JPH0785515B2 - はんだ付装置 - Google Patents
はんだ付装置Info
- Publication number
- JPH0785515B2 JPH0785515B2 JP60093655A JP9365585A JPH0785515B2 JP H0785515 B2 JPH0785515 B2 JP H0785515B2 JP 60093655 A JP60093655 A JP 60093655A JP 9365585 A JP9365585 A JP 9365585A JP H0785515 B2 JPH0785515 B2 JP H0785515B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- package
- soldering
- irradiation
- clamp
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、リード付面接合部品、特にフラットあるいは
クオドタイプと呼ばれる半導体やアレイ状電子部品を、
パッケージ本体を加熱することなくリード列のみを加熱
して良好なはんだ付を得るための、フレキシブル自動は
んだ付装置に関する。
クオドタイプと呼ばれる半導体やアレイ状電子部品を、
パッケージ本体を加熱することなくリード列のみを加熱
して良好なはんだ付を得るための、フレキシブル自動は
んだ付装置に関する。
従来の非接触式はんだ付装置は、特開昭47−12709号及
び同47−17645号に記載されるような赤外線方式、ある
いは特開昭50−5256号及び同50−81939号に記載のよう
なキセノン光線式等、ランプ光源を楕円反射鏡を用いて
点状に集光し、集光部の輝度を高めるもので、はんだ付
や溶接・切断と言った金属・プラスチック加工において
本質的に局部加熱の方法である。また特開昭55−153326
号に記載のようなレーザビーム加熱装置は近年はんだ付
装置に応用され、すでにはんだ付用点焦点加熱用に市販
されている。またレーザビームはんだ付装置については
「レーザはんだ付けロボット」が「電子材料」1983年6
月号pp96−101に報告されているが、これも高エネルギ
ー密度のレーザ光線をファイバで伝送するもので、本質
的には微焦点集光法である。したがって本発明が主対象
とするフラットパッケージの如く、微細かつ多数のリー
ドを加熱してはんだ付する場合、前記のいずれの方式も
微小部かつ遂次加熱を必要とし、そのための駆動ないし
運転方式の考案がなされている。特開昭49−47229号は
赤外線に関する典型例であり遂次加熱のための微動駆動
台を要し、露出したプラスチック等基板材料の加熱・損
傷を防ぐための機構、主として石英ガラスになる遮弊板
の使用等点状高エネルギービーム利用に伴なう照射制御
に難しさがあった。例えばランプ電流を照射開始の位置
で調整すると、終りの位置では過熱となり、その防止の
ために出力を低くすると逆に開始の位置で熱が不足する
などの、点焦点方式に付随した欠点の解決が困難であ
る。
び同47−17645号に記載されるような赤外線方式、ある
いは特開昭50−5256号及び同50−81939号に記載のよう
なキセノン光線式等、ランプ光源を楕円反射鏡を用いて
点状に集光し、集光部の輝度を高めるもので、はんだ付
や溶接・切断と言った金属・プラスチック加工において
本質的に局部加熱の方法である。また特開昭55−153326
号に記載のようなレーザビーム加熱装置は近年はんだ付
装置に応用され、すでにはんだ付用点焦点加熱用に市販
されている。またレーザビームはんだ付装置については
「レーザはんだ付けロボット」が「電子材料」1983年6
月号pp96−101に報告されているが、これも高エネルギ
ー密度のレーザ光線をファイバで伝送するもので、本質
的には微焦点集光法である。したがって本発明が主対象
とするフラットパッケージの如く、微細かつ多数のリー
ドを加熱してはんだ付する場合、前記のいずれの方式も
微小部かつ遂次加熱を必要とし、そのための駆動ないし
運転方式の考案がなされている。特開昭49−47229号は
赤外線に関する典型例であり遂次加熱のための微動駆動
台を要し、露出したプラスチック等基板材料の加熱・損
傷を防ぐための機構、主として石英ガラスになる遮弊板
の使用等点状高エネルギービーム利用に伴なう照射制御
に難しさがあった。例えばランプ電流を照射開始の位置
で調整すると、終りの位置では過熱となり、その防止の
ために出力を低くすると逆に開始の位置で熱が不足する
などの、点焦点方式に付随した欠点の解決が困難であ
