JPH0776745B2 - 顕微分光測定装置 - Google Patents
顕微分光測定装置Info
- Publication number
- JPH0776745B2 JPH0776745B2 JP1286891A JP28689189A JPH0776745B2 JP H0776745 B2 JPH0776745 B2 JP H0776745B2 JP 1286891 A JP1286891 A JP 1286891A JP 28689189 A JP28689189 A JP 28689189A JP H0776745 B2 JPH0776745 B2 JP H0776745B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- cassegrain
- pupil
- telescope
- objective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/02—Objectives
- G02B21/04—Objectives involving mirrors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0096—Microscopes with photometer devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lenses (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、顕微分光測定装置に関する。
顕微分光測定装置の光学系には、一般的には屈折作用を
利用したレンズ系が使用されるが、このようなレンズを
使えない波長領域（例えば軟Ｘ線〜紫外光または赤外
光）では、対物鏡として二枚の球面鏡を組み合わせたシ
ュワルツシルド型カセグレン対物鏡（以下、カセグレン
対物鏡と云う）が用いられる。
利用したレンズ系が使用されるが、このようなレンズを
使えない波長領域（例えば軟Ｘ線〜紫外光または赤外
光）では、対物鏡として二枚の球面鏡を組み合わせたシ
ュワルツシルド型カセグレン対物鏡（以下、カセグレン
対物鏡と云う）が用いられる。
一方、前記波長領域の電磁波の計測において、特に分光
スペクトルの測定においては、物点上の測定対象の光情
報の混合を避けるために、対物鏡の結像面に遮光マスク
を入れて測定対象を限定することがあるが、その場合、
前記結像面に検出素子を設置することができないため、
結像面から離れた位置に検出素子を設け、この検出素子
に対してリレー光学系を介して結像面の情報を導くよう
にしている。
スペクトルの測定においては、物点上の測定対象の光情
報の混合を避けるために、対物鏡の結像面に遮光マスク
を入れて測定対象を限定することがあるが、その場合、
前記結像面に検出素子を設置することができないため、
結像面から離れた位置に検出素子を設け、この検出素子
に対してリレー光学系を介して結像面の情報を導くよう
にしている。
しかしながら、前記リレー光学系もまた反射鏡を用いた
シュワルツシルド型カセグレン鏡が採用される。そし
て、例えば赤外顕微分光測定においては、検出素子とし
てはHg-Cd-Teの結晶が用いられるが、この種の検出素子
はその体積に反比例して感度が増大するところから、可
及的に微小に形成してある。そのため、リレー光学系は
対物鏡の結像を検出素子上に縮小投影する光学系に構成
されている。
シュワルツシルド型カセグレン鏡が採用される。そし
て、例えば赤外顕微分光測定においては、検出素子とし
てはHg-Cd-Teの結晶が用いられるが、この種の検出素子
はその体積に反比例して感度が増大するところから、可
及的に微小に形成してある。そのため、リレー光学系は
対物鏡の結像を検出素子上に縮小投影する光学系に構成
されている。
第６図は従来の顕微分光測定装置の一例を示し、この図
において、１は対物鏡としてのカセグレン対物鏡で、中
央部に開口２を有し鏡面が物点３に向かうようにして設
けられた凹面鏡からなる主鏡４と、この主鏡４と物点３
との間に位置し鏡面が主鏡４に向かうようにして設けら
れた凸面鏡からなる副鏡５とから構成されている。６は
カグレン対物鏡１の後方に設けられるカセグレン鏡より
なるリレー光学系（以下、カセグレン・リレー光学系と
云う）で、カセグレン対物鏡１の主鏡４に近い側に中央
部に開口７を有し鏡面が検出素子８に向かうようにして
設けられた凹面鏡からなる主鏡９と、この主鏡９と検出
素子８との間に位置し鏡面が主鏡９およびカセグレン対
物鏡１の副鏡５に向かうようにして設けられた凸面鏡か
らなる副鏡10とから構成されている。なお、第６図にお
いて、11は光軸であり、また、12はカセグレン対物鏡１
の結像面を示す。
において、１は対物鏡としてのカセグレン対物鏡で、中
央部に開口２を有し鏡面が物点３に向かうようにして設
けられた凹面鏡からなる主鏡４と、この主鏡４と物点３
との間に位置し鏡面が主鏡４に向かうようにして設けら
れた凸面鏡からなる副鏡５とから構成されている。６は
カグレン対物鏡１の後方に設けられるカセグレン鏡より
なるリレー光学系（以下、カセグレン・リレー光学系と
云う）で、カセグレン対物鏡１の主鏡４に近い側に中央
部に開口７を有し鏡面が検出素子８に向かうようにして
設けられた凹面鏡からなる主鏡９と、この主鏡９と検出
素子８との間に位置し鏡面が主鏡９およびカセグレン対
物鏡１の副鏡５に向かうようにして設けられた凸面鏡か
らなる副鏡10とから構成されている。なお、第６図にお
いて、11は光軸であり、また、12はカセグレン対物鏡１
の結像面を示す。
ところで、上記カセグレン対物鏡１においては、一般的
に副鏡５が瞳面として働くが、物点３から主鏡４に向か
う光は副鏡５によって遮蔽されるため、瞳面上の光束形
状は、第７図（ａ）に示すように、中心部に光束がない
中空形状になっている。この図において、Ａはカセグレ
ン対物鏡１の瞳径であり、また、Ｂは副鏡５で遮光され
る光束径を示す。このことは、カセグレン・リレー光学
系６においても同様である（第７図（ｂ）参照）。すな
わち、この図において、Ｃはカセグレン・リレー光学系
６の瞳径であり、また、Ｄは副鏡10で遮光される光束径
を示す。
に副鏡５が瞳面として働くが、物点３から主鏡４に向か
う光は副鏡５によって遮蔽されるため、瞳面上の光束形
状は、第７図（ａ）に示すように、中心部に光束がない
中空形状になっている。この図において、Ａはカセグレ
ン対物鏡１の瞳径であり、また、Ｂは副鏡５で遮光され
る光束径を示す。このことは、カセグレン・リレー光学
系６においても同様である（第７図（ｂ）参照）。すな
