JPH0798804A - デイジタル磁気再生装置及びデイジタル磁気記録再生装置 - Google Patents
デイジタル磁気再生装置及びデイジタル磁気記録再生装置Info
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- JPH0798804A JPH0798804A JP17360494A JP17360494A JPH0798804A JP H0798804 A JPH0798804 A JP H0798804A JP 17360494 A JP17360494 A JP 17360494A JP 17360494 A JP17360494 A JP 17360494A JP H0798804 A JPH0798804 A JP H0798804A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明はデイジタル磁気再生装置において、Ｍ
Ｒヘツドの非線形歪によるビツトエラーレートの低下を
回避する。 【構成】ＭＲヘツドで再生された再生信号をパーシヤル
レスポンス方式及び最尤復号法を用いて信号処理するデ
イジタル磁気再生装置において、再生ヘツドに２次高調
波歪が−２５〔dB〕以下のＭＲヘツドを選別して使用す
ることにより、ビツトエラーレートの一段と小さいデイ
ジタル磁気再生装置を得ることができる。
Ｒヘツドの非線形歪によるビツトエラーレートの低下を
回避する。 【構成】ＭＲヘツドで再生された再生信号をパーシヤル
レスポンス方式及び最尤復号法を用いて信号処理するデ
イジタル磁気再生装置において、再生ヘツドに２次高調
波歪が−２５〔dB〕以下のＭＲヘツドを選別して使用す
ることにより、ビツトエラーレートの一段と小さいデイ
ジタル磁気再生装置を得ることができる。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（図４） 作用 実施例（図１〜図１０） （１）ＭＲヘツドに求められる条件（図１〜図３） （２）第１の実施例（図４及び図５） （３）第２の実施例（図６〜図８） （４）第３の実施例（図９及び図１０） （５）他の実施例 発明の効果
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明はデイジタル磁気再生装置
及びデイジタル磁気記録再生装置に関し、例えば記録媒
体を磁気デイスクとする再生装置及び記録再生装置に適
用し得る。
及びデイジタル磁気記録再生装置に関し、例えば記録媒
体を磁気デイスクとする再生装置及び記録再生装置に適
用し得る。
【０００３】
【従来の技術】今日、デイジタル磁気記録の分野では狭
トラツクであつても十分なＳ／Ｎ比を得ることができる
高感度の磁気抵抗効果形ヘツド（以下、ＭＲヘツドとい
う）と高線密度領域でも符号識別精度の良好な信号処理
方式、すなわちパーシヤルレスポンス等化方式と最尤復
号法とを組み合わせた処理方式（いわゆるＰＲＭＬ（Pa
rtial Response Maximum Likelihood ）方式）の導入が
進められている。
トラツクであつても十分なＳ／Ｎ比を得ることができる
高感度の磁気抵抗効果形ヘツド（以下、ＭＲヘツドとい
う）と高線密度領域でも符号識別精度の良好な信号処理
方式、すなわちパーシヤルレスポンス等化方式と最尤復
号法とを組み合わせた処理方式（いわゆるＰＲＭＬ（Pa
rtial Response Maximum Likelihood ）方式）の導入が
進められている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが両者を組み合
わせて高面密度記録を実現しようとする場合、ＭＲヘツ
ドに特有の非線形歪の影響によつてチヤネルのデータ誤
り率が劣化する問題があつた。これはＰＲＭＬ方式が原
則として線形な記録再生チヤネルを前提とする信号処理
方式であるためである。
わせて高面密度記録を実現しようとする場合、ＭＲヘツ
ドに特有の非線形歪の影響によつてチヤネルのデータ誤
り率が劣化する問題があつた。これはＰＲＭＬ方式が原
則として線形な記録再生チヤネルを前提とする信号処理
方式であるためである。
【０００５】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、再生信号の２次高調波歪をバイアス電流によつて調
整することができる再生ヘツドとＰＲＭＬ方式とを組み
合わせてなるデイジタル磁気再生系におけるデータ誤り
率の低下を実用上十分な範囲内に抑制することができる
デイジタル磁気再生装置及びデイジタル磁気記録再生装
置を提案しようとするものである。
で、再生信号の２次高調波歪をバイアス電流によつて調
整することができる再生ヘツドとＰＲＭＬ方式とを組み
合わせてなるデイジタル磁気再生系におけるデータ誤り
率の低下を実用上十分な範囲内に抑制することができる
デイジタル磁気再生装置及びデイジタル磁気記録再生装
置を提案しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、磁気記録媒体（２）からデータを
再生する再生ヘツド（３Ａ）と、再生ヘツド（３Ａ）か
ら出力された再生信号をパーシヤルレスポンス方式を用
いて波形整形する等化器（６）と、当該等化器（６）に
よつて波形等化された再生信号を最尤復号法を用いて復
号する復号器（７）とを有するデイジタル磁気再生装置
