JPH079525A - 射出成形機の製品良否判別装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 成形品の選別作業を適確に行わせることので
きる製品良否判別装置を提供すること。 【構成】 最新Ｎ回の成形サイクルにおける良否判別結
果を判別データ記憶ファイルに記憶させて不良判別発生
の回数Ｓを検出し、不良率Ａ＝Ｓ／Ｎを求める。現時点
における不良率Ａに対応する見込み不良回数Ｋの値を見
込み不良回数記憶用ファイルから求め、サンプリングデ
ータの常態復帰から成形品の常態復帰までに必要とされ
るショット数Ｋとして設定する。不良判別が生じた場
合、サンプリングデータが常態復帰してからＫ回の成形
サイクルが完了するまで良否判別結果に関わりなく良品
信号の出力を禁止し、不良の可能性のある成形品が良品
として取り扱われることを防止する。同時に、最新Ｎ回
の成形サイクルにおける良否判別結果に基いて見込み不
良回数Ｋの値を適正化することにより、良品が不良品と
して選別されることを防止し、材料の歩留まりを向上さ
せる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、射出成形機の製品良否
判別装置の改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】射出成形機の製品良否判別装置として
は、特開平４−１６８０２１号公報に示されるように射
出時間や計量時間を監視項目として良否判別を行うも
の、また、特開平４−１３５７２７号公報に示されるよ
うにピーク射出圧や保圧切替え時のスクリュー位置を監
視項目として良否判別を行うもの等、既に各種のものが
公知である。一般にこの種の良否判別技術では、監視項
目となるサンプリングデータの変動のみに基いて製品の
良否を適確に判別するというのは非常に困難であり、例
えば、一旦不良ショットが生じた後、次のショットでサ
ンプリングデータが適性値に回復したとしても、前回の
不良ショットの悪影響で成形品に微小なヒケやバリ等が
残留するといったことがよくある。

【０００３】そこで、このような事情によって不良品が
良品として判別されるのを防止するため、サンプリング
データに基く判別結果に関わりなく、不良発生直後の所
定数のショットを無条件に不良品として取り扱うように
した良否判別方法が提案されている。

【０００４】図８は不良発生直後の２ショット分を無条
件に不良品として取り扱う場合を例にとって示す作用説
明図で、この例では、射出成形機が安定的な連続運転に
入った後、第ｘ＋２回目のショットまで良品成形が行わ
れ、第ｘ＋３回目のショットのサンプリングデータに異
常が生じて不良信号が出力されている。そして、第ｘ＋
４回目以降のショットに関してはサンプリングデータに
基く判別結果は全て良品であるが、実際の成形状態が前
回の不良ショットの悪影響から立ち直るに必要とされる
見込みのショット数を考慮して、前述のように２ショッ
ト分、即ち、第ｘ＋４回目と第ｘ＋５回目のショットに
対して無条件に不良信号が出力され、選別装置等により
これらのショットが不良品として取り除かれることにな
る。

【０００５】また、図９に示されるように、射出成形機
が安定的な連続運転に入ってから第ｘ＋１回目のショッ
トまで良品成形が行われ、第ｘ＋２回目のショットのサ
ンプリングデータに異常が生じて不良信号が出力された
後、第ｘ＋３回目のショットのサンプリングデータに基
く判別結果が良品、第ｘ＋４回目のショットのサンプリ
ングデータに基く判別結果が不良品となり、第ｘ＋５回
目以降のショットに関してはサンプリングデータに基く
判別結果が全て良品であったとする。この場合、第ｘ＋
３回目のショットは第ｘ＋２回目のショットの判別結果
により無条件に不良品扱いされ、また、第ｘ＋５回目の
ショットと第ｘ＋６回目のショットは第ｘ＋４回目のシ
ョットの判別結果により無条件に不良品扱いされること
になる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、実際には、サ
ンプリングデータの回復から成形状態の立ち直りに必要
とされるショット回数は、樹脂および金型の特性や各種
成形条件の設定状況、更に、射出成形機の連続運転時間
（通算ショット数）の相違等により様々に変動するた
め、成形状態の立ち直りに必要とされる見込みのショッ
ト回数を一概に決めることは必ずしも容易でない。従来
の見込み不良判別では、サンプリングデータの常態復帰
から成形異常の解消に必要とされる見込みのショット数
を固定的に設定して不良信号を出力するようにしていた
ため、確実に良品のみを得ようとして見込みの不良発生
回数を大きめに設定すると、良品の範疇に属する成形品
の多数が不良品として退けられるために歩留まりが悪化
し、また、成形材料を節約しようとして見込みの不良発
生回数を小さめに設定すると、不良品が良品の中に不用
意に紛れ込むといった問題が生じる。