わち、この図において、Ｃはカセグレン・リレー光学系
６の瞳径であり、また、Ｄは副鏡10で遮光される光束径
を示す。
従って、カセグレン対物鏡１とカセグレン・リレー光学
系６とを結合して物点３から出た光束を効率よく検出素
子８上に伝えるためには、これら２つの光学系1,6にお
ける瞳A,Cの大きさと遮蔽率が一致するようにそれらの
適合性をとる必要がある。そのため、従来のこの種の顕
微分光測定装置においては、リレー光学系に対物鏡と同
じ形状（前述の例では、Ａ＝C,B＝Ｄとなるように設定
する）または相似形のカセグレン鏡を用いて瞳の適合性
をとるようにしていた。
系６とを結合して物点３から出た光束を効率よく検出素
子８上に伝えるためには、これら２つの光学系1,6にお
ける瞳A,Cの大きさと遮蔽率が一致するようにそれらの
適合性をとる必要がある。そのため、従来のこの種の顕
微分光測定装置においては、リレー光学系に対物鏡と同
じ形状（前述の例では、Ａ＝C,B＝Ｄとなるように設定
する）または相似形のカセグレン鏡を用いて瞳の適合性
をとるようにしていた。
しかしながら、こうした手段による光学系で瞳の適合性
がとれるのは、物点３が光軸11上にある場合だけで、第
６図において符号３′で示すように、光軸11を外れた物
点３′の場合には、それからの光束を効率よく検出素子
８上に結像することができない。また、倍率と開口数の
異なる対物鏡を用いたとき、その瞳の大きさと遮蔽率が
異なっていると、たとえ光軸11上の物点３からの光束で
もリレー光学系の遮蔽率が異なるため遮蔽を受けたり、
或いは、副鏡の外に光束の一部が出てしまうなどして光
束を効率よく伝えることができない。これを、第７図を
参照しながら説明する。
がとれるのは、物点３が光軸11上にある場合だけで、第
６図において符号３′で示すように、光軸11を外れた物
点３′の場合には、それからの光束を効率よく検出素子
８上に結像することができない。また、倍率と開口数の
異なる対物鏡を用いたとき、その瞳の大きさと遮蔽率が
異なっていると、たとえ光軸11上の物点３からの光束で
もリレー光学系の遮蔽率が異なるため遮蔽を受けたり、
或いは、副鏡の外に光束の一部が出てしまうなどして光
束を効率よく伝えることができない。これを、第７図を
参照しながら説明する。
第７図は第６図のように構成した顕微分光測定装置にお
けるカセグレン対物鏡１およびカセグレン・リレー光学
系６における瞳形状と、物点が光軸11上にあるときと光
軸11を外れているときにおける有効光束を示す図であ
る。
けるカセグレン対物鏡１およびカセグレン・リレー光学
系６における瞳形状と、物点が光軸11上にあるときと光
軸11を外れているときにおける有効光束を示す図であ
る。
すなわち、同図（ａ），（ｂ）は、すでに説明したよう
に、カセグレン対物鏡1,カセグレン・リレー光学系６に
おける瞳形状を示している。そして、光軸11上の物点３
に対する瞳A,Cの重ね合わせを行ったときにおけるカセ
グレン・リレー光学系６の瞳上へのカセグレン対物鏡１
の瞳の投影は、既に説明したように、Ａ＝C,B＝Ｄであ
るから、同図（ｃ）に示すようになり、このときの検出
素子８へ伝搬する有効光束は同図（ｄ）に示すようにな
る。この図において、格子部分Ｅは有効光束を示し、ま
た、白抜きの部分Ｆは遮光部分を示す。一方、光軸11を
外れた物点３′に対する瞳A,Cの重ね合わせを行ったと
きは、カセグレン・リレー光学系６の瞳上へのカセグレ
ン対物鏡１の瞳の投影は同図（ｅ）に示すようになり、
このときの検出素子８における有効光束は同図（ｆ）に
示すようになる。この図において、格子部分Ｅ′は有効
光束を示すが、前記格子部分Ｅに比べてかなり狭くなっ
ている。また、白抜きの部分Ｆ′は遮光部分を示すが、
前記白抜きの部分Ｆに比べてかなり広くなっている。
に、カセグレン対物鏡1,カセグレン・リレー光学系６に
おける瞳形状を示している。そして、光軸11上の物点３
に対する瞳A,Cの重ね合わせを行ったときにおけるカセ
グレン・リレー光学系６の瞳上へのカセグレン対物鏡１
の瞳の投影は、既に説明したように、Ａ＝C,B＝Ｄであ
るから、同図（ｃ）に示すようになり、このときの検出
素子８へ伝搬する有効光束は同図（ｄ）に示すようにな
る。この図において、格子部分Ｅは有効光束を示し、ま
た、白抜きの部分Ｆは遮光部分を示す。一方、光軸11を
外れた物点３′に対する瞳A,Cの重ね合わせを行ったと
きは、カセグレン・リレー光学系６の瞳上へのカセグレ
ン対物鏡１の瞳の投影は同図（ｅ）に示すようになり、
このときの検出素子８における有効光束は同図（ｆ）に
示すようになる。この図において、格子部分Ｅ′は有効
光束を示すが、前記格子部分Ｅに比べてかなり狭くなっ
ている。また、白抜きの部分Ｆ′は遮光部分を示すが、
前記白抜きの部分Ｆに比べてかなり広くなっている。
つまり、光軸11を外れた物点３′の場合には、それから
の光束を効率よく検出素子８上に結像することができな
いことが判る。
の光束を効率よく検出素子８上に結像することができな
いことが判る。
この瞳の適合性を解決する手段として、上記カセグレン
・リレー光学系６に代えて、放物面鏡や楕円面鏡を用い
ることが考えられる。
・リレー光学系６に代えて、放物面鏡や楕円面鏡を用い
ることが考えられる。
ところで、リレー光学系は、カセグレン対物鏡１からの
光束を検出素子８に伝えるものであるから、その像側の
開口数は対物鏡の開口数と同じかそれより大きくなけれ
ばならない。一方、既に説明したように、検出素子８は
その大きさが小さいものほど有利であるから、リレー光
学系の縮小率は小さい。
光束を検出素子８に伝えるものであるから、その像側の
開口数は対物鏡の開口数と同じかそれより大きくなけれ
ばならない。一方、既に説明したように、検出素子８は
その大きさが小さいものほど有利であるから、リレー光
学系の縮小率は小さい。
例えば検出素子８の大きさを直径250μｍ、測定最大視
野を直径250μｍ、カセグレン対物鏡Ｋの倍率を15倍、
物点３側の開口数を0.3とすると、カセグレン対物鏡１
の像側の開口数は0.02、像の大きさは直径3.75mmとな
る。これを第８図に示すように、カセグレン対物鏡１か
らの光束を楕円面鏡14で受けて、検出素子８上に結像さ
せようとすると、軸はずし楕円面鏡14の短焦点側の焦点
距離を50mmとした場合、縮小倍率は1/15であるからその
長焦点側の焦点距離は750mmとなる。また、最大像高
（物点３上で125μｍ）の光束の主光線のカセグレン対
物鏡１の瞳から結像面12までの光軸に対する角度を0.5
°とすると、楕円面鏡14上での主光線の高さは約6.5mm