る。
さらに遂次加熱方式であるため、1リード毎のはんだ、
基板間接触状態の変化によって、実際に加熱される条件
のばらつきが問題になる。
基板間接触状態の変化によって、実際に加熱される条件
のばらつきが問題になる。
また赤外線リフロ炉と称され、水平状に設置した赤外線
ランプを用い、回路基板全体を加熱する方式があるが、
この方式ではパッケージ本体を加熱するため部品毎に温
度が異なり、薄形のパッケージではその損傷による内部
素子破壊例がある。
ランプを用い、回路基板全体を加熱する方式があるが、
この方式ではパッケージ本体を加熱するため部品毎に温
度が異なり、薄形のパッケージではその損傷による内部
素子破壊例がある。
近年の半導体パッケージはレジンモールド品の薄形のも
ので、ますます微細ピッチかつ多ピン化の傾向がある。
このようなパッケージに関して、前述の遂次加熱方式に
ついては制御性の困難化とともに、ピン数が変る毎に条
件と加熱時間の変動を生じ、自動化の障害となってい
る。また赤外線炉式は前述のパッケージ損傷の欠点のほ
か、他の各種の部品との一括はんだ付を前提とするもの
で例えばリード挿入部品をはんだ付した後でフラットパ
ッケージをはんだ付する場合には適合しない。
ので、ますます微細ピッチかつ多ピン化の傾向がある。
このようなパッケージに関して、前述の遂次加熱方式に
ついては制御性の困難化とともに、ピン数が変る毎に条
件と加熱時間の変動を生じ、自動化の障害となってい
る。また赤外線炉式は前述のパッケージ損傷の欠点のほ
か、他の各種の部品との一括はんだ付を前提とするもの
で例えばリード挿入部品をはんだ付した後でフラットパ
ッケージをはんだ付する場合には適合しない。
このように従来技術はフラットパッケージの形態,実装
傾向の変化に配慮が浅く、今後その適用範囲が限られて
くると考えられる。
傾向の変化に配慮が浅く、今後その適用範囲が限られて
くると考えられる。
本発明の目的は、遂次加熱やパッケージ本体加熱の従来
方式の欠点を失くし、パッケージの2ないし4辺のリー
ド列毎に矩形状の照射面を有するパッケージ毎の一括は
んだ付を可能とする自動はんだ付装置を提供することに
ある。
方式の欠点を失くし、パッケージの2ないし4辺のリー
ド列毎に矩形状の照射面を有するパッケージ毎の一括は
んだ付を可能とする自動はんだ付装置を提供することに
ある。
本発明は、上記目的を達成するために、ハロゲンランプ
より光を集光し、スリットを介し、フィールドレンズで
集光し、第1の反射鏡で反射させ、シリンドリカルレン
ズ系で矩形状とし、第2の反射鏡で反射させ、リード付
面接合部品のリード上に結像させる光学ユニットを2〜
4組設け、前記スリットの形状及び位置を可変し、矩形
状の照射面の長さ、幅を変化させて前記部品の2辺ない
し4辺のリード列寸法に対応させ、前記第1及び第2の
反射鏡を移動させて相対するリード列間距離の間隔に対
応させ、前記各光学ユニットのスリット及び反射鏡を独
立に可変できることを特徴とする。
より光を集光し、スリットを介し、フィールドレンズで
集光し、第1の反射鏡で反射させ、シリンドリカルレン
ズ系で矩形状とし、第2の反射鏡で反射させ、リード付
面接合部品のリード上に結像させる光学ユニットを2〜
4組設け、前記スリットの形状及び位置を可変し、矩形
状の照射面の長さ、幅を変化させて前記部品の2辺ない
し4辺のリード列寸法に対応させ、前記第1及び第2の
反射鏡を移動させて相対するリード列間距離の間隔に対
応させ、前記各光学ユニットのスリット及び反射鏡を独
立に可変できることを特徴とする。
以下に本発明の1実施例を、4辺に面接合用リード列を
有する、フラットあるいはクオドタイブパッケージにつ
いて説明する。
有する、フラットあるいはクオドタイブパッケージにつ
いて説明する。
第1図はフラットパッケージのはんだ付に関する諸元を
示すための上面図及び側面図である。また第2図はこれ
を基板にはんだ付した場合の、リード成形不ぞろいによ
る接合不良状態を示す。
示すための上面図及び側面図である。また第2図はこれ
を基板にはんだ付した場合の、リード成形不ぞろいによ
る接合不良状態を示す。
本発明における第1の構成要件は、パッケージのリード
列に対応した矩形状照射面(以下ラインビームと称す)
を有することで、第1図のリード列において幅4あるい
は第2図の電極に関する長さ5と、第1図の1及び2の
なす矩形面積に相当した面積を、パッケージの多様な寸
法に照らして、任意に形成することにあるこの矩形面の
大きさの範囲は、パッケージ一般の状況から、1及び2
が最小14mm、最大30mmの範囲で可変となるように条件付
