JPH0783908B2 - 缶の巻締寸法測定装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はスリーピース缶やDI缶などにおける、缶蓋と缶
胴とのまきしめ部の寸法を測定する装置に関する。

（従来の技術とその問題点） 大型缶たると、小型缶たるとを問わず、それら缶に内容
品を充填したあとは、蓋を缶体開口部にまきしめて、密
封するが、この巻締部の寸法管理は、その缶の密封性を
左右する要素であり、缶内容物の品質を維持するための
重要な管理項目の一つになっている。

第６図および第７図は、巻締が行なわれる過程および製
品の巻締部の断面を示す図面であり、先ず、第６図に示
す如く、第１巻締ロールにより缶蓋２のカール部2aが、
缶胴１のフランジ1aの下に曲げ込まれ、ついで第７図に
示す如く、第２巻締ロールにより、曲げ込まれたフラン
ジ1a、カール部2aなどが強く押圧されて巻締部３が形成
される。この際加工工具の取り外しの関係から、通常巻
締部３は缶胴１の延長線Ｘより微少角度θ（約４度）だ
け外方に傾いている。また巻締部３の内周には、上方に
開いた浅い皿状のカウンターシンク４が形成されてい
る。

この巻締部３の密封状態の良否を点検するには多くの観
点からする検査が行なわれ、第８図に示す如く、巻締部
３の巻締厚（Ｔ）、巻締巾（Ｗ）およびカウンターシン
クデプス（Ｃ）が測定される。さらに、図示はしない
が、缶高（Ｈ）も測定される。その理由は、先ず巻締厚
（Ｔ）に関しては、加工時における押圧が不十分な場合
は厚さが大きくなり、また押圧が過度な場合はまた巻締
部３に亀裂が生じて厚さが薄くなり、いずれも密封が不
完全となる。つぎに巻締巾（Ｗ）に関しては、加工時に
おける押圧が不十分な場合はこの巾が短かくなり、他方
第７図におけるカール部2aの曲げ込み量が少ない場合は
巻締巾が大になり、いずれの場合も密封が不完全とな
る。さらにカウンターシンクデプス（Ｃ）に関しては、
前記巻締巾と同様に、 カール部2aの巻き込みが不充分であるとデプスが大とな
り、逆に巻き込みが過度であるとデプスが小となり、い
ずれの場合も密封が不完全となる。又、缶高（Ｈ）に関
しても、缶高が変化すると、それがＴやＷやＣに影響を
与えるので、これもチェツクの対象になる。

このようにして巻締厚（Ｔ）、巻締巾（Ｗ）、カウンタ
ーシンクデプス（Ｃ）及び缶高（Ｈ）が検査され、これ
らの値、とくにＴとＷの値が所定の値の巾を越えるもの
は不良品とされる。

従来これらの値を測定する装置としては、たとえば特開
昭60−165501号公報に開示された巻締巾測定装置、特開
昭60−203805号公報に開示された巻締厚測定装置、特開
昭60−247111号公報に開示された缶蓋のカウンターシン
クデプス測定装置などが用いられている。

これら各装置の構造の概要及び機能を図面第９図、第10
図、第11図を参照して説明する。

第９図は特開昭60−165501号公報に開示された巻締巾測
定装置の正面図であり、該装置は、測定箇所を挾持する
フレーム71とスピンドル72とを備えたマイクロメーター
70を使用しており、該マイクロメーター70のスピンドル
72はエアシリンダー73によって上下される。さらに、該
マイクロメーター70全体はエアシリンダー74によって下
方へ動かされバネ82によって上方へ動かされ、さらに該
マイクロメーター70とエアシリンダー74はエアシリンダ
ー75によって水平方向外方へ動かされバネ83によって缶
方向に動かされる。該装置はこのような構造であるた
め、クランプ台に被測定缶５を固定しエアシリンダー75
の作動を解除させるとマイクロメーター70のフレーム71
をバネ83が水平に移動させ、缶５の巻締部の下方で缶胴
に該フレーム71を当接させる。次にエアシリンダー74の
作動を解除させるとバネ82が該フレーム71を上昇させて
缶５の巻締部の下端に該フレーム71を当接させ、さらに
エアシリンダー73を作動させてスピンドル72を下降させ
て巻締部をフレーム71とスピンドル72とによって挾持し
て、巻締巾を測定する（これにみられる難点は後述）。
第10図は特開昭60−203805号公報に開示された巻締厚測
定装置の正面図であり、該装置もまた、測定箇所を挾持
するフレーム71とスピンドル72とを備えたマイクロメー
ター70を使用しており、該スピンドル72はエアシリンダ
ー76によって横方向に動かされる。該マイクロメーター
70全体は軸79によって傾動可能に吊り下げられており、
前記した巻締部の微少角度θに応じて、スピンドル72及
びフレーム71が傾くようになっている。該マイクロメー
ター70全体はエアシリンダー77によって缶５の方へ水平
に動かされバネ84によって外方へ水平に動かされる。さ
らにマイクロメーター70とエアシリンダー77はエアシリ
ンダー78によって上下に動かされる。該装置はこのよう
な構成であるため、クランプ台に被測定缶５を固定し、
エアシリンダー78を作動させてマイクロメーター70のフ
レーム71を下降させ、第10図に示したように蓋を近接さ
せる。次にエアシリンダー77の作動を解除させるとバネ
84がマイクロメーター70を水平に移動させ、フレーム71
を巻締部の内側に当接させ、そこで軸79が作用し、マイ
クロメーター70全体を傾けさせる。然る後にエアシリン
ダー76を作動させて、スピンドル72を横方向に移動さ
せ、巻締部をフレーム71とスピンドル72とによって挾持
して巻締厚を測定する（本装置にみられる短所は後
述）。

第11図は特開昭60−247111号公報に開示されたカウンタ
ーシンクデプス測定装置の正面図であり、該装置は巻締
部の上面に当接するフレーム71と上下動自在なスピンド
ル72とを備えたマイクロメーター70を使用しており、該
マイクロメーター70全体はエアシリンダー80によって上
下に動かされる。さらにマイクロメーター70全体とエア
シリンダー80はエアシリンダー81によって缶５の方へ水
平に動かされ、バネ85によって外方へ水平に動かされ
る。該装置はこのような構造であるため、クランプ台に
被測定缶５を固定し、エアシリンダー81を作動させてマ
イクロメーター70全体を缶の上方へ位置させ、次にエア
シリンダー80を作動させてフレーム71を巻締部の上面に
当接させ、スピンドル72を缶蓋上面に当接させる。次に
エアシリンダー81の作動を解除するとバネ85がマイクロ
メーター70全体を缶の外方へ水平に動かし、スピンドル
72がカウンターシンクの最深部に滑り込み、カウンター
シンクデプスを測定する（短所は後述）。

なお、缶高測定装置は、既に幾つかのものが知られ、使
用されているので、詳説することは避けるが、例えば第
５図を参照して、被測定缶を載置する基台上に立設され
た支柱36の上端に横梁37を張出させ、この梁37に、エア
シリンダー38とマグネットスケール39とを鉛直に固設す
る。而して缶高測定子18をスケール39の下方端に、該測
定子がシリンダー38のロッド40の先端に当接するように
取付ける。シリンダー38が作動しロッド40が上下動する
と測定子18も上下動する。スケール39のケーブル27は測
定ユニットに接続し、測定された缶高を該ユニットに伝
える。

これらの装置、ことに前記３つの公報に示されるものは
缶を傷付ける事なくマイクロメーターをゆるやかに測定
部分に当接させるバネ機構を備えた優れた装置である
が、すべて単一の項目を夫々別の個所で測定する装置で
ある点に難点がある。

現在の缶および缶詰製造速度は毎分400〜500缶という高
速生産であるため、特に巻締部の寸法である巻締厚及び
巻締巾は頻繁に検査され、不良が見つかるとただちに原
因が究明される必要がある。この原因の究明には、被測
定缶の巻締部の同じ個所で、その巻締部の寸法である巻
締厚及び巻締巾の値を知ることが必須である。さらにこ
の原因究明のために巻締部の寸法の変化に起因するカウ
ンターデプス及び／又は缶高の変化も考慮することが望
まれる。

ところが、上述のように、従来の測定装置を使用して測
定を行う場合、一つの装置では一つの項目しか測定でき
ないから、巻締厚測定装置で厚さ（Ｔ）を計側したあ
と、巾（Ｗ）を側るには、缶を巻締巾測定装置のところ
に持運ばなければならないように、一測定項目毎に缶を
移動しなければならず、甚だ、手数が掛かり、また測定
に時間を要している。さらに従来の測定装置では一つの
装置で一つの項目しか測定できず、巻締部の同じ場所を
各項目毎に測定してデータを得ることができない。つま
り、巻締部の同じ場所で、その場所での厚みや巾などの
データをとることが出来ない。従って、不良原因発生を
究明するために各測定項目の相関関係を調べようとする
場合は、やむを得ず各測定項目ごとに平均値を求め、該
平均値で相関関係を調べる他はない。即ち、巻締部の同
じ場所で各データを取ることができれば、各データの何
が増加し何が減少したかを比較しても意味があるが、異
なる場所での各データは、巻締部の波打ち、偏心、傾斜
などによって相関を観ることができないため、各データ
の平均値によって各データの増加傾向や減少傾向を調
べ、それらの相関関係を調べる他はないのである。この
平均値を求めるためにも時間がかかり、しかも平均値に
よる相関は不正確であるから、原因究明に支障をきたす
ことが多い。

もしも、缶の巻締部の同じ個所で、同時にこれらのデー
タ、少なくとも巾と厚さについてのデータを得ることが
できれば、缶の品質管理に大きく貢献することが期待さ
れるが、このような要望に沿う装置はまだ提供されては
いない。

従来装置では、巻締部の厚、巾などを測定するにあた
り、個々の装置により、ある缶の巻締部のいくつかの個
所でバラバラに測定するものであるから、仮にこれを組
合わせたところで、同じ個所からのデータは得られな
い。

