JPH08123034A - ポジ型感光性樹脂組成物 - Google Patents

ポジ型感光性樹脂組成物

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JPH08123034A
JPH08123034A JP25314794A JP25314794A JPH08123034A JP H08123034 A JPH08123034 A JP H08123034A JP 25314794 A JP25314794 A JP 25314794A JP 25314794 A JP25314794 A JP 25314794A JP H08123034 A JPH08123034 A JP H08123034A
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JP25314794A
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Toshio Banba
敏夫 番場
Takashi Hirano
孝 平野
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 下記式で示されるポリアミド(A)100重
量部と 【化1】 感光性ジアゾキノン化合物(B)1〜100重量部から
なるポジ型感光性樹脂組成物。 【効果】 シリコン酸化膜のような塗布基板に対して高
い密着性を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基板との密着性に優れ
たポジ型感光性樹脂組成物に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子の表面保護膜、層間絶
縁膜などには、耐熱性が優れ、また卓越した電気的特
性、機械的特性などを有するポリイミド樹脂が用いられ
ているが、近年半導体素子の高集積化、大型化、封止樹
脂パッケージの薄型化、小型化、半田リフローによる表
面実装方式への移行などにより耐熱サイクル性、耐熱シ
ョック性などの著しい向上の要求があり、更に高性能の
ポリイミド樹脂が必要とされるようになってきた。一
方、ポリイミド樹脂自体に感光性を付与する技術が最近
注目を集めてきた。感光性ポリイミド樹脂としては例え
ば、下記の式(4)
【0003】
【化6】
【0004】などがある。これを用いるとパターン作成
工程の一部が簡略化でき、工程短縮の効果があるが、現
像の際N−メチル−2−ピロリドンのような有機溶剤が
必要となるため、安全、公害上において問題がある。そ
こで最近では、アルカリ水溶液現像が可能なポジ型感光
性樹脂が開発されている。例えば特公平1−46862
号公報においては、ポリベンゾオキサゾール前駆体とジ
アゾキノン化合物からなるポジ型ポリベンゾオキサイゾ
ール前駆体が報告されている。これは高い耐熱性、易加
工性に加え、低誘電率などの優れた電気特性、微細加工
性、高感度を有しウエハーコート用途のみならず層間絶
縁膜用樹脂としての可能性を有している。またこのポジ
型の感光性樹脂は、ビアホール部の除去をアルカリ性水
溶液を用いて行うため、従来の他の感光性ポリイミド樹
脂のように有機溶剤を必要とせず、作業の安全性は更に
向上している。しかし、この感光性ポリベンゾオキサゾ
ール前駆体は、基板、特にシリコンウエハーとの密着性
に劣り、シリコンウエハーをシランカップリング剤など
で前処理しないと現像時、あるいは硬化後の吸湿によっ
て樹脂が基板から剥離するという重大な欠陥をも有して
いる。また他の例として、特開平3−20743号公報
にヘキサフルオロイソプロピリデン基を有するポジ型の
感光性ポリベンゾオキサゾール前駆体が記載されてい
る。この感光性樹脂においては一般的に用いられる有機
溶剤に高い溶解性を示すことにより、感度、保存安定性
が改善される。しかし、このヘキサフルオロイソプロピ
リデン基を有するポジ型のポリベンゾオキサゾール前駆
体においてもシリコンウエハーとの密着性は不充分で、
硬化後の耐湿密着性評価では剥離を生じる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、基板との優
れた密着性を有する新規なポジ型感光性樹脂組成物を提
供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、下記の式
(1)で示されるポリアミド(A)100重量部と
【0007】
【化7】
【0008】感光性ジアゾキノン化合物(B)1〜10
0重量部からなることを特徴とするポジ型感光性樹脂組
成物である。
【0009】本発明におけるポリアミドは、式(1)で
Xの構造を有するビスアミノフェノールとYの構造を有