けられ、また4あるいは第2図の5の寸法は最大3mmと
条件付けられる。
列に対応した矩形状照射面(以下ラインビームと称す)
を有することで、第1図のリード列において幅4あるい
は第2図の電極に関する長さ5と、第1図の1及び2の
なす矩形面積に相当した面積を、パッケージの多様な寸
法に照らして、任意に形成することにあるこの矩形面の
大きさの範囲は、パッケージ一般の状況から、1及び2
が最小14mm、最大30mmの範囲で可変となるように条件付
けられ、また4あるいは第2図の5の寸法は最大3mmと
条件付けられる。
本発明を構成する第2の、もっとも重要な構成要件は、
前記条件付けられたラインビーム内に導入され、はんだ
付に十分な熱量を有する光量の照射系を得ることであ
る。
前記条件付けられたラインビーム内に導入され、はんだ
付に十分な熱量を有する光量の照射系を得ることであ
る。
第3図は、リード列の一辺に関してハロゲンランプを光
源とする上記光線の照射ユニットを示す実施例で、公知
の楕円反射鏡系2と、片口形でランプ軸に直交するフィ
ラメントを有するランプ1とで形成された、楕円状で、
長軸が30mm短軸が20mmの面状焦点を形成するように設計
されている。次いでこの短軸方向に前記ラインビームに
対応した制限をなすためのスリット機構3を設け、次で
その直下に集光用レンズ4と矩形に対応したシリンドリ
カルフィールドレンズ対6とを設けること、及びはんだ
付すべき基板に導くための平板ミラー5,7との組合せで
構成される。
源とする上記光線の照射ユニットを示す実施例で、公知
の楕円反射鏡系2と、片口形でランプ軸に直交するフィ
ラメントを有するランプ1とで形成された、楕円状で、
長軸が30mm短軸が20mmの面状焦点を形成するように設計
されている。次いでこの短軸方向に前記ラインビームに
対応した制限をなすためのスリット機構3を設け、次で
その直下に集光用レンズ4と矩形に対応したシリンドリ
カルフィールドレンズ対6とを設けること、及びはんだ
付すべき基板に導くための平板ミラー5,7との組合せで
構成される。
この照射ユニットに導びかれた光線は、あらかじめはん
だ、例えばはんだペーストを介して基板の電極上に位置
合せされたフラットパッケージのリード肩部に接し、か
つ肩部を基板方向に押圧したリードクランプ上に導び
く。該リードクランプは第4図に示されるようにパッケ
ージ本体を光から遮弊するための中実体5から成り、そ
の周辺は1種類のパッケージに合わせた形状・寸法で、
その周辺はリード肩部を押圧する突起3、あるいは光照
射を実質的に制限するための矩形状抜き穴5を有するつ
ば状の部分4を有している。実施例の範囲のLSIについ
て第2図に示すようなリード接触不良は、リード浮き量
6が0.3mm以下の場合には全く生じなかった。このリー
ドクランプは、本発明の第3の構成要件であるが、容易
に実現可能なはんだペースト厚さが0.2mmの場合、リー
ド浮き量6が0.15mm以下であれば接触不良を生じないた
め、この様な保証のある場合には省略可能である。しか
しながら、その保証のためには前もってリード浮きの検
査あるいは修正を必要とするものであり、その様な時間
のかかる作業をなくしクランプを設ける方が得策であ
り、本質的に本発明の第3の構成要件を成すものであ
る。
だ、例えばはんだペーストを介して基板の電極上に位置
合せされたフラットパッケージのリード肩部に接し、か
つ肩部を基板方向に押圧したリードクランプ上に導び
く。該リードクランプは第4図に示されるようにパッケ
ージ本体を光から遮弊するための中実体5から成り、そ
の周辺は1種類のパッケージに合わせた形状・寸法で、
その周辺はリード肩部を押圧する突起3、あるいは光照
射を実質的に制限するための矩形状抜き穴5を有するつ
ば状の部分4を有している。実施例の範囲のLSIについ
て第2図に示すようなリード接触不良は、リード浮き量
6が0.3mm以下の場合には全く生じなかった。このリー
ドクランプは、本発明の第3の構成要件であるが、容易
に実現可能なはんだペースト厚さが0.2mmの場合、リー
ド浮き量6が0.15mm以下であれば接触不良を生じないた
め、この様な保証のある場合には省略可能である。しか
しながら、その保証のためには前もってリード浮きの検
査あるいは修正を必要とするものであり、その様な時間
のかかる作業をなくしクランプを設ける方が得策であ
り、本質的に本発明の第3の構成要件を成すものであ
る。
以上に説明した光線の照射系は、第1図に示すパッケー
ジの場合、4ユニットで構成しなければならないが、リ
ード列が2列のパッケージについてはそのうちの2ユニ
ットのみの使用ですみ、最大4ユニットで構成しておけ
ば良いのである。
ジの場合、4ユニットで構成しなければならないが、リ
ード列が2列のパッケージについてはそのうちの2ユニ
ットのみの使用ですみ、最大4ユニットで構成しておけ
ば良いのである。
本発明の第4の構成要素は、前記照射ユニットを第1図
に示すパッケージのリード配線寸法5,6の多様性に対応
して、前記のラインビームがこの5,6の対応個所で、例
えば第2図の電極中央部に配置されるように位置合せ
し、かつ可変とすることである。その構成を以下で説明
する。
に示すパッケージのリード配線寸法5,6の多様性に対応
して、前記のラインビームがこの5,6の対応個所で、例
えば第2図の電極中央部に配置されるように位置合せ
し、かつ可変とすることである。その構成を以下で説明
する。
第5図は前記の各構成要素の組立図を示すもので、第3
図からなる照射ユニットを搭載し、それを移動させるた
めの移動ユニット6を4ユニット分と、クランプ支持台
2とを光学ベンチ1上に組立てたものである。該クラン
プ支持台はベンチに対して垂直に取付けられ、その支持
台には3種類のクランプの取付ヘッド4を可変するため
のモータ5と、クランプ全体を昇降させるためのモータ
3とから構成される。また照射ユニットは取付台7を介
して移割ユニット6に固定され、該移動ユニットはモー
タ8により前後に移動可能とする。また移動ユニットは
取付台の下に前記スリット機構を有し、その制限幅はモ
ータ9で変更可能である。更に照射ユニットとスリット
機構との間には、光線のシャッタ機構が設けられてお
り、その開閉は電磁ソレノイドで高速になされる。
図からなる照射ユニットを搭載し、それを移動させるた
めの移動ユニット6を4ユニット分と、クランプ支持台
2とを光学ベンチ1上に組立てたものである。該クラン
プ支持台はベンチに対して垂直に取付けられ、その支持
台には3種類のクランプの取付ヘッド4を可変するため
のモータ5と、クランプ全体を昇降させるためのモータ
3とから構成される。また照射ユニットは取付台7を介
して移割ユニット6に固定され、該移動ユニットはモー
タ8により前後に移動可能とする。また移動ユニットは
取付台の下に前記スリット機構を有し、その制限幅はモ
ータ9で変更可能である。更に照射ユニットとスリット
機構との間には、光線のシャッタ機構が設けられてお
り、その開閉は電磁ソレノイドで高速になされる。
本発明になるフラットパックLSIのはんだ付手順を以下
に説明する。
に説明する。
第5図において光学ベンチ1の中央部には第3図に示
す反射鏡7に相当し、互に直交配置した4対のミラー系
の間に窓3が設けられており、クランプ取付ヘッド5の
軸中心と、該窓3の中心ならびに4対の照射ユニットの
光路がこの中心を基準とする光学中心を調整する。は
んだ付すべきフラットパッケージとはんだペーストを予
め印刷で供給した基板とは、上記窓の下にX−Yテーブ
ルを介して光学中心と一致するように調整する。
す反射鏡7に相当し、互に直交配置した4対のミラー系
の間に窓3が設けられており、クランプ取付ヘッド5の
軸中心と、該窓3の中心ならびに4対の照射ユニットの
光路がこの中心を基準とする光学中心を調整する。は
んだ付すべきフラットパッケージとはんだペーストを予
め印刷で供給した基板とは、上記窓の下にX−Yテーブ
ルを介して光学中心と一致するように調整する。
次で上記パッケージ用のクランプ6をモータ7を回転
させて選定しついで、モータ4によりクランプを下降さ
せ、パッケージあるいはリードの肩部を押圧して固定す
る。
させて選定しついで、モータ4によりクランプを下降さ
せ、パッケージあるいはリードの肩部を押圧して固定す
る。
予めクランプの下降に障害にならない位置に開いてあ
る照射ユニットを搭載した移動ユニット8と、照射ユニ
ットの下部に設けてあるスリット機構9とをモータ10,1
1によりパッケージ寸法に合わせて移動・設定し、これ
により照射位置と照射面積とが定められる。
る照射ユニットを搭載した移動ユニット8と、照射ユニ
ットの下部に設けてあるスリット機構9とをモータ10,1
1によりパッケージ寸法に合わせて移動・設定し、これ
により照射位置と照射面積とが定められる。
予め点灯されているランプから照射ユニットで導びか
れた光線をさえぎっていたシャッタ12を所定時間開き、
これによって前記クランプ上に光線を照射する。この場
合、4対の照射ユニットを同時に作動させるべく調整す
ることは述べるまでもない。
れた光線をさえぎっていたシャッタ12を所定時間開き、
これによって前記クランプ上に光線を照射する。この場