となり、この場合、開口数が0.02であるから、この物点
３からの光束径は約30mmとなり、楕円面鏡14に要求され
る有効径は43mm以上となり、装置が大型化する。
野を直径250μｍ、カセグレン対物鏡Ｋの倍率を15倍、
物点３側の開口数を0.3とすると、カセグレン対物鏡１
の像側の開口数は0.02、像の大きさは直径3.75mmとな
る。これを第８図に示すように、カセグレン対物鏡１か
らの光束を楕円面鏡14で受けて、検出素子８上に結像さ
せようとすると、軸はずし楕円面鏡14の短焦点側の焦点
距離を50mmとした場合、縮小倍率は1/15であるからその
長焦点側の焦点距離は750mmとなる。また、最大像高
（物点３上で125μｍ）の光束の主光線のカセグレン対
物鏡１の瞳から結像面12までの光軸に対する角度を0.5
°とすると、楕円面鏡14上での主光線の高さは約6.5mm
となり、この場合、開口数が0.02であるから、この物点
３からの光束径は約30mmとなり、楕円面鏡14に要求され
る有効径は43mm以上となり、装置が大型化する。
そして、楕円面鏡14の長焦点側の焦点距離は、リレー光
学系としての楕円面鏡14の縮小倍率を小さくするほど長
くなり、装置全体が大型化すると共に、特に、赤外顕微
鏡の場合、カセグレン対物鏡１からの光が光路における
空気中の炭酸ガスや水蒸気の吸収を受けるといった不都
合があるので、楕円面鏡14の使用は好ましくない。ま
た、赤外光以外の顕微鏡においても、装置の小型化とい
った点から、楕円面鏡14の使用は好ましくない。
学系としての楕円面鏡14の縮小倍率を小さくするほど長
くなり、装置全体が大型化すると共に、特に、赤外顕微
鏡の場合、カセグレン対物鏡１からの光が光路における
空気中の炭酸ガスや水蒸気の吸収を受けるといった不都
合があるので、楕円面鏡14の使用は好ましくない。ま
た、赤外光以外の顕微鏡においても、装置の小型化とい
った点から、楕円面鏡14の使用は好ましくない。
なお、上記楕円面鏡14の使用に代えて、放物面鏡を使う
ことが考えられるが、上述の例によれば焦点距離が750m
mと50mmの２つの放物面鏡が必要となり、楕円面鏡14の
使用の場合と同様の問題点がある。
ことが考えられるが、上述の例によれば焦点距離が750m
mと50mmの２つの放物面鏡が必要となり、楕円面鏡14の
使用の場合と同様の問題点がある。
本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
目的とするところは、大型のリレー光学系を用いること
なく、光軸上の物点からの光束は勿論のこと、光軸を外
れた物点からの光束でも検出素子に対して効率よく伝え
ることができる顕微分光測定装置を提供することにあ
る。
目的とするところは、大型のリレー光学系を用いること
なく、光軸上の物点からの光束は勿論のこと、光軸を外
れた物点からの光束でも検出素子に対して効率よく伝え
ることができる顕微分光測定装置を提供することにあ
る。
上述の目的を達成するため、本発明に係る顕微分光測定
装置は、カセグレン対物鏡の結像面より後方にリレー光
学系として逆望遠鏡を設けると共に、この逆望遠鏡から
の光束を集光し検出素子において結像させる放物面鏡を
設け、更に、前記カセグレン対物鏡と前記逆望遠鏡との
間には、カセグレン対物鏡における光束遮蔽率が逆望遠
鏡における光束遮蔽率より大きく、かつ、光軸上の物点
に対するカセグレン対物鏡の瞳の投影像が逆望遠鏡の瞳
径と同じかそれより小さく、かつ、光軸上の物点に対す
るカセグレン対物鏡の瞳上での光束遮蔽径の逆望遠鏡の
瞳上での投影像が逆望遠鏡の瞳上での光束遮蔽径と同じ
かそれより大きい、という関係が成り立つようにした点
に特徴がある。
装置は、カセグレン対物鏡の結像面より後方にリレー光
学系として逆望遠鏡を設けると共に、この逆望遠鏡から
の光束を集光し検出素子において結像させる放物面鏡を
設け、更に、前記カセグレン対物鏡と前記逆望遠鏡との
間には、カセグレン対物鏡における光束遮蔽率が逆望遠
鏡における光束遮蔽率より大きく、かつ、光軸上の物点
に対するカセグレン対物鏡の瞳の投影像が逆望遠鏡の瞳
径と同じかそれより小さく、かつ、光軸上の物点に対す
るカセグレン対物鏡の瞳上での光束遮蔽径の逆望遠鏡の
瞳上での投影像が逆望遠鏡の瞳上での光束遮蔽径と同じ
かそれより大きい、という関係が成り立つようにした点
に特徴がある。
上記特徴構成よりなる本発明の顕微分光測定装置におい
ては、リレー光学系としての逆望遠鏡における光束遮蔽
率がカセグレン対物鏡における光束遮蔽率より小さいた
め、カセグレン対物鏡に対して画角が大きくなる物点か
らの光束についても、逆望遠鏡の遮蔽による光束の遮光
量が小さくなり、検出素子に対して光束を効率よく伝え
ることができる。また、倍率と物点側開口数の異なるカ
セグレン対物鏡に対しても逆望遠鏡の光束遮蔽率が小さ
いため対応することができ、検出素子に対して光束を効
率よく伝えることができる。
ては、リレー光学系としての逆望遠鏡における光束遮蔽
率がカセグレン対物鏡における光束遮蔽率より小さいた
め、カセグレン対物鏡に対して画角が大きくなる物点か
らの光束についても、逆望遠鏡の遮蔽による光束の遮光
量が小さくなり、検出素子に対して光束を効率よく伝え
ることができる。また、倍率と物点側開口数の異なるカ
セグレン対物鏡に対しても逆望遠鏡の光束遮蔽率が小さ
いため対応することができ、検出素子に対して光束を効
率よく伝えることができる。
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
以下の説明において、第６図〜第８図における符号と同
一符号は同一物または相当物を示す。
以下の説明において、第６図〜第８図における符号と同
一符号は同一物または相当物を示す。
第１図は本発明の一実施例に係る顕微分光測定装置の構
成を示すもので、この図において、20はカセグレン対物
鏡１の結像面12より後方に設けられるリレー光学系とし
てのカセグレン逆望遠鏡である。ここで、逆望遠鏡と
は、通常の望遠鏡の光学系における配置を逆にしたもの
で、望遠鏡の焦点距離に相当する位置に結像面を置き、
この結像面から発した光束を平行光束として射出するよ
うに構成したもので、図示例はカセグレン望遠鏡を逆配
置してなるものである。
成を示すもので、この図において、20はカセグレン対物
鏡１の結像面12より後方に設けられるリレー光学系とし
てのカセグレン逆望遠鏡である。ここで、逆望遠鏡と
は、通常の望遠鏡の光学系における配置を逆にしたもの
で、望遠鏡の焦点距離に相当する位置に結像面を置き、
この結像面から発した光束を平行光束として射出するよ
うに構成したもので、図示例はカセグレン望遠鏡を逆配
