成】 測定光の偏光状態を可変にし、その測定光を
被測定物８に入射すると共に、その被測定物８から出射
される出射光より被測定物８の偏波依存性損失を測定す
る偏波依存性損失測定方法において、出射光を平行光と
した後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの
偏光成分から被測定物８の偏波依存性損失を測定するこ
とを特徴としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、偏波依存性損失測定方
法及びその装置に関する。
法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図２は偏波依存性損失（ＰＤＬ）測定方
法を適用した偏波依存性損失測定装置の従来例である。
法を適用した偏波依存性損失測定装置の従来例である。
【０００３】同図において、レーザ光源（ＬＤ光源）１
から出射した出射光は、レンズ２で集光された後カプラ
３の入力部３ａに入射する。レーザ光はカプラ３で測定
光及び光源モニタ光に分岐される。光源モニタ光はＬＤ
光源１の光パワーをモニタするためのモニタ用光検出器
４に入射し、ＬＤ光源１の出射パワーがモニタされ、Ｌ
Ｄ光源１の出力が一定となるように制御される。
から出射した出射光は、レンズ２で集光された後カプラ
３の入力部３ａに入射する。レーザ光はカプラ３で測定
光及び光源モニタ光に分岐される。光源モニタ光はＬＤ
光源１の光パワーをモニタするためのモニタ用光検出器
４に入射し、ＬＤ光源１の出射パワーがモニタされ、Ｌ
Ｄ光源１の出力が一定となるように制御される。
【０００４】測定光は偏光コントローラ５に入射する。
測定光の偏光状態は、偏光コントローラ５によって全偏
光状態（直線偏光、楕円偏光及び円偏光）に変化される
ようになっており、いずれかの偏光状態にされた後出射
ファイバ６及び入射ファイバ７を介して被測定物８に入
射される。
測定光の偏光状態は、偏光コントローラ５によって全偏
光状態（直線偏光、楕円偏光及び円偏光）に変化される
ようになっており、いずれかの偏光状態にされた後出射
ファイバ６及び入射ファイバ７を介して被測定物８に入
射される。
【０００５】ここで、偏光コントローラ５の出射ファイ
バ６は、被測定物８の入射ファイバ７に融着接続部９で
融着接続されている。融着接続部９は低いＰＤＬ（０．
００１ｄＢ以下）で接続することが可能であるが、融着
接続する代わりにコネクタ接続すると０．０２ｄＢ程度
のＰＤＬが生じることがある。
バ６は、被測定物８の入射ファイバ７に融着接続部９で
融着接続されている。融着接続部９は低いＰＤＬ（０．
００１ｄＢ以下）で接続することが可能であるが、融着
接続する代わりにコネクタ接続すると０．０２ｄＢ程度
のＰＤＬが生じることがある。
【０００６】従って高精度でＰＤＬを測定するためには
偏光コントローラ５の出射ファイバ６以降の接続は、融
着接続する必要がある。
偏光コントローラ５の出射ファイバ６以降の接続は、融
着接続する必要がある。
【０００７】被測定物８から出射したレーザ光（全偏光
状態がつくりだされているレーザ光）は、被測定物出射
ファイバ１０及び測定系入射ファイバ１１を介してＰＤ
Ｌ測定装置１２の測定用光検出器１３に入射する。
状態がつくりだされているレーザ光）は、被測定物出射
ファイバ１０及び測定系入射ファイバ１１を介してＰＤ
Ｌ測定装置１２の測定用光検出器１３に入射する。
【０００８】測定用光検出器１３の受光パワーは、被測
定物８を通過するレーザ光の偏光状態によって変化す
る。この測定用光検出器１３の受光パワーの最大値と最
小値との差が被測定物８のＰＤＬとして検出される。
尚、１４は融着接続部である。
定物８を通過するレーザ光の偏光状態によって変化す
る。この測定用光検出器１３の受光パワーの最大値と最
小値との差が被測定物８のＰＤＬとして検出される。
尚、１４は融着接続部である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来例では、測定用光検出器１３のＰＤＬ（０．０１
〜０．０３ｄＢ）が、被測定物８のＰＤＬ測定値に含ま
れてしまい、高精度ＰＤＬ（＜０．００５ｄＢ）が困難
であった。尚、測定用光検出器１３のＰＤＬは、測定用
光検出器１３の受光面の原子配列に対する測定光の偏光
方向の角度等が変化することによって光電変換効率が変
化するために生じる。
た従来例では、測定用光検出器１３のＰＤＬ（０．０１
〜０．０３ｄＢ）が、被測定物８のＰＤＬ測定値に含ま
れてしまい、高精度ＰＤＬ（＜０．００５ｄＢ）が困難
であった。尚、測定用光検出器１３のＰＤＬは、測定用
光検出器１３の受光面の原子配列に対する測定光の偏光
方向の角度等が変化することによって光電変換効率が変
化するために生じる。
【００１０】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、高精度で被測定物の偏波依存性損失を測定できる偏
波依存性損失測定方法及びその装置を提供することにあ
る。
し、高精度で被測定物の偏波依存性損失を測定できる偏
波依存性損失測定方法及びその装置を提供することにあ
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、測定光の偏光状態を可変にし、その測定光
を被測定物に入射すると共に、その被測定物から出射さ
れる出射光より被測定物の偏波依存性損失を測定する偏
波依存性損失測定方法において、出射光を平行光とした
後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの偏光
成分から被測定物の偏波依存性損失を測定するものであ
る。
に本発明は、測定光の偏光状態を可変にし、その測定光
を被測定物に入射すると共に、その被測定物から出射さ
れる出射光より被測定物の偏波依存性損失を測定する偏
波依存性損失測定方法において、出射光を平行光とした
後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの偏光
成分から被測定物の偏波依存性損失を測定するものであ
る。
【００１２】上記構成に加え本発明は、被測定物からの
測定光をレンズを用いて平行光とし、その平行となった
測定光を偏光器を用いてＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分
離し、分離された測定光をそれぞれ別個の光検出器で独
立に受光するものである。
測定光をレンズを用いて平行光とし、その平行となった
測定光を偏光器を用いてＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分
離し、分離された測定光をそれぞれ別個の光検出器で独
立に受光するものである。
【００１３】本発明は、レーザ光源と、このレーザ光源
からの出射光を集光するためのレンズと、このレンズで
集光された出射光を測定光及び光源モニタ光に分岐する
カプラと、このカプラで分岐された光源モニタ光を受光
してレーザ光源をモニタするモニタ用光検出器と、カプ
ラで分岐された測定光の偏光状態を変化させる偏光コン
トローラとを備えた偏波依存性損失測定装置において、
測定光を平行光にするレンズと、このレンズで平行にさ
れた測定光をＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分離する偏光
器と、この偏光器で分離されたＰ偏光成分を受光するＰ
偏光用光検出器と、偏光器で分離されたＳ偏光成分を受
光するＳ偏光用光検出器とを備えたものである。
からの出射光を集光するためのレンズと、このレンズで
集光された出射光を測定光及び光源モニタ光に分岐する
カプラと、このカプラで分岐された光源モニタ光を受光
してレーザ光源をモニタするモニタ用光検出器と、カプ
ラで分岐された測定光の偏光状態を変化させる偏光コン
トローラとを備えた偏波依存性損失測定装置において、
測定光を平行光にするレンズと、このレンズで平行にさ
れた測定光をＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分離する偏光
器と、この偏光器で分離されたＰ偏光成分を受光するＰ
偏光用光検出器と、偏光器で分離されたＳ偏光成分を受
光するＳ偏光用光検出器とを備えたものである。
【００１４】
【作用】被測定物から出射した測定光をＰ偏光成分とＳ
偏光成分とに分離し、分離されたＰ偏光成分とＳ偏光成
分とを別個の光検出器で受光することにより、光検出器
の原子配列に対する測定光の偏光角度が一定となり、光
電変換効率が一定となる。このため、光検出器の偏波依
存性損失を含まずに被測定物の偏波依存性損失を測定す
ることができる。
偏光成分とに分離し、分離されたＰ偏光成分とＳ偏光成
分とを別個の光検出器で受光することにより、光検出器
の原子配列に対する測定光の偏光角度が一定となり、光
電変換効率が一定となる。このため、光検出器の偏波依
存性損失を含まずに被測定物の偏波依存性損失を測定す
ることができる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て詳述する。
て詳述する。
【００１６】図１は本発明の偏波依存性損失測定方法を
適用した装置の一実施例である。図２に示した従来例と
同様の部材には共通の符号を用いた。
適用した装置の一実施例である。図２に示した従来例と
同様の部材には共通の符号を用いた。
【００１７】図１において、１はＬＤ光源であり、２は
ＬＤ光源１からのレーザ光を集光するためのレンズであ
る。３はレンズ２で集光されたレーザ光を入力部３ａで
受光し光源モニタ光及び測定光に分岐するカプラであ
る。４はカプラ３で分岐された光源モニタ光を受光して
ＬＤ光源１をモニタし、ＰＤＬ測定時に誤差となるＬＤ
光源１の光出力変動分をキャンセルするためのモニタ用
光検出器である。５はカプラ３で分岐された測定光の偏
光状態を変化させるための偏光コントローラである。
ＬＤ光源１からのレーザ光を集光するためのレンズであ
る。３はレンズ２で集光されたレーザ光を入力部３ａで
受光し光源モニタ光及び測定光に分岐するカプラであ
る。４はカプラ３で分岐された光源モニタ光を受光して
ＬＤ光源１をモニタし、ＰＤＬ測定時に誤差となるＬＤ
光源１の光出力変動分をキャンセルするためのモニタ用
光検出器である。５はカプラ３で分岐された測定光の偏
光状態を変化させるための偏光コントローラである。
【００１８】２０は被測定物８から被測定物出射ファイ
バ１０及び測定系入射ファイバ１１を介して出射した測
定光を平行光にするレンズである。２１はレンズ２０で
平行にされた測定光を透過及び反射することによりＰ偏
光成分及びＳ偏光成分に分離する偏光器としての偏光ビ
ームスプリッタである。
バ１０及び測定系入射ファイバ１１を介して出射した測
定光を平行光にするレンズである。２１はレンズ２０で
平行にされた測定光を透過及び反射することによりＰ偏
光成分及びＳ偏光成分に分離する偏光器としての偏光ビ
ームスプリッタである。
【００１９】２２は偏光ビームスプリッタ２１を透過し
たＰ偏光成分を受光するＰ偏光用光検出器である。２３
は偏光ビームスプリッタ２１で反射されたＳ偏光成分を
受光するＳ偏光用光検出器である。
たＰ偏光成分を受光するＰ偏光用光検出器である。２３
は偏光ビームスプリッタ２１で反射されたＳ偏光成分を
受光するＳ偏光用光検出器である。
【００２０】これらＬＤ光源１、レンズ２，２０、カプ
ラ３、偏光コントローラ５、モニタ光用光検出器４、偏
光ビームスプリッタ２１、Ｐ偏光用光検出器２２、Ｓ偏
光用光検出器２３、測定系入射ファイバ１１及び出射フ
ァイバ６で偏波依存性損失測定装置２４を形成してい
る。
ラ３、偏光コントローラ５、モニタ光用光検出器４、偏
光ビームスプリッタ２１、Ｐ偏光用光検出器２２、Ｓ偏
光用光検出器２３、測定系入射ファイバ１１及び出射フ
ァイバ６で偏波依存性損失測定装置２４を形成してい
る。
【００２１】この偏波依存性損失測定装置２４は、出射
ファイバ６及び測定系入射ファイバ１１を被測定物８の
入射ファイバ７及び被測定物出射ファイバ１０に融着接
続部９，１４で融着接続し、ＬＤ光源１からの測定光の
偏光状態を直線偏光、楕円偏光及び円偏光に変化させ、
Ｐ偏光用光検出器２２とＳ偏光用光検出器２３との出力
の和の最大値から最小値を減算した値を被測定物８の偏
波依存性損失として測定するものである。
ファイバ６及び測定系入射ファイバ１１を被測定物８の
入射ファイバ７及び被測定物出射ファイバ１０に融着接
続部９，１４で融着接続し、ＬＤ光源１からの測定光の
偏光状態を直線偏光、楕円偏光及び円偏光に変化させ、
Ｐ偏光用光検出器２２とＳ偏光用光検出器２３との出力
の和の最大値から最小値を減算した値を被測定物８の偏
波依存性損失として測定するものである。
【００２２】尚、被測定物８のＰＤＬ測定を開始する前
に、Ｐ偏光用光検出器２２及びＳ偏光用光検出器２３で
受光する光パワーをモニタしておき、それぞれの受光パ
ワーからＰ偏光成分の光電変換効率ηP 及びＳ偏光成分
の光電変換効率ηS を求めておく。光電変換効率ηP 、
ηS を求めておくことにより、各光検出器２２，２３間
のバラツキ、オフセット量等をキャンセルすることがで
きるようになり、より高精度なＰＤＬ測定が可能とな
る。
に、Ｐ偏光用光検出器２２及びＳ偏光用光検出器２３で
受光する光パワーをモニタしておき、それぞれの受光パ
ワーからＰ偏光成分の光電変換効率ηP 及びＳ偏光成分
の光電変換効率ηS を求めておく。光電変換効率ηP 、
ηS を求めておくことにより、各光検出器２２，２３間
のバラツキ、オフセット量等をキャンセルすることがで
きるようになり、より高精度なＰＤＬ測定が可能とな
る。
【００２３】次に実施例の作用を述べる。
【００２４】被測定物８から出射した測定光をＰ偏光成
分とＳ偏光成分とに分離し、分離されたＰ偏光成分とＳ
偏光成分とを別個の光検出器２２，２３で受光すること
により、光検出器２２，２３の原子配列に対する測定光
の偏光角度が一定となり、光電変換効率が一定となる。
このため、光検出器２２，２３の偏波依存性損失を含ま
ずに被測定物８の偏波依存性損失を測定することができ
る。
分とＳ偏光成分とに分離し、分離されたＰ偏光成分とＳ
偏光成分とを別個の光検出器２２，２３で受光すること
により、光検出器２２，２３の原子配列に対する測定光
の偏光角度が一定となり、光電変換効率が一定となる。
このため、光検出器２２，２３の偏波依存性損失を含ま
ずに被測定物８の偏波依存性損失を測定することができ
る。
【００２５】ここで、偏光ビームスプリッタ２１の消光
比は４５ｄＢ以上ある。つまり、偏光ビームスプリッタ
２１のＰＤＬは０．００１ｄＢ以下である。被測定物８
から出射した測定光をＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分離
し、それぞれ別個の測定用光検出器２２，２３で受光す
ることにより、各光検出器２２，２３はＰ偏光成分及び
Ｓ偏光成分のいずれか一方だけを受光するので偏波依存
性が原理的に「０」になる。その結果、Ｐ偏光用光検出
器２２及びＳ偏光用光検出器２３自体のＰＤＬが「０」
となり、測定により得られた結果が被測定物８のＰＤＬ
のみとなるので、高精度で被測定物８の偏波依存性損失
を測定することができる。
比は４５ｄＢ以上ある。つまり、偏光ビームスプリッタ
２１のＰＤＬは０．００１ｄＢ以下である。被測定物８
から出射した測定光をＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分離
し、それぞれ別個の測定用光検出器２２，２３で受光す
ることにより、各光検出器２２，２３はＰ偏光成分及び
Ｓ偏光成分のいずれか一方だけを受光するので偏波依存
性が原理的に「０」になる。その結果、Ｐ偏光用光検出
器２２及びＳ偏光用光検出器２３自体のＰＤＬが「０」
となり、測定により得られた結果が被測定物８のＰＤＬ
のみとなるので、高精度で被測定物８の偏波依存性損失
を測定することができる。
【００２６】以上において、本実施例によれば、測定光
の偏光状態を可変にし、その測定光を被測定物に入射す
ると共に、その被測定物から出射される出射光より被測
定物の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定方
法において、出射光を平行光とした後その平行光を偏光
成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物の
偏波依存性損失を測定するので、被測定物のＰＤＬを高
精度で測定することができる。
の偏光状態を可変にし、その測定光を被測定物に入射す
ると共に、その被測定物から出射される出射光より被測
定物の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定方
法において、出射光を平行光とした後その平行光を偏光
成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物の
偏波依存性損失を測定するので、被測定物のＰＤＬを高
精度で測定することができる。
【００２７】尚、本実施例では偏光器に偏光ビームスプ
リッタを用いたが、これに限定されずウォラストンプリ
ズム等を用いてもよい。ウォラストンプリズムは、Ｓ偏
光成分とＰ偏光成分とが同一方向に数度の角度で分離し
て出射するので、光検出器を集積化することが可能とな
り、測定系の小型化、低価格化が実現できる。
リッタを用いたが、これに限定されずウォラストンプリ
ズム等を用いてもよい。ウォラストンプリズムは、Ｓ偏
光成分とＰ偏光成分とが同一方向に数度の角度で分離し
て出射するので、光検出器を集積化することが可能とな
り、測定系の小型化、低価格化が実現できる。
【００２８】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
な優れた効果を発揮する。
【００２９】出射光を平行光とした後その平行光を偏光
成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物の
偏波依存性損失を測定するので、高精度で被測定物の偏
波依存性損失を測定することができる。
成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物の
偏波依存性損失を測定するので、高精度で被測定物の偏
波依存性損失を測定することができる。
【図１】本発明の偏波依存性損失測定方法を適用した装
置の一実施例である。
置の一実施例である。
【図２】偏波依存性損失測定方法を適用した偏波依存性
損失測定装置の従来例である。
損失測定装置の従来例である。
１ レーザ光源（ＬＤ光源） ２、２０ レンズ ３ カプラ ４ モニタ用光検出器 ５ 偏光コントローラ ６ 出射ファイバ ２１ 偏光器（偏光ビームスプリッタ） ２２ Ｐ偏光用光検出器（光検出器） ２３ Ｓ偏光用光検出器（光検出器）
Claims (3)
- 【請求項１】 測定光の偏光状態を可変にし、その測定
光を被測定物に入射すると共に、その被測定物から出射
される出射光より被測定物の偏波依存性損失を測定する
偏波依存性損失測定方法において、上記出射光を平行光
とした後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれ
の偏光成分から被測定物の偏波依存性損失を測定するこ
とを特徴とする偏波依存性損失測定方法。 - 【請求項２】 上記被測定物からの測定光をレンズを用
いて平行光とし、その平行となった測定光を偏光器を用
いてＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分離し、分離された測
定光をそれぞれ別個の光検出器で独立に受光する請求項
１記載の偏波依存性損失測定方法。 - 【請求項３】 レーザ光源と、このレーザ光源からの出
射光を集光するためのレンズと、このレンズで集光され
た出射光を測定光及び光源モニタ光に分岐するカプラ
と、このカプラで分岐された光源モニタ光を受光して上
記レーザ光源をモニタするモニタ用光検出器と、上記カ
プラで分岐された測定光の偏光状態を変化させる偏光コ
ントローラとを備えた偏波依存性損失測定装置におい
て、上記測定光を平行光にするレンズと、このレンズで
平行にされた測定光をＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分離
する偏光器と、この偏光器で分離されたＰ偏光成分を受
光するＰ偏光用光検出器と、上記偏光器で分離されたＳ
偏光成分を受光するＳ偏光用光検出器とを備えたことを
特徴とする偏波依存性損失測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27109194A JPH08136403A (ja) | 1994-11-04 | 1994-11-04 | 偏波依存性損失測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27109194A JPH08136403A (ja) | 1994-11-04 | 1994-11-04 | 偏波依存性損失測定方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08136403A true JPH08136403A (ja) | 1996-05-31 |
Family
ID=17495240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27109194A Pending JPH08136403A (ja) | 1994-11-04 | 1994-11-04 | 偏波依存性損失測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08136403A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006521554A (ja) * | 2003-03-21 | 2006-09-21 | ソルラブス、 インコーポレイテッド | 単一波長掃引の偏光依存損失測定 |
-
1994
- 1994-11-04 JP JP27109194A patent/JPH08136403A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006521554A (ja) * | 2003-03-21 | 2006-09-21 | ソルラブス、 インコーポレイテッド | 単一波長掃引の偏光依存損失測定 |
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