合、4対の照射ユニットを同時に作動させるべく調整す
ることは述べるまでもない。
一般にプラスチック系材料から成るプリント板は積層
接着で製造され、その耐熱性は十分でないこと、及び本
発明による照射が局所なためプリント板内の熱伝導によ
る熱損失との両者を考慮し、一般の電子部品に許容され
る80℃以下の予熱を行うことが適切である。その方法は
赤外線ランプ,パネルヒータ他、特に限定されるもので
はない。
接着で製造され、その耐熱性は十分でないこと、及び本
発明による照射が局所なためプリント板内の熱伝導によ
る熱損失との両者を考慮し、一般の電子部品に許容され
る80℃以下の予熱を行うことが適切である。その方法は
赤外線ランプ,パネルヒータ他、特に限定されるもので
はない。
以上に説明した手順につき、フラットパックLSIのはん
だ付時間の実施例は第1表に示されるもので、この時間
は、一般に手はんだ付では熟練者でも15秒以上(並には
30〜45秒)であり、またレーザビーム遂次式が16秒程度
であることを勘案すれば、ほぼ同等以上である。
だ付時間の実施例は第1表に示されるもので、この時間
は、一般に手はんだ付では熟練者でも15秒以上(並には
30〜45秒)であり、またレーザビーム遂次式が16秒程度
であることを勘案すれば、ほぼ同等以上である。
特に手はんだ付については作業者の熟練度の影響を失く
し、かつ同等の時間でこれを自動化可能とするものであ
る。
し、かつ同等の時間でこれを自動化可能とするものであ
る。
しかしながら上記手順にもとづく本発明の完壁さを期す
手段は、上述の手順のうち特に〜の手順を自動化す
ることにあり、本質的にコンピュータ制御の付与が、本
発明の第5の構成要件である。コンピュータ制御のシー
ケンスと実施タイムチャート例を第6図に示すが、この
ために装置に付与した実施例の機構は次のようなもので
ある。
手段は、上述の手順のうち特に〜の手順を自動化す
ることにあり、本質的にコンピュータ制御の付与が、本
発明の第5の構成要件である。コンピュータ制御のシー
ケンスと実施タイムチャート例を第6図に示すが、この
ために装置に付与した実施例の機構は次のようなもので
ある。
第5図において、クランプ昇降用モータ4とクランプ
選定用モータ7のそれぞれの原点信号としてリードスイ
ッチの取付。
選定用モータ7のそれぞれの原点信号としてリードスイ
ッチの取付。
移動ユニット8とスリット機構9の開放原点のそれぞ
れの原点信号として発光ダイオード式透過型スイッチの
取付。
れの原点信号として発光ダイオード式透過型スイッチの
取付。
全駆動モータはパルスモータを用いた。
上記信号原点素子と駆動モータの種類は本発明の主張す
る所ではないが、第6図に示すタイムチャート例の実現
に十分であれば良い。特に重要なことは、4対の照射ユ
ニットを所定の位置に停止させるに際し、原点位置の変
動を考えれば各々のユニットの停止時間は相異なること
になり、そのために全ユニットの停止を確認した後にシ
ャッタを開放するプログラムの付与に上記実施例が簡便
である。
る所ではないが、第6図に示すタイムチャート例の実現
に十分であれば良い。特に重要なことは、4対の照射ユ
ニットを所定の位置に停止させるに際し、原点位置の変
動を考えれば各々のユニットの停止時間は相異なること
になり、そのために全ユニットの停止を確認した後にシ
ャッタを開放するプログラムの付与に上記実施例が簡便
である。
本発明によれば、微細ピッチかつ多ピンのフラットパッ
ク形パッケージの半導体部品を、その本体を加熱するこ
となく、リード4辺を同時に一括はんだ付できるため、
半導体を損傷する恐れがなく、しかも高速で自動はんだ
付できる。しかも、すでに他の部品がはんだ付され、従
来手はんだ付にて後作業としてはんだ付する作業も自動
化容易であり、熟練を要する手はんだ付作業の有する品
質ばらつきを解消できる等の効果を有している。
ク形パッケージの半導体部品を、その本体を加熱するこ
となく、リード4辺を同時に一括はんだ付できるため、
半導体を損傷する恐れがなく、しかも高速で自動はんだ
付できる。しかも、すでに他の部品がはんだ付され、従
来手はんだ付にて後作業としてはんだ付する作業も自動
化容易であり、熟練を要する手はんだ付作業の有する品
質ばらつきを解消できる等の効果を有している。
また、レーザビーム等の集光遂次加熱式に比べて、パッ
ケージのリード数の変動があっても、加熱時間の変化が
少なく、第7図に例を示す如く多ピンのはんだ付になる
ほどはんだ付時間の短縮の効果を有し、ひとつの基板に
多種のパッケージが搭載される場合には、その効果は顕
著である。
ケージのリード数の変動があっても、加熱時間の変化が
少なく、第7図に例を示す如く多ピンのはんだ付になる
ほどはんだ付時間の短縮の効果を有し、ひとつの基板に
多種のパッケージが搭載される場合には、その効果は顕
著である。
第1図(a),(b)はフラットパック形半導体パッケ
ージの代表的な形状と寸法を示す正面図並びに側面図で
ある。第2図は、プリント板との接合不良を生じるリー
ド浮き状態を示す側面図。第3図は反射ミラー系になる
本発明の一実施例をなす照射ユニットの斜視図である。
第4図(a)はツバなしのリードクランプを示す斜視図
及び側面図、(b)はツバありの場合の斜視図を示す。
第5図は、本発明になる4対の照射ユニットを有する組
立斜視図、第6図はその自動制御シーケンス例、第7図
ははんだ付方式の特徴比較図である。 第1図;11……パッケージ本体 4……リードの接合部 12……リード肩部 第2図;1……リード、2……はんだ 3……電極、6……浮き状態 第3図;1……ランプ、2……集光用反射鏡 3……スリット 4,7,8……フィールドレンズ 5,7……反射鏡、8……結像部 第4図(a);3……ツバなしクランプ押圧部 (b);4……ツバありクランプ押圧部 第5図;1……光学ベンチ、2……反射ミラー 3……照射用窓 4……クランプ昇降モータ 5……クランプ支台 6……クランプ 7……クランプ支台モータ 8……移動ユニット、9……スリット機構 10……モータ、11……モータ 12……シャッタ
ージの代表的な形状と寸法を示す正面図並びに側面図で
ある。第2図は、プリント板との接合不良を生じるリー
ド浮き状態を示す側面図。第3図は反射ミラー系になる
本発明の一実施例をなす照射ユニットの斜視図である。
第4図(a)はツバなしのリードクランプを示す斜視図
及び側面図、(b)はツバありの場合の斜視図を示す。
第5図は、本発明になる4対の照射ユニットを有する組
立斜視図、第6図はその自動制御シーケンス例、第7図
ははんだ付方式の特徴比較図である。 第1図;11……パッケージ本体 4……リードの接合部 12……リード肩部 第2図;1……リード、2……はんだ 3……電極、6……浮き状態 第3図;1……ランプ、2……集光用反射鏡 3……スリット 4,7,8……フィールドレンズ 5,7……反射鏡、8……結像部 第4図(a);3……ツバなしクランプ押圧部 (b);4……ツバありクランプ押圧部 第5図;1……光学ベンチ、2……反射ミラー 3……照射用窓 4……クランプ昇降モータ 5……クランプ支台 6……クランプ 7……クランプ支台モータ 8……移動ユニット、9……スリット機構 10……モータ、11……モータ 12……シャッタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石 一郎 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (56)参考文献 特開 昭59−92163(JP,A)
Claims (1)
- 【請求項1】ハロゲンランプより光を集光し、スリット
を介し、フィールドレンズで集光し、第1の反射鏡で反
射させ、シリンドリカルレンズ系で矩形状とし、第2の
反射鏡で反射させ、リード付面接合部品のリード上に結
像させる光学ユニットを2〜4組設け、 前記スリットの形状及び位置を可変し、矩形状の照射面
の長さ、幅を変化させ、前記部品の2辺ないし4辺のリ
ード列寸法に対応させ、 前記第1及び第2の反射鏡を移動させ、相対するリード
列間距離の間隔に対応させ、 前記各光学ユニットのスリット及び反射鏡を独立に可変
できることを特徴とするはんだ付装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60093655A JPH0785515B2 (ja) | 1985-05-02 | 1985-05-02 | はんだ付装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60093655A JPH0785515B2 (ja) | 1985-05-02 | 1985-05-02 | はんだ付装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61252696A JPS61252696A (ja) | 1986-11-10 |
| JPH0785515B2 true JPH0785515B2 (ja) | 1995-09-13 |
Family
ID=14088396
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60093655A Expired - Lifetime JPH0785515B2 (ja) | 1985-05-02 | 1985-05-02 | はんだ付装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0785515B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0641715Y2 (ja) * | 1985-12-28 | 1994-11-02 | パイオニア株式会社 | 光ビ−ムを用いた加熱加工装置 |
| JPS62113868U (ja) * | 1985-12-28 | 1987-07-20 | ||
| JPH0641714Y2 (ja) * | 1985-12-28 | 1994-11-02 | パイオニア株式会社 | 光ビ−ムを用いた加熱加工装置 |
| JPS626975U (ja) * | 1986-03-31 | 1987-01-16 | ||
| JPS63203273A (ja) * | 1987-02-19 | 1988-08-23 | Toshiba Corp | レ−ザはんだ付け装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5992163A (ja) * | 1982-11-17 | 1984-05-28 | Toshiba Corp | レ−ザはんだ付け方法 |
| JPS60172023A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-05 | Nec Corp | レ−ザ集光装置 |
-
1985
- 1985-05-02 JP JP60093655A patent/JPH0785515B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61252696A (ja) | 1986-11-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3939812C2 (de) | Laserlötsystem für SMD-Elemente | |
| US6441339B1 (en) | Apparatus for manufacturing circuit modules | |
| JPH04229693A (ja) | 電子デバイスの表面実装方法 | |
| US5741410A (en) | Apparatus for forming spherical electrodes | |
| JPH0785515B2 (ja) | はんだ付装置 | |
| EP0231096A2 (en) | Apparatus for automatic soldering | |
| JPS60234768A (ja) | レ−ザ−半田付装置 | |
| JPH04296092A (ja) | リフロー装置 | |
| JPH0818125B2 (ja) | レーザはんだ付け装置 | |
| US5068508A (en) | Complaint hot bar apparatus | |
| JP3447807B2 (ja) | 赤外線加熱装置 | |
| JPH0313944B2 (ja) | ||
| JPH05235537A (ja) | 電子部品修正装置 | |
| JPS62207575A (ja) | フラツトリ−ドパツケ−ジの取り外し装置 | |
| JPH06140759A (ja) | レーザ半田付装置 | |
| JPH04219942A (ja) | Ic部品のリード接合方法 | |
| JPH04219943A (ja) | Ic部品の実装方法 | |
| JPH0444390A (ja) | レーザ半田付け方法とその装置 | |
| JP2949883B2 (ja) | ボンディング装置 | |
| JPH0677810B2 (ja) | 光ビ−ムハンダ付け装置 | |
| JPH02306693A (ja) | 電子部品の実装半田付け方法 | |
| JPH0292452A (ja) | レーザ半田付け装置 | |
| JPH05277716A (ja) | プリント基板のリフロー装置 | |
| Conneely et al. | Development of a soldering/inspection workcell for surface mount devices | |
| JPH06226436A (ja) | 半田付け方法および装置 |