するジカルボン酸とZの構造を有するシリコーンジアミ
ンからなり、このポリアミドを約300〜400℃で加
熱すると一部がポリベンゾオキサゾールに変わり、ポリ
アミド−ポリベンゾオキサゾール樹脂となることを特徴
とする。特に本発明においては、ジアミンとしてシリコ
ーンジアミンを必須成分とし、これを用いることより半
導体プロセスにおいて用いられるシリコンウエハーのよ
うな基板に対して、優れた密着性を示す。また本発明で
は特定のジカルボン酸と、特定のビスアミノフェノール
を用い、かつシリコーンジアミンを選び共重合すること
により更に優れた密着性を示す。これは例えば、より柔
軟性に富む構造や極性基を有するジカルボン酸やビスア
ミノフェノールが分子内にある場合は、シリコーンジア
ミンの基板への密着性が増大することによると考えられ
る。本発明におけるポリアミドを構成するシリコーンジ
アミンのZとしては、例えば下記に示す構造のもの
【0010】
【化8】
【0011】などを挙げることができるが、より好まし
いのは下記式(5)
【0012】
【化9】
【0013】で示されるシリコーンジアミンである。本
発明におけるシリコーンジアミンは、1.0〜40.0
モル%の割合で導入することができる。シリコーンジア
ミンの量が1.0モル%未満だと基板との充分な密着性
が得られず、また40.0モル%を越えると樹脂のアル
カリ水溶液に対する溶解性が著しく低下し現像ができな
くなる。本発明におけるポリアミドを構成するジカルボ
ン酸のYは、例えば下記に示すもの
【0014】
【化10】
【0015】などの芳香族基である。またこれらの芳香
族基の一部がアルキル基、アルコキシ基、クロロ、フル
オロ、トルフルオロメチル基などで置換されてもよい。
これらのYの中でより好ましいの
【0016】
【化11】
【0017】の芳香族基である。これらの酸の中では、
イソフタル酸やジフェニルエーテル基やヘキサフルオロ
イソプロピリデン基を有するジカルボン酸は、非常に柔
軟な構造であるため優れた密着性を示す。またベンゾフ
ェノン基やジフェニルスルホン基を有するジカルボン酸
はその極性基により優れた密着性を示す。これらのジカ
ルボン酸は単独でも2種類以上混合して用いてもかまわ
ない。本発明におけるポリアミドのビスアミノフェノー
ルのXは、例えば下記に示すもの
【0018】
【化12】
【0019】などの芳香族基である。またこれらの芳香
族基の一部がアルキル基、アルコキシ基、クロロ、フル
オロ、トリフルオロメチル基などで置換されてもよい。
これらのXの中でより好ましいのは、下記に示すもの
【0020】
【化13】
【0021】などの芳香族基である。これらの中でエー
テル、イソプロピリデン、ヘキサフルオロイソプロピリ
デンは非常に柔軟な構造であるため優れた密着性を示
す。又ベンゾフェノン基やジフェニルスルホン基は、そ
の極性基により優れた密着性を示すことができる。これ
らビスアミノフェノールは単独でも2種類以上混合して
用いてもかまわない。本発明におけるポリアミドの製造
方法は、Yの構造を有するジカルボン酸を塩化チオニル
などの酸クロリド化試薬を用いて、ジカルボン酸クロリ
ドにした後、Xの構造を有するビスアミノフェノールと
Zの構造を有するシリコーンジアミンとをN−メチル−
2−ピロリドン、N、N−ジメチルアセトアミドなどの
溶剤中で、ピリジンあるいはトリエチルアミンなどの存
在下で縮合することによって製造することができる。本
発明で用いる感光性ジアゾキノン(B)は、1,2−ベ
ンゾキノンジアジドあるいは1,2−ナフトキノンジア
ジド構造を有する化合物であり、米国特許明細書第2,
772,972号、第2,797,213号、第3,6
69,658号により公知の物質である。例えば、
【0022】
【化14】
【0023】
【化15】
【0024】などを挙げることができる。これらの中で
より好ましい感光性ジアゾキノン化合物は
【0025】
【化16】
【0026】などを挙げることができるがこれらに限定
さるものではない。又使用にあったては単独でも2種類
以上混合して用いてもかまわない。ポリアミド(A)に
対する感光性ジアゾキノン化合物(B)の配合量はポリ
アミド100重量部に対し、1〜100重量部であり、
配合量が1重量部未満だと樹脂の光パターニング性が不
良となり、逆に100重量部を超えるとフィルムの引張
り伸び率が著しく低下する。本発明のポジ型感光性樹脂
組成物には、必要により感光特性を高めるためにジヒド
ロピリジン誘導体を添加してもかまわない。その例とし
ては、2,6−ジメチル−3,5−ジアセチル−4−
(2′−ニトロフェニル)−1,4−ジヒドロピリジ
ン、4−(2′−ニトロフェニル)−2,6−ジメチル
−3,5−ジカルボエトキシ−1,4−ジヒドロピリジ
ン、4−(2′,4′−ジニトロフェニル)−2,6−