【０００７】そこで、本発明の目的は、前記従来技術の
欠点を解消し、より適確に成形品の選別作業を行うこと
のできる射出成形機の製品良否判別装置を提供すること
にある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の製品良否判別装
置は、良否判別結果を１成形サイクル毎積算的に記憶す
る判別結果記憶手段と、前記判別結果記憶手段に記憶さ
れた最新の情報に基いて見込み不良回数を特定する不良
回数特定手段と、不良判別後の連続良品判別回数が前記
見込み不良回数に達するまでの間、良否判別結果に関わ
りなく良品信号の出力を禁止する良品信号規制手段とを
備えたことを特徴とする構成により前記目的を達成し
た。

【０００９】一実施態様としての不良回数特定手段は、
判別結果記憶手段に記憶された最新の情報に基いて所定
周期毎に不良率もしくは良品率の現在値を算出し、更
に、該不良率もしくは良品率の現在値に基いて見込み不
良回数を特定するようにした。

【００１０】不良率もしくは良品率の現在値に基いて見
込み不良回数を特定するため、前記一実施態様としての
不良回数特定手段は、不良率もしくは良品率と見込み不
良回数とを対応させて設定記憶した記憶手段、もしく
は、不良率もしくは良品率の現在値に基いて見込み不良
回数を算出するための演算機能を備える。

【００１１】

【作用】製品良否判別装置は、１成形サイクル毎のサン
プリングデータに基いて当該成形サイクルの成形品の良
否を自動的に判別し、その良否判別結果を判別結果記憶
手段により積算的に記憶する。不良回数特定手段は、所
定周期毎、例えば、１成形サイクル毎に、前記判別結果
記憶手段における最新の情報に基いて不良率もしくは良
品率の現在値を算出すると共に、不良率もしくは良品率
と見込み不良回数とを対応して記憶した記憶手段を検索
して前記現在値に対応する見込み不良回数を検出する。
または、前記不良率もしくは良品率の現在値を算出した
後、更に、見込み不良回数を特定するための演算処理を
実施し、現時点における見込み不良回数を算出する。

【００１２】サンプリングデータに基いて行われる成形
品の良否判別の結果が不良となった場合、良品信号規制
手段は、不良判別後の連続良品判別回数が前記見込み不
良回数に達するまでの間、つまり、成形品が正常な成形
状態に復帰するまでの間、良否判別結果に関わりなく良
品信号の出力を禁止し、不良の可能性のある成形品が良
品として取り扱われることを防止する。

【００１３】サンプリングデータが常態に復帰してから
成形品の状態が立ち直るまでのショット数である見込み
不良回数の値が、判別結果記憶手段に記憶された最新の
情報に基いて特定されるため、樹脂および金型の特性や
各種成形条件の設定状況ならびに射出成形機の連続運転
時間の相違等に応じて見込み不良回数が自動的に適正化
され、不良品が良品として取り扱われるといった選別ミ
スが防止されると共に成形材料の歩留まりも向上する。

【００１４】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図１は本発明を適用した一実施例の射出成形機の
要部を示すブロック図で、符号１は射出成形機の射出シ
リンダ、符号２はスクリューである。スクリュー２は、
駆動源の軸回転を射出軸方向の直線運動に変換するため
の駆動変換機５を介して射出用サーボモータＭ１により
射出軸方向に駆動され、また、歯車機構３を介してスク
リュー回転用サーボモータＭ２により計量回転されるよ
うになっている。スクリュー２の基部には圧力検出器４
が設けられ、スクリュー２の軸方向に作用する樹脂圧
力、即ち、射出保圧工程における射出保圧圧力や計量混
練り工程におけるスクリュー背圧が検出される。射出用
サーボモータＭ１にはスクリュー２の位置や移動速度を
検出するためのパルスコーダＰ１が配備され、また、ス
クリュー回転用サーボモータＭ２には、スクリュー２の
回転速度を検出するための速度検出器Ｐ２が配備されて
いる。

【００１５】射出成形機の製品良否判別装置を兼ねる制
御装置１０は、数値制御用のマイクロプロセッサである
ＣＮＣ用ＣＰＵ２５、プログラマブルマシンコントロー
ラ用のマイクロプロセッサであるＰＭＣ用ＣＰＵ１８、
サーボ制御用のマイクロプロセッサであるサーボＣＰＵ
２０、および、Ａ／Ｄ変換器１６を介して射出保圧圧力
やスクリュー背圧のサンプリング処理を行うための圧力
モニタ用ＣＰＵ１７を有し、バス２２を介して相互の入
出力を選択することにより各マイクロプロセッサ間での
情報伝達が行えるようになっている。

【００１６】ＰＭＣ用ＣＰＵ１８には射出成形機のシー
ケンス動作を制御するシーケンスプログラムや製品の良
否判別を行うための制御プログラム等を記憶したＲＯＭ
１３および演算データの一時記憶等に用いられるＲＡＭ
１４が接続されている。一方、ＣＮＣ用ＣＰＵ２５には
射出成形機を全体的に制御するプログラム等を記憶した
ＲＯＭ２７および演算データの一時記憶等に用いられる
ＲＡＭ２８が接続されている。

【００１７】また、サーボＣＰＵ２０および圧力モニタ
用ＣＰＵ１７の各々には、サーボ制御専用の制御プログ
ラムを格納したＲＯＭ２１やデータの一時記憶に用いら
れるＲＡＭ１９、および、良否判別のためのデータを得
るサンプリング処理等に関する制御プログラムを格納し
たＲＯＭ１１やデータの一時記憶に用いられるＲＡＭ１
２が接続されている。更に、サーボＣＰＵ２０には、該
ＣＰＵ２０からの指令に基いて型締め用，エジェクタ用
（図示せず）および射出用，スクリュー回転用等の各軸
のサーボモータを駆動するサーボアンプ１５が接続さ
れ、射出用サーボモータＭ１に配備したパルスコーダＰ
１およびスクリュー回転用サーボモータＭ２に配備した
パルスコーダＰ２からの出力の各々がサーボＣＰＵ２０
に帰還され、パルスコーダＰ１からのフィードバックパ
ルスに基いてサーボＣＰＵ２０により算出されたスクリ
ュー２の現在位置や、速度検出器Ｐ２で検出されるスク
リュー２の回転速度が、メモリ１９の現在位置記憶レジ
スタおよび現在速度記憶レジスタの各々に記憶される。

【００１８】インターフェイス２３は射出成形機の各部
に配備したリミットスイッチや操作盤からの信号を受信
したり射出成形機の周辺機器等に各種の指令を伝達した
りするための入出力インターフェイスである。ディスプ
レイ付手動データ入力装置２９はＣＲＴ表示回路２６を
介してバス２２に接続され、モニタ表示画面や機能メニ
ューの選択および各種データの入力操作等が行えるよう
になっており、数値データ入力用のテンキーおよび各種
のファンクションキー等が設けられている。

【００１９】不揮発性メモリ２４は射出成形作業に関す
る成形条件（射出保圧条件，計量混練り条件等）と各種
設定値，パラメータ，マクロ変数および良否判別のため
の設定データ等を記憶する成形データ保存用のメモリで
ある。

【００２０】以上の構成により、ＣＮＣ用ＣＰＵ２５が
ＲＯＭ２７の制御プログラムに基いて各軸のサーボモー
タに対してパルス分配を行い、サーボＣＰＵ２０は各軸
に対してパルス分配された移動指令とパルスコーダＰ
１，速度検出器Ｐ２等の検出器で検出された位置のフィ
ードバック信号および速度のフィードバック信号に基い
て、従来と同様に位置ループ制御，速度ループ制御さら
には電流ループ制御等のサーボ制御を行い、いわゆるデ
ィジタルサーボ処理を実行する。

【００２１】図４は、各成形サイクルにおける良否判別
結果を積算して記憶するために不揮発性メモリ２４に設
けられた判別データ記憶ファイルの構成を示す概念図で
あり、この判別データ記憶ファイルには、ＰＭＣ用ＣＰ
Ｕ１８からのアドレス指定により、その時点の成形サイ
クルにおける良否判別結果が良品＝０（フラグＯＦＦの
状態）、また、不良品＝１（フラグＯＮの状態）として
記憶される。良否判別結果を積算記憶するためのビット
数の値Ｎに関してはハードウェア上の制限はなく、判別
結果を記憶するための記憶領域の数Ｎの設定は任意であ
る。

【００２２】また、図５は、不良率と見込み不良回数と
を対応して記憶させるために不揮発性メモリ２４に設け
られた見込み不良回数記憶ファイルの構成を示す概念図
である。本実施例でいう不良率とは、不良として判別さ
れたショット数が全体のショット数に対して占める割合
のことである。サンプリングデータが常態に回復してか
ら成形品の状態が完全に立ち直るまでに必要と予想され
るショット数、即ち、見込み不良回数と不良率との対応
関係は、図５に示す通りであり、例えば、不良率がＡ0
以上Ａ1 未満（但し、単位は１００％）の範囲にある場
合には見込み不良回数Ｋ1 （但し、単位は１回）が良品
信号規制条件として適用され、また、不良率がＡ1 以上
Ａ2 未満の範囲にある場合には見込み不良回数Ｋ2 が良
品信号規制条件として適用される。不良率の設定条件は
Ａ0 ＜Ａ1 ＜Ａ2 ＜・・・＜Ａm-1 ＜Ａm であり、一般
にＡ0 ＝０，Ａm ＝１と設定して、不良率０％から不良
率１００％にまで対応する。分割数m および分割された
不良率の範囲Ａk-1 〜Ａk（但し、k ＝１〜m ）の刻み
幅に関しては設定上の制限事項はない。また、各不良率
の範囲Ａk-1 〜Ａk に対応する見込み不良回数の設定値
Ｋk の値は、不良率の増加に応じて単純増加的に設定す
るようにする。

【００２３】本実施例においては、圧力モニタ用ＣＰＵ
１７が射出保圧工程および計量混練り工程毎にサンプリ
ング処理を繰り返し実行し、所定のサンプリング周期毎
に、圧力検出器４およびＡ／Ｄ変換器１６を介し、スク
リュー２に作用する射出保圧圧力またはスクリュー背圧
を検出すると共に、メモリ１９の現在位置記憶レジスタ
からスクリュー２の現在位置を読み込んで前周期のサン
プリング時におけるスクリュー位置と今周期のサンプリ
ング時におけるスクリュー位置とに基いて現在の射出速
度またはスクリュー後退速度を求める。また、射出保圧
圧力またはスクリュー背圧の現在値，スクリュー２の現
在位置，射出速度またはスクリュー後退速度の現在値、
更に、計量混練り工程においては、スクリュー回転用サ
ーボモータＭ２の駆動電流に対応する駆動トルクをもサ
ンプリング周期に対応させて、一射出保圧工程および計
量混練り工程毎ＲＡＭ１２に更新記憶するようになって
いる。

【００２４】サンプリングデータに基く製品の良否判別
は、前述した射出保圧圧力，スクリュー移動速度，スク
リュー背圧，スクリュー位置，スクリュー回転用サーボ
モータＭ２の駆動トルク等を監視項目として良品成形時
の基準値と比較することによって行われるが、各成形サ
イクル毎の良否判別に関する処理については、特開平４
−１６８０２１号公報や特開平４−１３５７２７号公報
等を初め、本出願人らによって提案されたものが既に多
数公知となっているので、ここでは特に説明しない。ま
た、本発明に関わる製品選別方法は、製品の良否判別の
方式によって何等の拘束を受けるものではなく、１成形
サイクル毎に製品の良否に関する判別結果が得られるも
のである限り、その適用範囲に限界はない。

【００２５】以下、図２および図３に示すフローチャー
トを参照して本実施例における製品良否判別装置の処理
動作について説明する。図２は、各成形サイクルにおけ
る良否判別結果と見込み不良回数の現在値とに基いて製
品選別のための最終的な判別信号を出力するための製品
良否判別処理の概略を示すフローチャートであり、各成
形サイクルに対する良否判別と共にＰＭＣ用ＣＰＵ１８
により実行される。また、図３は、各成形サイクルにお
ける製品の良否判別の結果を積算的に記憶すると共に、
その最新の情報に基いて見込み不良回数を特定するため
の判別データ更新記憶処理の概略を示すフローチャート
であり、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８により１成形サイクル終了
毎に実行される。

【００２６】１成形サイクルの成形作業が終了すると、
ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は、まず、アドレス指定指標ｉの値
をインクリメントし（ステップＡ１）、該指標ｉの値が
判別データ記憶ファイルの記憶領域数Ｎを越えているか
否かを判別する（ステップＡ２）。そして、指標ｉの現
在値がＮを越えていなければ指標ｉの現在値をそのまま
維持し、また、指標ｉの現在値がＮを越えていれば、該
指標ｉに１を再設定する（ステップＡ３）。

【００２７】次いで、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は、従来と同
様の処理によって当該成形サイクルのサンプリングデー
タに基く良否判別を実行し（ステップＡ４）、その結果
が不良品であれば判別データ記憶ファイル（図４参照）
の第ｉアドレスに１を更新記憶し（ステップＡ５）、ま
た、良品であれば判別データ記憶ファイルの第ｉアドレ
スに０を更新記憶する（ステップＡ９）。前述のステッ
プＡ１〜ステップＡ３の処理により指標ｉの値は１成形
サイクル毎にＮを最大値として循環的にインクリメント
されるので、判別データ記憶ファイルには常に最新Ｎ回
の成形サイクルに関する判別結果が記憶されることとな
り、後述する判別データ更新記憶処理では、判別データ
記憶ファイルにおける最新のデータ内容に基いて１成形
サイクル毎に見込み不良回数の現在値が特定され、見込
み不良回数記憶レジスタＫに更新記憶される。

【００２８】ここで、１成形サイクル終了毎に実行され
る判別データ更新記憶処理について説明する。

【００２９】判別データ更新記憶処理は、判別データ記
憶ファイルに記憶された最新の判別結果のデータに基い
て最新Ｎショット分の不良率を算出し、図５に示される
ようなファイルを参照して見込み不良回数の値を特定す
るための処理である。判別データ更新記憶処理を開始し
たＰＭＣ用ＣＰＵ１８は、まず、不良判別回数積算カウ
ンタＳの値を０に初期化し（ステップＢ１）、以下、ア
ドレス検索指標ｊの値が判別データ記憶ファイルの記憶
領域数Ｎを越えるまでの間、該指標ｊの値を初期値１か
ら順次インクリメントして、その都度、指標ｊの現在値
に対応する判別データ記憶ファイルの記憶領域にアクセ
スし、１がセットされている記憶領域、即ち、直前のＮ
回に実行された成形サイクルの内サンプリングデータに
基いて不良の発生が検出された成形サイクルを検出し、
その総数を不良判別回数積算カウンタＳに積算する（ス
テップＢ２〜ステップＢ６）。

【００３０】そして、不良判別の発生回数Ｓを総サンプ
ル数Ｎで除して最新のＮショット分に対応する不良率Ａ
を算出した後（ステップＢ７）、アドレス検索指標ｋの
値を初期値１から順次インクリメントし、その都度、見
込み不良回数記憶用ファイルから不良率Ａk-1 とＡk と
を読み込み、ステップＢ７で算出された不良率Ａを含む
不良率の範囲Ａk-1 〜Ａk を検出して、この不良率の範
囲Ａk-1 〜Ａk に対応して設定された見込み不良回数の
値Ｋk を求め、この値を現時点で適用すべき見込み不良
回数として見込み不良回数記憶レジスタＫに更新記憶す
る（ステップＢ８〜ステップＢ１１）。既に述べたよう
に、見込み不良回数記憶用ファイルにおける不良率Ａ0
の値は０、また、不良率Ａm の値は１として設定されて
いるから、ステップＢ７で算出された不良率Ａに対応す
る見込み不良回数の値は必ずこの処理により検出され
る。

【００３１】図２に示す製品良否判別処理において当該
成形サイクルにおける良否判別の結果が良品であった場
合、ステップＡ９の処理を終了したＰＭＣ用ＣＰＵ１８
は、次いで、不良判別発生記憶フラグＦ１がセットされ
ているか否かを判別するが（ステップＡ１０）、フラグ
Ｆ１がセットされていなければ、更に、良品信号規制フ
ラグＦ２がセットされているか否かを判別する（ステッ
プＡ１４）。不良判別発生記憶フラグＦ１および良品信
号規制フラグＦ２は共にサンプリングデータに基く良否
判別の結果が不良となった時にセットされるフラグであ
り、少なくとも、最新Ｎ回の成形サイクルが正常に行わ
れていれば、そのリセット状態が維持されている。そこ
で、ステップＡ１０およびステップＡ１４の判別結果が
共に偽となった場合、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は当該成形サ
イクルで成形された製品を良品と見做し、製品選別のた
めの最終的な判別信号として良品信号を出力する（ステ
ップＡ１７）。

【００３２】以下、ステップＡ４の判別結果が真となっ
てサンプリングデータの異常が検出されるまでの間、Ｐ
ＭＣ用ＣＰＵ１８は、１成形サイクルの成形作業が終了
する度に、前記と同様にして、ステップＡ１〜ステップ
Ａ４およびステップＡ９，ステップＡ１０，ステップＡ
１４，ステップＡ１７の処理を繰り返し実行し、良品信
号を出力する（但し、ステップＡ３に関しては実行され
る場合とされない場合とがある）。

【００３３】そして、成形サイクルを繰り返し実行する
間にステップＡ４の判別処理でサンプリングデータの異
常が検出されて良否判定の結果が不良品となると、ＰＭ
Ｃ用ＣＰＵ１８は、判別データ記憶ファイルの第ｉアド
レスに１を更新記憶した後（ステップＡ５）、不良判別
発生記憶フラグＦ１および良品信号規制フラグＦ２を共
にセットし（ステップＡ６，ステップＡ７）、当該成形
サイクルで成形された製品を不良品と見做して不良信号
を出力し（ステップＡ８）、製品選別装置等を作動させ
てこの不良品を排除する。

【００３４】サンプリングデータが常態に復帰してステ
ップＡ４の判別結果が偽となるまでの間、ＰＭＣ用ＣＰ
Ｕ１８は、１成形サイクルの成形作業が終了する度に、
前記と同様にして、ステップＡ１〜ステップＡ８の処理
を繰り返し実行し、不良信号を出力する（但し、ステッ
プＡ３に関しては実行される場合とされない場合とがあ
る）。

【００３５】そして、サンプリングデータが常態に復帰
してステップＡ４の判別結果が偽となると、ＰＭＣ用Ｃ
ＰＵ１８は、判別データ記憶ファイルの第ｉアドレスに
０を更新記憶した後（ステップＡ９）、不良判別発生記
憶フラグＦ１がセットされているか否かを判別する（ス
テップＡ１０）。この場合、ステップＡ１０の判別結果
は真となり、これは、今回の良品判別が不良判別発生後
の第１回目のものであること、つまり、前回の不良ショ
ットの悪影響で成形品に微小なヒケやバリ等が残留して
いる可能性があることを意味する。従って、これ以降、
ステップＡ４における良否判別結果が良品であったとし
ても、成形品の成形状態が立ち直るまでの間は良品信号
の出力を禁止する必要がある。

【００３６】そこで、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は、見込み不
良回数記憶レジスタＫに記憶されている見込み不良回数
の現在値を減算カウンタＣにセットし（ステップＡ１
１）、不良判別発生記憶フラグＦ１をリセットして（ス
テップＡ１２）、該カウンタＣの値が０まで減算されて
いるか否かを判別する（ステップＡ１３）。カウンタＣ
の値が０まで減算されていなければ、サンプリングデー
タが常態に復帰していても成形品の成形状態に異常があ
るものと見做し、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は当該成形サイク
ルで成形された製品に対する不良信号を出力する（ステ
ップＡ８）。

【００３７】次の成形サイクル終了時におけるステップ
Ａ４の判別結果が再び良品となれば、ＰＭＣ用ＣＰＵ１
８は、前記と同様にして、判別データ記憶ファイルの第
ｉアドレスに０を更新記憶し（ステップＡ９）、不良判
別発生記憶フラグＦ１がセットされているか否かを判別
する（ステップＡ１０）。フラグＦ１は前回の成形サイ
クル終了時におけるステップＡ１２の処理によって既に
リセットされているので、ステップＡ１０の判別結果は
偽となる。次いで、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は良品信号規制
フラグＦ２がセットされているか否かを判別するが（ス
テップＡ１４）、この段階ではフラグＦ２のセット状態
が維持されているので、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は、カウン
タＣの値をディクリメントし（ステップＡ１５）、該カ
ウンタＣの値が０まで減算されているか否かを判別する
（ステップＡ１３）。カウンタＣの値が０まで減算され
ていなければ、サンプリングデータが常態に復帰してい
ても成形品の成形状態に異常があるものと見做し、前記
と同様、当該成形サイクルで成形された製品に対する不
良信号を出力する（ステップＡ８）。

【００３８】以下、各成形サイクルで検出されるサンプ
リングデータの値が正常であってステップＡ４の判別結
果が偽に保持される限り、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は、カウ
ンタＣの値が０に減算されてステップＡ１３の判別結果
が真となるまでの間、１成形サイクルの成形作業が終了
する度に、前記と同様にして、ステップＡ１〜ステップ
Ａ４およびステップＡ９，ステップＡ１０，ステップＡ
１４，ステップＡ１５，ステップＡ１３，ステップＡ８
の処理を繰り返し実行し、不良信号を出力する（但し、
ステップＡ３に関しては実行される場合とされない場合
とがある）。

【００３９】このようにして成形サイクルが繰り返し実
行される間、各成形サイクルで検出されるサンプリング
データの値に異常がなく、ステップＡ４の判別結果が偽
に保持され続ければ、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８はステップＡ
１３の判別結果が真となった時点、即ち、サンプリング
データが常態に復帰してからサンプリングデータに異常
のない成形サイクルが見込み不良回数Ｋに対応する回数
だけ繰り返し実行された時点で、前回の不良ショットの
悪影響によるヒケやバリ等が解消されたものと見做し、
良品信号規制フラグＦ２をリセットして（ステップＡ１
６）、良品信号を出力する（ステップＡ１７）。以下、
各成形サイクルで検出されるサンプリングデータの値に
異常が検出されるまでの間、ＰＭＣ用ＣＰＵ１８は、１
成形サイクルの成形作業が終了する度に、ステップＡ１
〜ステップＡ４およびステップＡ９，ステップＡ１０，
ステップＡ１４，ステップＡ１７の処理を繰り返し実行
して良品信号を出力することとなる（但し、ステップＡ
３に関しては実行される場合とされない場合とがあ
る）。

【００４０】また、サンプリングデータが常態に復帰し
た後、サンプリングデータに異常のない成形サイクルが
見込み不良回数Ｋに対応する回数だけ連続して実行され
ず、途中でサンプリングデータの異常が検出されてステ
ップＡ４の判別結果が真となった場合には、フラグＦ１
およびフラグＦ２の各々が強制的にセットされるので、
ステップＡ４の判別結果が再び偽となった時点からステ
ップＡ１１以降の処理が前記と同様にして行われること
となる。

【００４１】一例として、連続的に射出成形作業を行っ
ている時に第ｘ＋３回目の成形サイクルで不良判別が生
じ、第ｘ＋４回目の成形サイクルでサンプリングデータ
が常態復帰した場合の判別結果と最終的な判別信号の出
力との関係を、見込み不良回数Ｋの現在値が１となって
いるとき、および、３となっているときを例に取って図
６および図７に示す。

【００４２】本実施例では、不良の発生確率の高いもの
は成形状態の立ち直りに時間がかかり、また、不良の発
生確率の低いものは成形状態の立ち直りが早いとの前提
に基き、最新Ｎショット分に対する不良率の大小に応じ
て見込み不良回数の値を選択するようにしたので、最新
Ｎショット分の不良率に応じて見込み不良回数が自動的
に適正化され、射出成形機の連続運転時間の変化や気温
の変動を始めとする外部環境の変化にも対応して適格な
製品選別作業を行わせることができ、不良品が良品とし
て取り扱われるといった選別ミスが防止され、しかも、
成形材料の歩留まりが向上する。

【００４３】なお、ステップＡ４の処理はサンプリング
データのみに基づいた良否判別の結果を記憶して見込み
不良回数Ｋの値を特定するために必要とされる処理であ
り、ステップＡ４における良否判別の結果は、ステップ
Ａ８およびステップＡ１７の処理で出力される製品選別
のための最終的な判別信号とは一致しない。最終的に良
品として取り扱われる成形品の数および最終的に不良品
として取り扱われる成形品の数は、ステップＡ８および
ステップＡ１７の処理で出力される最終的な判別信号に
よって決まるので、生産数管理等のための良品ショット
数カウンタおよび不良品ショット数カウンタの更新処理
は、ステップＡ８およびステップＡ１７の処理で出力さ
れる最終的な判別信号に基づいて行われなければならな
い。従って、良品ショット数カウンタおよび不良品ショ
ット数カウンタ（もしくは、そのいずれか一方）を用い
て生産数の管理を行う場合には、ステップＡ８の処理で
不良品ショット数カウンタの値をインクリメントし、ま
た、ステップＡ１７の処理で良品ショット数カウンタの
値をインクリメントするようにする。

【００４４】以上、一実施例として、最新Ｎショット分
の不良判別回数Ｓを総ショット数Ｎで除した値を不良率
Ａとして見込み不良回数記憶用ファイルを検索すること
により見込み不良回数の値を特定するようにしたものに
ついて説明したが、不良判別回数Ｓを良品ショット回数
（Ｎ−Ｓ）で除して不良率を算出して同様の処理を行っ
たり、また、良品率に応じた見込み不良回数記憶用ファ
イルを作成して、良品率（Ｎ−Ｓ）／Ｎや（Ｎ−Ｓ）／
Ｓで見込み不良回数を特定するようにしてもよい。ま
た、見込み不良回数記憶用ファイルを用いて見込み不良
回数を特定する代わりに、不良率Ａに係数を乗じ、この
値を越えない最大の整数値を取る等の演算処理を行うこ
とにより見込み不良回数Ｋを算出するようにしてもよ
い。

【００４５】上述の実施例では１成形サイクル終了毎に
判別データ更新記憶処理を実施して見込み不良回数Ｋの
値を更新するようにしたが、不良の発生確率の変動が少
ないような場合には、必ずしも、１成形サイクル終了毎
に判別データ更新記憶処理を実施する必要はなく、任意
の所定周期、例えば、任意の時間間隔や任意回数の成形
サイクル実行毎に判別データ更新記憶処理を実施するよ
うにしても何ら問題はない。

【００４６】

【発明の効果】本発明の製品良否判別装置は、１成形サ
イクル毎のサンプリングデータに基く良否判別結果を判
別結果記憶手段に積算的に記憶し、常に、判別結果記憶
手段に記憶された最新の情報に基いて得られる不良発生
率または良品発生率に従ってサンプリングデータの常態
復帰から成形品の常態復帰までに必要とされるショット
数である見込み不良回数の値を求めるようにしたので、
樹脂および金型の特性や各種成形条件の設定状況ならび
に射出成形機の連続運転時間の相違等に応じて見込み不
良回数を自動的に適正化することができ、不良品が良品
として取り扱われるといった選別ミスが防止され、しか
も、成形材料の歩留まりが向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の製品良否判別装置を適用した一実施例
の射出成形機の要部を示すブロック図である。

【図２】同実施例における製品良否判別処理の概略を示
すフローチャートである。

【図３】同実施例における判別データ更新記憶処理の概
略を示すフローチャートである。

【図４】同実施例における判別データ記憶ファイルの構
成を示す概念図である。

【図５】同実施例における見込み不良回数記憶ファイル
の構成を示す概念図である。

【図６】サンプリングデータに基く判別結果と最終的な
判別信号の出力との関係を例示する実施例の説明図であ
る。

【図７】サンプリングデータに基く判別結果と最終的な
判別信号の出力との関係を例示する実施例の説明図であ
る。

【図８】サンプリングデータに基く判別結果と最終的な
判別信号の出力との関係を例示する従来例の説明図であ
る。

【図９】サンプリングデータに基く判別結果と最終的な
判別信号の出力との関係を例示する従来例の説明図であ
る。

【符号の説明】

１ 射出シリンダ ２ スクリュー ４ 圧力検出器 １０ 制御装置（製品良否判別装置） １７ 圧力モニタ用ＣＰＵ １８ ＰＭＣ用ＣＰＵ ２０ サーボＣＰＵ ２２ バス ２４ 不揮発性メモリ ２９ ディスプレイ付手動データ入力装置

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 １成形サイクル毎のサンプリングデータ
   に基いて当該成形サイクルの成形品の良否を自動的に判
   別するようにした射出成形機の製品良否判別装置におい
   て、良否判別結果を１成形サイクル毎積算的に記憶する
   判別結果記憶手段と、前記判別結果記憶手段に記憶され
   た最新の情報に基いて見込み不良回数を特定する不良回
   数特定手段と、不良判別後の連続良品判別回数が前記見
   込み不良回数に達するまでの間、良否判別結果に関わり
   なく良品信号の出力を禁止する良品信号規制手段とを備
   えた射出成形機の製品良否判別装置。
2. 【請求項２】 前記不良回数特定手段は、判別結果記憶
   手段に記憶された最新の情報に基いて所定周期毎に不良
   率もしくは良品率の現在値を算出し、該不良率もしくは
   良品率の現在値に基いて見込み不良回数を特定するもの
   である請求項１記載の射出成形機の製品良否判別装置。
3. 【請求項３】 前記不良回数特定手段は、不良率もしく
   は良品率と見込み不良回数とを対応させて設定記憶した
   記憶手段を有し、前記算出された不良率もしくは良品率
   の現在値に基いて前記記憶手段を検索することにより見
   込み不良回数を特定するものである請求項２記載の射出
   成形機の製品良否判別装置。