JPH0731124B2 - 脱▲ふ▼率検出装置における光量調節器 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、籾摺機に設けられ、脱ロールで脱処理後
の穀物から脱率を調べる脱率検出装置の改良に関す
る。

（従来の技術） 従来、この種の装置としては、例えば発光素子と受光素
子とから反射型または透過型の脱率センサを形成する
とともに、その脱率センサに脱ロールで脱処理後
の穀物サンプルを１粒ずつ供給し、そのセンサの測定値
に基いて籾または玄米であるかを判別し、その判別結果
から脱率を求めるものが知られている。

そして、透過型の脱率センサは、例えば第７図で示す
ような等価回路で表わされ、発光素子の発光量に対する
受光出力特性は第８図で示される。従って、このような
特性のセンサでは、発光素子の発光量が多すぎると、玄
米を検出した場合に透過光量が多くなって受光出力が小
さくなり、もって脱率の検出精度が悪いという欠点が
あった。

そこで、従来はこのような欠点を解消するために、発光
素子の光量調節を行っていた。

（発明が解決しようとする課題） ところが、従来の光量調節は、その調節開始時の光量の
設定が難しいなどの問題があり、必ずしも適切なものと
はいえなかった。

本発明は、これらの点に鑑み、光量調節の適正化を実現
し、もって脱率の検出精度の向上を図ることを目的と
する。

（課題を解決するための手段） かかる目的を達成するために、本発明は、以下のように
構成した。

すなわち、本発明は、発光素子と受光素子とからなる脱
率センサに脱ロールで脱処理後の穀物サンプルを
１粒ずつ供給するとともに、脱率センサの測定値に基
いて籾または玄米であるかを判別し、その判別結果から
脱率を求める脱率検出装置において、前記発光素子
の発光量を最低値から増加する光量調節手段と、前記発
光量を増加するたびに、前記脱率センサに複数個のサ
ンプルを測定させ、その各測定値から測定分布を作成す
る測定分布作成手段と、その作成した測定分布のピーク
値が設定範囲内にあるか否かを判別し、設定範囲内に達
したときに、前記光量調節手段の光量調節を停止する光
量調節停止手段と、を備えてなるものである。

（作用） このように構成する本発明では、光量調節手段が発光素
子の発光量を最低値から増加させる。

また、この発光量が増加するたびに、測定分布作成手段
は、脱率センサに複数個のサンプルを測定させ、その
各測定値から測定分布を作成する。

そして、光量調節停止手段は、その作成された測定分布
のピーク値が脱率の検出に適切な設定範囲内にあるか
否かを判別し、設定範囲内に達したときに、光量調節手
段の光量調節を停止する。

（実施例） 第１図は、本発明実施例のブロック図である。

図において、一点鎖線で囲まれた部分は反射型の脱率
センサ１であり、脱ロール（図示せず）で脱処理さ
れて１粒ずつ供給される穀物サンプルａに光を照射し、
その光の透過量に応じた電気信号を出力する。

脱率センサ１は、電圧−電流変換回路２、定電流回路
３、および発光ダイオードのような発光素子４から発光
系を構成するとともに、ホトトランジスタのような受光
素子５、光量−電圧変換回路６、および出力回路７から
受光系を構成する。

８は制御用マイクロコンピュータであり、第２図に示す
ような制御処理を行うとともに、各種のデータを記憶す
るメモリを有する。

９はD/A変換回路、10は出力回路であり、これらは制御
用マイクロコンピュータ８の出力系を構成する。また、
11は入力回路、12はピーク値ホールド回路、13はA/D変
換回路、14は粒数検出回路であり、これらは制御用マイ
クロコンピュータ８の入力系を構成する。

次に、以上のように構成する本発明実施例の制御処理例
について第２図のフローチャートを参照して説明する。

まず、発光素子４の発光量を最低値（例えば第８図のKM
IN）にセットする（ステップS1）。

次に、脱率センサ１で穀物サンプルの測定を開始し、
その各測定値をメモリに記憶する（ステップS2）。

そして、穀物サンプルの所定粒数の測定が終了すると
（ステップS3）、その各測定値から測定分布の作成処理
を行ない（ステップS4）、これにより第３図のＡで示す
ような分布曲線を得る。

次に、その作成した測定分布のピーク値が、第３図で示
すように脱率の検出に適切な設定範囲ｘ内にあるか否
かを判別する（ステップS5）。

そして、このような処理を、発光素子４の発光量が最低
値から一定値ずつ増加しながら行い（ステップS2〜S
6）、第３図のＢで示すように測定分布のピーク値が、
設定範囲ｘ内に達すると、発光素子４の光量調節処理を
終了する（ステップS7）。

次に、本発明実施例の他の制御処理例について第４図の
フローチャートを参照して説明する。

まず、発光素子の発光量を最低値にセットする（ステッ
プS11）。次に、脱率センサ１で穀物サンプルの測定
を開始し、その各測定値をメモリに記憶する（ステップ
S12）。

そして、穀物サンプルの所定粒数が終了すると（ステッ
プS13）、その各測定値から測定分布の作成処理を行な
い（ステップS14）、これにより第５図のＡで示すよう
な分布曲線を得る。

次に、その作成した測定分布のピーク値が、第５図で示
すように許容範囲ｘ内にあるか否かを判別する（ステッ
プS15）。そして、その判別の結果が否定判別のときに
は、第５図に示すように測定分布のピーク値と許容範囲
ｘの上限との電位差ΔＶに応じて第８図で示すように発
光素子４の発光量の次回の増加量ΔＫを決定し（ステッ
プS16）、その増加量ΔＫに応じて変更光量値をセット
する（ステップS17）。

そして、このような処理を行い（ステップS12〜S17）、
第５図のＢで示すように測定分布のピーク値が、許容範
囲ｘ内に達すると、発光素子の光量調節処理を終了する
（ステップS18）。

このような制御処理によれば、光量調節を迅速かつ正確
に行うことができる。

次に、本発明実施例のさらに他の制御処理例について第
６図のフローチャートを参照して説明する。

まず、発光素子４の光量を最高値にセットするととも
に、脱率センサ１の受光出力を入力する（ステップS2
1）。

次に、発光素子４の光量を少し低下したのち（ステップ
S22）、脱率センサ１の受光出力を入力し（ステップS
23）、この受光出力が前回の値よりも高くなったか否か
を判別する（ステップS24）。

そして、発光素子４の光量が最低値になるまで受光出力
が順次増加していくときには（ステップS22〜S25）、脱
率センサ１は正常である（ステップS26）。

他方、ステップS24において、受光出力が高くならない
ときには、警報器（図示せず）が脱率センサ１が異常
である旨の警報を行う（ステップS27）。

このような制御処理によれば、脱率センサ１の電気系
の故障や受光素子４の汚れに起因する異常を監視でき、
きわめて便宜である。

（発明の効果） 以上のように本発明では、発光素子の発光量を最低値か
ら増加するとともに、その発光量を増加するたびに脱
率センサの複数の測定値から測定分布を作成し、その測
定分布のピークが値脱率を検出するのに適切な設定範
囲内に達したときに、発光素子の光量調節を行うように
したので、光量調節の適正化が実現でき、もって、脱
率の検出精度が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明実施例のブロック図、第２図はその制御
処理の一例を示すフローチャート、第３図は測定分布を
示す図、第４図は本発明実施例の他の制御処理の一例を
示すフローチャート、第５図は測定分布を示す図、第６
図は本発明実施例のさらに他の制御処理の一例を示すフ
ローチャート、第７図は脱率センサの等価回路、第８
図はその特性を示す図である。 １……脱率センサ、 ４……発光素子、５……受光素子、 ８……制御用マイクロコンピュータ、 ａ……穀物サンプル。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】発光素子と受光素子とからなる脱率セン
   サに脱ロールで脱処理後の穀物サンプルを１粒ずつ
   供給するとともに、脱率センサの測定値に基いて籾ま
   たは玄米であるかを判別し、その判別結果から脱率を
   求める脱率検出装置において、 前記発光素子の発光量を最低値から増加する光量調節手
   段と、 前記発光量を増加するたびに、前記脱率センサに複数
   個のサンプルを測定させ、その各測定値から測定分布を
   作成する測定分布作成手段と、 その作成した測定分布のピーク値が設定範囲内にあるか
   否かを判別し、設定範囲内に達したときに、前記光量調
   節手段の光量調節を停止する光量調節停止手段と、 を備えてなる光量調節器。