JPH0786223A - 液供給管及びこの液供給管を用いた処理液の供給装置 - Google Patents

液供給管及びこの液供給管を用いた処理液の供給装置

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JPH0786223A
JPH0786223A JP17495793A JP17495793A JPH0786223A JP H0786223 A JPH0786223 A JP H0786223A JP 17495793 A JP17495793 A JP 17495793A JP 17495793 A JP17495793 A JP 17495793A JP H0786223 A JPH0786223 A JP H0786223A
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JP
Japan
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liquid
liquid supply
supply pipe
treatment
processing
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JP17495793A
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English (en)
Inventor
Kaoru Sato
薫 佐藤
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Nippon Steel Corp
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Nippon Steel Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 管内の気泡を効果的に排出して処理槽内の処
理液中への混入を防止することができるようにする。 【構成】 液供給管1により処理槽11内に処理液7を
供給するが、液供給管1には、処理槽11内の処理液7
中に浸漬されない部分に気泡排出用のリーク孔4を設け
ると共に、一端がリーク孔4を包含しかつ他端の開口部
5aが処理槽11内の処理液7中に僅かに浸漬される排
気用のカバー5を設ける。液供給管1内の処理液7中に
混入或いは発生した気泡はリーク孔4から排出され、処
理槽11内の処理液7中には混入されない。さらに、カ
バー5により外気が逆にリーク孔4から液供給管1内の
処理液7中に気泡となって混入することが防止される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば半導体装置の製
造工程で使用される洗浄装置等に付属して各種の処理液
を供給するための液供給管及びこの液供給管を用いた処
理液の供給装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程においては、ウエ
ハ等の半導体基板に対するウエット洗浄やウエットエッ
チング等、各種の洗浄液やエッチング液等の処理液を使
用する工程が多い。
【0003】このような洗浄処理やエッチング処理等に
おける従来の処理液の供給装置は、例えば図5に示すよ
うに、液供給管21、ポンプ22、フィルタ23、加熱
ヒータ24等からなり、液供給管21の先端側の供給孔
部21aが処理槽25内の処理液26中に浸漬されてい
る。そして、ウエハのエッチング処理等の処理プロセス
中は、ポンプ22によって処理液26をフィルタ23内
及び加熱ヒータ24部分を通過させて、液供給管21の
供給孔部21aから処理槽25内に供給し、この処理槽
25内の処理液26を再びポンプ22により循環させて
いる。
【0004】そして、洗浄処理における上記処理液26
としては、純水だけの場合もあるが、ウエハの表面にお
ける種々の汚染物に対する洗浄能力の違いから、数種類
の薬液を混合した混合処理液を用いて洗浄効果を高めて
いる。また、エッチング処理における上記処理液26と
しても、エッチング除去する各種の薄膜に応じて、各種
の薬液を混合した混合処理液が使用されている。さら
に、このような処理液26は適当な温度に加熱して使用
すると処理効果が一層高くなるので、加熱ヒータ24に
よって処理液26を加熱することが一般的に行われてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような従来の装置においては、処理液26がフィルタ
23内を通過する際に空気等の気泡が混入したり、加熱
ヒータ24による処理液26の加熱の際に気泡が発生し
