JPH077660B2 - 大気圧イオン化質量分析計 - Google Patents
大気圧イオン化質量分析計Info
- Publication number
- JPH077660B2 JPH077660B2 JP59096450A JP9645084A JPH077660B2 JP H077660 B2 JPH077660 B2 JP H077660B2 JP 59096450 A JP59096450 A JP 59096450A JP 9645084 A JP9645084 A JP 9645084A JP H077660 B2 JPH077660 B2 JP H077660B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- atmospheric pressure
- sample
- mass spectrometer
- ion
- pressure ionization
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/14—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、大気圧イオン化質量分析計に係り、特に、長
時間安定にイオンを引き出すのに好適なイオン源構造を
有する大気圧イオン化質量分析計に関する。
時間安定にイオンを引き出すのに好適なイオン源構造を
有する大気圧イオン化質量分析計に関する。
従来の大気圧イオン化質量分析計は、イオン発生部と試
料導入部が同一場所にあるため、試料導入のさいにイオ
ン発生部が汚染され、この汚染がイオンの生成効率に悪
い影響を及ぼし、長時間イオンを安定に引きだす上で支
障があつた。例えば、大気圧イオン化質量分析計では、
イオン発生部には針電極によるコロナ放電が良く用いら
れる。〔例えば質量分析、Vol.31,No.1,p.87〜95（198
3）。〕この装置を第１図に示したが、これからわかる
ように、針電極は試料の導入路に位置しているため、気
体である試料自体に針電極を汚染しやすい物質が含まれ
ていると、針電極の先端が汚染される。特に、針電極の
先端に絶縁物が付着すると、針先端まわりの電界に悪影
響を及ぼし、イオンの発生が阻害される可能性がある。
第１図では、針電極によるコロナ放電の例をあげたが、
他のイオン源でも、イオン発生部の汚染は同様な悪影響
を及ぼすと考えられる。
料導入部が同一場所にあるため、試料導入のさいにイオ
ン発生部が汚染され、この汚染がイオンの生成効率に悪
い影響を及ぼし、長時間イオンを安定に引きだす上で支
障があつた。例えば、大気圧イオン化質量分析計では、
イオン発生部には針電極によるコロナ放電が良く用いら
れる。〔例えば質量分析、Vol.31,No.1,p.87〜95（198
3）。〕この装置を第１図に示したが、これからわかる
ように、針電極は試料の導入路に位置しているため、気
体である試料自体に針電極を汚染しやすい物質が含まれ
ていると、針電極の先端が汚染される。特に、針電極の
先端に絶縁物が付着すると、針先端まわりの電界に悪影
響を及ぼし、イオンの発生が阻害される可能性がある。
第１図では、針電極によるコロナ放電の例をあげたが、
他のイオン源でも、イオン発生部の汚染は同様な悪影響
を及ぼすと考えられる。
本発明の目的は、大気圧イオン化質量分析計において、
イオンを長時間安定に引き出すことができるイオン源構
造を提供することにある。
イオンを長時間安定に引き出すことができるイオン源構
造を提供することにある。
大気圧イオン化質量分析計において、イオン発生部の中
枢である電極を試料の導入路に置かないようにする。す
なわち、試料導入部とイオン発生部を別個にしたイオン
源構造により、長時間、イオンを安定に引き出すように
した。
枢である電極を試料の導入路に置かないようにする。す
なわち、試料導入部とイオン発生部を別個にしたイオン
源構造により、長時間、イオンを安定に引き出すように
した。
以下、本発明の実施例を図により説明する。
第２図は本発明の一実施例を示している。イオン発生部
は、大気圧イオン化質量分析計のイオンを分析計に導入
するための細孔に対向しており、試料導入部はイオン発
生部と直交したような形状をとつている。試料導入部か
ら導入された試料は、イオン発生部と細孔の間にきたと
き、イオン発生部から生じたイオンと混合されて、イオ
ン化され、細孔にその一部が導入され、質量分析され
る。
は、大気圧イオン化質量分析計のイオンを分析計に導入
するための細孔に対向しており、試料導入部はイオン発
生部と直交したような形状をとつている。試料導入部か
ら導入された試料は、イオン発生部と細孔の間にきたと
き、イオン発生部から生じたイオンと混合されて、イオ
ン化され、細孔にその一部が導入され、質量分析され
る。
第３図は本発明の第２の実施例を示している。大気圧イ
オン化質量分析計の細孔の軸に対して、イオン発生部と
試料導入部が対称に配置され、イオンと試料が混合され
その後、試料がイオン化され、細孔にその一部が導入さ
れ、質量分析される。
オン化質量分析計の細孔の軸に対して、イオン発生部と
試料導入部が対称に配置され、イオンと試料が混合され
その後、試料がイオン化され、細孔にその一部が導入さ
れ、質量分析される。
第４図は本発明の第３の実施例を示している。大気圧イ
オン化質量分析計の細孔上にイオン発生部が存在し、イ
オン発生部と細孔の間に試料導入部の一部が存在するよ
うな構造である。
オン化質量分析計の細孔上にイオン発生部が存在し、イ
オン発生部と細孔の間に試料導入部の一部が存在するよ
うな構造である。
第５図は本発明の第４の実施例を示している。第１〜３
例はイオン発生部、試料導入部とも大気圧下に存在した
場合であるが、イオン発生部だけを大気圧下におき、試
料導入部は、大気圧イオン化質量分析計の差動排気部に
位置させることも可能である。この場合は、イオン発生
部から生じたイオンは細孔を通して、差動排気部に入
り、その中で試料と混合しイオン化され、余剰ガスはポ
ンプで排気される。生じたイオンの一部は第２番目の細
孔を通して、分析部に入り、質量分析される。
例はイオン発生部、試料導入部とも大気圧下に存在した
場合であるが、イオン発生部だけを大気圧下におき、試
料導入部は、大気圧イオン化質量分析計の差動排気部に
位置させることも可能である。この場合は、イオン発生
部から生じたイオンは細孔を通して、差動排気部に入
り、その中で試料と混合しイオン化され、余剰ガスはポ
ンプで排気される。生じたイオンの一部は第２番目の細
孔を通して、分析部に入り、質量分析される。
以上述べてきたイオン発生部にはコロナ放電や高周波誘
導によるイオン化などが使用できることは言うまでもな
い。コロナ放電によるイオン源は第図６に示した。コロ
ナ放電は、ガス穴のあいたパイプに対して、針電極を絶
縁体を介して支持し、針電極に高圧をかけることによ
り、イオンをうる。試料導入装置には液体試料を導入す
る場合には２つの方式がとられる。ひとつは、超音波振
動子を利用したもの、もうひとつは、細管を用いたもの
である。超音波振動子を用いた霧化装置の動作原理は第
７図および第８図通りである。第７図において、ノズル
本体４とナツト８により固定された電歪振動子は高周波
電源により励振され、この振動がノズル本体４中の液体
に伝わり、オレフイス孔３から噴出する液体に振動効果
を及ぼすものである。ここで振動子は２個の素子が銀ペ
ースト電極にて直列に接続された構造であり、電気的に
並列駆動され低励起電圧で電歪振動が大きくとれるよう
に工夫している。ノズル本体４から生じた霧滴は窒素の
キヤリアガスとともに加熱された石英管を通つて微細化
される。また、細管を用いた霧化装置の動作原理は以下
の通りである。（第４図参照）この試料導入装置では、
内径0.15mm程度のステンレスパイプを銅ブロツクに銀口
一付けし、銅ブロツク自体７を加熱できるようにしてあ
る。細管から生じた霧滴はガス導入口６から導入された
窒素ガスなどを衝突され、その後、加熱した石英管を通
すようにしてある。
導によるイオン化などが使用できることは言うまでもな
い。コロナ放電によるイオン源は第図６に示した。コロ
ナ放電は、ガス穴のあいたパイプに対して、針電極を絶
縁体を介して支持し、針電極に高圧をかけることによ
り、イオンをうる。試料導入装置には液体試料を導入す
る場合には２つの方式がとられる。ひとつは、超音波振
動子を利用したもの、もうひとつは、細管を用いたもの
である。超音波振動子を用いた霧化装置の動作原理は第
７図および第８図通りである。第７図において、ノズル
本体４とナツト８により固定された電歪振動子は高周波
電源により励振され、この振動がノズル本体４中の液体
に伝わり、オレフイス孔３から噴出する液体に振動効果
を及ぼすものである。ここで振動子は２個の素子が銀ペ
ースト電極にて直列に接続された構造であり、電気的に
並列駆動され低励起電圧で電歪振動が大きくとれるよう
に工夫している。ノズル本体４から生じた霧滴は窒素の
キヤリアガスとともに加熱された石英管を通つて微細化
される。また、細管を用いた霧化装置の動作原理は以下
の通りである。（第４図参照）この試料導入装置では、
内径0.15mm程度のステンレスパイプを銅ブロツクに銀口
一付けし、銅ブロツク自体７を加熱できるようにしてあ
る。細管から生じた霧滴はガス導入口６から導入された
窒素ガスなどを衝突され、その後、加熱した石英管を通
すようにしてある。
以上は液体試料を導入する場合であるが、気体であれば
導入パイプを設置するだけでよい。
導入パイプを設置するだけでよい。
本発明によれば、イオン発生部と試料導入部を別個にし
ているので、試料導入のさい、イオン発生部の中枢であ
る電極を試料による汚染から防げるので、イオンを安定
に長時間引き出すのに適している。
ているので、試料導入のさい、イオン発生部の中枢であ
る電極を試料による汚染から防げるので、イオンを安定
に長時間引き出すのに適している。
第１図は従来の針電極を用いたコロナ放電による大気圧
イオン化質量分析計の構成図、第２図ないし第６図はイ
オン発生部と試料導入部を別個にした本発明による大気
圧イオン化質量分析計の各実施例の構成図、第７図およ
び第８図は超音波振動子を用いた霧化装置を示す断面図
である。 １…電歪振動子、２…端子、３…オリフイス、４…ノズ
ル、５…石英管、６…ガス導入口、７…加熱ブロツク、
８…ナツト、９…試料導入口。
イオン化質量分析計の構成図、第２図ないし第６図はイ
オン発生部と試料導入部を別個にした本発明による大気
圧イオン化質量分析計の各実施例の構成図、第７図およ
び第８図は超音波振動子を用いた霧化装置を示す断面図
である。 １…電歪振動子、２…端子、３…オリフイス、４…ノズ
ル、５…石英管、６…ガス導入口、７…加熱ブロツク、
８…ナツト、９…試料導入口。
Claims (1)
- 【請求項１】大気圧下で霧化された液体試料もしくは気
体試料を送出する大気圧下に配置された試料導入部と、
大気圧下でイオンを発生する大気圧下に配置されたイオ
ン発生部と、細孔を介してイオン化された試料を導入し
て質量分析する真空に排気された質量分析部とを有する
大気圧イオン化質量分析計において、前記イオン発生部
は大気圧成分をイオン化しイオン流を生成するものであ
り、前記イオン発生部のコロナ放電用の電極は、前記試
料導入部から送出された試料の流路から外れた位置に配
置され、前記イオン流と前記の送出された試料とが前記
細孔の近傍において合流して、前記イオン流と前記の送
出された試料が混合され、試料がイオン化されることを
特徴とする大気圧イオン化質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59096450A JPH077660B2 (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 大気圧イオン化質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59096450A JPH077660B2 (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 大気圧イオン化質量分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60241634A JPS60241634A (ja) | 1985-11-30 |
| JPH077660B2 true JPH077660B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=14165353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59096450A Expired - Lifetime JPH077660B2 (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 大気圧イオン化質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077660B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06310091A (ja) * | 1993-04-26 | 1994-11-04 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析計 |
| GB2328074B (en) | 1997-08-06 | 2001-11-07 | Masslab Ltd | Ion source for a mass analyser and method of cleaning an ion source |
| GB0316628D0 (en) * | 2003-07-16 | 2003-08-20 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5840761A (ja) * | 1981-09-02 | 1983-03-09 | Hitachi Ltd | 二次イオン質量分析計 |
| JPS5930996Y2 (ja) * | 1983-03-09 | 1984-09-03 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置のイオン源装置 |
-
1984
- 1984-05-16 JP JP59096450A patent/JPH077660B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60241634A (ja) | 1985-11-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |