JPH02124450A - 脱ぷ率検出装置 - Google Patents

脱ぷ率検出装置

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JPH02124450A
JPH02124450A JP27824288A JP27824288A JPH02124450A JP H02124450 A JPH02124450 A JP H02124450A JP 27824288 A JP27824288 A JP 27824288A JP 27824288 A JP27824288 A JP 27824288A JP H02124450 A JPH02124450 A JP H02124450A
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rice
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Kosaku Maeda
耕作 前田
Koichi Hachitsuka
浩一 八塚
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Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、籾摺機に設けられ、脱桿ロールで脱桿処理後
の混合米から脱桴率を調べる脱桴率検出装置の改良に関
する。
(従来の技術) 従来、この種の装置としては、脱桴ロールで脱桴処理後
の混合米の1粒ずつに光を照射し、その光の透過量また
は反射量に応じた電気的出力を脱桴率検出用センサで得
るようにするとともに、その電気的出力を籾と玄米とを
判別するためにあらかじめ算出されている籾・玄米判別
値と比較し。
その比較結果から籾と玄米との各個数をそれぞれ計数し
て説?#率を求めるようにしたものが知られている。
そして、上記の籾・玄米判別値は、n個の試料を脱桴車
検出用センサで検出し、そのn個の検出値の中から最大
値を例えば籾電圧として求めるとともに最小値を例えば
玄米電圧として求め、これら両者に基いて算出していた
(発明が解決しようとする問題点) ところで、脱性率検出用センサにおける検出部の機構に
起因し、試料の穀物がその検出部を正常に通過せずにそ
の一部を通過する場合がある。この場合にはその試料の
検出値は最小値になり、この異常な最小値を玄米電圧と
して籾・玄米判別電圧が算出されるので、その判別電圧
が適切でなく、もって脱桴率の検出精度が悪いという問
題があった。
さらに、脱桴車検出用センサがゴミなどの異物を検出す
る場合や粒径の大きい籾を検出する場合には、その検出
値が最大値となる。そしてこの最大値を籾電圧として籾
・玄米判別電圧が算出されるので、その判別電圧が適切
でなく、これが原因で脱桴率の検出精度が悪いという問
題があった。
そこで1本発明は、適切な籾・玄米判別電圧を求めるよ
うにし、もって脱桴率の検出精度の向上を因ることを目
的とする。
(問題点を解決するための手段) かかる目的を達成するために、本発明は以下のように構
成した。
すなわち、第1発明は、脱桴ロールで脱桴処理された穀
物の1粒ずつに光を照射し、その光の透過量または反射
量に応じた電気信号を出力する脱性率検出用センサでn
粒の穀物を検出し、そのn粒の検出値の中から玄米電圧
と籾電圧をそれぞれ定め、これら両電圧に基いて籾・玄
米判別値を算出し、さらに前記センサの各検出値をその
算出した籾・玄米判別値と比較して籾または玄米と判別
し、これら判別結果に基いて脱桴率を検出する脱桴率検
出装置において、 前記n粒の検出値の度数分布を求める度数分布処理手段
と、 その求めた度数分布における最大度数の検出値を前記玄
米電圧として決定する玄米電圧決定手段と、 を備えてなるものである。
さらに第2発明は、脱桴ロールで脱桴処理された穀物の
1粒ずつに光を照射し、その光の透過績または反射量に
応じた電気信号を出力する脱桴率検出用センサでn粒の
穀物を検出し、そのn粒の検出値の中から玄米電圧と籾
電圧をそれぞれ定め、これら量電圧に基いて籾・玄米判
別値を算出し、ざらに前記センサの各検出値をその算出
した籾・玄米判別値と比較して籾または玄米と判別し、
これら判別結果に基いて脱桴率を検出する脱桴率検出装
置において、 前記n粒の検出値の中から上位または下位のm粒(m≪
n)の検出値の平均値を求め、その平均値を前記籾電圧
として決定する籾電圧決定手段を備えてなるものである
(作用) このように構成する第1発明では、脱桴車検出用センサ
がn粒の穀物を検出すると1度数分布処理手段がそのn
粒の検出値の度数分布を求める処理をする。
ところで、脱桴ロールの脱桴率は通常80%〜90%の
範囲に設定されているので、脱桴車検出用センサで検出
される検出値のうちその大部分は玄米にかかる玄米電圧
と考えられる。従って、上述で求めた度数分布において