たりして、液供給管21内の処理液26中に気泡が混入
することがある。特に、処理液26として例えばNH4
OH/H2 2 /H2 O等の発泡性薬品を使用している
場合には、処理液26自体の化学反応によっても気泡が
発生する。
【0006】そして、従来の装置においては、液供給管
21内の処理液26中の気泡がそのまま供給孔部21a
から処理槽25内の処理液26中に混入し、処理中のウ
エハの表面に気泡が付着することによって洗浄効果を低
下させたり、気泡によって異物付着を増加させたりする
等、悪影響を及ぼすという問題があった。これにより結
果的に、洗浄効果やエッチング効果が低下し、半導体装
置等の性能と信頼性とが劣化する上に、製品歩留りやス
ループット等も悪化することになる。
【0007】なお、特開昭63−49284号公報に
は、この種の液供給管において、処理槽内の処理液中に
浸漬される部分にリーク孔を設けることが開示されてい
る。しかし、このような構成は、液供給管内の気泡をリ
ーク孔から処理液中に排出するので、処理液中への気泡
の混入を完全には防止することができない。
【0008】そこで本発明は、管内の気泡を効果的に排
出して処理槽内の処理液中への混入を防止することがで
きる液供給管及びこの液供給管を用いた処理液の供給装
置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、処理液による処理を行うための処理槽に
所定の処理液を供給する液供給管であって、前記処理槽
内の処理液中に浸漬されない管体部分に気泡排出用のリ
ーク孔を設けると共に、一端が前記リーク孔を包含しか
つ他端の開口部が前記処理槽内の処理液中に浸漬される
排気用のカバーを有するものである。
【0010】また、本発明は、処理液による処理を行う
ための処理槽に所定の処理液を供給する処理液の供給装
置であって、管体部分に気泡排出用のリーク孔を設ける
と共に一端が前記リーク孔を包含しかつ他端に開口部を
設けた排気用のカバーを有する液供給管と、この液供給
管を通じて前記処理槽内に処理液を供給する処理液供給
手段とを備え、前記液供給管の前記リーク孔を前記処理
槽内の処理液の液面レベル上に設置すると共に、前記液
供給管の前記カバーの開口部を前記処理槽内の処理液の
液面レベル下に配置したものである。
【0011】
【作用】上記のように構成された本発明によれば、液供
給管によって処理液が処理槽に供給されるが、液供給管
のリーク孔は処理槽内の処理液中に浸漬されない管体部
分に設けられているので、液供給管内の処理液中に混入
或いは発生した気泡はこのリーク孔から排出され、処理
槽内の処理液中には混入されない。さらに、そのリーク
孔がカバーによって包含されると共にカバーの開口部が
処理槽内の処理液中に浸漬されるので、外気が逆にリー
ク孔から液供給管内の処理液中に気泡となって混入する
ことが防止される。
【0012】
【実施例】以下、本発明による液供給管及びこの液供給
管を用いた処理液の供給装置の実施例を図1〜図4を参
照して説明する。
【0013】まず、図1は第1実施例における液供給管
及び処理液の供給装置の概略構成図であり、図2は液供
給管の斜視図、図3は液供給管の要部の断面図である。
【0014】図1に示すように、本実施例の処理液の供
給装置は、ポンプ8、フィルタ9、加熱ヒータ10等か
らなる処理液供給手段と、液供給管1とによって構成さ
れ、ポンプ8によって処理液7がフィルタ9内及び加熱
ヒータ10部分を通過して、液供給管1から処理槽11
内に供給され、この処理槽11内の処理液7が再びポン
プ8によって循環されるように構成されている。
【0015】図2に示すように、液供給管1は、上方水
平部1aと中間垂直部1bと下方水平部1cとによっ
て、ほぼクランク状に形成されている。上方水平部1a
の一端は他の配管に対して着脱可能な接続口2となって
おり、下方水平部1cには複数の液供給孔3が設けられ
ている。
【0016】そして、液供給管1の上方水平部1aと中
間垂直部1bとの間の屈曲部における上面に、1個また
は複数個のリーク孔4が設けられている。図1及び図3
に示すように、このリーク孔4は、処理槽11内の処理
液7中に浸漬されない部分、即ち、処理液7の液面レベ
ル以上に設置されている。
【0017】また、液供給管1はカバー5を有してお
り、このカバー5の一端はリーク孔4を包含し、カバー
5の他端には開口部5aが設けられている。そして、カ
バー5の開口部5aは、処理槽11内の処理液7中に僅
かに浸漬、即ち、処理液7の液面レベル以下に配置され
ている。なお、本実施例におけるカバー5は、断面ほぼ
円弧状の部材によって形成され、液供給管1の中間垂直
部1bの外周面に沿って固着されている。
【0018】なお、液供給管1のリーク孔4の個数や形
状及び大きさ等は、用途に応じて最適なものに設定すれ
ばよい。また、液供給管1自体の材質は本発明の必須の
条件ではないが、例えば石英や塩化ビニール、その他の
材料によって形成することができる。
【0019】上記のように構成された液供給管及び処理
液の供給装置によれば、液供給管1によって処理液7を
処理槽11内に供給する際、フィルタ9や加熱ヒータ1
0部分で処理液7中に気泡が混入或いは発生したとして
も、液供給管1の処理槽11内の処理液7中に浸漬され
ない部分にリーク孔4が設けられているので、液供給管
1内の気泡は処理液7の流動に伴ってリーク孔4から効
果的に排出される。従って、液供給管1の液供給孔3か
ら供給される処理液7に気泡が混入することはない。
【0020】なお、液供給管1内の気泡は処理液7と共
に流動しながら次第に浮上していくので、その気泡をリ
ーク孔4から効果的に排出するために、リーク孔4は液
供給管1の上方水平部1aの上面に設けるのが好まし
い。特に本実施例においては、リーク孔4を液供給管1
の上方水平部1aと中間垂直部1bとの間の屈曲部にお
ける上面に設けているので、中間垂直部1bにより気泡
の流れが阻害される箇所のリーク孔4から、その気泡を
極めて効率的に排出することができる。また、リーク孔
4から排出されずに中間垂直部1b内へ流動する気泡が
あったとしても、この気泡は中間垂直部1b内を浮上し
てリーク孔4近傍に戻るので、やはり同様にリーク孔4
から排出されることになる。
【0021】そして、リーク孔4から排出された気泡つ
まり排出気体は、リーク孔4を包むカバー5内に排気さ
れるが、このカバー5の下端の開口部5aは処理液7中
に僅かに浸漬されているので、リーク孔4からの引き続
く気泡の排出によって、カバー5内の気体は開口部5a
から処理液7の液面下近傍に排出されていく。このよう
に、排気は処理液7の液面下近傍で行われるので、処理
液7による処理プロセスに対して悪影響を及ぼすことは
ない。なお、処理液7中に浸漬させるカバー5の開口部
5aの深さ方向の長さは任意であるが、あまり長くする
と開口部5aから気体をうまく排出することができなく
なる。本実施例においては数mmの浸漬長さで好ましい
結果が得られた。
【0022】ところで、カバー5の開口部5aは処理液
7中に完全に浸漬された状態になっているので、例えば
ポンプ8等の脈動によるリーク孔4からの外気の吸い込
みを防止することができる。即ち、リーク孔4を単に外
気に開放した場合は、液供給管1内の処理液7が逆流す
ると、リーク孔4から外気を吸い込んで気泡を生じてし
まう。しかしながら、カバー5の開口部5aを処理液7
中に浸漬することによって、そのカバー5内の液面上は
外気と遮断された閉塞空間になるので、液供給管1内の
処理液7が逆流するような場合でも、カバー5内の気体
がリーク孔4から液供給管1内に吸い込まれることは殆
どない。また、多少吸い込まれたとしても、その気泡は
前述の作用によってリーク孔4から排出されることにな
る。
【0023】さらに、カバー5を設けることによって、
リーク孔4から気泡と共に処理液7が排出された場合で
も、この処理液7の飛散が防止される。従って、安全性
が極めて高い上に、飛散した処理液7が液面上の外気中
に浮遊する微細異物を捕着して再び処理液7に落下する
ようなことも防止することができる。
【0024】なお、カバー5は、リーク孔4を包含しか
つ開口部5aが処理液7に浸漬されるものであれば、各
種の構造及び形状を採用できるが、特に本実施例におい
ては、液供給管1の外周面を利用してカバー5を固着し
ているので、排気のための構造としてスペースファクタ
ーの向上を図ることができる。
【0025】次に、図4は第2実施例における液供給管
の要部の断面図である。この例においては、液供給管1
の上方水平部1aの上面にリーク孔4を設けると共に、
このリーク孔4に対して液供給管1内における処理液7
の流動方向下流側に突出部からなる障害部6を設けてい
る。なお、リーク孔4を包含するカバー5は前述と実質
的に同様なものでよい。
【0026】この第2実施例によれば、液供給管1内の
処理液7の流動に伴ってリーク孔4から気泡が排出され
るが、上方水平部1a内のように気泡の流動が速い箇所
でも、特に障害部6によって気泡の流れが阻害されるこ
とになるので、この障害部6の手前のリーク孔4から気
泡を効率的に排出することができる。
【0027】以上、本発明の実施例に付き説明したが、
本発明は上記実施例に限定されることなく、本発明の技
術的思想に基づいて各種の有効な変更並びに応用が可能
である。なお、本発明は、実施例のような加熱循環濾過
を行うだけでなく、例えば処理槽への処理液充満等、様
々な液供給管及び処理液の供給装置について同様に適用
することができる。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
処理槽内の処理液中に浸漬されない液供給管の管体部分
にリーク孔を設けることによって、液供給管内の気泡が
リーク孔から効果的に排出されるので、処理槽内の処理
液中への気泡の混入を防止することができる。さらに、
リーク孔を包含しかつ開口部が処理液中に浸漬されるカ
バーを有することによって、外気が逆にリーク孔から処
理液中に気泡となって混入することを防止することがで
きる。これによって、処理液中の半導体基板等への気泡
の付着や気泡による異物付着の増加等の悪影響がなくな
り、極めて高い洗浄効果やエッチング効果等を期待する
ことができる。この結果、半導体装置等の性能と信頼性
とを大幅に向上させ、また、製品歩留りやスループット
等も著しく向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例における液供給管及び処理
液の供給装置の概略構成図である。
【図2】上記第1実施例における液供給管の斜視図であ
る。
【図3】上記第1実施例における液供給管の要部の断面
図である。
【図4】本発明の第2実施例における液供給管の要部の
断面図である。
【図5】従来の処理液の供給装置における概略構成図で
ある。
【符号の説明】
1 液供給管 1a 上方水平部 1b 中間垂直部 1c 下方水平部 3 液供給孔 4 リーク孔 5 カバー 5a 開口部 6 障害部 7 処理液 8 ポンプ 9 フィルタ 10 加熱ヒータ 11 処理槽

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理液による処理を行うための処理槽に
    所定の処理液を供給する液供給管であって、前記処理槽
    内の処理液中に浸漬されない管体部分に気泡排出用のリ
    ーク孔を設けると共に、一端が前記リーク孔を包含しか
    つ他端の開口部が前記処理槽内の処理液中に浸漬される
    排気用のカバーを有することを特徴とする液供給管。
  2. 【請求項2】 前記リーク孔をほぼ水平状に配置される
    前記管体部分の上面に設けたことを特徴とする請求項1
    記載の液供給管。
  3. 【請求項3】 前記リーク孔をほぼ水平状から下方に屈
    曲される前記管体部分の屈曲部上面に設けたことを特徴
    とする請求項1記載の液供給管。
  4. 【請求項4】 前記リーク孔をほぼ水平状に配置される
    前記管体部分の上面に設けると共に、そのリーク孔に対
    して前記管体内における処理液の流動方向下流側に障害
    部を設けたことを特徴とする請求項1記載の液供給管。
  5. 【請求項5】 前記カバーを前記管体の外周面に沿って
    形成したことを特徴とする請求項1記載の液供給管。
  6. 【請求項6】 処理液による処理を行うための処理槽に
    所定の処理液を供給する処理液の供給装置であって、管
    体部分に気泡排出用のリーク孔を設けると共に一端が前
    記リーク孔を包含しかつ他端に開口部を設けた排気用の
    カバーを有する液供給管と、この液供給管を通じて前記
    処理槽内に処理液を供給する処理液供給手段とを備え、
    前記液供給管の前記リーク孔を前記処理槽内の処理液の
    液面レベル上に設置すると共に、前記液供給管の前記カ
    バーの開口部を前記処理槽内の処理液の液面レベル下に
    配置したことを特徴とする処理液の供給装置。
JP17495793A 1993-06-22 1993-06-22 液供給管及びこの液供給管を用いた処理液の供給装置 Withdrawn JPH0786223A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100821831B1 (ko) * 2006-11-22 2008-04-14 동부일렉트로닉스 주식회사 웨이퍼 가이드 버블 제거 시스템를 갖춘 케미칼 순환 장치
JP2010042614A (ja) * 2008-08-13 2010-02-25 Fujifilm Corp 画像形成装置

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KR100821831B1 (ko) * 2006-11-22 2008-04-14 동부일렉트로닉스 주식회사 웨이퍼 가이드 버블 제거 시스템를 갖춘 케미칼 순환 장치
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