JPH0644007Y2 - イオン処理装置 - Google Patents
イオン処理装置Info
- Publication number
- JPH0644007Y2 JPH0644007Y2 JP14616688U JP14616688U JPH0644007Y2 JP H0644007 Y2 JPH0644007 Y2 JP H0644007Y2 JP 14616688 U JP14616688 U JP 14616688U JP 14616688 U JP14616688 U JP 14616688U JP H0644007 Y2 JPH0644007 Y2 JP H0644007Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion source
- coil
- source chamber
- current
- magnetic field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 (ア)技術分野 この考案はマイクロ波と磁界とを用いてプラズマを発生
させ、これをイオンビームとして取り出すイオン源に於
て、イオンビーム電流の均一性を高める事のできるイオ
ン処理装置に関する。
させ、これをイオンビームとして取り出すイオン源に於
て、イオンビーム電流の均一性を高める事のできるイオ
ン処理装置に関する。
(イ)従来技術 第4図に従来例にかかるECR型イオン源の略構成図を示
す。
す。
円筒形のイオン源チヤンバ1の周囲にコイル2がある。
コイル2によりイオン源チヤンバ1の軸方向に磁場Bが
生ずる。マイクロ波発振器5から生じたマイクロ波が導
波管3を伝搬し、誘電体3を通つてイオン源チヤンバ1
の中へ入る。
コイル2によりイオン源チヤンバ1の軸方向に磁場Bが
生ずる。マイクロ波発振器5から生じたマイクロ波が導
波管3を伝搬し、誘電体3を通つてイオン源チヤンバ1
の中へ入る。
イオン源チヤンバ1はいつたん真空に引かれた後、ガス
導入系9からイオン化すべきガスが導入される。
導入系9からイオン化すべきガスが導入される。
磁場Bによつて、電子はqB/2πmの周波数のサイクロト
ロン運動をする。これをサイクロトロン周波数という。
これとマイクロ波の周波数とをほぼ等しくしておく。
ロン運動をする。これをサイクロトロン周波数という。
これとマイクロ波の周波数とをほぼ等しくしておく。
すると、電子は共鳴してマイクロ波からエネルギーを吸
収でき、運動エネルギーを得る。この電子がガス分子に
衝突し、プラズマを作る。プラズマ中の電子は同じよう
な運動をして、他の分子を励起する。
収でき、運動エネルギーを得る。この電子がガス分子に
衝突し、プラズマを作る。プラズマ中の電子は同じよう
な運動をして、他の分子を励起する。
こうして、フイラメントなどがないのに、プラズマを作
る事ができる。熱陰極を用いないから、ECR型イオン源
は長寿命である。
る事ができる。熱陰極を用いないから、ECR型イオン源
は長寿命である。
プラズマは、引出電極7によつて引出されてイオンビー
ムとなる。イオン源は、反応性イオンビームエツチング
(RIBE)、CVD、イオンインプランテーシヨン、イオン
蒸着など多くの用途を持つている。
ムとなる。イオン源は、反応性イオンビームエツチング
(RIBE)、CVD、イオンインプランテーシヨン、イオン
蒸着など多くの用途を持つている。
(ウ)考案が解決しようとする問題点 コイル2には、直流電流6により、一定の直流が流れて
いる。第5図に電流値を示すが、I=Icで一定である。
当然、磁界は時間的に変動しない。
いる。第5図に電流値を示すが、I=Icで一定である。
当然、磁界は時間的に変動しない。
電子のサイクロトロン周波数fsと、マイクロ波の周波数
fmとを同一にすると、共鳴吸収が起る。
fmとを同一にすると、共鳴吸収が起る。
ところが、fmは一つの値であるが、fsは空間的に変動
し、ひとつの値ではない。場所により磁束密度Bが異な
るからである。
し、ひとつの値ではない。場所により磁束密度Bが異な
るからである。
円筒形の空心コイルに電流を流すと、内部に磁場が生ず
る。コイルの直径をD、長さをLとし、細長比をL/Dで
定義する。
る。コイルの直径をD、長さをLとし、細長比をL/Dで
定義する。
細長比L/Dが無限大であれば、コイルの内部の磁束密度
は一定で、μ0nIで与えられる。μ0は真空の透磁率、n
は単位長さあたりの巻き数、Iはコイル電流である。こ
れをB0と書く。
は一定で、μ0nIで与えられる。μ0は真空の透磁率、n
は単位長さあたりの巻き数、Iはコイル電流である。こ
れをB0と書く。
ところが、L/Dが小さい時、コイル内部の磁束密度Bは
一様でない。コイル中心を原点とした円筒座標を(r、
θ、z)で定義すると、Bはrとzの函数B(r、z)
となる。
一様でない。コイル中心を原点とした円筒座標を(r、
θ、z)で定義すると、Bはrとzの函数B(r、z)
となる。
コイルの半径をaとする。2a=Lである。
コイルの内壁raでは、BはほぼB0に等しくなる。
ところが、中心部r0では、Bはもつと小さくなる。
これは、コイルを見込む立体角が減少するからである。
これは、コイルを見込む立体角が減少するからである。
z方向にも変化する。コイルの中心でz=0とする。z
=0でBは最も大きい。|z|の値が増大するに従つてB
は小さくなつてゆく。
=0でBは最も大きい。|z|の値が増大するに従つてB
は小さくなつてゆく。
このようにBは(r、z)により変化し、一定の値では
ない。
ない。
L/Dを無限大にするという事は、直径Dを狭くするとい
う事である。こうするとチヤンバが狭くなり役に立たな
い。
う事である。こうするとチヤンバが狭くなり役に立たな
い。
実際、細長比L/Dはかなり小さい。たとえば、Dが315m
m、Lが175mmのコイルを使う。このようにL/Dが小さい
と、Bの空間的不均一性は著しい。
m、Lが175mmのコイルを使う。このようにL/Dが小さい
と、Bの空間的不均一性は著しい。
サイクロトロン共鳴はfs=fmとなつて起こるのである。
このような領域を共鳴領域と呼ぶことにする。共鳴領域
はコイルの内部の僅かな部分だけである。大部分は非共
鳴領域なのである。
このような領域を共鳴領域と呼ぶことにする。共鳴領域
はコイルの内部の僅かな部分だけである。大部分は非共
鳴領域なのである。
多くの場合、中心軸線上(r=0)で、中心近傍(z
0)の磁束密度がfs=fmを満たすようにしている。
0)の磁束密度がfs=fmを満たすようにしている。
すると、共鳴領域が中心近傍のみに存在するということ
になる。周辺部は非共鳴領域である。
になる。周辺部は非共鳴領域である。
プラズマの生成は電子のエネルギー吸収に比例するの
で、中心部のみプラズマ生成密度が高くなる。
で、中心部のみプラズマ生成密度が高くなる。
このような不均一なプラズマを引出電極7によつて引出
し、イオンビームとするが、このイオンビームは中心で
高密度、周辺で低密度となる。
し、イオンビームとするが、このイオンビームは中心で
高密度、周辺で低密度となる。
このような不均一なビームを使うと、イオン処理が不均
一になつてしまう。対象となる試料基板が大面積である
とき、これは重大な問題となる。
一になつてしまう。対象となる試料基板が大面積である
とき、これは重大な問題となる。
(エ)目的 マイクロ波と磁場とを用いたイオン源に於て、共鳴領域
を時間的に移動させる事によつて、イオン源チヤンバ内
でのプラズマ生成密度を均一にできるものを提供するこ
とが本考案の目的である。
を時間的に移動させる事によつて、イオン源チヤンバ内
でのプラズマ生成密度を均一にできるものを提供するこ
とが本考案の目的である。
(オ)構成 コイルの長さが有限であるので、イオン源チヤンバ1の
内部での磁場強度は、第6図に示すように、ア、イ、
ウ、エ、オの順に大きいようにする。
内部での磁場強度は、第6図に示すように、ア、イ、
ウ、エ、オの順に大きいようにする。
たとえば、ウを共鳴領域にするような磁場を考えると、
アに於ては磁場は大きくなりすぎる。つまりfs>fmであ
る。コイル電流をより小さくすると、アを共鳴領域とす
ることができる。
アに於ては磁場は大きくなりすぎる。つまりfs>fmであ
る。コイル電流をより小さくすると、アを共鳴領域とす
ることができる。
反対に、オにおいては磁場が小さすぎ、fs<fmである。
コイル電流をより大きくすると、オを共鳴領域とするこ
とができる。
コイル電流をより大きくすると、オを共鳴領域とするこ
とができる。
そこで、本考案においては、コイル電流を周期的に増減
して、ア〜オの全ての領域が、継続的に、共鳴領域にな
るようにする。
して、ア〜オの全ての領域が、継続的に、共鳴領域にな
るようにする。
第1図は本考案のイオン処理装置の概略構成図である。
イオン源チヤンバ1は円筒形の空間であつて、真空排気
装置(図示せず)によつて真空に引くことができる。ま
た、イオンにすべきガスをガス導入系9から内部へ導入
し、これをプラズマとする。
装置(図示せず)によつて真空に引くことができる。ま
た、イオンにすべきガスをガス導入系9から内部へ導入
し、これをプラズマとする。
コイル2は、イオン源チヤンバ1の外周に設けられ軸方
向に共鳴用の磁力線8を生ずる。
向に共鳴用の磁力線8を生ずる。
コイル2の電流Iは一定電流Icと変動電流Idsin(Ω
t)との和よりなる。この点が従来の構成と異なつてい
る。
t)との和よりなる。この点が従来の構成と異なつてい
る。
このため、コイル電源は直流電源6とバイアス電源10を
直列につないだものになつている。
直列につないだものになつている。
マイクロ波発振器5は、例えば2.45GHzのマイクロ波を
生ずる。このマイクロ波は導波管3を伝搬し、誘電体4
を通つてイオン源チヤンバ1の中へ導入される。電子は
サイクロトロン運動しマイクロ波を吸収して加速され
る。
生ずる。このマイクロ波は導波管3を伝搬し、誘電体4
を通つてイオン源チヤンバ1の中へ導入される。電子は
サイクロトロン運動しマイクロ波を吸収して加速され
る。
イオン源チヤンバ1の中で導入されたガス分子が、電子
との衝突によつて励起される。これはイオンと電子に分
離してプラズマとなる。電子はさらにマイクロ波と磁場
の作用で加速され、他のガス分子を励起してプラズマと
する。
との衝突によつて励起される。これはイオンと電子に分
離してプラズマとなる。電子はさらにマイクロ波と磁場
の作用で加速され、他のガス分子を励起してプラズマと
する。
生成したプラズマのうち、イオンは、引出電極7によつ
て引出される。
て引出される。
(カ)作用 コイル2の電流Iは、一定電流Icと、変動電流IdsinΩ
tの和であるので I=Ic+Idsin(Ωt) (1) と書くことができる。第2図にコイル電流の波形を示
す。これはIcの上下にΩ/2πの周波数で変動する電流を
示す。最小値をImin、最大値をImaxとすると、 Imin=Ic−Id (2) Imax=Ic+Id (3) である。
tの和であるので I=Ic+Idsin(Ωt) (1) と書くことができる。第2図にコイル電流の波形を示
す。これはIcの上下にΩ/2πの周波数で変動する電流を
示す。最小値をImin、最大値をImaxとすると、 Imin=Ic−Id (2) Imax=Ic+Id (3) である。
たとえば、Ic=174A、Id=25Aとすると、Imin=149A、I
max=199Aとなる。
max=199Aとなる。
このように電流が変化すると、磁場Bも比例して変化す
る。第6図のように、ある電流に対し、磁場の強さがア
〜オのように弱くなつていく。すると、電流を弱くする
と共鳴領域はウ→イ→アと推移する。電流を強くする
と、共鳴領域はウ→エ→オと変化する。
る。第6図のように、ある電流に対し、磁場の強さがア
〜オのように弱くなつていく。すると、電流を弱くする
と共鳴領域はウ→イ→アと推移する。電流を強くする
と、共鳴領域はウ→エ→オと変化する。
このような変化を(1)式の1サイクルで2回行う事に
する。
する。
第2図の電流波形のIminからImaxまで〜の点を取
る。
る。
(1)電流値がにある時、電流は最小である。磁場B
も全体的に小さくなり、アの部分のみでfs=fmとなる。
第3図にこのときの共鳴領域を示す。
も全体的に小さくなり、アの部分のみでfs=fmとなる。
第3図にこのときの共鳴領域を示す。
(2)電流値がにある時、電流は最小値より少し大き
い。アの部分はBが大きくなりすぎ、イの部分でfs=fm
となる。第3図に示すようにイが共鳴領域になる。
い。アの部分はBが大きくなりすぎ、イの部分でfs=fm
となる。第3図に示すようにイが共鳴領域になる。
(3)電流値がにある時、電流はIc近傍になる。ア、
イでは磁場Bが大きすぎ、エ、オでは小さすぎる。ウが
共鳴領域になる。
イでは磁場Bが大きすぎ、エ、オでは小さすぎる。ウが
共鳴領域になる。
(4)電流値がさらに増大してにある時、エが共鳴領
域になる。
域になる。
(5)電流値が最大値になり、にある時、オが共鳴領
域になる。
域になる。
このように、第3図(1)〜(5)に示すように、電流
Iが増えるに従つて共鳴領域がア→オへと推移する。I
が減る時は、共鳴領域がオ→アへと推移する。
Iが増えるに従つて共鳴領域がア→オへと推移する。I
が減る時は、共鳴領域がオ→アへと推移する。
Ic、Idの値は、イオン源チヤンバの中で最も磁場の強く
なる所(ア)と、弱くなる所(オ)とがカバーできるよ
うに設定する。
なる所(ア)と、弱くなる所(オ)とがカバーできるよ
うに設定する。
バイアス電源10の変動の周波数Ω/2πは、処理時間が短
かいほど高くしなければならない。また、Ω/2πが高い
ほど、イオン処理の基板内での均一性が向上する。
かいほど高くしなければならない。また、Ω/2πが高い
ほど、イオン処理の基板内での均一性が向上する。
たとえば、処理時間が10秒のイオン処理であれば、変動
周波数は20Hz以上にするのがよい。
周波数は20Hz以上にするのがよい。
プラズマ生成密度は、どの時刻においても不均一である
が、時間的に平均するとチヤンバ内でほぼ均一になる。
が、時間的に平均するとチヤンバ内でほぼ均一になる。
従つて、イオンビームも断面内でほぼ均一になる。
(キ)効果 イオン源チヤンバ内で、共鳴領域が時間的に推移するの
で、共鳴することによつて生ずるプラズマの密度がイオ
ン源チヤンバ内でほぼ均一になる。均一なプラズマから
イオンビームを引出した場合、これは均一な密度をもつ
イオンビームとなる。イオン処理の効果が試料基板内で
一様になる。
で、共鳴することによつて生ずるプラズマの密度がイオ
ン源チヤンバ内でほぼ均一になる。均一なプラズマから
イオンビームを引出した場合、これは均一な密度をもつ
イオンビームとなる。イオン処理の効果が試料基板内で
一様になる。
第1図は本考案のイオン処理装置の概略構成図。 第2図は本考案のイオン処理装置のコイル電流の時間的
な変化を示す波形図。 第3図は本考案のイオン処理装置のイオン源チヤンバ内
に於て共鳴領域が時間的に推移してゆくことを示す図。 第4図は従来例に係るイオン処理装置の概略構成図。 第5図は従来例のイオン処理装置のコイル電流波形図。 第6図はコイルによつて生ずるイオン源チヤンバ内の磁
場の強さの順序を説明するための図。 1……イオン源チヤンバ 2……コイル 3……導波管 4……誘電体 5……マイクロ波発振器 6……直流電流 7……引出電極 8……磁力線 9……ガス導入系 10……バイアス電源
な変化を示す波形図。 第3図は本考案のイオン処理装置のイオン源チヤンバ内
に於て共鳴領域が時間的に推移してゆくことを示す図。 第4図は従来例に係るイオン処理装置の概略構成図。 第5図は従来例のイオン処理装置のコイル電流波形図。 第6図はコイルによつて生ずるイオン源チヤンバ内の磁
場の強さの順序を説明するための図。 1……イオン源チヤンバ 2……コイル 3……導波管 4……誘電体 5……マイクロ波発振器 6……直流電流 7……引出電極 8……磁力線 9……ガス導入系 10……バイアス電源
Claims (1)
- 【請求項1】真空に引く事ができガスを導入してこれを
プラズマにする空間を与える円筒形のイオン源チヤンバ
1と、イオン源チヤンバ1の円筒の外周に設けられ軸方
向の磁場を生ずるコイル2と、前記磁場に対する電子の
サイクロトロン周波数にほぼ等しい周波数のマイクロ波
を生ずるマイクロ波発振器5と、マイクロ波をイオン源
チヤンバ1へ導く導波管3と、導波管3とイオン源チヤ
ンバ1の窓の間に設けられる誘電体4と、イオン源チヤ
ンバ1の出口側に設けられプラズマからイオンビームを
引出すための引出電極7とよりなり、コイル電流Iが一
定電流Icと変動電流IdsinΩtの和として与えられ、コ
イルによる磁場が変動し、共鳴領域がイオン源チヤンバ
内で周期的に推移してゆくようにした事を特徴とするイ
オン処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14616688U JPH0644007Y2 (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | イオン処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14616688U JPH0644007Y2 (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | イオン処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0265858U JPH0265858U (ja) | 1990-05-17 |
JPH0644007Y2 true JPH0644007Y2 (ja) | 1994-11-14 |
Family
ID=31415402
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14616688U Expired - Lifetime JPH0644007Y2 (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | イオン処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0644007Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-11-09 JP JP14616688U patent/JPH0644007Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0265858U (ja) | 1990-05-17 |
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