、最大度数の検出値が玄米電圧の平均値にほぼ一致する
と考えられる(第3図参照)。
そこで、玄米電圧決定手段は、その度数分布における最
大度数の検出値を籾・玄米判別値算出時の玄米電圧とし
て決定する。
従って、このように玄米電圧を決定すると、脱桴車検出
用センサの出力信号が玄米と籾とで差がないような場合
であっても、籾と玄米との判別が確実となり、もって脱
桴率の検出精度が向上する。
次に第2発明では、脱Vf、率検出用センサがn粒の穀
物を検出するが、脱桴ロールの脱桴率は通常80%〜9
0%の範囲に設定されているので、その検出値のうち籾
にかかる籾電圧は玄米にかかる玄米電圧に対してわずか
であり、しかもその籾゛市圧は上位側または下位側に偏
っていると考えられる。
そこで、籾電圧決定手段は、n粒の検出値の中から上位
または下位のm粒(m < n )の検出値の平均値を
求め、その平均値を籾・玄米判別値を算出する際の籾電
圧と決定する。
従って、このように籾電圧を決定すると、脱桴車検出用
センサが大きな粒径の籾やゴミなどの異物を検出するよ
うな場合にはその悪影響を排除でき、もって脱桴率の検
出精度が向上する。
(実施例) 第1図は、第1発明の実施例を適用した籾摺機のブロッ
ク図であり、図は本発明にかかる部分のみを示す。
図において、lはワンチップ形態のマイクロコンピュー
タであり、中央処理装21(cptr)、ランタム・ア
クセス番メモリ(RAM)、  リードφオンφメモリ
(ROM)などからなる、RAMは各種のデータを記憶
し、ROMは後述のような各種の演算処理などの手順を
記憶する。
2は籾摺機の脱桴ロール3で脱桴処理後の籾と玄米の混
合米の1粒ずつに光を照射し、その光の反射酸または透
過量に応じた電気的信号を出力する脱桴車検出用センサ
であり、その電気的信号の大きさによって後述のように
籾と玄米とを判別する。この脱桴車検出用センサ2の出
力は、入力インタフェース41)してマイクロコンピュ
ータlに供給する。なお、脱桴車検出用センサ2の出力
は、mの場合が大きく玄米の場合が小さくなるように構
成するが、その出力がこれとは逆となるように構成する
ことも可能である。
5は脱桴率設定ダイヤルであり、脱桴率制御の際に基準
となる脱桴率を設定する。脱桴ロール3は、出力インタ
フェース6に接続する脱桴ロール駆動モータ7によって
駆動し、その脱桴ロール3間の間隙調節は脱桴ロール間
隙調節モータ8によって行う。
次に、以北のように構成する本発明実施例の動作につい
て第2図および第3図を参照して説明する。
いま、籾摺機の脱桴ロール3で籾の脱桴処理が開始され
ると、その脱桴処理された籾と玄米の混合米が1粒ずつ
脱桴車検出用センサ2に導かれ、その脱桴状態に応じた
電気的信号(第2図参照)が得られ、この各信号に対応
する電圧値(データ)はRAMに順次記憶される。
第2図において、波形a、b、cは籾電圧を示すととも
に、波形d、fはセンサ2における検出部の一部を通過
した籾または玄米の異常電圧を示し、これらを除く、各
波形は玄米電圧を示す、そして、このような処理をn粒
の試料について行うが、nは1000粒程度が望ましい
次に、n粒の測定が終了すると、n粒の各電圧値(デー
タ)によって第3図で示すような度数分布を求める処理
を行う。
ところで、脱桴処理の初期には、脱桴ロール3の脱桴率
は90%程度に自動的に設定され、それ以後の脱桴率制
御中は脱桴率設定ダイヤル5で設定されている設定脱桴
率(80%〜90%)となる、従って、上述のように検
出したn個の電圧値のうちその80%〜90%というよ
うに、その大部分は玄米にかかる玄米電圧であると考え
られる。そのため、第3図で示す度数分布において、そ
の最大度数における電圧値E1が全玄米電圧の平均値に
ほぼ一致すると考えられる。
そこで1本発明実施例では、第3図に示すようにその最
大度数における電圧値E1と、最大電圧値EMAXとか
ら例えば次の(1)式により籾・玄米判別電圧Eを算出
するようにした。
E=E1+(EMAX−El)Xo、5   (1)こ
のようにして籾・玄米判別電圧Eが算出されると、脱桴
車検出用センサ2からの出力はその判別電圧と比較され
、その出力信号゛が判別電圧よりも大きいときには籾、
また判別電圧よりも小さいときには玄米とそれぞれ計数
され、その計数結果から脱桴率を求める。
なお、籾・玄米判別電圧Eの算出は、脱桴処理開始直後
のみならず脱桴率制御中に行うようにしてもよい。
以上のように本発明実施例では、籾・玄米判別電圧Eを
上述のようにして定めるようにしたので、脱桴車検出用
センサ2から得られる籾にかかる電圧値と玄米にかかる
電圧値との両者の差があまりないような場合にも、籾と
玄米との判別が確実となり、もって脱桴率の検出精度が
向上する。
次に、第2発明の実施例について説明する。
この実施例は、そのブロック図は第1図と同様であり、
脱桴車検出用センサ2からの出力信号に基いて籾・玄米
判別電圧を算出する算出動作が第1発明の実施例と異な
るので、以下にその算出動作について説明する。
すなわち、この実施例においても脱桴車検出用センサ2
でn粒についてその各村の電圧値を算出する。そして、
この検出結果に基づく度数分布は、第4図に示すように
なる。
ところで、脱性処理の初期には、脱桴ロール3の脱桴率
は90%程度に自動設定され、それ以後の脱性率制御中
は脱桴率設定ダイヤル5で設定されている設定脱桴率(
80%〜90%)となる。
従って、いま設定脱桴率かに%とすれば、上述のように
検出されたn個の電圧値のうち下位に属するnsK%個
が玄米にかかる玄米にかかる玄米電圧であり、残りの上
位に属するm=nX(100−K)5個が籾にかかる籾
電圧であると考えられる(第4図参照)。
そこで、本発明実施例では、その上位に属するm個の電
圧値の平均EMと、n個の電圧値の中の最小電圧値EM
INとから例えば次の(2)式によって籾・玄米判別電
圧Eを算出するようにした。
E−EMIN+  (ES−EMIN)Xo  、5 
 (2)このようにして籾・玄米判別電圧Eが算出され
ると、脱桴車検出用センサ2からの出力信号はその判別
電圧と比較され、その比較結果に基いて脱桴率が求めら
れる。
以上のようにこの実施例では、籾会玄米判別電圧を上述
のように定めるようにしたので、脱桴車検出用センサ2
が大きな粒径の籾を検出した場合やゴミなどの異物を検
出した場合の悪影響を排除できる。
ところで、第3図で示す最大度数における電圧値Elを
玄米電圧にするとともに、第4図で示す上位m個の電圧
値の平均ESを籾電圧とし、これら両電圧から籾・玄米
判別電圧を算出できること勿論である。
このように籾・玄米判別電圧を算出すると、脱桴車検出
用センサの出力信号が玄米と籾とで差のないような場合
でもその両者の判別が確実になることに加え、脱桴車検
出用センサが大きな径粒の籾やゴミなどの異物を検出す
る場合にはその悪影響を排除できるので、これらの作用
が相まって脱桴率の検出精度が格段に向上する。
次に、脱桴車検出用センサの他の実施例について第5図
を参照して説明する。
この脱桴車検出用センサ10は、第5図に示すように発
光ダイオード10AとフォトトランジスタIOBとを対
向させ、この両者の間を脱桴ロールで脱性処理した穀物
を通過させるとともに、後述のように前記発光ダイオー
ドIOAの発光量を調節可滝とする。
第5因において、11は後述のように発光ダイオードI
OAの発光量などを制御するマイクロコンピュータであ
る。12はA/D変換器、13は発光ダイオードIOA
に定電流を供給する定電流回路、14はフォトトランジ
スタIOBと接続す1増幅器、15はトリガ回路である
次に、このように構成する脱桴車検出用センサの光量1
箇動作について第6図のフローチャートを参1@シて説
明する。
いま、説伴ロールで脱桴処理が開始されると。
後述する比較の基準となる第7図で示すような初期電圧
E1、E2がそれぞれ設定される(ステップS1)。
次に脱桴処理された穀物が1粒ずつ発光ダイオードIO
AとフォトトランジスタIOBとの間を通過すると、穀
物の脱桴状態に応じた電気信号がフォトトランジスタI
OBから出力され、この出力信号は増幅器14で増幅さ
れてマイクロコンピュータ11に供給されてその電圧値
が記憶される。これらの動作をn粒の穀物について行い
、そのn粒の各電圧値によって第7図で示すような度数
分布の処理を行う(ステップS2)。
次に、このような度数分布から最大度数に対応する電圧
値EMAXを求め、この電圧値EMAXがステップSt
で設定されている電圧ElとE2との範囲内にあるか否
かを判定する(ステップS3)。
その判定の結果、第7図の実線で示すように電圧値EM
AXが設定電圧E1とE2どの範囲内にあるときには、
発光ダイオードIOAに対する供給電流を何ら変更せず
に光量調節を終了する。
一方、第7図の点線で示すように最大度数に対応する電
圧(IaE M A Xが、EMAX>E2(7)とき
には、発光ダイオードIOAに供給する電流を増加させ
てその光量を増大する(ステップS4)。
また、EMAX<E 1のときには5発光ダイオー1”
 I OAに供給する電流を減少させてその光量を減少
する(ステップS5)。
このような光量調fM動作により、この脱桴車検出用セ
ンサlOの出力信号を籾と玄米とを判別しやすい値に自
動的に変更でき、もって穀物品種などの差異にかかわら
ず脱桴率の検出精度を一定にすることができる。
次に、第1発明の実施例を利用した籾摺り選別機につい
て説明する。
この籾摺り選別機は、第8図のブロック図で示すように
第1図で示した第1発明の実施例に仕上米流量センサ2
0を増設し、後述のような脱性率制御を行うものである
ここで、仕上米流量センサ20は、回転選別筒(図示せ
ず)で選別されて機外に排出する仕上米の単位時間あた
りの流量を検出するために、その排出路の途中に設ける
このように構成する籾摺り選別機では、脱性率検出用セ
ンサ2の検出出力に基づいて第1発明の実施例と同様に
脱桴率を検出し、その検出脱桴率を脱性率設定ダイヤル
5で設定されている設定脱桴率と比較する。そして、そ
の両税伴率が一致するように、脱欅ロール間隙調箇モー
タ8を正逆回転して脱桴ロール3の間隙調節を行う。
一方、仕上米流量センサ20は回転選別筒で選別されて
機外に排出される仕上米の単位時間あたりの流樋を検出
する。そして、その検出流量が変化せずに一定のときに
は、籾摺り選別機が安定な動作状態にあるとみなし、脱
桴ロール3の間隙調節、つまり脱性率制御を停止する。
(発明の効果) 以上のように第1発明では、脱性率検出用センサn粒の
穀物を検出すると、そのn粒の検出値の度数分布を求め
るとともに、その度数分布における最大度数の検出値を
籾・玄米判別値を算出する際の玄米電圧として決定する
ようにしたので、脱桴車検出用センサの出力信号が玄米
と籾とで差がない場合でも籾と玄米との判別精度が高く
なり。
もって脱桴率の検出精度が向上する。
また、第2発明では、脱性率検出用センサでn粒の穀物
を検出すると、そのn粒の検出値の中から上位または下
位のm粒の平均値を求め、その平均値を籾会玄米判別値
を算出する際の籾電圧として決定するようにしたので、
脱性率検出用センサが大きな粒径の籾やゴミなどの異物
を検出するような場合にはその悪影響を排除でき、もっ
て脱桴率の検出精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は第1発明の実施例のブロック図、第2図は脱桴
車検出用センサの出力信号の一例を示す図、第3図は脱
性率検出用センサの検出値の度数分布を示す図、第4図
は第2発明の詳細な説明するための度数分布図、第5図
は脱桴率検出用センサの他の実施例を示すブロック図、
第6図はその動作例を示すフローチャート、第7図はそ
の動作を説明する図、第8図は籾摺り選別機のブロック
図である。 1はマイクロコンピュータ、2は脱性率検出用センサ、
3は脱桴ロール。 特許出願人   井関農機株式会社 代 理 人   牧 舌部(ほか3名)第 図 第 図 第 図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、脱■ロールで脱■処理された穀物の1粒ずつに光を
    照射し、その光の透過量または反射量に応じた電気信号
    を出力する脱■率検出用センサでn粒の穀物を検出し、
    そのn粒の検出値の中から玄米電圧と籾電圧をそれぞれ
    定め、これら両電圧に基いて籾・玄米判別値を算出し、
    さらに前記センサの各検出値をその算出した籾・玄米判
    別値と比較して籾または玄米と判別し、これら判別結果
    に基いて脱■率を検出する脱■率検出装置において、 前記n粒の検出値の度数分布を求める度数 分布処理手段と、 その求めた度数分布における最大度数の検 出値を前記玄米電圧として決定する玄米電圧決定手段と
    、 を備えてなる脱■率検出装置。 2、脱■ロールで脱■処理された穀物の1粒ずつに光を
    照射し、その光の透過量または反射量に応じた電気信号
    を出力する脱■率検出用センサでn粒の穀物を検出し、
    そのn粒の検出値の中から玄米電圧と籾電圧をそれぞれ
    定め、これら両電圧に基いて籾・玄米判別値を算出し、
    さらに前記センサの各検出値をその算出した籾・玄米判
    別値と比較して籾または玄米と判別し、これら判別結果
    に基いて脱■率を検出する脱■率検出装置において、 前記n粒の検出値の中から上位または下位 のm粒(m≪n)の検出値の平均値を求め、その平均値
    を前記籾電圧として決定する籾電圧決定手段を備えてな
    る脱■率検出装置。
JP63278242A 1988-11-02 1988-11-02 脱ぷ率検出装置 Expired - Lifetime JPH0776750B2 (ja)

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JPH0776750B2 JPH0776750B2 (ja) 1995-08-16

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021062315A (ja) * 2019-10-10 2021-04-22 株式会社サタケ 穀物検査装置及び該装置を利用した栽培管理システム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6111632A (ja) * 1984-06-28 1986-01-20 Iseki & Co Ltd 脱ふ検出装置
JPS61189406A (ja) * 1985-02-19 1986-08-23 Hitachi Ltd パタ−ン2値化方法とその装置

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