ジメチル−3,5−カルボメトキシ−1,4−ジヒドロ
ピリジンなどを挙げることができる。本発明のポジ型感
光性樹脂組成物はレベリング剤や更に密着性を高めるた
めにシランカップリング剤などの添加剤を加えることも
可能である。
【0027】本発明においてはこれらの成分を溶剤に溶
解し、ワニス状にして使用する。溶剤としては、N−メ
チル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、N,N−
ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、ジエチ
レングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコー
ルジエチルエーテル、ジエチレングリコールジブチルエ
ーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジ
プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレン
グリコールモノメチルエーテルアセテート、乳酸メチ
ル、乳酸エチル、乳酸ブチル、メチル−1,3−ブチレ
ングリコールアセテート、1,3−ブチレングリコール
−3−モノメチルエーテル、ピルビン酸メチル、ピルビ
ン酸エチル、メチル−3−メトキシプロピオネートなど
単独または混合して使用する。
【0028】本発明の感光性樹脂組成物の使用方法は、
まず該組成物を適当な支持体、例えばシリコンウエハ
ー、セラミック、アルミ基板などに塗布する。塗布方法
は、スピンナーを用いた回転塗布、スプレーコーターを
用いた噴霧塗布、浸漬、印刷、ロールコーティングなど
で行う。次に、60〜120℃でプリベークして塗膜を
乾燥後、所望のパターン形状に化学線を照射する。化学
線としては、X線、電子線、紫外線、可視光線などが使
用できるが、200〜500nmの波長のものが好まし
い。次に照射部を現像液で溶解除去することによりレリ
ーフパターンを得る。現像液としては、水酸化ナトリウ
ム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウ
ム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア水などの無機ア
ルカリ類、エチルアミン、n−プロピルアミンなどの第
一アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン
などの第二アミン類、トリエチルアミン、メチルジエチ
ルアミンなどの第三アミン類、ジメチルエタノールアミ
ン、トリエタノールアミンなどのアルコールアミン類、
テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチル
アンモニウムヒドロキシドなどの第四級アンモニウム塩
などアルカリ類の水溶液、及びこれにメタノール、エタ
ノールのようなアルコール類などの水溶性有機溶媒や界
面活性剤を適当量添加した水溶液を好適に使用すること
ができる。現像方法としては、スプレー、パドル、浸
漬、超音波などの方式が可能である。次に、現像によっ
て形成したレリーフパターンをリンスする。リンス液と
しては、蒸留水を使用する。次に加熱処理を行い、オキ
サゾール環を形成し、耐熱性に富む最終パターンを得
る。本発明による感光性樹脂組成物は、半導体用途のみ
ならず、多層回路の層間絶縁をフレキシブル銅張板のカ
バーコート、ソルダーレジスト膜や液晶配向膜などとし
ても有用である。
【0029】以下実施例により本発明を具体的に説明す
る。 実施例1ジカルボン酸クロリドの合成 ジフェニルエーテル−4,4′−ジカルボン酸50.1
0重量部(0.194モル)をN−メチル−2−ピロリ
ドン(以下、NMPという)150.0重量部に溶解し
た後、ピリジン76.73重量部(0.970モル)を
加える。反応系を0〜5℃にし、NMP100重量部に
溶かした塩化チオニル69.24重量部(0.582モ
ル)を30分かけて滴下する。反応系を室温に戻し、室
温で5時間撹拌した後、減圧下50℃で過剰の塩化チオ
ニルを除去した。次のポリアミドの反応にはジフェニル
エーテル−4,4′−ジカルボン酸クロリドは単離せず
にNMP溶液のまま用いた。ポリアミドの合成 2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)
ヘキサフルオロプロパン54.94重量部(0.150
モル)、1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,
1,3,3−テトラメチルジシロキサン6.58重量部
(0.026モル)を乾燥したジメチルアセトアミド2
00.0重量部に溶解した。乾燥窒素気流下で先に合成
したジフェニルエーテル−4,4′−ジカルボン酸クロ
リドのNMP溶液を0〜5℃に冷却しながら30分かけ
て滴下し、滴下終了後、室温まで戻し、5時間撹拌を続
ける。反応終了後蒸留水8lに滴下し、沈澱物を濾別し
て集め、減圧乾燥することによってポリアミドを得た。感光性ジアゾキノンの合成 1−〔1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル〕
−4−〔1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチ
ル〕ベンゼン51重量部(0.12モル)と1,2−ナ
フトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド72.5
重量部(0.27モル)をテトラヒドロフラン450m
lに溶解し、トリエチルアミン28.3重量部(0.2
8モル)を滴下し、室温で20時間反応させた後、析出
したトリエチルアミンの塩酸塩を濾別除去し、イオン交
換水10lに投入し、沈澱物を得た。この沈澱物を濾集
し、室温で48時間真空乾燥させた。感光性樹脂組成物の作成 合成したポリベンゾオキサゾール前駆体100重量部、
合成した感光性ジアゾキノン20重量部をNMP200
重量部に溶解し、0.2μmのテフロンフィルターで濾
過し感光ワニスを得た。
【0030】特性評価 この感光性ワニスをシリコンウエハー上にスプレーコー
ターを用いて塗布した後、オーブン中70℃で1時間乾
燥し、膜厚約3μmの塗膜を得た。この塗膜に凸版印刷
(株)・製マスク(テストチャートNo1;幅0.88
〜50.0μmの残しパターン及び抜きパターンが描か
れている)を通して高圧水銀灯を用いて紫外光線を露光
量を変化させて照射した。次に2.38%のテトラメチ
ルアンモニウムヒドロキシド水溶液に60秒浸漬するこ
とによって露光部を溶解除去した後、純水で30秒間リ
ンスした。その結果、露光量300mJ/cm2の照射
で露光部が完全に溶解し膜厚2.8μmのパターンが形
成された。なお、この時、シリコンウエハーより剥離を
起こさない最小の残しパターンの幅(以下この値を「現
像後密着性」と称する)が5μmと微細パターンをおい
ても現像時の塗膜の剥がれが抑制されていることが確認
された。この感光性ワニスをシリコンウエハー上に塗布
し、プリベークした後、オーブン中30分/150℃、
30分/250℃、30分/350℃の順で加熱硬化を
行った。得られた塗膜を1mm角に100個碁盤目カッ
トし、セロハンテープを貼りつけ、引き剥がして塗膜を
シリコンウエハー上より剥がそうとしたが、剥がれた塗
膜の数(これを「硬化後剥がれ数」と称する)は0であ
り、硬化膜のウエハーへの密着性も優れていることが確
認された。配合割合を表1に示し、評価結果は表3に示
す。
【0031】以下実施例2〜10の配合割合を表1に示
し、評価結果は表3に示す。又比較例1〜5の配合割合
を表2に示し、評価結果は表3に示す。 実施例2 実施例1におけるヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン54.94重量部(0.150モル)を61.90
重量部(0.169モル)に増やし、1,3−ビス(3
−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジ
シロキサン6.58重量部(0.026モル)を1.7
4重量部(0.007モル)に減らして、ポリアミドの
合成を行い、実施例1と同様の評価を行った。 実施例3 実施例1におけるヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン54.94重量部(0.150モル)を38.82
重量部(0.106モル)に減らし、1,3−ビス(3
−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジ
シロキサン6.58重量部(0.026モル)を17.
40重量部(0.071モル)に増やして、ポリアミド
の合成を行い、実施例1と同様の評価を行った。 実施例4 実施例1におけるヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パンを3,3′−ジアミノ−4,4′−ジヒドロキシジ
フェニルエーテル34.84重量部(0.150モル)
に変えて実施例1と同様の評価を行った。
【0032】実施例5 実施例1におけるヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パンの1/2モルを3,3′−ジアミノ−4,4′−ジ
ヒドロキシジフェニルエーテル17.42重量部(0.
075モル)に変えて実施例1と同様の評価を行った。 実施例6 実施例1におけるヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パンを3,3′−ジアミノ−4,4′−ジヒドロキシジ
フェニルスルホン42.05重量部(0.150モル)
に変え、更に感光剤の添加量を32重量部にして実施例
1と同様の評価を行った。 実施例7 実施例1におけるジフェニルエーテル−4,4′−ジカ
ルボン酸を2,2−ビス(4−カルボキシフェニル)ヘ
キサフルオロプロパン76.10重量部(0.194モ
ル)に、又ヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−アミノ
−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンを
3,3′−ジアミノ−4,4′−ジヒドロキシジフェニ
ルスルホン42.05重量部(0.150モル)に変え
て、実施例1と同様の評価を行った。 実施例8 実施例1におけるジフェニルエーテル−4,4′−ジカ
ルボン酸の1/2モルをイソフタル酸16.11重量部
(0.097モル)に変えて、実施例1と同様の評価を
行った。 実施例9 実施例1におけるジフェニルエーテル−4,4′−ジカ
ルボン酸をジフェニルスルホン−4,4′ジカルボン酸
59.42重量部(0.194モル)に、又ヘキサフル
オロ−2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェ
ニル)ヘキサフルオロプロパンを3,3′−ジアミノ−
4,4′−ジヒドロキシベンゾフェノン36.63重量
部(0.150モル)に変えて、更に感光剤の添加量を
8重量部にして、実施例1と同様の評価を行った。 実施例10 実施例1におけるジフェニルエーテル−4,4′−ジカ
ルボン酸をベンゾフェノン−4,4′−ジカルボン酸5
2.42重量部(0.194モル)に、又2,2−ビス
(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオ
ロプロパンを2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキ
シフェニル)プロパン38.75重量部(0.150モ
ル)に変えて、更に1,3−ビス(3−アミノプロピ
ル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサンを下
記式で示される構造を有するシリコーンジアミン8.2
3重量部(0.026モル)に変えポリアミドを製造
し、実施例1と同様の評価を行った。
【0033】
【化17】
【0034】比較例1 実施例1におけるヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン54.94重量部(0.150モル)を63.73
重量部(0.174モル)に増やし、1,3−ビス(3
−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジ
シロキサン6.58重量部(0.026モル)を0.5
0重量部(0.002モル)に減らして、ポリアミドの
合成を行い、実施例1と同様の評価を行った。 比較例2 実施例1におけるヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン54.94重量部(0.150モル)を32.23
重量部(0.088モル)に減らし、1,3−ビス(3
−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジ
シロキサン6.58重量部(0.026モル)を21.
87重量部(0.088モル)に増やして、ポリアミド
の合成を行い、実施例1と同様の評価を行った。 比較例3 実施例1におけるヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パンを3,3′−ジヒドロキシ−4,4′−ジアミノビ
フェニル32.44重量部(0.15モル)に変え、実
施例1と同様の評価を行った。 比較例4 実施例1におけるジフェニルエーテル−4,4′−ジカ
ルボン酸クロリドを合成する替わりに、市販されている
テレフタル酸クロリド39.39重量部(0.194モ
ル)をNMP200.0重量部に溶解したものをポリア
ミドの製造に用いて、実施例1と同様の評価を行った。 比較例5 実施例1におけるジフェニルエーテル−4,4′−ジカ
ルボン酸クロリドを合成する替わりに、市販されている
ビフェニル−4,4′−ジカルボン酸クロリド54.1
5重量部(0.194モル)をNMP200.0重量部
に溶解したものをポリアミドの製造に用いて、実施例1
と同様の評価を行った。
【0035】
【表1】
【0036】
【表2】
【0037】表1に示す各成分の構造を下記に示す。
【化18】
【0038】表2に示す各成分の構造を下記に示す。
【化19】
【0039】
【表3】
【0040】
【発明の効果】本発明によれば、シリコン酸化膜のよう
な塗布基板に対して高い密着性を有するポジ型感光性樹
脂組成物が得られる。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記の式(1)で示されるポリアミド
    (A)100重量部と 【化1】 感光性ジアゾキノン化合物(B)1〜100重量部から
    なることを特徴とするポジ型感光性樹脂組成物。
  2. 【請求項2】 Zが下記の式(2) 【化2】 である請求項1記載のポジ型感光性樹脂組成物。
  3. 【請求項3】 感光性ジアゾキノンが下記の式(3) 【化3】 である請求項1、又は請求項2記載のポジ型感光性樹脂
    組成物。
  4. 【請求項4】 Yが下記の式の群 【化4】 から選ばれる請求項1、請求項2、又は請求項3記載の
    ポジ型感光性樹脂組成物。
  5. 【請求項5】 Xが下記の式の群 【化5】 から選ばれる請求項1、請求項2、請求項3、又は請求
    項4記載のポジ型感光性樹脂組成物。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0852341A1 (en) * 1997-01-03 1998-07-08 Sumitomo Bakelite Company Limited Method for the pattern-processing of photosensitive resin composition
US6207356B1 (en) 1996-12-31 2001-03-27 Sumitomo Bakelite Company Limited Method for the pattern-processing of photosensitive resin composition
SG102656A1 (en) * 2000-07-31 2004-03-26 Sumitomo Bakelite Co Positive photosensitive resin composition
KR100435517B1 (ko) * 2001-08-27 2004-06-10 제일모직주식회사 가교 가능한 말단기를 가지는 산민감성 폴리아미드중합체와 이를 포함하는 감광성 내열절연체 조성물
JP2016071044A (ja) * 2014-09-29 2016-05-09 東洋紡株式会社 凸版印刷用感光性樹脂組成物及びそれから得られる感光性樹脂凸版用印刷原版

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