JPS62202450A - 高周波誘導結合プラズマ・質量分析計 - Google Patents
高周波誘導結合プラズマ・質量分析計Info
- Publication number
- JPS62202450A JPS62202450A JP61043591A JP4359186A JPS62202450A JP S62202450 A JPS62202450 A JP S62202450A JP 61043591 A JP61043591 A JP 61043591A JP 4359186 A JP4359186 A JP 4359186A JP S62202450 A JPS62202450 A JP S62202450A
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- Japan
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- plasma
- mass spectrometer
- high frequency
- ionized
- inductive coupling
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- Pending
Links
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Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、高周波誘導結合プラズマと質量分析計を結合
させてなる高周波誘導結合プラズマ・質量分析計に関す
る。
させてなる高周波誘導結合プラズマ・質量分析計に関す
る。
〈従来の技術〉
高側″a誘導結合プラズマ・買1分析計は、高周波誘導
結合プラズマを用いて試料を励起させ、生じたイオンを
ノズルとスキマーからなるインターフェースを介して質
量分析計に導いて電気的に検出し該イオン量を精密に測
定することにより、試ズマ・質量分析計の要部構成説明
図であり、図中、1は高周波誘導コイル、2は高周波電
源、3はアース、4はノズル、5はスキマ、6は高周波
誘導結合プラズマである。この図において、高周波誘導
コイル1の中には高周波電源2によって高周波電流が流
され、該コイル1の周囲に高周波磁界(図示せず)が形
成されている。この高周波磁界の近傍でアルゴンガス中
に電子かイオンが植え付けられると、該高周波磁界によ
って瞬時プラズマ6が生ずる。このプラズマ内のイオン
は、ノズル4を介してスキマー5内に引き出されるよう
になる。
結合プラズマを用いて試料を励起させ、生じたイオンを
ノズルとスキマーからなるインターフェースを介して質
量分析計に導いて電気的に検出し該イオン量を精密に測
定することにより、試ズマ・質量分析計の要部構成説明
図であり、図中、1は高周波誘導コイル、2は高周波電
源、3はアース、4はノズル、5はスキマ、6は高周波
誘導結合プラズマである。この図において、高周波誘導
コイル1の中には高周波電源2によって高周波電流が流
され、該コイル1の周囲に高周波磁界(図示せず)が形
成されている。この高周波磁界の近傍でアルゴンガス中
に電子かイオンが植え付けられると、該高周波磁界によ
って瞬時プラズマ6が生ずる。このプラズマ内のイオン
は、ノズル4を介してスキマー5内に引き出されるよう
になる。
然し乍ら、上記従来例においては、高周波誘導結合プラ
ズマ6内で試料中の被測定元素等が完全にイオン化され
るものではなく、一部はイオン化されないままノズル4
を経由してスキマ5内に引き出されていた。このため、
イオン化されない元素等(原子)をスキマ5内に引き出
す過程でイオン化できれば、上記質量分析計で検出され
るイオン量が増大し、究極的に高周波誘導結合プラズマ
・質量分析計の感度を高めることができるようになる。
ズマ6内で試料中の被測定元素等が完全にイオン化され
るものではなく、一部はイオン化されないままノズル4
を経由してスキマ5内に引き出されていた。このため、
イオン化されない元素等(原子)をスキマ5内に引き出
す過程でイオン化できれば、上記質量分析計で検出され
るイオン量が増大し、究極的に高周波誘導結合プラズマ
・質量分析計の感度を高めることができるようになる。
〈発明が解決しようとする問題点〉
本発明はかかる状況に鑑みてなされたものであり、その
目的は、試料中の被測定元素等を高感度に分析できる高
周波誘導結合プラズマ・質量分析計を提供することにあ
る。
目的は、試料中の被測定元素等を高感度に分析できる高
周波誘導結合プラズマ・質量分析計を提供することにあ
る。
く問題点を解決するための手段〉
上述のような問題点を解決する本発明の特徴は、高周波
誘導結合プラズマ・質量分析計において、スキマーの先
端部付近に設置した電極に一定電圧を印加して放電を生
じさせ、プラズマ内でイオン化した残りの原子を該放電
によってイオン化させるようにしたことにある。
誘導結合プラズマ・質量分析計において、スキマーの先
端部付近に設置した電極に一定電圧を印加して放電を生
じさせ、プラズマ内でイオン化した残りの原子を該放電
によってイオン化させるようにしたことにある。
〈実施例〉
以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第1
図は本発明実施例の要部構成説明図であり、図中、第3
図と同一記号は同一意味をもたせて使用し、ここでの重
複説明は省略する。また、51は一端がスキマー5の外
壁所定部分に着設された例えばセラミックのような絶縁
材料でなる脚、52は脚51の池端に着設された電極、
53は所望の電圧に調整可能でありWL極52に一定電
圧(例えばプラス数十ボルト)を印加する可変電圧電源
である。
図は本発明実施例の要部構成説明図であり、図中、第3
図と同一記号は同一意味をもたせて使用し、ここでの重
複説明は省略する。また、51は一端がスキマー5の外
壁所定部分に着設された例えばセラミックのような絶縁
材料でなる脚、52は脚51の池端に着設された電極、
53は所望の電圧に調整可能でありWL極52に一定電
圧(例えばプラス数十ボルト)を印加する可変電圧電源
である。
このような構成からなる本発明実施例において、可変電
圧電源53から電極52に一定電圧(例えばプラス数十
ボルト)が印加されると、該電極に向かって電子が加速
され、該電子のエネルギーが周囲の原子のイオン化エネ
ルギー(又は励起エネルギー)よりも大きくなる。この
ため、電極52の周辺即ちスキマ5の先端部周辺に放電
が生じて発光するようになる。一方、高周波誘導結合プ
ラズマ6内のイオンと一緒に該プラズマ内でイオン化さ
れなかった原子(被測定元素等)も、ノズル4内に引き
出され、上記放電部分を通過する。このため、上記プラ
ズマ6内でイオン化されなかった原子が、上記放電によ
ってイオン化されるようになる。この結果、スキマ5内
に引出されるイオンの量は、上記プラズマ6内のイオン
量よりも多くなり、究極的に高周波誘導結合プラズマ・
質量分析計の感度が高くなる。
圧電源53から電極52に一定電圧(例えばプラス数十
ボルト)が印加されると、該電極に向かって電子が加速
され、該電子のエネルギーが周囲の原子のイオン化エネ
ルギー(又は励起エネルギー)よりも大きくなる。この
ため、電極52の周辺即ちスキマ5の先端部周辺に放電
が生じて発光するようになる。一方、高周波誘導結合プ
ラズマ6内のイオンと一緒に該プラズマ内でイオン化さ
れなかった原子(被測定元素等)も、ノズル4内に引き
出され、上記放電部分を通過する。このため、上記プラ
ズマ6内でイオン化されなかった原子が、上記放電によ
ってイオン化されるようになる。この結果、スキマ5内
に引出されるイオンの量は、上記プラズマ6内のイオン
量よりも多くなり、究極的に高周波誘導結合プラズマ・
質量分析計の感度が高くなる。
第2図は、本発明実施例の全体的な構成説明図であり、
図中、第1図と同一記号は同一意味をもたせて使用し、
ここでの重複説明は省略する。また、7はアルゴンガス
供給源、8はガス調節器、9は試料を貯留する槽、1o
は試料を霧化するネプライザ、11は霧化されたエアロ
ゾル試料がアルゴンガスによって搬入される中心管11
aと補助アルゴンガスが流される外側管11bとアルゴ
ン冷却ガスが流される最外側管11cとからなる例えば
三重管間心構造のプラズマトーチ、I2は例えばI t
orrまで吸引して排気する回転ポンプ、13は例えば
10−’torrまで吸引して排気する拡散ポンプ、1
4はイオンポンプ、15は4本の金属製柱状電極が平行
に保持されてなる四m極、16は二次電子増倍管、17
は信号処理部である。このような構成からなる本発明の
実施例において、プラズマトーチ11の外側管11bお
よび最外側管11cにガス調整器8を介してアルゴンガ
スが供給される。また中心管11aにはネプライザ10
からエアロゾル試料がアルゴンガスによって搬入され、
高周波誘導コイル1の周囲に形成される高周波磁界の作
用で第1図の高周波誘導結合プラズマ6が生ずる。この
プラズマ内のイオンはノズル4を介してスキマ5内に引
出されてのち、四m極15で検出される。該検出信号は
二次電子増倍管16で増幅されてのち信号処理部17に
送出され、究極的に試料の良好な分析値を与えるように
なる。尚、本発明は上述の実施例に限定されることなく
種々の変形や可能であり、例えば四m極15に代えて他
の質量分析計検出器を配設してもよいものとする。
図中、第1図と同一記号は同一意味をもたせて使用し、
ここでの重複説明は省略する。また、7はアルゴンガス
供給源、8はガス調節器、9は試料を貯留する槽、1o
は試料を霧化するネプライザ、11は霧化されたエアロ
ゾル試料がアルゴンガスによって搬入される中心管11
aと補助アルゴンガスが流される外側管11bとアルゴ
ン冷却ガスが流される最外側管11cとからなる例えば
三重管間心構造のプラズマトーチ、I2は例えばI t
orrまで吸引して排気する回転ポンプ、13は例えば
10−’torrまで吸引して排気する拡散ポンプ、1
4はイオンポンプ、15は4本の金属製柱状電極が平行
に保持されてなる四m極、16は二次電子増倍管、17
は信号処理部である。このような構成からなる本発明の
実施例において、プラズマトーチ11の外側管11bお
よび最外側管11cにガス調整器8を介してアルゴンガ
スが供給される。また中心管11aにはネプライザ10
からエアロゾル試料がアルゴンガスによって搬入され、
高周波誘導コイル1の周囲に形成される高周波磁界の作
用で第1図の高周波誘導結合プラズマ6が生ずる。この
プラズマ内のイオンはノズル4を介してスキマ5内に引
出されてのち、四m極15で検出される。該検出信号は
二次電子増倍管16で増幅されてのち信号処理部17に
送出され、究極的に試料の良好な分析値を与えるように
なる。尚、本発明は上述の実施例に限定されることなく
種々の変形や可能であり、例えば四m極15に代えて他
の質量分析計検出器を配設してもよいものとする。
〈発明の効果〉
以上詳しく説明したような本発明によれば、スキマーの
先端部付近に設置した電極に一定電圧を印加して放電を
生じさせることにより高周波誘導結合プラズマでイオン
化されない原子をイオン化させるような構成であるため
、前記従来例よりも感度の高い高周波誘導結合プラズマ
・質量分析計が実現する。
先端部付近に設置した電極に一定電圧を印加して放電を
生じさせることにより高周波誘導結合プラズマでイオン
化されない原子をイオン化させるような構成であるため
、前記従来例よりも感度の高い高周波誘導結合プラズマ
・質量分析計が実現する。
4、 図面のll1iI$な説明
第1図は本発明実施例の要部構成説明図、第2図は本発
明実施例の全体的な構成説明図、第3図は従来例の要部
構成説明図である。
明実施例の全体的な構成説明図、第3図は従来例の要部
構成説明図である。
1・・・高周波誘導コ・イル、2・・・高周波電源、4
・・・ノズル、5・・・スキマ、6・・・プラズマ、7
・・・アルゴンガス供給源、8・・・ガス調節器、9・
・・試料槽、10・・・ネプライザ、11・・・プラズ
マトーチ、12〜14・・・ポンプ、51・・・脚、5
2・・・電極、53・・・可変電圧電源。
・・・ノズル、5・・・スキマ、6・・・プラズマ、7
・・・アルゴンガス供給源、8・・・ガス調節器、9・
・・試料槽、10・・・ネプライザ、11・・・プラズ
マトーチ、12〜14・・・ポンプ、51・・・脚、5
2・・・電極、53・・・可変電圧電源。
莞1図
5]
第3図
Claims (2)
- (1)高周波誘導結合プラズマと質量分析計とを結合さ
せてなる高周波誘導結合プラズマ・質量分析計において
、スキマーの先端部付辺に電極を設置し、該電極に一定
電圧を印加して放電を生じさせ、プラズマ内でイオン化
した残りの原子を、前記放電によってイオン化させるよ
うにしたことを特徴とする高周波誘導結合プラズマ・質
量分析計。 - (2)前記一定電圧は、前記スキマーの外部に設けられ
た可変電圧電源から印加される特許請求範囲第(1)項
記載の高周波誘導結合プラズマ・質量分析計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61043591A JPS62202450A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | 高周波誘導結合プラズマ・質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61043591A JPS62202450A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | 高周波誘導結合プラズマ・質量分析計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62202450A true JPS62202450A (ja) | 1987-09-07 |
Family
ID=12668035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61043591A Pending JPS62202450A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | 高周波誘導結合プラズマ・質量分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62202450A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01144555A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ分析計 |
JPH01304651A (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-08 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
JPH02121254A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
JPH02123658A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-11 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
JPH03504059A (ja) * | 1988-06-03 | 1991-09-05 | ファイソンズ・ピーエルシー | 高分解能プラズマ質量スペクトロメータ |
-
1986
- 1986-02-28 JP JP61043591A patent/JPS62202450A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01144555A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ分析計 |
JPH01304651A (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-08 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
JPH03504059A (ja) * | 1988-06-03 | 1991-09-05 | ファイソンズ・ピーエルシー | 高分解能プラズマ質量スペクトロメータ |
JPH02121254A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
JPH02123658A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-11 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
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