において、再生信号の２次高調波歪（ＳＨＤ）が−２５
〔dB〕以下となる磁気ヘツドを再生ヘツド（３Ａ）に用
いるようにする。
め本発明においては、磁気記録媒体（２）からデータを
再生する再生ヘツド（３Ａ）と、再生ヘツド（３Ａ）か
ら出力された再生信号をパーシヤルレスポンス方式を用
いて波形整形する等化器（６）と、当該等化器（６）に
よつて波形等化された再生信号を最尤復号法を用いて復
号する復号器（７）とを有するデイジタル磁気再生装置
において、再生信号の２次高調波歪（ＳＨＤ）が−２５
〔dB〕以下となる磁気ヘツドを再生ヘツド（３Ａ）に用
いるようにする。
【０００７】
【作用】再生信号の２次高調波歪（ＳＨＤ）が−２５
〔dB〕以下となる再生ヘツド（３Ａ）を用いることによ
り、パーシヤルレスポンス方式を用いた波形等化方式と
最尤復号法とを組み合わせて復号されるデータのデータ
誤り率の劣化を歪がない場合に比して２倍以内に抑制す
ることができる。これにより再生ヘツドに固有の非線形
歪によらずデータ誤り率を実用範囲にとどめることがで
きる。
〔dB〕以下となる再生ヘツド（３Ａ）を用いることによ
り、パーシヤルレスポンス方式を用いた波形等化方式と
最尤復号法とを組み合わせて復号されるデータのデータ
誤り率の劣化を歪がない場合に比して２倍以内に抑制す
ることができる。これにより再生ヘツドに固有の非線形
歪によらずデータ誤り率を実用範囲にとどめることがで
きる。
【０００８】
【実施例】以下図面について本発明の一実施例を詳述す
る。
る。
【０００９】（１）ＭＲヘツドに求められる条件 一般的なＭＲヘツドは図１に示すような磁界−電気抵抗
変換特性を有している。ＭＲヘツドは直流バイアス磁界
ＨB で設定される動作点を中心にして信号磁界ＨS を再
生電圧ＶMRに変換するように動作する。ところが磁界−
電気抵抗変換特性は非線形であるため再生電圧ＶMRが上
下非対称に歪み易い。非線形歪はデータの誤り率を劣化
させるため非線形歪を正確に評価する必要がある。
変換特性を有している。ＭＲヘツドは直流バイアス磁界
ＨB で設定される動作点を中心にして信号磁界ＨS を再
生電圧ＶMRに変換するように動作する。ところが磁界−
電気抵抗変換特性は非線形であるため再生電圧ＶMRが上
下非対称に歪み易い。非線形歪はデータの誤り率を劣化
させるため非線形歪を正確に評価する必要がある。
【００１０】ここでは非線形歪の評価に２次高調波歪
（ＳＨＤ：Second Harmonic Distortion）を用いること
になる。２次高調波歪は再生信号の基本波成分と、ヘツ
ドの非線形応答によつて生じる２次高調波成分との振幅
比で定義される評価値である。この２次高調波歪によつ
て評価する利点はＭＲヘツドによる非線形歪をヘツドの
周波数特性や測定周波数によらずにほぼ一定値として観
測できる点である。
（ＳＨＤ：Second Harmonic Distortion）を用いること
になる。２次高調波歪は再生信号の基本波成分と、ヘツ
ドの非線形応答によつて生じる２次高調波成分との振幅
比で定義される評価値である。この２次高調波歪によつ
て評価する利点はＭＲヘツドによる非線形歪をヘツドの
周波数特性や測定周波数によらずにほぼ一定値として観
測できる点である。
【００１１】ところでこのデータ誤り率の２次高調波歪
に対する依存性を調べるには合成する再生波形の２次高
調波歪を変化させなければならない。因にＭＲ動作曲線
を基に２次高調波歪を求めるとバイアス磁界ＨB と信号
磁界振幅Ｈ0 との関数として表すことができる。これを
図示すると図２になる。
に対する依存性を調べるには合成する再生波形の２次高
調波歪を変化させなければならない。因にＭＲ動作曲線
を基に２次高調波歪を求めるとバイアス磁界ＨB と信号
磁界振幅Ｈ0 との関数として表すことができる。これを
図示すると図２になる。
【００１２】ここで信号磁界振幅をＨ0 （＝５（Ｏe
））とし、信号磁界ＨS(t)のＳ／Ｎをパラメータにし
て計算したビツトエラーレートと２次高調波歪との関係
を表すと図３になる。予期されたように２次高調波歪が
大きくなるとビツトエラーレートも劣化する。特に２次
高調波歪が−２０〔dB〕より大きな領域での劣化が著し
い。この特性はＳ／Ｎによらずほぼ同一の傾向として現
れる。従つて実用的なビツトエラーレート（１０-6以
下）を実現してビツトエラーレートの劣化を歪がない場
合の２倍以内に抑えるためには２次高調波歪を−２５
〔dB〕以下に抑制する必要がある。
））とし、信号磁界ＨS(t)のＳ／Ｎをパラメータにし
て計算したビツトエラーレートと２次高調波歪との関係
を表すと図３になる。予期されたように２次高調波歪が
大きくなるとビツトエラーレートも劣化する。特に２次
高調波歪が−２０〔dB〕より大きな領域での劣化が著し
い。この特性はＳ／Ｎによらずほぼ同一の傾向として現
れる。従つて実用的なビツトエラーレート（１０-6以
下）を実現してビツトエラーレートの劣化を歪がない場
合の２倍以内に抑えるためには２次高調波歪を−２５
〔dB〕以下に抑制する必要がある。
【００１３】（２）第１の実施例 図４に上述の条件を満たすＭＲヘツドを再生ヘツド３Ａ
に用いるデイスク装置の一実施例を示す。因にこの実施
例で説明するデイスク装置１は外部同期方式（サンプル
サーボ方式）によつて動作するデイスク装置であるもの
とする。すなわちスピンドルモータ（図示せず）により
一定角速度（いわゆるＣＡＶ：Constant Angular Veloc
ity ）で回転駆動される磁気デイスク２に予めクロツク
生成用のクロツクパターンを放射状に連続して形成して
おき、当該クロツクパターンからの信号を基に動作する
方式であるものとする。
に用いるデイスク装置の一実施例を示す。因にこの実施
例で説明するデイスク装置１は外部同期方式（サンプル
サーボ方式）によつて動作するデイスク装置であるもの
とする。すなわちスピンドルモータ（図示せず）により
一定角速度（いわゆるＣＡＶ：Constant Angular Veloc
ity ）で回転駆動される磁気デイスク２に予めクロツク
生成用のクロツクパターンを放射状に連続して形成して
おき、当該クロツクパターンからの信号を基に動作する
方式であるものとする。
【００１４】因にクロツクパターンは一方向に直流磁化
されて形成されており、高精度のクロツクを生成するた
めに１周当たり数１００〜１０００箇所程度設けられて
いる。再生ヘツド３Ａはデータセグメントに記録されて
いるデータに相当する再生信号の他、クロツクパターン
に相当する再生信号を再生し、これらの再生信号を再生
アンプ４を介してクロツク生成回路５、等化器６及び復
号器７に供給するようになされている。
されて形成されており、高精度のクロツクを生成するた
めに１周当たり数１００〜１０００箇所程度設けられて
いる。再生ヘツド３Ａはデータセグメントに記録されて
いるデータに相当する再生信号の他、クロツクパターン
に相当する再生信号を再生し、これらの再生信号を再生
アンプ４を介してクロツク生成回路５、等化器６及び復
号器７に供給するようになされている。
【００１５】ところでこの実施例では前項で求められた
条件を満たすＭＲヘツド、すなわち再生信号の２次高調
波歪が−２５〔dB〕以下を満たすＭＲヘツドを用いる。
因に再生ヘツド３Ａは記録ヘツド３Ｂに対して走行方向
に距離Ｌだけ離れて配置されているものとする。すなわ
ち録再分離型のヘツド３を構成する。またクロツク生成
回路５はいわゆるＰＬＬ（Phase Locked Loop ）回路等
からなり、クロツクパターンに相当する再生信号からク
ロツクを生成して各回路に供給するようになされてい
る。クロツク生成の様子を図５に示す。
条件を満たすＭＲヘツド、すなわち再生信号の２次高調
波歪が−２５〔dB〕以下を満たすＭＲヘツドを用いる。
因に再生ヘツド３Ａは記録ヘツド３Ｂに対して走行方向
に距離Ｌだけ離れて配置されているものとする。すなわ
ち録再分離型のヘツド３を構成する。またクロツク生成
回路５はいわゆるＰＬＬ（Phase Locked Loop ）回路等
からなり、クロツクパターンに相当する再生信号からク
ロツクを生成して各回路に供給するようになされてい
る。クロツク生成の様子を図５に示す。
【００１６】再生ヘツド３Ａが図５（Ａ）に示すように
一方向（矢印で示す）に直流磁化したクロツクパターン
を再生すると、図５（Ｂ）に示すようにクロツクパター
ンの前後のエツジにて孤立波形を有する再生信号が再生
される。クロツク生成回路５はクロツクゲート信号がで
ている期間内に出現するこのような孤立波形を正規のク
ロツクパターンとみなし、例えば図５（Ｃ）に示すよう
に前のエツジに対応する孤立波形のピークにクロツクの
立ち上がりが同期するようにＰＬＬ回路の位相を更新す
ることにより、クロツクパターン３に位相同期したクロ
ツクを生成するようになされている。
一方向（矢印で示す）に直流磁化したクロツクパターン
を再生すると、図５（Ｂ）に示すようにクロツクパター
ンの前後のエツジにて孤立波形を有する再生信号が再生
される。クロツク生成回路５はクロツクゲート信号がで
ている期間内に出現するこのような孤立波形を正規のク
ロツクパターンとみなし、例えば図５（Ｃ）に示すよう
に前のエツジに対応する孤立波形のピークにクロツクの
立ち上がりが同期するようにＰＬＬ回路の位相を更新す
ることにより、クロツクパターン３に位相同期したクロ
ツクを生成するようになされている。
【００１７】このクロツクの生成に必要なクロツクゲー
ト信号を発生するのがタイミング発生回路８である。タ
イミング発生回路８はクロツク生成回路５から供給され
るクロツクを計数し、過去の履歴を基にクロツクパター
ンに相当する再生信号の出現期間を予測する。そしてこ
の期間を示すクロツクゲート信号をクロツク生成回路５
に供給するようになされている。またタイミング発生回
路８は図５（Ｄ）に示すように記録モードと再生モード
を切り換える切換信号を生成している。
ト信号を発生するのがタイミング発生回路８である。タ
イミング発生回路８はクロツク生成回路５から供給され
るクロツクを計数し、過去の履歴を基にクロツクパター
ンに相当する再生信号の出現期間を予測する。そしてこ
の期間を示すクロツクゲート信号をクロツク生成回路５
に供給するようになされている。またタイミング発生回
路８は図５（Ｄ）に示すように記録モードと再生モード
を切り換える切換信号を生成している。
【００１８】まず再生モード時の動作を説明する。この
とき等化器６及び復号器７がクロツクの立ち上がり時刻
（以下、データ存在点位相という）を基準に再生信号を
弁別し、また復号することにより磁気デイスク２に記録
されているデータを再生するようになされている。
とき等化器６及び復号器７がクロツクの立ち上がり時刻
（以下、データ存在点位相という）を基準に再生信号を
弁別し、また復号することにより磁気デイスク２に記録
されているデータを再生するようになされている。
【００１９】ここで等化器６に採用されている方式がパ
ーシヤルレスポンス方式であり、復号器７に採用されて
いる方式が最尤復号方式である。因に復号器７は再生信
号に基づいてヘツド３のデイスク径方向におけるヘツド
位置情報を再生し、このヘツド位置情報を遅延時間制御
回路９に供給するようになされている。
ーシヤルレスポンス方式であり、復号器７に採用されて
いる方式が最尤復号方式である。因に復号器７は再生信
号に基づいてヘツド３のデイスク径方向におけるヘツド
位置情報を再生し、このヘツド位置情報を遅延時間制御
回路９に供給するようになされている。
【００２０】これに対して記録モード時には記録データ
発生回路１０がクロツクを用いて動作する。すなわち記
録データ発生回路１０は入力されるソースデータを記録
に適した所定の変調方式によつてクロツクに同期した記
録データに変換し、この記録データをパルス遅延回路１
１及び遅延時間制御回路９に供給する。
発生回路１０がクロツクを用いて動作する。すなわち記
録データ発生回路１０は入力されるソースデータを記録
に適した所定の変調方式によつてクロツクに同期した記
録データに変換し、この記録データをパルス遅延回路１
１及び遅延時間制御回路９に供給する。
【００２１】パルス遅延回路１１は遅延時間制御回路９
の制御のもとに再生ヘツド３Ａと記録ヘツド３Ｂの走行
方向における距離Ｌに起因するデータの位置ずれを補償
する。これは記録ヘツド３Ｂから見たトラツクパターン
（図５（Ｅ））と再生ヘツド３Ａから見たトラツクパタ
ーン（図５（Ａ））との間に時間ずれが存在することに
よる。
の制御のもとに再生ヘツド３Ａと記録ヘツド３Ｂの走行
方向における距離Ｌに起因するデータの位置ずれを補償
する。これは記録ヘツド３Ｂから見たトラツクパターン
（図５（Ｅ））と再生ヘツド３Ａから見たトラツクパタ
ーン（図５（Ａ））との間に時間ずれが存在することに
よる。
【００２２】このときパルス遅延回路１１はこの時間ず
れによる磁化反転位置のずれと、記録するデータのパタ
ーンに依存する磁化反転の位相ずれ（非線形ビツトシフ
ト）を補償するため記録データ発生回路１０から入力さ
れる記録データ（図５（Ｇ））を遅延し、図５（Ｈ）の
ように遅延された記録データを出力するようになされて
いる。またこのときパルス遅延回路１１はタイミング発
生回路８から入力される切換信号（図５（Ｄ））を遅延
し、ライトイネーブル信号（図５（Ｆ））を生成するよ
うになされている。
れによる磁化反転位置のずれと、記録するデータのパタ
ーンに依存する磁化反転の位相ずれ（非線形ビツトシフ
ト）を補償するため記録データ発生回路１０から入力さ
れる記録データ（図５（Ｇ））を遅延し、図５（Ｈ）の
ように遅延された記録データを出力するようになされて
いる。またこのときパルス遅延回路１１はタイミング発
生回路８から入力される切換信号（図５（Ｄ））を遅延
し、ライトイネーブル信号（図５（Ｆ））を生成するよ
うになされている。
【００２３】記録アンプ１２はこのように遅延された記
録データを増幅し、記録データに応じた電流を記録ヘツ
ド３Ｂに供給して磁気デイスク２上にデータを記録す
る。以上の構成によれば、再生信号の２次高調波歪が−
２５〔dB〕以下となるＭＲヘツドを再生ヘツド３Ａに用
いたことにより、復号器７における信号処理によつて生
じる誤り率を１０-6程度に抑制することができる。これ
により非線形歪に起因したエラーレートの劣化の少ない
デイスク装置１を得ることができる。
録データを増幅し、記録データに応じた電流を記録ヘツ
ド３Ｂに供給して磁気デイスク２上にデータを記録す
る。以上の構成によれば、再生信号の２次高調波歪が−
２５〔dB〕以下となるＭＲヘツドを再生ヘツド３Ａに用
いたことにより、復号器７における信号処理によつて生
じる誤り率を１０-6程度に抑制することができる。これ
により非線形歪に起因したエラーレートの劣化の少ない
デイスク装置１を得ることができる。
【００２４】（３）第２の実施例 第１の実施例においては再生ヘツド３Ａに用いられるＭ
Ｒヘツドの２次高調波歪が−２５〔dB〕以下である場合
の一般的なデイスク装置について述べたが、この実施例
ではこの条件を満たすＭＲヘツドの２次高周波歪を最も
小さくするバイアス磁界（バイアス電流）とＳ／Ｎを最
も良くするバイアス磁界（バイアス電流）とがほぼ一致
する場合に適したデイスク装置の一例を説明する。
Ｒヘツドの２次高調波歪が−２５〔dB〕以下である場合
の一般的なデイスク装置について述べたが、この実施例
ではこの条件を満たすＭＲヘツドの２次高周波歪を最も
小さくするバイアス磁界（バイアス電流）とＳ／Ｎを最
も良くするバイアス磁界（バイアス電流）とがほぼ一致
する場合に適したデイスク装置の一例を説明する。
【００２５】図４との対応部分に同一符号を付して示す
図６において、２０は全体としてデイスク再生装置を示
している。このデイスク再生装置２０は再生信号の２次
高調波歪を検出する２次高調波歪（ＳＨＤ）検出回路２
１と、この検出結果を基に再生ヘツド３Ａに供給される
バイアス電流（バイアス電圧）を制御するバイアス電流
制御回路２２とを有することを除いて第１の実施例と同
様の構成を有している。
図６において、２０は全体としてデイスク再生装置を示
している。このデイスク再生装置２０は再生信号の２次
高調波歪を検出する２次高調波歪（ＳＨＤ）検出回路２
１と、この検出結果を基に再生ヘツド３Ａに供給される