置してなるものである。
このカセグレン逆望遠鏡20は、正の焦点距離を有する凹
面鏡からなる主鏡21と、負の焦点距離を有する凸面鏡か
らなる副鏡22とで構成されており、主鏡21はその中央部
に開口23を有しその鏡面がカセグレン対物鏡１とは反対
方向に向かうようにして設けられている。また、副鏡22
は主鏡21の焦点位置よりやや主鏡21よりの位置において
その鏡面が主鏡21の鏡面およびカセグレン対物鏡１方向
に向かうようにして設けられいる。従って、カセグレン
対物鏡１の副鏡５からの光束はカセグレン逆望遠鏡20の
副鏡22において主鏡21方向に反射され、更に、主鏡21に
入射した光束は主鏡21から平行光束となって射出され
る。
面鏡からなる主鏡21と、負の焦点距離を有する凸面鏡か
らなる副鏡22とで構成されており、主鏡21はその中央部
に開口23を有しその鏡面がカセグレン対物鏡１とは反対
方向に向かうようにして設けられている。また、副鏡22
は主鏡21の焦点位置よりやや主鏡21よりの位置において
その鏡面が主鏡21の鏡面およびカセグレン対物鏡１方向
に向かうようにして設けられいる。従って、カセグレン
対物鏡１の副鏡５からの光束はカセグレン逆望遠鏡20の
副鏡22において主鏡21方向に反射され、更に、主鏡21に
入射した光束は主鏡21から平行光束となって射出され
る。
24は前記カセグレン逆望遠鏡20の後方に設けられる放物
面鏡で、その焦点位置に検出素子８が設けられている。
従って、カセグレン逆望遠鏡20からの平行光束は放物面
鏡24によって収束されて検出素子８に入射され、検出素
子８において所定の像を結ぶ。
面鏡で、その焦点位置に検出素子８が設けられている。
従って、カセグレン逆望遠鏡20からの平行光束は放物面
鏡24によって収束されて検出素子８に入射され、検出素
子８において所定の像を結ぶ。
而して、上記構成の顕微分光測定装置において、物点３
を発した光束はカセグレン対物鏡１の主鏡４に入射する
が、このとき瞳としての副鏡５によって前記光束の一部
が遮蔽される。この副鏡５における光束の遮蔽率はシュ
ワルツシルド型カセグレン対物鏡１では0.3〜0.4と大き
い。主鏡４において反射した光束は副鏡５において反射
してカセグレン対物鏡１の結像面12において結像する。
を発した光束はカセグレン対物鏡１の主鏡４に入射する
が、このとき瞳としての副鏡５によって前記光束の一部
が遮蔽される。この副鏡５における光束の遮蔽率はシュ
ワルツシルド型カセグレン対物鏡１では0.3〜0.4と大き
い。主鏡４において反射した光束は副鏡５において反射
してカセグレン対物鏡１の結像面12において結像する。
そして、前記結像面12を通過した光束はカセグレン逆望
遠鏡20の副鏡22に入射し、その鏡面において反射した光
束は主鏡21に入射し、この主鏡21から平行光束となって
射出される。この平行光束は放物面鏡24によって収束さ
れ、検出素子８の結像面上において、カセグレン対物鏡
１の結像面12における像に比べて縮小された像を結ぶ。
遠鏡20の副鏡22に入射し、その鏡面において反射した光
束は主鏡21に入射し、この主鏡21から平行光束となって
射出される。この平行光束は放物面鏡24によって収束さ
れ、検出素子８の結像面上において、カセグレン対物鏡
１の結像面12における像に比べて縮小された像を結ぶ。
ところで、カセグレン逆望遠鏡20においてはその副鏡22
が瞳となるが、この副鏡22における光束遮蔽率を前記カ
セグレン対物鏡１の副鏡５における光束遮蔽率より小さ
くなるように、例えば0.3以下にする。これと共に、光
軸11上の物点３に対するカセグレン対物鏡１の瞳の投影
像がカセグレン逆望遠鏡20の瞳径と同じかそれより小さ
く、かつ、光軸11上の物点３に対するカセグレン対物鏡
１の瞳上での光束遮蔽径のカセグレン逆望遠鏡20の瞳上
での投影像がカセグレン逆望遠鏡20の瞳上での光束遮蔽
径と同じかそれより大きくなるように設定する。このよ
うにすることにより、カセグレン対物鏡１に対して画角
が大きくなる光軸11を外れた物点３′からの光束につい
ても、カセグレン逆望遠鏡20の遮蔽による光束の遮光量
が小さくなり、検出素子８に対して光束を効率よく伝え
ることができる。また、倍率と物点側開口数の異なるカ
セグレン対物鏡１に対してもカセグレン逆望遠鏡20の光
束遮蔽率が小さいため対応することができ、光束を効率
よく伝えることができる。
が瞳となるが、この副鏡22における光束遮蔽率を前記カ
セグレン対物鏡１の副鏡５における光束遮蔽率より小さ
くなるように、例えば0.3以下にする。これと共に、光
軸11上の物点３に対するカセグレン対物鏡１の瞳の投影
像がカセグレン逆望遠鏡20の瞳径と同じかそれより小さ
く、かつ、光軸11上の物点３に対するカセグレン対物鏡
１の瞳上での光束遮蔽径のカセグレン逆望遠鏡20の瞳上
での投影像がカセグレン逆望遠鏡20の瞳上での光束遮蔽
径と同じかそれより大きくなるように設定する。このよ
うにすることにより、カセグレン対物鏡１に対して画角
が大きくなる光軸11を外れた物点３′からの光束につい
ても、カセグレン逆望遠鏡20の遮蔽による光束の遮光量
が小さくなり、検出素子８に対して光束を効率よく伝え
ることができる。また、倍率と物点側開口数の異なるカ
セグレン対物鏡１に対してもカセグレン逆望遠鏡20の光
束遮蔽率が小さいため対応することができ、光束を効率
よく伝えることができる。
第２図は上述のように設定したときにおけるカセグレン
対物鏡１とカセグレン逆望遠鏡20との瞳の関係並びに物
点が光軸11上にあるときと光軸11を外れているときにお
ける有効光束を示す図である。
対物鏡１とカセグレン逆望遠鏡20との瞳の関係並びに物
点が光軸11上にあるときと光軸11を外れているときにお
ける有効光束を示す図である。
すなわち、同図（ａ），（ｂ）はカセグレン対物鏡１と
カセグレン逆望遠鏡20の瞳形状を示し、そして、光軸11
上の物点３に対する瞳A,Cの重ね合わせを行ったときに
おけるカセグレン逆望遠鏡20の瞳上へのカセグレン対物
鏡１の瞳の投影は同図（ｃ）に示すようになる。このと
きのカセグレン対物鏡１のカグレン逆望遠鏡20瞳上での
有効光束が同図（ｄ）に示すようになる。カセグレン逆
望遠鏡20における光束遮蔽率がカセグレン対物鏡１の光
束遮蔽率よりも小さいため、このときの有効光束Ｅは第
７図（ｄ）に示すものと同じ大きさになる。一方、光軸
11を外れた物点３′に対する瞳A,Cの重ね合わせを行っ
たときにおけるカセグレン逆望遠鏡20の瞳上へのカセグ
レン対物鏡１の瞳の投影は同図（ｅ）に示すようにな
り、前述したように、カセグレン逆望遠鏡20における光
束遮蔽率がカセグレン対物鏡１の光束遮蔽率よりも小さ
いため、このときの有効光束Ｅ′は同図（ｆ）に示すよ
うになり、これは第７図（ｆ）に示すものと比べて大き
くなる。
カセグレン逆望遠鏡20の瞳形状を示し、そして、光軸11
上の物点３に対する瞳A,Cの重ね合わせを行ったときに
おけるカセグレン逆望遠鏡20の瞳上へのカセグレン対物
鏡１の瞳の投影は同図（ｃ）に示すようになる。このと
きのカセグレン対物鏡１のカグレン逆望遠鏡20瞳上での
有効光束が同図（ｄ）に示すようになる。カセグレン逆
望遠鏡20における光束遮蔽率がカセグレン対物鏡１の光
束遮蔽率よりも小さいため、このときの有効光束Ｅは第
７図（ｄ）に示すものと同じ大きさになる。一方、光軸
11を外れた物点３′に対する瞳A,Cの重ね合わせを行っ
たときにおけるカセグレン逆望遠鏡20の瞳上へのカセグ
レン対物鏡１の瞳の投影は同図（ｅ）に示すようにな
り、前述したように、カセグレン逆望遠鏡20における光
束遮蔽率がカセグレン対物鏡１の光束遮蔽率よりも小さ
いため、このときの有効光束Ｅ′は同図（ｆ）に示すよ
うになり、これは第７図（ｆ）に示すものと比べて大き
くなる。
また、カセグレン対物鏡１の倍率や開口数が変わった場
合、一般的にその瞳の大きさは変わるが、遮蔽率はあま
り変化しない。このときのカセグレン逆望遠鏡20へのカ
セグレン対物鏡１の瞳の投影および有効光束を第３図
（ａ）から（ｆ）に示す。この図において、（ａ）から
（ｆ）までの各図は第２図における（ａ）から（ｆ）ま
での各図に対応している。そして、この第３図に示す例
ではカセグレン対物鏡１の瞳の外形の遮蔽部の径は小さ
くなっているが、カセグレン逆望遠鏡20の瞳での遮蔽径
はそれよりも小さくなっているので、光軸11上または光
軸11外の物点3,または３′からの光束に対して大きな遮
蔽をきたすことがない。
合、一般的にその瞳の大きさは変わるが、遮蔽率はあま
り変化しない。このときのカセグレン逆望遠鏡20へのカ
セグレン対物鏡１の瞳の投影および有効光束を第３図
（ａ）から（ｆ）に示す。この図において、（ａ）から
（ｆ）までの各図は第２図における（ａ）から（ｆ）ま
での各図に対応している。そして、この第３図に示す例
ではカセグレン対物鏡１の瞳の外形の遮蔽部の径は小さ
くなっているが、カセグレン逆望遠鏡20の瞳での遮蔽径
はそれよりも小さくなっているので、光軸11上または光
軸11外の物点3,または３′からの光束に対して大きな遮
蔽をきたすことがない。
このように、上述の実施例においては、光軸11上の物点
３からの光束は勿論のこと、光軸11を外れた物点３′か
らの光束でも検出素子８に対して効率よく伝えることが
できる。そして、カセグレン逆望遠鏡20の焦点距離が小
さいので、カセグレン対物鏡１とカセグレン逆望遠鏡20
との間の距離が小さくなり、それだけコンパクトな顕微
分光測定装置が得られる。
３からの光束は勿論のこと、光軸11を外れた物点３′か
らの光束でも検出素子８に対して効率よく伝えることが
できる。そして、カセグレン逆望遠鏡20の焦点距離が小
さいので、カセグレン対物鏡１とカセグレン逆望遠鏡20
との間の距離が小さくなり、それだけコンパクトな顕微
分光測定装置が得られる。
上述の実施例では、リレー光学系としてカセグレン逆望
遠鏡20を用いていたが、このカセグレン逆望遠鏡20に代
えて、第４図および第５図にそれぞれ示すような逆望遠
鏡を用いてもよい。
遠鏡20を用いていたが、このカセグレン逆望遠鏡20に代
えて、第４図および第５図にそれぞれ示すような逆望遠
鏡を用いてもよい。
すなわち、第４図はリレー光学系としてグレゴリー逆望
遠鏡30を用いた例を示し、このグレゴリー逆望遠鏡30
は、正の焦点距離を有する凹面鏡からなる主鏡31と、正
の焦点距離を有する凹面鏡からなる副鏡32とで構成され
ており、主鏡31はその中央部に開口33を有しその鏡面が
カセグレン対物鏡１とは反対方向に向かうようにして設
けられている。また、副鏡32は主鏡31の焦点位置よりや
や放物面鏡24よりの位置においてその鏡面が主鏡31の鏡
面およびカセグレン対物鏡１方向に正対するようにして
設けられている。
遠鏡30を用いた例を示し、このグレゴリー逆望遠鏡30
は、正の焦点距離を有する凹面鏡からなる主鏡31と、正
の焦点距離を有する凹面鏡からなる副鏡32とで構成され
ており、主鏡31はその中央部に開口33を有しその鏡面が
カセグレン対物鏡１とは反対方向に向かうようにして設
けられている。また、副鏡32は主鏡31の焦点位置よりや
や放物面鏡24よりの位置においてその鏡面が主鏡31の鏡
面およびカセグレン対物鏡１方向に正対するようにして
設けられている。
また、第５図はリレー光学系としてニュートン逆望遠鏡
40を用いた例を示し、このニュートン逆望遠鏡40は、正
の焦点距離を有する凹面鏡からなる主鏡41と、平面鏡か
らなる副鏡42とで構成されており、副鏡42がその鏡面が
カセグレン対物鏡１の副鏡５に向かうようにして光軸11
に斜めに配置されている。また、主鏡41は副鏡５からの
光束が検出素子８に向かうようにその鏡面が光軸11と平
行になるように設けられている。
40を用いた例を示し、このニュートン逆望遠鏡40は、正
の焦点距離を有する凹面鏡からなる主鏡41と、平面鏡か
らなる副鏡42とで構成されており、副鏡42がその鏡面が
カセグレン対物鏡１の副鏡５に向かうようにして光軸11
に斜めに配置されている。また、主鏡41は副鏡５からの
光束が検出素子８に向かうようにその鏡面が光軸11と平
行になるように設けられている。
上記第４図および第５図に示す顕微分光測定装置の動作
は、第１図に示すものと同様であるのでその説明は省略
する。
は、第１図に示すものと同様であるのでその説明は省略
する。
以上説明したように、本発明においては、カセグレン対
物鏡の結像面より後方にリレー光学系として逆望遠鏡を
設けると共に、この逆望遠鏡からの光束を集光し検出素
子において結像させる放物面鏡を設け、更に、前記カセ
グレン対物鏡と前記逆望遠鏡との間には、カセグレン対
物鏡における光束遮蔽率が逆望遠鏡における光束遮蔽率
より大きく、かつ、光軸上の物点に対するカセグレン対
物鏡の瞳の投影像が逆望遠鏡の瞳径と同じかそれより小
さく、かつ、光軸上の物点に対するカセグレン対物鏡の
瞳上での光束遮蔽径の逆望遠鏡の瞳上での投影像が逆望
遠鏡の瞳上での光束遮蔽径と同じかそれより大きい、と
いう関係が成り立つようにしているので、光軸上の物点
からの光束は勿論のこと、光軸を外れた物点からの光束
でも検出素子に対して効率よく伝えることができる。そ
して、逆望遠鏡を構成する２つの鏡による合成焦点距離
は長いものの光路長そのものは短いので、カセグレン対
物鏡と逆望遠鏡との間の距離が小さくなり、それだけコ
ンパクトな顕微分光測定装置が得られる。従って、カセ
グレン対物鏡からの光が光路における空気中の炭酸ガス
や水蒸気の吸収による影響をより小さくすることがで
き、精度の高い測定を行うことができる。
物鏡の結像面より後方にリレー光学系として逆望遠鏡を
設けると共に、この逆望遠鏡からの光束を集光し検出素
子において結像させる放物面鏡を設け、更に、前記カセ
グレン対物鏡と前記逆望遠鏡との間には、カセグレン対
物鏡における光束遮蔽率が逆望遠鏡における光束遮蔽率
より大きく、かつ、光軸上の物点に対するカセグレン対
物鏡の瞳の投影像が逆望遠鏡の瞳径と同じかそれより小
さく、かつ、光軸上の物点に対するカセグレン対物鏡の
瞳上での光束遮蔽径の逆望遠鏡の瞳上での投影像が逆望
遠鏡の瞳上での光束遮蔽径と同じかそれより大きい、と
いう関係が成り立つようにしているので、光軸上の物点
からの光束は勿論のこと、光軸を外れた物点からの光束
でも検出素子に対して効率よく伝えることができる。そ
して、逆望遠鏡を構成する２つの鏡による合成焦点距離
は長いものの光路長そのものは短いので、カセグレン対
物鏡と逆望遠鏡との間の距離が小さくなり、それだけコ
ンパクトな顕微分光測定装置が得られる。従って、カセ
グレン対物鏡からの光が光路における空気中の炭酸ガス
や水蒸気の吸収による影響をより小さくすることがで
き、精度の高い測定を行うことができる。
第１図は本発明の一実施例に係る顕微分光測定装置を示
す構成図である。 第２図および第３図は第１図に示す装置におけるカセグ
レン対物鏡とカセグレン逆望遠鏡との瞳の関係並びに物
点が光軸上にあるときと光軸を外れているときにおける
有効光束を示す図である。 第４図および第５図はそれぞれ本発明の他の実施例に係
る顕微分光測定装置を示す構成図である。 第６図は従来の顕微分光測定装置を示す構成図である。 第７図は第６図に示す装置におけるカセグレン対物鏡と
カセグレン逆望遠鏡との瞳の関係並びに物点が光軸上に
あるときと光軸を外れているときにおける有効光束を示
す図である。 第８図は従来の顕微分光測定装置を示す構成図である。 １……カセグレン対物鏡、８……検出素子、12……結像
面、20……逆望遠鏡（カセグレン逆望遠鏡）、24……放
物面鏡、30……逆望遠鏡（グレゴリー逆望遠鏡）、40…
…逆望遠鏡（ニュートン逆望遠鏡）。
す構成図である。 第２図および第３図は第１図に示す装置におけるカセグ
レン対物鏡とカセグレン逆望遠鏡との瞳の関係並びに物
点が光軸上にあるときと光軸を外れているときにおける
有効光束を示す図である。 第４図および第５図はそれぞれ本発明の他の実施例に係
る顕微分光測定装置を示す構成図である。 第６図は従来の顕微分光測定装置を示す構成図である。 第７図は第６図に示す装置におけるカセグレン対物鏡と
カセグレン逆望遠鏡との瞳の関係並びに物点が光軸上に
あるときと光軸を外れているときにおける有効光束を示
す図である。 第８図は従来の顕微分光測定装置を示す構成図である。 １……カセグレン対物鏡、８……検出素子、12……結像
面、20……逆望遠鏡（カセグレン逆望遠鏡）、24……放
物面鏡、30……逆望遠鏡（グレゴリー逆望遠鏡）、40…
…逆望遠鏡（ニュートン逆望遠鏡）。
Claims (1)
- 【請求項１】対物鏡としてカセグレン対物鏡を用いた顕
微分光測定装置において、前記カセグレン対物鏡の結像
面より後方にリレー光学系として逆望遠鏡を設けると共
に、この逆望遠鏡からの光束を集光し検出素子において
結像させる放物面鏡を設け、更に、前記カセグレン対物
鏡と前記逆望遠鏡との間には、カセグレン対物鏡におけ
る光束遮蔽率が逆望遠鏡における光束遮蔽率より大き
く、かつ、光軸上の物点に対するカセグレン対物鏡の瞳
の投影像が逆望遠鏡の瞳径と同じかそれより小さく、か
つ、光軸上の物点に対するカセグレン対物鏡の瞳上での
光束遮蔽径の逆望遠鏡の瞳上での投影像が逆望遠鏡の瞳
上での光束遮蔽径と同じかそれより大きい、という関係
が成り立つようにしたことを特徴とする顕微分光測定装
置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1286891A JPH0776745B2 (ja) | 1989-11-03 | 1989-11-03 | 顕微分光測定装置 |
| EP90120608A EP0433613B1 (en) | 1989-11-03 | 1990-10-26 | Microscopic spectrometer with Cassegrain objective |
| DE69010868T DE69010868T2 (de) | 1989-11-03 | 1990-10-26 | Mikroskop-Spektrometer mit Cassegrain-Objektiv. |
| US07/607,307 US5136422A (en) | 1989-11-03 | 1990-10-31 | Reflective optical system for a microscopic spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1286891A JPH0776745B2 (ja) | 1989-11-03 | 1989-11-03 | 顕微分光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03148044A JPH03148044A (ja) | 1991-06-24 |
| JPH0776745B2 true JPH0776745B2 (ja) | 1995-08-16 |
Family
ID=17710340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1286891A Expired - Fee Related JPH0776745B2 (ja) | 1989-11-03 | 1989-11-03 | 顕微分光測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5136422A (ja) |
| EP (1) | EP0433613B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0776745B2 (ja) |
| DE (1) | DE69010868T2 (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05134192A (ja) * | 1991-05-02 | 1993-05-28 | Hughes Aircraft Co | 多数の同時機能を有する光学系 |