（問題点を解決するための手段） 本発明は、上述の問題、とくに、巻締部巾及び厚につ
き、被測定巻締部の同一個所から自動的にそのデータを
採取することを可能ならしめる装置を提供するものであ
り、これによれば、水平に設置され、その上面が、缶の
被測定巻締部が載置される基準面をなす基板部を有し、
該基板部にはスリットが設けられている測定台と、 該測定台の上面から突出し被測定巻締部の外側面に接触
する部分であって、その接触面が該巻締部の傾斜角度に
ほぼひとしい傾斜をなす基準接触部を有し、該接触部の
先端部平面が前記スリットに対面する如く、該スリット
の長手軸の延長線上で、前記測定台に固定された基準ブ
ロックと、 該基準接触部上方で上下方向に移動でき、前記基板部と
の間で被測定巻締部を挟持する測定ピンを備え、該基準
ブロックに取付けられた巻締巾測定機構と、 該測定台の上面から突出し被測定巻締部の内側面に接触
する面をもち、前記スリット内を該基準接触部に対し直
角方向に移動可能な測定ブロックを備え、該基準ブロッ
クに取付けられた巻締厚測定機構とを有し、 該測定ピンと巻締部との接触部分、該基準接触部先端部
平面と巻締部との接触部分及び該測定ブロックと巻締部
との接触部分が同一平面内に位置している ことを特徴とする缶の巻締寸法測定装置が得られる。

さらに、これら巾、厚測定機構の他、該測定台上に設け
られ上下方に移動可能な測定子を備えた缶高測定機構及
び／又は該測定台下面に設けられ、上方先端部に上下動
および傾動自在且つ該測定台上面から突出して巻締部カ
ウンターシンクに接触する測定子を備えたカウンターシ
ンクデプス測定機構を付加し前記測定ピン、基準接触部
先端部平面及び測定ブロックと巻締部との各接触部分の
他、缶高測定機構の測定子と缶との接触部分も、同一平
面内に位置するように、それら各機構を配設すれば、一
層良好な測定が行なわれる。

ここで「同一平面」とは、より詳細には、缶の直径方向
縦断面上での同一平面を意味する。

なお、カウンターシンクデプス測定機構は、巻締厚測定
機構の測定ブロックの移動を妨げない範囲で、可及的基
準ブロックの基準接触部に近く設けられる。

（実施例） 次に、本発明装置の一例として、巻締巾、厚、カウンタ
ーシンクデプス及び缶高の測定機構のすべてを備えた場
合につき説明する。

第１図は、本発明測定装置の要部を示す左側面図、第２
図はその平面図、第３図はその正面図である。但し、第
１図においては、測定台を第２図Ａ−Ａ線で切断して示
し、第２図においては、缶高測定機構は省略されてお
り、第３図においては、測定台を第２図Ｂ−Ｂ線で切断
して示し、缶高測定機構、カウンターシンクデプス測定
機構は省略されている。第４図は、第２図Ｅ−Ｅ線で切
断したカウンターシンクデプス測定機構の側面図、第12
図は側定台の斜視図、第13図は基準ブロックの斜視図、
第14図は基準ブロックと巻締巾測定機構との組立てを示
す分解斜視図、第15図はカウンターシンクデプス測定機
構における固定具の概略平面図である。

第12図は、測定台11の全体斜視図であり、この測定台は
水平に設置され、大きく分けて、被測定缶を載置する基
板部41（この上面が後述する巻締巾、カウンターシンク
デプス、缶高各測定機構による測定の際の基準面を為
す）と、これに続く逆Ｌ字状のＬ板部42とで構成され
る。而して、Ｌ板部42の下には底板43を備えたＬ型ブロ
ック44が固着される。このＬ板部42とＬ型ブロック44と
によって、上方と基板部側とＬ板部長手部42B対向側と
が開放された空間が形成される。この場合、基板部41の
内端面41AとＬ型ブロック44の内端面44Aとの間には、所
定の間隔Ｄがおかれる（この間隔は、後述する巻締巾測
定機構における測定ピン13、マグネットスケール51′、
エアシリンダー50′などを配置するためのものであ
る）。一方、基板部41には、その内端面41A側を開口端
とするスリット（限定するものではないが、本例では長
さ3.6cm、巾0.6cm）47と、その近傍で、内端面41Aに接
近し且つ後述薄肉部48の反対側に貫通孔20（限定するも
のではないが、本例では直径1.2cm）が形成されてい
る。このスリット47は後述する巻締厚測定機構の測定ブ
ロック16の通路となるものであり、又、孔20は、後述す
るカウンターシンクデプス測定機構の測定子21のための
ものである。なお、Ｌ型ブロック44の外端44B（これは
底板43の外端でもある）の延長線は、スリット47と孔20
との間（必ずしも、その中央という意味ではない。第２
図では、やゝスリット寄りに示される）を通るようにす
るとよい。これを第12図に間隔ｄで示すが、この間隔は
出来るだけ小さい方がいゝ。

さらに、基板部41の中、スリット47を含み、Ｌ板部42と
反対側の一部を薄肉部48に構成し、後述する巻締厚測定
機構のＬ型スライドブロック55、マグネットスケール5
1、エアシリンダ50の働きを邪魔しないようにする。尤
も、測定ブロック16の高さを、基板部41の本来の厚みよ
り充分大とするならば、この薄肉部48は、必ずしも、必
要なものではない。（要は、測定ブロック16が、スリッ
ト48内を移動できるようにすることである。なお、後
述） 第13図は基準ブロック15の斜視図であり、方形の板の一
角に基準接触部46が突出したものである。このブロック
15は、スリット47の長手軸の延長線上で（第２図）、ボ
ルト45によって、測定台11のＬ板部42とＬ型ブロック44
の底板43とに固着される（第１図。なお第12図に、対応
箇所に点線で、ボルト孔を示しておいた）。

該基準接触部46は被測定缶５の巻締部３の傾斜角度θに
ほぼ等しい角度で鉛直面から前傾し、且つ測定台11のス
リット47に対面する先端部平面15aを備えていて、該平
面15aは測定のために缶５を測定台11の基板部41に載せ
た時に、巻締部３の外側に当接する。（第１図）。而し
て、この接触部46の全体の高さは、被測定巻締部３の巾
Ｗより大であっても差支えはないが、該平面15aの中、
測定台11の基板部41の上面から突出する部分が、該巾Ｗ
より大であってはならない。該巾Ｗより小なる高さで突
出するように、基準ブロック15を取付ける要がある（第
１図）。

該平面15aは被測定缶５を測定台11に載置させる時、位
置合わせとして作用すると共に、巻締厚測定機構の測定
における基準面として作用する。

次に巻締厚測定機構14につき、第1,2,3図によって説明
する。

これは、前記基板部41に設けられたスリット47内を移動
する測定ブロック16と、それを動かすエアシリンダー50
と、測定用のマグネットスケール装置51とを主要要素と
する。

前記エアシリンダー50とマグネットスケール装置51の下
側で、ボルト61により、基準ブロック15に固着されたレ
ール62上をエアシリンダー50の長軸と平行な方向に滑動
する。言うまでもなく、その駆動源は、前記エアシリン
ダー50である。

図中、52は、別のＬ形ブロックで、基準ブロック15の一
側面（Ｌ型ブロック44の反対側）の上部に、測定台11の
基板部41からやゝ離れて、固着される。而して、エアシ
リンダー50とマグネットスケール装置51とは、互いに平
行に、このＬ形ブロック52を貫通し、基準ブロック15の
長手方向に沿って配置される（第２図）。而してこれら
エアシリンダー50とマグネットスケール装置51の長軸は
基準ブロック15の平面15aに対して直角に配置される
（前述の通り、該平面15aは傾いているから、従って、
シリンダー50、マグネットスケール装置51の長軸も第１
図示の如く、傾斜することになる）。さらに、該エアシ
リンダー50のロッド53が、前記Ｌ形ブロック52から突出
し、その先端がボルト54によって、Ｌ型スライドブロッ
ク55の短辺56に固着されている。一方測定台11のスリッ
ト47に対応する位置で、該短辺56の頂面に円柱形の測定
ブロック16がエアシリンダー50の長軸に対して直角に、
さらに基準ブロック15の平面15aに対面して固設されて
いる。即ち、このＬ型スライドブロックは、エアシリン
ダー50のロッド53の伸縮により、基板部41の下面（図例
では薄肉部48の下側）で前後進し、該測定ブロック16
は、それに伴い、該平面15aに対面しそれに対して直角
方向で、該スリット47内を前後進する。この測定ブロッ
ク16は、測定台11の基板部41の上面から多少突出して巻
締部の内側面に接触する面をもち、被測定巻締部を、前
記面15aとで挾持するようにする（なお、後述）。

測定ブロック16自体の高さは、被測定巻締部巾Ｗより大
であっても一向差支えはないが、測定台の基板部41の上
面から突出する部分は、最も突出する場合（即ち、該巻
締部内面と接触する場合・第１図）においても、該巾Ｗ
より大であってはならない。尤も厚みＴの測定を不可能
にするほど短いものであってもならない。

一方、Ｌ型スライドブロック55の長辺は、コの字型側面
を備えたスライダー60に、ボルト59によって固着され、
そのスライダー60は、レール62（これはボルト61によっ
て基準ブロック15に固設される）により、エアシリンダ
ー50の長軸と平行な方向へ滑動自在に支持される。

再言すれば、エアシリンダー50は、基準ブロック15に固
着されたＬ形ブロック52で支持され、該シリンダー50の
ロッド53がＬ型スライドブロック55を支持し、スライダ
ー60が該ブロック55に固着され、そのスライダー60が基
準ブロック15に固定されたレール62に沿い摺動する構成
である。エアシリンダー50のロッド53が伸縮することで
スライダー60がレール62上を移動し、同時に、Ｌ型スラ
イドブロック、従ってそれに取付けられた測定ブロック
16が移動することになる。

なお、測定用具としてのマグネットスケール装置51は、
前記ロッド53と並んでＬ形ブロック52から突出する先端
可動部57を管58から送給される空気によってＬ型スライ
ドブロック55の短辺56に当接させており、ロッド53が伸
び、スライドブロック55が前進するとそれに附従して該
可動部57も当接したまゝ前進し、又ロッド53が収縮し
て、スライドブロック55が後退すると、可動部57も後退
する（このときは、空気の送給を停止する）。このマグ
ネットスケール装置による測定結果は、外寸測定装置30
の測定ユニット35に適宜のケーブルで送られる。

マグネットスケールは、以下に述べる巻締巾測定機構や
カウンターシンクデプス測定機構でも使用されるが、す
べて公知のものであり、微細な磁石を多数積み重ねてお
き、該磁石を移動させ、磁石のＮ極もしくはＳ極が何度
センサーを横切ったかをカウントし移動量を知る機構の
ものである。

巻締巾測定機構12を、第1,2,3図とその分解斜視図であ
る第14図により説明する。

この機構は、基準ブロック15の基準接触部46の直上にあ
り、且つ、平面図（第２図）でみて巻締厚測定機構14の
測定ブロック16と向い合う測定ピン13と、それを上下動
させるエアシリンダー50′と、測定用マグネットスケー
ル装置51′とを主要要素とするものである。

而して、これらシリンダー50′及びマグネットスケール
装置51′は、上記巻締厚測定機構におけるシリンダー50
及び装置51と同等のものであり、たゞ、測定台11に対し
鉛直に配置される点で異なるものである（第３図）。

本機構12は、基準ブロック15に関し、巻締厚測定機構14
と反対側に配置され、その殆んどの部分は、前記測定台
11と基準ブロック15とで規定された空間に収納される
（第２図）。

52′は、ブロック52に相当するＬ形ブロックであり、基
準ブロック15の一側面（Ｌ型ブロック44に面する側）
に、基準接触部46の下方で、固着される。このＬ形ブロ
ック52′を貫通し、エアシリンダー50′とマグネットス
ケール装置51′とが互いに平行に且つ鉛直に固設され
る。而して該シリンダー50′のロッド53′がＬ形ブロッ
ク52′から突出し、その先端が、Ｌ型スライドブロック
55′の短辺56′にボルト54′で固定される。その固定状
態において、該短辺56′は、基準ブロック15の上方まで
延出し（第３図）、その端部には、測定ピン13（図例で
は、上側端部を斜めに切り取った円柱形のもの）が、そ
の長軸が前記測定ブロック16の長軸と交差する如く水平
に（第１図）、且つ、基準ブロックの基準接触部46の直
上に（第３図）、固設されている。

なお、このＬ型スライドブロック55′がスライダー60′
に固着され、そのスライダー60′が基準ブロック15に固
設されたレール62′に沿って摺動すること、その駆動源
がシリンダー50′であることなどは、巻締厚測定機構に
おけると同じである（但し、ここでは、上下に摺動する
構造であり、従って測定ピン13は、ロッド53′の伸縮に
より基準接触部46の直上で、上下動することになること
は言うまでもない）。

後に詳述するが、この測定ピン13は、被測定巻締部を、
基板部41の上面（基準面）と協同して挾持し、その巾Ｗ
を測定するものであるが、基準ブロックの基準接触部46
の直上にあり、そのため、第1,2図からも判るように、
測定ブロック16と基準接触部46（の平面15a）とで厚み
（Ｔ）を測定するとき、同時に、測定ピン13によって巻
締部の同一個所の巾（Ｗ）の測定を行うことができる。

次に、カウンターシンクデプス測定機構19につき第２
図，第４図、第15図により説明する。

これは、巻締厚測定機構14の測定ブロック16の移動を妨
げない程度において、基準ブロック15の基準接触部46に
出来るだけ近づけて設けられる。

本機構19は、測定台11の基板部41に穿たれた貫通孔20の
下方に鉛直におかれるが、その全体の主要構造は、次の
通りである。

送気管24に連結し、その管からの空気の出し入れによっ
て伸縮するアコーデオン部25、それに続くピボット軸受
23、さらにその軸受に続く測定子21を備え、さらにマグ
ネットスケールを内蔵するものである。

而してこの主要部は、測定子21、軸受23が、前記孔20に
垂直に挿通するように、該孔20の直下に配置されるが、
そうするために、Ｌ型固定具22が用意される。

この固定具22は、基板部41の下面に固着される短辺22A
と、垂下する長辺22Bとで成り、該長辺には、挾具29が
ボルト28を介して取付けられており、上記主要部はこの
挾具29で固定、保持されて、孔20の直下に来るように配
置される（第２図）。

該測定子21は、ピボット軸受23によって第２図に示した
Ｅ−Ｅ線方向、つまり缶の半径方向に傾動可能であり、
又、前記アコーデオン部25の伸縮により、上下動するこ
とが出来る。而して、測定時には、測定台の基準面から
上方に突出し、カウンターシンク部に接触するものであ
る（なお、後述）。

なお、内蔵されたマグネットスケールは、測定子21の上
方への動きが基準点からどれくらいあったかを測定する
もので、そのデータを出力として外寸測定装置30の測定
ユニット35（第５図）に伝えるケーブル26を備えてい
る。

なお、本発明において使用される缶高測定機構17そのも
のは公知のものであり、既に述べたところであるので、
再説は避けるが、重要なことは、これを設置するに当た
り、缶高測定子の下面が缶と接触する部分が、前記測定
ピン、基準接触部及び測定ブロックと巻締部との各接触
部分と同一平面内にあるような位置に設けることであ
る。

第５図は上述した巻締寸法測定装置10と組合された外寸
測定装置30全体の正面図であり、デスクキャビネット上
には巻締巾、巻締厚、缶高、カウンターシンクデプスの
各測定機構を備えた巻締寸法測定装置10、表示装置31、
キーボード付プリンター32が備えられ、また内部には測
定データの保存装置33、マイクロコンピューター34、四
個の測定ユニット35a,35b,35c,35dが内蔵されている。

この外寸測定装置30によれば、測定台11の所定位置に被
測定缶の巻締部を下向きとして載置し、ついでキーボー
ド32によりサンプリング日付、時間、巻締機No巻締機の
ヘッドNoなどを入力するとともに巻締寸法測定装置10か
ら入力された電気信号による各測定値をうけて、これら
の入力値を表示、プリントアウト、記録し、また同時に
不良品の選別も行うことができる。

（作用） 本装置を用いてする各部の測定要領は次のようである
（詳細は後述）。

先づ、缶の被測定巻締部を測定台上に、スリット47、貫
通孔20をまたぐように載置して、缶を垂直に立て、缶の
巻締部の外側面を測定台11に固設された基準ブロックの
基準接触部46に当接させる。その際、測定ピン13、缶高
測定子18、測定ブロック16は、邪魔にならないような位
置（例えば第１図に想像線で示した如く）に離してお
く。

しかるのち測定ピンを缶胴に沿わせて降下させ、測定台
と測定ピンとで巻締部を挾持すれば、マグネットスケー
ル装置51′により巻締巾が測定される。また測定ブロッ
クをスリット47に沿い基準ブロックの接触部46に向け移
動させて、基準接触部の平面15aと測定ブロック16とで
巻締部を挾持し、スケール装置51で巻締厚を測定する。
さらに測定台と缶高測定子の下面とで缶を挾持するよう
にすればスケール装置39により缶高が測定される。また
カウンターシンクデプスの測定は、先づ測定機構測定子
21を測定台上面から一定の距離をなす位置に停止させ、
しかるのちアコーデオン部25、軸受23を介して測定子を
上下動および傾動させ、その先端部を缶蓋の最も深いカ
ウンターシンクに当接させる。このようにすれば測定基
準点と測定子との距離から、測定台上面、即ち、巻締部
端部、からのカウンターシンクデプスが測定される。

以下これをさらに詳述する。

外寸測定装置30に電源を入れると、空気源（図示せず）
が巻締厚、巻締巾及び缶高各測定機構の、各エアシリン
ダーを作動させ、巻締巾測定機構12の測定ピン13、巻締
厚測定機構14の測定ブロック16と缶高測定機構17の測定
子18を、前述した如く、缶を測定台上に載置するのに邪
魔にならないように移動させ、さらに、カウンターデプ
ス測定機構19の測定子21の先端を測定台11の上面から僅
かに突出した状態におく。次に、測定台11に、カウンタ
ーデプス測定機構19の測定子21の先端が被測定缶５の巻
締部３の内側に接触するように、被測定缶５を載置さ
せ、さらに、基準ブロック15の平面15aに該缶５の巻締
部３の外側を押し当てる。なお、このとき、時間や巻締
機No等をキーボード32によってコンピューター34に入力
する。次に巻締寸法測定装置10の作動スイッチ（図示せ
ず）を入れ、巻締厚測定機構14、カウンターシンクデプ
ス測定機構19、巻締巾測定機構12、缶高測定機構17を作
動させる。巻締厚測定機構14はエアシリンダー50が縮む
ことによって、Ｌ型スライドブロック55、従って該スラ
イドブロック55に固設された測定ブロック16が、レール
62に案内されて、測定台11のスリット47内を基準ブロッ
ク15の平面15aに向って移動し、基準ブロック15の平面1
5aと測定ブロック16との間で缶５の巻締部３を挾持す
る。そうすることで、仮りに缶５が正しく平面15aに当
接されなかった場合でも缶５は正しい位置に導びかれ、
巻締部は平面15aと線接触することになる。而して、マ
グネットスケール装置51が、平面15aとブロック16との
間隔、即ち、巻締厚Ｔを測定する。次に巻締巾測定機構
12は巻締厚測定機構14と同様にエアシリンダー50′が縮
むことによって、Ｌ型スライドブロック55′がレール6
2′に案内され、該スライドブロック55′に固設された
測定ピン13が鉛直に降下し、該測定ピン13と測定台11と
の間にて巻締部３を挾持する。同時に缶高測定機構17は
エアシリンダー38のロッド40を伸ばすことによって測定
子18を降下させ、該測定子18の下面を被測定缶５に当接
させる。この時、巻締巾測定機構12の測定ピン13が巻締
部３に接触する部分と、基準ブロック15の平面15aが巻
締部３に接触する部分と、巻締厚測定機構14の測定ブロ
ック16が巻締部３に接触する部分と、缶高測定機構17の
測定子18の下面が缶５に接触する部分とが、缶５の直径
方向縦断面上の同一平面内に位置している。そして上述
のように挾持された夫々の部分はその間隔をマグネット
スケール装置39,51,51′によって測定され、該マグネッ
トスケールからの出力は、巻締厚Ｔ、巻締巾Ｗ、缶高Ｈ
を示す信号として測定ユニット35a,35b,35cに夫々送ら
れる。従って上述のように挾持された部分は同一平面内
に位置しているため、缶５の巻締厚Ｔ、巻締巾Ｗ、缶高
Ｈを示す各測定値は、各測定値の間で正確な相関を見出
だすことができることとなる。

一方、カウンターシンクデプス測定機構19では、送気管
24から送られた空気によってアコーデオン部25が伸長
し、ピボット軸受23によって傾動自在になっている測定
子21が、缶５の巻締部３の内側に沿って上昇し、測定子
21の先端が缶蓋のカウンターシンク４の最も深い所に当
接すると、それ以上測定子21の先端が変位できなくなる
ため、上昇を停止する。該上昇距離は該機構19内のマグ
ネットスケールで測定され、カウンターシンクデプスＣ
を示す信号としてケーブル26を通して測定ユニット35d
に送られる。このようにカウンターシンク測定機構19は
巻締厚Ｔ、巻締巾Ｗの測定個所から常に一定間隔離れた
位置でカウンターシンクデプスを測定する（つまり、一
度貫通孔20が測定台に設けられると、もはや、その孔は
移動しないから、同一型式の缶であれば、いつも、一定
の位置で測定されることになる）こととなるため、巻締
厚Ｔ、巻締巾Ｗ及び缶高Ｈの測定値と常に一定の位相差
で測定値を得ることができる。従って各測定値を関連づ
けて比較でき、巻締部の良否の判別を正確に行えるだけ
でなく、例えば測定値の一つが不良と判別された場合に
も他の測定値との関連で不良原因の究明が容易に行える
こととなる。又、カウンターデプス測定機構19が巻締厚
Ｔ、巻締巾Ｗの測定個所に近接して設けられ、さらにそ
の測定子21の先端を被測定缶のおおよそ半径方向に傾動
自在としたため、どのような缶径の缶でもカウンターシ
ンクデプスを測定可能である。なぜなら、被測定缶がど
のような大きさであっても、巻締厚Ｔおよび巻締巾Ｗの
測定個所の近くでは、巻締部の位置が大きくずれること
はなく、このずれは缶のおおよそ半径方向に傾動自在に
した測定子21の傾動で調整できるからである。

測定ユニット35は各マグネットスケールから送信されて
くる信号から巻締厚Ｔ、巻締巾Ｗ、缶高Ｈ、カウンター
シンクデプスＣを測定し、その結果をコンピューター34
に送信する。該コンピューター34は各測定値を受信、記
録したのち、被測定缶を取外せるよう、各エアシリンダ
ーを作動させて巻締巾測定機構12の測定ピン13、巻締厚
測定機構14の測定ブロック16と缶高測定機構17の測定子
18を第１図に示した想像線の位置に戻し、さらにカウン
ターデプス測定機構19の測定子21の先端を測定台11の上
面から僅かに突出した所定位置に移動させる。かくして
被測定缶５を取り外したあとは、各機構は次の缶を測定
するための待機状態におかれる。同時に該コンピュータ
ー34は測定値の良否を判定し測定値と共に、これらを保
存装置33および表示装置31へ送る。このようにして一つ
の缶の測定を終わる。

（発明の効果） 以上説明した如く本発明は、従来の如く測定項目毎に被
測定缶を移動するという手数が省かれ、また、一時に測
定項目を測定できるので測定に要する時間を大巾に短縮
することができる。

さらに本発明は、各測定項目の各測定値に相関が見出だ
せる個所で、各測定項目を同時に測定することにより、
各測定値の関連から巻締状態や巻締状態の不良発生原因
を適確にすばやく把握できるようになった。

さらに本発明はどのような缶径でも各測定項目を同時に
測定できる共に、本発明をコンピューターや表示装置に
接続すれば、そのデータの表示、プリントアウト、記録
が容易になるとともに必要とするデータを同時に入力で
きるので、記録の保存管理も容易となり測定効率が向上
する。

【図面の簡単な説明】

第１図は巻締巾、巻締厚、カウンターシンクデプス及び
缶高の各測定機構を備えた本発明装置の要部の左側面
図、第２図は同平面図、第３図は同正面図である（但
し、第１図では測定台を第２図Ａ−Ａ線で切断して示
し、第２図では缶高測定機構が省略され、第３図では測
定台を第２図Ｂ−Ｂ線で切断して示し、缶高及びカウン
ターシンクデプス各測定機構は省略されている）。第４
図は第２図Ｅ−Ｅ線で切断したカウンターシンクデプス
測定機構の側面図、第５図は巻締寸法測定装置と組合さ
れた外寸測定装置の全体正面図、第６図は巻締過程の説
明用断面図、第７図は巻締部断面図、第８図は巻締部の
各測定部位を示す断面図、第９図、第10図、第11図は夫
々巻締部の巾、厚、カウンターシンクデプスの各専用測
定装置（従来例）の正面図、第12図は本発明装置におけ
る測定台の斜視図、第13図は基準ブロックの斜視図、第
14図は巻締巾測定機構と基準ブロックとの構造関係を示
す分解斜視図、第15図はカウンターシンクデプス測定機
構における固定具の概略平面図である。 ３…巻締部、10…巻締寸法測定装置、11…測定台、12…
巻締巾測定機構、13…測定ピン、14…巻締厚測定機構、
16…測定ブロック、15…基準ブロック、17…缶高測定機
構、18…缶高測定子、19…カウンターシンクデプス測定
機構、21…測定子、46…基準接触部。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】水平に設置され、その上面が、缶の被測定
   巻締部が載置される基準面をなす基板部を有し、該基板
   部にはスリットが設けられている測定台と、 該測定台の上面から突出し被測定巻締部の外側面に接触
   する部分であって、その接触面が該巻締部の傾斜角度に
   ほぼひとしい傾斜をなす基準接触部を有し、該接触部の
   先端部平面が前記スリットに対面する如く、該スリット
   の長手軸の延長線上で、前記測定台に固定された基準ブ
   ロックと、 該基準接触部上方で上下方向に移動でき、前記基板部と
   の間で被測定巻締部を挟持する測定ピンを備え、該基準
   ブロックに取付けられた巻締巾測定機構と、 該測定台の上面から突出し被測定巻締部の内側面に接触
   する面をもち、前記スリット内を該基準接触部に対し直
   角方向に移動可能な測定ブロックを備え、該基準ブロッ
   クに取付けられた巻締厚測定機構とを有し、 該測定ピンと巻締部との接触部分、該基準接触部先端部
   平面と巻締部との接触部分及び該測定ブロックと巻締部
   との接触部分が同一平面内に位置している ことを特徴とする缶の巻締寸法測定装置。
2. 【請求項２】水平に設置され、その上面が、缶の被測定
   巻締部が載置される基準面をなす基板部を有し、該基板
   部にはスリットが設けられている測定台と、 該測定台の上面から突出した被測定巻締部の外側面に接
   触する部分であって、その接触面が該巻締部の傾斜角度
   にほぼひとしい傾斜をなす基準接触部を有し、該接触部
   の先端部平面が前記スリットに対面する如く、該スリッ
   トの長手軸の延長線上で、前記測定台に固定された基準
   ブロックと、 該基準接触部上方で上下方向に移動でき、前記基板部と
   の間で被測定巻締部を挟持する測定ピンを備え、該基準
   ブロックに取付けられた巻締巾測定機構と、 該測定台の上面から突出し被測定巻締部の内側面に接触
   する面をもち、前記スリット内を該基準接触部に対し直
   角方向に移動可能な測定ブロックを備え、該基準ブロッ
   クに取付けられた巻締厚測定機構と、 該測定台上に設けられ上下方向に移動可能な測定子を備
   えた缶高測定機構とを有し、 該測定ピンと巻締部との接触部分、該基準接触部先端部
   平面と巻締部との接触部分、該測定ブロックと巻締部と
   の接触部分及び該測定子の下面と缶との接触部分が同一
   平面内に位置している ことを特徴とする缶の巻締寸法測定装置。
3. 【請求項３】水平に設置され、その上面が、缶の被測定
   巻締部が載置される基準面をなす基板部を有し、該基板
   部にはスリットと、該スリットの近傍に穿たれた貫通孔
   が設けられている測定台と、 該測定台の上面から突出し被測定巻締部の外側面に接触
   する部分であって、その接触面が該巻締部の傾斜角度に
   ほぼひとしい傾斜をなす基準接触部を有し、該接触部の
   先端部平面が前記スリットに対面する如く、該スリット
   の長手軸の延長線上で、前記測定台に固定された基準ブ
   ロックと、 該基準接触部上方で上下方向に移動でき、前記基板部と
   の間で被測定巻締部を挟持する測定ピンを備え、該基準
   ブロックに取付けられた巻締巾測定機構と、 該測定台の上面から突出し被測定巻締部の内側面に接触
   する面をもち、前記スリット内を該基準接触部に対し直
   角方向に移動可能な測定ブロックを備え、該基準ブロッ
   クに取付けられた巻締厚測定機構と、 上下動および傾斜自在且つ該測定台の貫通孔を通り、該
   基板部上面から突出して被測定巻締部カウンターシンク
   に接触する測定子を上方先端部に備え、該測定台の下面
   に設けられたカウンターシンクデプス測定機構とを有
   し、 該測定ピンと巻締部との接触部分、該基準接触部先端部
   平面と巻締部との接触部分及び該測定ブロックと巻締部
   との接触部分が同一平面内に位置している ことを特徴とする缶の巻締寸法測定装置。
4. 【請求項４】カウンターシンクデプス測定機構が、巻締
   厚測定機構の測定ブロックの移動を妨げることのない程
   度で、基準ブロックの基準接触部に近づけて設置されて
   いる特許請求の範囲第３項記載の缶の巻締寸法測定装
   置。
5. 【請求項５】水平に設置され、その上面が、缶の被測定
   巻締部が載置される基準面をなす基板部を有し、該基板
   部にはスリットと、該スリットの近傍に穿たれた貫通孔
   が設けられている測定台と、 該測定台の上面から突出し被測定巻締部の外側面に接触
   する部分であって、その接触面が該巻締部の傾斜角度に
   ほぼひとしい傾斜をなす基準接触部を有し、該接触部の
   先端部平面が前記スリットに対面する如く、該スリット
   の長手軸の延長線上で、前記測定台に固定された基準ブ
   ロックと、 該基準接触部上方で上下方向に移動でき、前記基板部と
   の間で被測定巻締部を挟持する測定ピンを備え、該基準
   ブロックに取付けられた巻締巾測定機構と、 該測定台の上面から突出し被測定巻締部の内側面に接触
   する面をもち、前記スリット内を該基準接触部に対し直
   角方向に移動可能な測定ブロックを備え、該基準ブロッ
   クに取付けられた巻締厚測定機構と、 上下動および傾斜自在且つ該測定台の貫通孔を通り、該
   基板部上面から突出して被測定巻締部カウンターシンク
   に接触する測定子を上方先端部に備え、該測定台の下面
   に設けられたカウンターシンクデプス測定機構と、 該測定台上に設けられ上下方向に移動可能な測定子を備
   えた缶高測定機構とを有し、 該測定ピンと巻締部との接触部分、該基準接触部先端部
   平面と巻締部との接触部分、該測定ブロックと巻締部と
   の接触部分及び該缶高測定機構の測定子の下面と缶との
   接触部分が同一平面内に位置している ことを特徴とする缶の巻締寸法測定装置。