バイアス電流（バイアス電圧）を制御するバイアス電流
制御回路２２とを有することを除いて第１の実施例と同
様の構成を有している。
【００２６】ここで２次高調波歪検出回路２１は図７に
示す構成を有している。２次高調波検出回路２１は再生
信号を２つのバンドパスフイルタ２１Ａ及び２１Ｂに入
力し、２つのバンドパスフイルタ２１Ａ及び２１Ｂによ
つて基本波成分と２次高調波成分をそれぞれ抽出するよ
うになされている。
示す構成を有している。２次高調波検出回路２１は再生
信号を２つのバンドパスフイルタ２１Ａ及び２１Ｂに入
力し、２つのバンドパスフイルタ２１Ａ及び２１Ｂによ
つて基本波成分と２次高調波成分をそれぞれ抽出するよ
うになされている。
【００２７】各バンドパスフイルタ２１Ａ及び２１Ｂで
抽出された各信号成分の振幅値はそれぞれサンプルホー
ルド回路２１Ｃ及び２１Ｄによつて検出され、その比を
割算器２１Ｅによつて求めることにより２次高周波歪を
検出するようになされている。
抽出された各信号成分の振幅値はそれぞれサンプルホー
ルド回路２１Ｃ及び２１Ｄによつて検出され、その比を
割算器２１Ｅによつて求めることにより２次高周波歪を
検出するようになされている。
【００２８】一方、バイアス電流制御回路２２は図８に
示す構成を有している。このバイアス電流制御回路２２
は再生ヘツド３Ａに最適なバイアス電流を検知するため
の機能部分と、最適なバイアス電流を保持するための機
能部分とを有している。バイアス電流制御回路２２はラ
ンプ波形発生回路２２Ａにおいて発生された電流値設定
電圧をスイツチ２２Ｂを介して電圧制御電流源２２Ｃに
与えることによりバイアス電流を可変し、この間に得ら
れる２次高調波歪の最下点を最下点検出回路２２Ｄによ
つて検出するようになされている。
示す構成を有している。このバイアス電流制御回路２２
は再生ヘツド３Ａに最適なバイアス電流を検知するため
の機能部分と、最適なバイアス電流を保持するための機
能部分とを有している。バイアス電流制御回路２２はラ
ンプ波形発生回路２２Ａにおいて発生された電流値設定
電圧をスイツチ２２Ｂを介して電圧制御電流源２２Ｃに
与えることによりバイアス電流を可変し、この間に得ら
れる２次高調波歪の最下点を最下点検出回路２２Ｄによ
つて検出するようになされている。
【００２９】ここで最下点検出回路２２Ｄは再生信号か
ら得られた２次高調波歪とメモリ２２Ｄ２に記憶されて
いる値とを比較回路２２Ｄ３で比較する構成でなり、再
生信号から得られた２次高調波歪の方がメモリ２２Ｄ２
に記憶されている値より小さいと判定した場合にはスイ
ツチ回路２２Ｄ１のスイツチを白丸側に切り換えるよう
になされている。これによりメモリ２２Ｄ２に記憶され
ていた値が新たな値に更新できるようになされている。
ら得られた２次高調波歪とメモリ２２Ｄ２に記憶されて
いる値とを比較回路２２Ｄ３で比較する構成でなり、再
生信号から得られた２次高調波歪の方がメモリ２２Ｄ２
に記憶されている値より小さいと判定した場合にはスイ
ツチ回路２２Ｄ１のスイツチを白丸側に切り換えるよう
になされている。これによりメモリ２２Ｄ２に記憶され
ていた値が新たな値に更新できるようになされている。
【００３０】最下点検出回路２２Ｄは２次高周波歪の最
小値が更新されるごとにサンプルホールド回路２２Ｅに
制御信号を出力し、そのときの電流値設定電圧を保持さ
せるようになされている。すなわち再生信号の２次高調
波歪が最下点を通過するまでサンプルホールド回路２２
Ｅのホールド値は更新される続ける。
小値が更新されるごとにサンプルホールド回路２２Ｅに
制御信号を出力し、そのときの電流値設定電圧を保持さ
せるようになされている。すなわち再生信号の２次高調
波歪が最下点を通過するまでサンプルホールド回路２２
Ｅのホールド値は更新される続ける。
【００３１】因に最適なバイアス電流を与える電流値設
定電圧をサーチしている間、スイツチ回路２２Ｂのスイ
ツチは図中白丸側に接続されており、ランプ波形の走査
終了後は黒丸側に切り換わるようになされている。これ
によりデイスク装置１の使用中における２次高調波歪は
最適な状態に維持されることになる。
定電圧をサーチしている間、スイツチ回路２２Ｂのスイ
ツチは図中白丸側に接続されており、ランプ波形の走査
終了後は黒丸側に切り換わるようになされている。これ
によりデイスク装置１の使用中における２次高調波歪は
最適な状態に維持されることになる。
【００３２】ところでこの実施例で使用する再生ヘツド
３Ａの２次高調波歪を最小にするバイアス電流とＳ／Ｎ
を最も良くするバイアス電流とはほぼ一致するためこの
ように設定されたバイアス電流が流れる再生ヘツド３Ａ
によつて再生される再生信号のＳ／Ｎは最大になり、磁
気デイスク再生装置の能力を最大限利用することができ
る。これにより誤り率を一段と低下することができる。
３Ａの２次高調波歪を最小にするバイアス電流とＳ／Ｎ
を最も良くするバイアス電流とはほぼ一致するためこの
ように設定されたバイアス電流が流れる再生ヘツド３Ａ
によつて再生される再生信号のＳ／Ｎは最大になり、磁
気デイスク再生装置の能力を最大限利用することができ
る。これにより誤り率を一段と低下することができる。
【００３３】（４）第３の実施例 第２の実施例の場合には２次高調波歪が−２５〔dB〕以
下となるＭＲヘツドの２次高周波歪を最も小さくするバ
イアス磁界（バイアス電流）とＳ／Ｎ比を最も良くする
バイアス磁界（バイアス電流）とがほぼ一致することが
前提であつたがこの実施例ではこれらが保証されていな
い場合に最適なバイアス電流を設定することができるデ
イスク装置の一例を説明する。
下となるＭＲヘツドの２次高周波歪を最も小さくするバ
イアス磁界（バイアス電流）とＳ／Ｎ比を最も良くする
バイアス磁界（バイアス電流）とがほぼ一致することが
前提であつたがこの実施例ではこれらが保証されていな
い場合に最適なバイアス電流を設定することができるデ
イスク装置の一例を説明する。
【００３４】図６との対応部分に同一符号を付して示す
図９において、デイスク装置３０は２次高調波歪が−２
５〔dB〕以下の条件を満たすか否かを判定する判定回路
３１と、Ｓ／Ｎ測定回路３２とを設けたことを特徴とし
ている。ただしこの実施例では−２５〔dB〕以下か否か
の判定結果とＳ／Ｎ比の測定結果を基に最適なバイアス
電流を設定するため図１０に示すバイアス電流制御回路
３３を用いるものとする。
図９において、デイスク装置３０は２次高調波歪が−２
５〔dB〕以下の条件を満たすか否かを判定する判定回路
３１と、Ｓ／Ｎ測定回路３２とを設けたことを特徴とし
ている。ただしこの実施例では−２５〔dB〕以下か否か
の判定結果とＳ／Ｎ比の測定結果を基に最適なバイアス
電流を設定するため図１０に示すバイアス電流制御回路
３３を用いるものとする。
【００３５】図８との対応部分に同一符号を付して示す
図１０に示すように、バイアス電流制御回路３３は２次
高調波歪用の最下点検出に用いた最下点検出回路２２Ｄ
に換えてＳ／Ｎの最良点を検出する最大値検出回路３３
Ａを設けると共に、この検出結果と判定回路３１の判定
結果の論理積を求める論理積回路３３Ｂを設けた点を特
徴としている。因にこの最大値検出回路３３Ａは入力さ
れるＳ／Ｎ値がメモリ３３Ａ２に記憶されているＳ／Ｎ
値に対して大きい場合だけメモリ３３Ａ２の値を更新す
るようになあれている。
図１０に示すように、バイアス電流制御回路３３は２次
高調波歪用の最下点検出に用いた最下点検出回路２２Ｄ
に換えてＳ／Ｎの最良点を検出する最大値検出回路３３
Ａを設けると共に、この検出結果と判定回路３１の判定
結果の論理積を求める論理積回路３３Ｂを設けた点を特
徴としている。因にこの最大値検出回路３３Ａは入力さ
れるＳ／Ｎ値がメモリ３３Ａ２に記憶されているＳ／Ｎ
値に対して大きい場合だけメモリ３３Ａ２の値を更新す
るようになあれている。
【００３６】このとき論理積回路３３Ｂは再生信号から
求められた２次高調波歪が−２５〔dB〕であつて、なお
かつＳ／Ｎ比が現時点で最も高いという条件が満たされ
たときだけサンプルホールド回路２２Ｅに保持されてい
る電流値設定電圧を更新する制御信号を出力するように
なされている。
求められた２次高調波歪が−２５〔dB〕であつて、なお
かつＳ／Ｎ比が現時点で最も高いという条件が満たされ
たときだけサンプルホールド回路２２Ｅに保持されてい
る電流値設定電圧を更新する制御信号を出力するように
なされている。
【００３７】以上の構成によれば、２次高調波歪が−２
５〔dB〕を満足する範囲で最も高いＳ／Ｎを得ることが
できる大きさのバイアス電流を再生ヘツド３Ａに流すこ
とができ、再生ヘツド３Ａの応答特性にばらつきがある
場合にも最もデータ誤り率の低い状態で動作するデイス
ク装置を実現することができる。
５〔dB〕を満足する範囲で最も高いＳ／Ｎを得ることが
できる大きさのバイアス電流を再生ヘツド３Ａに流すこ
とができ、再生ヘツド３Ａの応答特性にばらつきがある
場合にも最もデータ誤り率の低い状態で動作するデイス
ク装置を実現することができる。
【００３８】（５）他の実施例 なお上述の実施例においては、デイスク上にデータを記
録するための記録系とデイスク上からデータを再生する
ための再生系とを有するデイスク装置について述べた
が、本発明はこれに限らず、再生系のみを有するデイス
ク装置についても適用し得る。
録するための記録系とデイスク上からデータを再生する
ための再生系とを有するデイスク装置について述べた
が、本発明はこれに限らず、再生系のみを有するデイス
ク装置についても適用し得る。
【００３９】また上述の実施例においては、再生ヘツド
３ＡにＭＲヘツドを用いる場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、バイアス電流によつて２次高調波歪
を可変することができる磁気ヘツドを用いる場合に広く
適用し得る。
３ＡにＭＲヘツドを用いる場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、バイアス電流によつて２次高調波歪
を可変することができる磁気ヘツドを用いる場合に広く
適用し得る。
【００４０】さらに上述の実施例においては、デイスク
装置について述べたが、本発明はこれに限らず、再生ヘ
ツドにＭＲヘツドを用い、かつ信号処理にＰＲＭＬ方式
を用いるデイジタル磁気再生装置に広く適用し得る。
装置について述べたが、本発明はこれに限らず、再生ヘ
ツドにＭＲヘツドを用い、かつ信号処理にＰＲＭＬ方式
を用いるデイジタル磁気再生装置に広く適用し得る。
【００４１】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、再生ヘツ
ドの２次高調波歪を−２５〔dB〕以下に抑制することに
よりパーシヤルレスポンス方式を用いて波形整形し、か
つ最尤復号法を用いて復号化する際におけるデータ誤り
率の劣化を歪のない状態のデータ誤り率に比して２倍以
内に抑制することができる。これにより再生ヘツドに固
有の非線形歪に起因するデータ誤り率を実用範囲にとど
めることができるデイジタル磁気再生装置及びデジタル
磁気記録再生装置を得ることができる。
ドの２次高調波歪を−２５〔dB〕以下に抑制することに
よりパーシヤルレスポンス方式を用いて波形整形し、か
つ最尤復号法を用いて復号化する際におけるデータ誤り
率の劣化を歪のない状態のデータ誤り率に比して２倍以
内に抑制することができる。これにより再生ヘツドに固
有の非線形歪に起因するデータ誤り率を実用範囲にとど
めることができるデイジタル磁気再生装置及びデジタル
磁気記録再生装置を得ることができる。
【図１】ＭＲヘツドの動作曲線を表す特性曲線図であ
る。
る。
【図２】２次高周波歪のバイアス磁界依存性を示す特性
曲線図である。
曲線図である。
【図３】ビツトエラーレートの２次高調波歪依存性を示
す特性曲線図である。
す特性曲線図である。
【図４】本発明によるデイジタル磁気再生装置の一実施
例を示すブロツク図である。
例を示すブロツク図である。
【図５】デイジタル磁気再生装置の動作説明に供するタ
イミングチヤートである。
イミングチヤートである。
【図６】本発明によるデイジタル磁気再生装置の一実施
例を示すブロツク図である。
例を示すブロツク図である。
【図７】２次高調波歪検出回路の回路例を示すブロツク
図である。
図である。
【図８】最下点検出回路の回路例を示すブロツク図であ
る。
る。
【図９】本発明によるデイジタル磁気再生装置の一実施
例を示すブロツク図である。
例を示すブロツク図である。
【図１０】最大値検出回路の回路例を示すブロツク図で
ある。
ある。
１、１０、２０、３０……デイスク装置、３Ａ……再生
ヘツド、３Ｂ……記録ヘツド、４……再生アンプ、６…
…等化器、７……復号器、２１……２次高調波検出回
路、２２、３３……バイアス電流制御回路、３１……判
定回路、３２……Ｓ／Ｎ測定回路。
ヘツド、３Ｂ……記録ヘツド、４……再生アンプ、６…
…等化器、７……復号器、２１……２次高調波検出回
路、２２、３３……バイアス電流制御回路、３１……判
定回路、３２……Ｓ／Ｎ測定回路。
Claims (10)
- 【請求項１】磁気記録媒体からデータを再生する再生ヘ
ツドと、上記再生ヘツドから出力された再生信号をパー
シヤルレスポンス方式を用いて波形整形する等化器と、
当該等化器によつて波形等化された再生信号を最尤復号
法を用いて復号する復号器とを有するデイジタル磁気再
生装置において、 上記再生信号の２次高調波歪が−２５〔dB〕以下となる
磁気ヘツドを上記再生ヘツドに用いることを特徴とする
デイジタル磁気再生装置。 - 【請求項２】磁気記録媒体からデータを再生する再生ヘ
ツドと、上記再生ヘツドから出力された再生信号をパー
シヤルレスポンス方式を用いて波形整形する等化器と、
当該等化器によつて波形等化された再生信号を最尤復号
法を用いて復号する復号器とを有するデイジタル磁気再
生装置において、 上記再生信号の２次高調波歪を測定する歪検出回路と、 上記２次高調波歪が−２５〔dB〕以下になるように上記
再生ヘツドに流れるバイアス電流を制御するバイアス電
流制御回路とを具えることを特徴とするデイジタル磁気
再生装置。 - 【請求項３】磁気記録媒体からデータを再生する再生ヘ
ツドと、上記再生ヘツドから出力された再生信号をパー
シヤルレスポンス方式を用いて波形整形する等化器と、
当該等化器によつて波形等化された再生信号を最尤復号
法を用いて復号する復号器とを有するデイジタル磁気再
生装置において、 上記再生信号の２次高調波歪を測定する歪検出回路と、 上記２次高調波歪が−２５〔dB〕以下であるか否かを判
定する判定回路と、 上記再生信号の信号対雑音比を測定する測定回路と、 上記判定回路及び上記測定回路から判定結果及び測定結
果をそれぞれ入力し、上記再生信号の２次高調波歪が−
２５〔dB〕以下の範囲で信号対雑音比が最も高くなるよ
うに上記再生ヘツドに流れるバイアス電流を制御するバ
イアス電流制御回路とを具えることを特徴とするデイジ
タル磁気再生装置。 - 【請求項４】磁気記録媒体からデータを再生する再生ヘ
ツドと、当該再生ヘツドから出力された再生信号をパー
シヤルレスポンス方式を用いて波形整形する等化器と、
当該等化器によつて波形等化された再生信号を最尤復号
法を用いて復号する復号器とを有する再生系と、 上記再生ヘツドから出力された再生信号の中からクロツ
ク成分を抽出し、当該クロツク成分から基準クロツクを
生成するクロツク生成回路と、上記基準クロツクに対し
て記録データを遅延して出力する遅延回路と、当該遅延
回路によつて遅延された記録データを磁気記録媒体に記
録する記録ヘツドとを有する記録系とを備えるデイジタ
ル磁気再生装置において、 上記再生信号の２次高調波歪が−２５〔dB〕以下となる
磁気ヘツドを上記再生ヘツドに用いることを特徴とする
デイジタル磁気記録再生装置。 - 【請求項５】磁気記録媒体からデータを再生する再生ヘ
ツドと、当該再生ヘツドから出力された再生信号をパー
シヤルレスポンス方式を用いて波形整形する等化器と、
当該等化器によつて波形等化された再生信号を最尤復号
法を用いて復号する復号器とを有する再生系と、 上記再生ヘツドから出力された再生信号の中からクロツ
ク成分を抽出し、当該クロツク成分から基準クロツクを
生成するクロツク生成回路と、上記基準クロツクに対し
て記録データを遅延して出力する遅延回路と、当該遅延
回路によつて遅延された記録データを磁気記録媒体に記
録する記録ヘツドとを有する記録系とを備えるデイジタ
ル磁気再生装置において、 上記再生信号の２次高調波歪を測定する歪検出回路と、 上記２次高調波歪が−２５〔dB〕以下になるように上記
再生ヘツドに流れるバイアス電流を制御するバイアス電
流制御回路とを具えることを特徴とするデイジタル磁気
再生装置。 - 【請求項６】磁気記録媒体からデータを再生する再生ヘ
ツドと、当該再生ヘツドから出力された再生信号をパー
シヤルレスポンス方式を用いて波形整形する等化器と、
当該等化器によつて波形等化された再生信号を最尤復号
法を用いて復号する復号器とを有する再生系と、 上記再生ヘツドから出力された再生信号の中からクロツ
ク成分を抽出し、当該クロツク成分から基準クロツクを
生成するクロツク生成回路と、上記基準クロツクに対し
て記録データを遅延して出力する遅延回路と、当該遅延
回路によつて遅延された記録データを磁気記録媒体に記
録する記録ヘツドとを有する記録系とを備えるデイジタ
ル磁気再生装置において、 上記再生信号の２次高調波歪を測定する歪検出回路と、 上記２次高調波歪が−２５〔dB〕以下であるか否かを判
定する判定回路と、 上記再生信号の信号対雑音比を測定する測定回路と、 上記判定回路及び上記測定回路から判定結果及び測定結
果をそれぞれ入力し、上記再生信号の２次高調波歪が−
２５〔dB〕以下の範囲で信号対雑音比が最も高くなるよ
うに上記再生ヘツドに流れるバイアス電流を制御するバ
イアス電流制御回路とを具えることを特徴とするデイジ
タル磁気再生装置。 - 【請求項７】上記再生ヘツドは磁気抵抗効果形ヘツドで
あることを特徴とする請求項１、請求項２又は請求項３
に記載のデイジタル磁気再生装置。 - 【請求項８】上記再生ヘツドは磁気抵抗効果形ヘツドで
あることを特徴とする請求項４、請求項５又は請求項６
に記載のデイジタル磁気記録再生装置。 - 【請求項９】上記記録媒体は磁気デイスクであることを
特徴とする請求項１、請求項２又は請求項３に記載のデ
イジタル磁気再生装置。 - 【請求項１０】上記記録媒体は磁気デイスクであること
を特徴とする請求項４、請求項５又は請求項６に記載の
デイジタル磁気記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17360494A JPH0798804A (ja) | 1993-08-03 | 1994-06-30 | デイジタル磁気再生装置及びデイジタル磁気記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19256793 | 1993-08-03 | ||
| JP5-192567 | 1993-08-03 | ||
| JP17360494A JPH0798804A (ja) | 1993-08-03 | 1994-06-30 | デイジタル磁気再生装置及びデイジタル磁気記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0798804A true JPH0798804A (ja) | 1995-04-11 |
Family
ID=26495518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17360494A Pending JPH0798804A (ja) | 1993-08-03 | 1994-06-30 | デイジタル磁気再生装置及びデイジタル磁気記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0798804A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0766244A2 (en) * | 1995-09-27 | 1997-04-02 | AT&T Corp. | A read channel for at least partially offsetting nonlinear signal effects associated with the use of magneto-resistive heads |
-
1994
- 1994-06-30 JP JP17360494A patent/JPH0798804A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0766244A2 (en) * | 1995-09-27 | 1997-04-02 | AT&T Corp. | A read channel for at least partially offsetting nonlinear signal effects associated with the use of magneto-resistive heads |
| EP0766244A3 (en) * | 1995-09-27 | 1997-08-20 | At & T Corp | A read channel for at least partially shifting non-linear signal effects associated with the use of magnetoresistive heads |
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