| US5631770A (en) * | 1994-05-26 | 1997-05-20 | Hughes Danbury Optical Systems, Inc. | Reflective scanning telescopic system on single optical bench |
| US5737137A (en) * | 1996-04-01 | 1998-04-07 | The Regents Of The University Of California | Critical illumination condenser for x-ray lithography |
| GB9711366D0 (en) * | 1997-06-02 | 1997-07-30 | Pilkington Perkin Elmer Ltd | Optical imaging system |
| GB9810341D0 (en) * | 1998-05-15 | 1998-07-15 | Pilkington Perkin Elmer Ltd | Optical imaging system |
| US6577443B2 (en) * | 1998-05-30 | 2003-06-10 | Carl-Zeiss Stiftung | Reduction objective for extreme ultraviolet lithography |
| FR2845487B1 (fr) * | 2002-10-08 | 2005-06-10 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de collecte de lumiere, amplificateur, achromatique et d'absorption reduite, particulierement adapte a l'analyse spectrometrique optique |
| JP4378140B2 (ja) * | 2003-09-17 | 2009-12-02 | キヤノン株式会社 | 照明光学系及び露光装置 |
| FR2867282B1 (fr) * | 2004-03-03 | 2006-05-26 | Sagem | Microscope optique a fort grandissement utilisable dans l'extreme ultraviolet |
| CN1314991C (zh) * | 2005-03-21 | 2007-05-09 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 离轴抛物面聚焦镜的安装调试方法 |
| EP1936421A1 (en) * | 2007-09-18 | 2008-06-25 | Carl Zeiss SMT AG | Catadioptric optical system and catadioptric optical element |
| EP2182412A1 (en) * | 2008-11-04 | 2010-05-05 | ASML Netherlands B.V. | Radiation source and lithographic apparatus |
| AU2011237325B2 (en) | 2010-04-09 | 2015-06-04 | Northeastern University | A tunable laser-based infrared imaging system and method of use thereof |
| JP5008012B2 (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-22 | レーザーテック株式会社 | 検査装置、及び検査方法 |
| CN102721677B (zh) * | 2012-06-15 | 2014-11-05 | 中国科学院物理研究所 | 一种非共线光参量放大荧光光谱仪 |
| US20140118819A1 (en) * | 2012-10-31 | 2014-05-01 | Corning Incorporated | Optical device, imaging system which incorporates the optical device and method implemented by the imaging system for imaging a specimen |
| EP3686642A1 (en) * | 2019-01-24 | 2020-07-29 | Depixus | Multichannel close-up imaging device |
| CN115826212B (zh) * | 2022-11-04 | 2025-07-11 | 中国人民解放军国防科技大学 | 一种基于多面共体光学元件的紧凑型无焦系统 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2212211A (en) * | 1938-02-17 | 1940-08-20 | August H Pfund | Apparatus for detecting and measuring heteroatomic gases |
| US3040176A (en) * | 1959-01-26 | 1962-06-19 | Siemens Ag | Hot box detector |
| US2995973A (en) * | 1959-10-23 | 1961-08-15 | Barnes Eng Co | In-line spectrometer |
| DE2462110B2 (de) * | 1974-08-07 | 1977-05-12 | Ausscheidung aus: 24 37 984 Wilhelm Will KG, Optisches Werk, 6331 Nauborn | Verfahren zur steigerung der foerderlichen vergroesserung eines optischen mikroskopes und mikroskop zur durchfuehrung des verfahrens |
| US4101195A (en) * | 1977-07-29 | 1978-07-18 | Nasa | Anastigmatic three-mirror telescope |
| DE3214269A1 (de) * | 1982-04-17 | 1983-10-20 | Zeiss Carl Fa | Gekuehlte feldoptik fuer infrarotteleskope |
| DE3303140A1 (de) * | 1983-01-31 | 1984-08-02 | Bruker Analytische Meßtechnik GmbH, 7512 Rheinstetten | Infrarot-spektrometer |
| JPS60200133A (ja) * | 1984-03-24 | 1985-10-09 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線検知装置 |
| JPS60200134A (ja) * | 1984-03-24 | 1985-10-09 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線検知装置 |
| US4716293A (en) * | 1986-05-16 | 1987-12-29 | Harrick Nicolas J | Accessory for infrared emission spectroscopy |
| US4852955A (en) * | 1986-09-16 | 1989-08-01 | Laser Precision Corporation | Microscope for use in modular FTIR spectrometer system |
| US4922104A (en) * | 1987-11-30 | 1990-05-01 | 501 Hitachi, Ltd. | Infrared microspectrometer |
-
1989
- 1989-11-03 JP JP1286891A patent/JPH0776745B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-10-26 EP EP90120608A patent/EP0433613B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-10-26 DE DE69010868T patent/DE69010868T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-10-31 US US07/607,307 patent/US5136422A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5136422A (en) | 1992-08-04 |
| DE69010868T2 (de) | 1995-02-23 |
| EP0433613B1 (en) | 1994-07-20 |
| JPH03148044A (ja) | 1991-06-24 |
| EP0433613A1 (en) | 1991-06-26 |
| DE69010868D1 (de) | 1994-08-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0776745B2 (ja) | 顕微分光測定装置 | |
| US4240707A (en) | All-reflective three element objective | |
| US4653880A (en) | Reflective beam splitting objective | |
| JPH04350818A (ja) | 共焦点光学系 | |
| US4664515A (en) | Optical system of a radiation thermometer | |
| US9377612B2 (en) | IR microscope with image field curvature compensation, in particular with additional illumination optimization | |
| JPH0721586B2 (ja) | 像形成光学装置 | |
| US6115175A (en) | UV image forming optical system | |
| KR101916494B1 (ko) | 현미 관찰용 광학 장치 | |
| US4098549A (en) | Eye bottom camera | |
| JP4510399B2 (ja) | 反射光学系、及びそれを用いた投影装置 | |
| JP2008530786A (ja) | シュワルツシルト対物鏡を使用してフォトマスクの縮写像を投影する装置 | |
| JPH08327892A (ja) | 測距用赤外線投光系 | |
| JPH09250966A (ja) | 反射率測定装置 | |
| JPH07113948A (ja) | 焦点検出装置 | |
| JPH08152554A (ja) | 光分岐光学系 | |
| US7477438B2 (en) | Optical imaging system for imaging at least two planes of a light beam spaced apart in the beam direction | |
| WO2001046657A1 (en) | Catadioptric optical relay system for spectrometers | |
| IL26836A (en) | Devices for signal observation for photography in an enclosed space and especially in bubble cells | |
| US10743765B2 (en) | Miniature imaging system for ophthalmic laser beam delivery system | |
| KR100250142B1 (ko) | 노광장치용 반사형 광학계 | |
| JPH11201913A (ja) | 傷検査装置 | |
| JP3145787B2 (ja) | 干渉計のアライメント装置 | |
| JPH03130639A (ja) | Ｍｔｆ測定装置の光軸整合方法 | |
| JPS5827110A (ja) | 焦点検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |