JPH0776750B2 - 脱ぷ率検出装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、籾摺機に設けられ、脱ぷロールで脱ぷ処理後
の混合米から脱ぷ率を調べる脱ぷ率検出装置の改良に関
する。

（従来の技術） 従来、この種の装置としては、脱ぷロールで脱ぷ処理後
の混合米の１粒ずつに光を照射し、その光の透過量また
は反射量に応じた電気的出力を脱ぷ率検出用センサで得
るようにするとともに、その電気的出力を籾と玄米とを
判別するためにあらかじめ算出されている籾・玄米判別
値と比較し、その比較結果から籾と玄米との各個数をそ
れぞれ計数して脱ぷ率を求めるようにしたものが知られ
ている。

そして、上記の籾・玄米判別値は、ｎ個の試料を脱ぷ率
検出用センサで検出し、そのｎ個の検出値の中から最大
値を例えば籾電圧として求めるとともに最小値を例えば
玄米電圧として求め、これら両者に基づいて算出してい
た。

（発明が解決しようとする問題点） ところで、脱ぷ率検出用センサにおける検出部の機構に
起因し、試料の穀物がその検出部を正常に通過せずにそ
の一部を通過する場合がある。この場合にはその試料の
検出値は最小値になり、この異常な最小値を玄米電圧と
して籾・玄米判別電圧が算出されるので、その判別電圧
が適切でなく、もって脱ぷ率の検出精度が悪いという問
題があった。

さらに、脱ぷ率検出用センサがゴミなどの異物を検出す
る場合や粒径の大きい籾を検出する場合には、その検出
値が最大値となる。そしてこの最大値を籾電圧として籾
・玄米判別電圧が算出されるので、その判別電圧が適切
でなく、これが原因で脱ぷ率の検出精度が悪いという問
題があった。

そこで、本発明は、適切な籾・玄米判別電圧を求めるよ
うにし、もって脱ぷ率の検出精度の向上を図ることを目
的とする。

（問題点を解決するための手段） かかる目的を達成するために、本発明は以下のように構
成した。

すなわち、本発明は、脱ぷロールで脱ぷ処理された穀物
の１粒ずつに被を照射し、その光の透過量または反射量
に応じた電気信号を出力する脱プ率検出用センサでｎ粒
の穀物を検出し、そのｎ粒の検出値の中から玄米電圧と
籾電圧をそれぞれ定め、これら両電圧に基いて籾・玄米
判別値を算出し、さらに前記センサの各検出値をその算
出した籾・玄米判別値と比較して籾または玄米と判別
し、これら判別結果に基いて脱ぷ率を検出する脱ぷ率検
出装置において、 前記ｎ粒の検出値の中から上位または下位のｍ粒（ｍ
《ｎ）の検出値の平均値を求め、その平均値を前記籾電
圧として決定する籾電圧決定手段を備えてなるものであ
る。

（作用） 脱ぷ率検出用センサがｎ粒の穀物を検出するが、脱ぷロ
ールの脱ぷ率は通常80％〜90％の範囲に設定されている
ので、その検出値のうち籾にかかる籾電圧は玄米にかか
る玄米電圧に対してわずかであり、しかもその籾電圧は
上位側または下側位に偏っていると考えられる。

そこで、籾電圧決定手段は、ｎ粒の検出値の中から上位
または下位のｍ粒（ｍ《ｎ）の検出値の平均値を求め、
その平均値を籾・玄米判別値を算出する際の籾電圧と決
定する。

従って、このように籾電圧を決定すると、脱ぷ率検出用
センサが大きな粒径の籾やゴミなどの異物を検出するよ
うな場合にはその悪影響を排除でき、もって脱ぷ率の検
出精度が向上する。

（実施例） 第１図は、本発明の実施例を適用した籾摺機のブロック
図であり、図は本発明にかかる部分のみを示す。

図において、１はワンチップ形態のマイクロコンピュー
タであり、中央処理装置（CPU）、ランダム・アクセス
・メモリ（RAM）、リード・オンリ・メモリ（ROM）など
からなる。RAMは各種のデータを記憶し、ROMは後述のよ
うな各種の演算処理などの手順を記憶する。

２は籾摺機の脱ぷロール３で脱ぷ処理後の籾と玄米の混
合米の１粒ずつに光を照射し、その光の反射量または透
過量に応じた電気的信号を出力する脱ぷ率検出用センサ
であり、その電気的信号の大きさにって後述のように籾
と玄米とを判別する。この脱ぷ率検出用センサ２の出力
は、入力インタフェース４を介してマイクロコンピュー
タ１に供給する。なお、脱ぷ率検出用センサ２の出力
は、籾の場合が大きく玄米の場合が小さくなるように構
成するが、その出力がこれとは逆となるように構成する
ことも可能である。

５は脱ぷ率設定ダイヤルであり、脱ぷ率制御の際に基準
となる脱ぷ率を設定する。脱ぷロール３は、出力インタ
フェース６に接続する脱ぷロール駆動モータ７によって
駆動し、その脱ぷロール３間の間隙調節は脱ぷロール間
隙調節モータ８によって行う。

次に、以上のように構成する本発明実施例の動作につい
て説明する。

いま、籾摺機の脱ぷロール３で籾の脱ぷ処理が開始され
ると、その脱ぷ処理された籾と玄米の混合米が１粒ずつ
脱ぷ率検出用センサ２に導かれ、その脱ぷ状態に応じた
電気的信号（第２図参照）が得られ、この各信号に対応
する電圧値（データ）はRAMに順次記憶される。

第２図において、波形ａ、ｂ、ｃは籾電圧を示すととも
に、波形ｄ、ｆはセンサ２における検出部の一部を通過
した籾または玄米の異常電圧を示し、これらを除く、各
波形は玄米電圧を示す。そして、このような処理をｎ粒
の試料について行うが、ｎ粒は1000粒程度が望ましい。

次に、ｎ粒の測定が終了すると、ｎ粒の各電圧値（デー
タ）によって第３図で示すような度数分布を求める処理
を行う。

ところで、脱ぷ処理の初期には、脱ぷロール３の脱ぷ率
は90％程度に自動設定され、それ以後の脱ぷ率制御中は
脱ぷ率設定ダイヤル５で設定されている設定脱ぷ率（80
％〜90％）となる。

従って、いま設定脱ぷ率がＫ％とすれば、上述のように
検出されたｎ個の電圧値のうち下位に属するｎ・K/100
個が玄米にかかる玄米電圧であり、残りの上位に属する
ｍ＝ｎ×（100−Ｋ）/100個が籾にかかる籾電圧である
と考えられる（第４図参照）。

そこで、本発明実施例では、その上位に属するｍ個の電
圧値の平均ESと、ｎ個の電圧値の中の最小電圧値EMINと
から例えば次の式によって籾・玄米判別電圧Ｅを算出す
るようにした。

Ｅ＝EMIN＋（ES−EMIN）×0.5 このようにして籾・玄米判別電圧Ｅが算出されると、脱
ぷ率検出用センサ２からの出力信号はその判別電圧と比
較され、その比較結果に基いて脱ぷ率が求められる。

以上の実施例では、籾・玄米判別電圧を上述のように定
めるようにしたので、脱ぷ率検出用センサ２が大きな粒
径の籾を検出した場合やゴミなどの異物を検出した場合
の悪影響を排除できる。

ところで、第３図で示す最大度数における電圧値E1を玄
米電圧にするとともに、第４図で示す上位ｍ個の電圧値
の平均ESを籾電圧とし、これら両電圧から籾・玄米判別
電圧を算出できることは勿論である。

このように籾・玄米判別電圧を算出すると、脱ぷ率検出
用センサの出力信号が玄米と籾とで差のないような場合
でもその両者の判別が確実になることに加え、脱ぷ率検
出用センサが大きな粒径の籾やゴミなどの異物を検出す
る場合にはその悪影響を排除できるので、これらの作用
が相まって脱ぷ率の検出精度が格段に向上する。

次に、脱ぷ率検出用センサの他の実施例について第５図
を参照して説明する。

この脱ぷ率検出用センサ10は、第５図に示すように発光
ダイオード10Aとフォトトランジスタ10Bとを対向させ、
この両者の間を脱ぷロールで脱ぷ処理した穀物を通過さ
せるとともに、後述のように前記発光ダイオード10Aの
発光量を調節可能とする。

第５図において、11は後述のように発光ダイオード10A
の発光量などを制御するマイクロコンピュータである。
12はA/D変換器、13は発光ダイオード10Aに定電流を供給
する定電流回路、14はフォトトランジスタ10Bと接続す
る増幅器、15はトリガ回路である。

次に、このように構成する脱ぷ率検出用センサの光量調
節動作について第６図のフローチャートを参照して説明
する。

いま、脱ぷロールで脱ぷ処理が開始されると、後述する
比較の基準となる第７図で示すような初期電圧E1,E2が
それぞれ設定される（ステップS1）。

次に脱ぷ処理された穀物が１粒ずつ発光ダイオード10A
とフォトトランジスタ10Bとの間を通過すると、穀物の
脱ぷ状態に応じた電気信号がフォトトランジスタ10Bか
ら出力され、この出力信号は増幅器14で増幅されてマイ
クロコンピュータ11に供給されてその電圧値が記憶され
る。これらの動作をｎ粒の穀物について行い、そのｎ粒
の各電圧値によって第７図で示すような度数分布の処理
を行う（ステップS2）。

次に、このような度数分布から最大度数に対応する電圧
値EMAXを求め、この電圧値EMAXがステップS1で設定され
ている電圧E1とE2との範囲内にあるか否かを判定する
（ステップS3）。

その判定の結果、第７図の実線で示すように電圧値EMAX
が設定電圧E1とE2との範囲内にあるときには、発光ダイ
オード10Aに対する供給電流を何ら変更せずに光量調節
を終了する。

一方、第７図の点線で示すように最大度数に対応する電
圧値EMAXが、EMAX＞E2のときには、発光ダイオード10A
に供給する電流を増加させてその光量を増大する（ステ
ップS4）。また、EMAX＜E1のときには、発光ダイオード
10Aに供給する電流を減少させてその光量を減少する
（ステップS5）。

このような光量調節動作により、この脱ぷ率検出用セン
サ10の出力信号を籾と玄米とを判別しやすい値に自動的
に変更でき、もって穀物品種などの差異にかかわらず脱
ぷ率の検出精度を一定にすることができる。

次に、本発明の実施例を利用した籾摺り選別機について
説明する。

この籾摺り選別機は、第８図のブロック図で示すように
第１図で示した実施例に仕上米流量センサ20を増設し、
後述のような脱ぷ率制御を行うものである。

ここで、仕上米流量センサ20は、回転選別筒（図示せ
ず）で選別されて機外に排出する仕上米の単位時間あた
りの流量を検出するために、その排出路の途中に設け
る。

このように構成する籾摺り選別機では、脱ぷ率検出用セ
ンサ２の検出出力に基づいて第１図で示す実施例と同様
に脱ぷ率を検出し、その検出脱ぷ率を脱ぷ率設定ダイヤ
ル５で設定されている設定脱ぷ率と比較する。そして、
その両脱ぷ率が一致するように、脱ぷロール間隙調節モ
ータ８を正逆回転して脱ぷロール３の間隙調節を行う。

一方、仕上米流量センサ20は回転選別筒で選別されて機
外に排出される仕上げ米の単位時間あたりの流量を検出
する。そして、その検出流量が変化せずに一定のときに
は、籾摺りの選別機が安定な動作状態にあるとみなし、
脱ぷロール３の間隙調節、つまり脱ぷ率制御を停止す
る。

（発明の効果） 以上のように本発明は、脱ぷ率検出用センサでｎ粒の穀
物を検出すると、そのｎ粒の検出値の中から上位または
下位のｍ粒の平均値を求め、その平均値を籾・玄米判別
値を算出する際の籾電圧として決定するようにしたの
で、脱ぷ率検出用センサが大きな粒径の籾やゴミなどの
異物を検出するような場合にはその悪影響を排除でき、
もって脱ぷ率の検出精度が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のブロック図、第２図は脱ぷ率検出用セ
ンサの出力信号の一例を示す図、第３図，第４図は脱ぷ
率検出用センサの検出値の度数分布を示す図、第５図は
脱ぷ率検出用センサの他の実施例を示すブロック図、第
６図はその動作例を示すフローチャート、第７図はその
動作を説明する図、第８図は籾摺り選別機のブロック図
である。 １はマイクロコンピュータ、２は脱ぷ率検出用センサ、
３は脱ぷロール。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】脱ぷロールで脱ぷ処理された穀物の１粒ず
   つに光を照射し、その光の透過量または反射量に応じた
   電気信号を出力する脱ぷ率検出用センサでｎ粒の穀物を
   検出し、そのｎ粒の検出値の中から玄米電圧と籾電圧を
   それぞれ定め、これら両電圧に基いて籾・玄米判別値を
   算出し、さらに前記センサの各検出値をその算出した籾
   ・玄米判別値と比較して籾または玄米と判別し、これら
   判別結果に基いて脱ぷ率を検出する脱ぷ率検出装置にお
   いて、 前記ｎ粒の検出値の中から上位または下位のｍ粒（ｍ
   《ｎ）の検出値の平均値を求め、その平均値を前記籾電
   圧として決定する籾電圧決定手段を備えてなる脱ぷ率検
   出装置。