JPH0215553A - 高周波誘導結合プラズマ質量分析装置 - Google Patents

高周波誘導結合プラズマ質量分析装置

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Publication number
JPH0215553A
JPH0215553A JP63164669A JP16466988A JPH0215553A JP H0215553 A JPH0215553 A JP H0215553A JP 63164669 A JP63164669 A JP 63164669A JP 16466988 A JP16466988 A JP 16466988A JP H0215553 A JPH0215553 A JP H0215553A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
mass spectrometer
frequency induction
high frequency
capillary tube
Prior art date
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Pending
Application number
JP63164669A
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English (en)
Inventor
Kiichiro Otsuka
大塚 紀一郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
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Publication of JPH0215553A publication Critical patent/JPH0215553A/ja
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  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、高周波誘導結合プラズマ(ICP)イオン源
と質量分析計とを結合した高周波誘導結合プラズマ質量
分析袋R(I CP−MS)に関し、特にICPイオン
源への試料の供給の改良に関するものである。
[従来の技術] かかるICP−MSは第2図に示すような構造を有して
いる。
同図において、1はIcPイオン源で、高周波誘導コイ
ル2を巻回した石英等の電気絶縁物質製プラズマトーチ
3と試料液を噴霧するためのネプライザ4とから構成さ
れている。5は試料液6を収納すると共にネプライザ4
に導入管7を介して接続された試料ボトルである。8は
コーン状のノズル9と第1.第2のスキマー10.11
とからなるインターフェース、12は質量分析装置で、
この質量分析装置は磁場型の質量分析計13を使用して
いる。14は前記質量分析装置内を高真空に保つための
油拡散ポンプ、15.16は前記ノズル9と第1のスキ
マー10及び第1.第2のスキマー10.11との間に
夫々形成される空間S1.82を排気するための油回転
ポンプである。
17は加速電極であり、図示外の加速電源より例えば±
1・OKV程度の高電圧が印加されている。
18はイオンを集束して前記質量分析計13に導人させ
るための電極群である。尚、ノズル9.前記第1及び第
2のスキマー10.11にもこの加速電極17と略同程
度の高電圧が印加されている。
かかる構成において、プラズマトーチ3内には図示外の
ガス供給源からアルゴンガスが供給され、また、ネプラ
イザ4から試料6が霧状となって導入される。この状態
において、高周波誘導コイル2に電力を印加して高周波
磁界を形成すると、高周波誘導結合プラズマPが発生す
るため、このプラズマ内の試料イオンがノズル9.各ス
キマー10.11を通ってインターフェース8内に進入
する。このインターフェース内に進入したイオンは加速
電極17と電極群18間に印加された加速電圧により加
速されて質量分析計13に導入され質量分析される。
[発明が解決しようとする課題] このようなICP−MSにおいて、質量分析装置12と
して磁場型の質量分析計を使用した場合には、試料イオ
ンを質量分析計13へ向けて加速するための加速電極1
7をインターフェース8に接近して置かなければならな
い。ノズル9.第1及び第2のスキマー10.11もこ
の加速電極17と略同電位の高電圧に保たれる。ここで
、プラズマは電気伝導度が高い性質を有している。その
結果、プラズマがノズル9.各スキマー10.11に触
れたとき、プラズマトーチ1内のプラズマ領域も高電圧
になる。この場合、試料として電気伝導率の低いもので
あれば、試料ボトル5部に高電圧が伝わることはないが
、逆に電気伝導率の高いものであれば、試料ボトル部に
高電圧が伝わるため、非常に危険である。
そこで、本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり
、試料の電気伝導率が高い場合でも試料ボトル部に高電
圧が伝達されないようにすることを目C自とするもので
ある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本発明は高周波誘導結合プラ
ズマイオン源を用いて試料をイオン化し、生じたイオン
をインターフェースを介して質量分析計に導入するよう
にした装置において、前記高周波誘導結合プラズマイオ
ン源に試料を供給するにあたり、送液ポンプで吸引した
試料液を電気絶縁物質製で、しかも内径が微小なキャピ
ラリチューブを介して行うように構成したことを特徴と
するものである。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳説する。
[実施例] 第1図は本発明における試料供給部を示す構成略図であ
り、第2図と同一符号のものは同一構成要素を示す。
即ち本実施例では、試料ボトル5内の試料液6を送液ポ
ンプ19で吸引しながら、キャピラリーチューブ20を
介してネプライザ4に供給するように構成したことを特
徴とするものである。前記キャピラリーチューブ20と
しては、フユーズシリカ等の電気絶縁物質で形成され、
しかも、その内径が例えば50〜60μmのように非常
に小さく、さらに、長さが2〜3mのものが使用される
このように長くて、しかも非常に細いキャピラリーチュ
ーブに試料液を流せば、試料液の電気伝導率が高くても
キャピラリーチューブ全長にわたっての電気抵抗値は飛
躍的に高くなるため、試料ボトル5(送液ポンプ19)
部の電位はアースを維持することができる。
[効果] 以上詳述したように本発明によれば、非常に細いキャピ
ラリーチューブを使用して試料液をネプライザに供給す
るようにしであるため、チューブ内を流れる試料液の電
気抵抗値を実質的に高くすることができる。そのため、
試料として電気伝導率の高いものを使用しても試料ボト
ル部に質量分析計の高電圧が伝達されることを防止でき
る。また、送液ポンプで試料液をネプライザに供給する
ようにしているため、プラズマトーチ内に導入する試料
液の噴霧量の微調整が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明における試料供給部を示す構成略図、第
2図はI CP−MSの構成を示す図である。 1:ICPイオン源 3:プラズマトーチ 5:試料ボトル 7:導入管 8:インターフェース 2:高周波コイル 4:ネプライザ 6:試料液 9:ノズル 10.11:第1.第2のスキマ− 12二質量分析装置   13:質量分析計14二浦拡
散ポンプ 15.16:油回転ポンプ 17:加速電極     18:電極群19:送液ポン
プ 20:キャピラリーチューブ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 高周波誘導結合プラズマイオン源を用いて試料をイオン
    化し、生じたイオンをインターフェースを介して質量分
    析計に導入するようにした装置において、前記高周波誘
    導結合プラズマイオン源に試料を供給するにあたり、送
    液ポンプで吸引した試料液を電気絶縁物質製で、しかも
    内径が微小なキャピラリチューブを介して行うように構
    成したことを特徴とする高周波誘導結合プラズマ質量分
    析装置。
JP63164669A 1988-07-01 1988-07-01 高周波誘導結合プラズマ質量分析装置 Pending JPH0215553A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001185073A (ja) * 1999-12-27 2001-07-06 Yokogawa Analytical Systems Inc 誘導結合プラズマ質量分析装置及び方法
JP4756406B1 (ja) * 2010-12-20 2011-08-24 義知 徳重 自動車のフットブレーキと連動機能を有する非常用セーフティーブレーキ
CN106449348A (zh) * 2016-10-27 2017-02-22 中国科学院合肥物质科学研究院 一种用于纳米颗粒物气溶胶质谱仪的毛细管进样接口装置
DE102016102128B4 (de) * 2015-03-10 2019-10-10 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Faserwickelvorrichtung und Verfahren zum Steuern einer Faserwickelvorrichtung

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001185073A (ja) * 1999-12-27 2001-07-06 Yokogawa Analytical Systems Inc 誘導結合プラズマ質量分析装置及び方法
JP4756406B1 (ja) * 2010-12-20 2011-08-24 義知 徳重 自動車のフットブレーキと連動機能を有する非常用セーフティーブレーキ
DE102016102128B4 (de) * 2015-03-10 2019-10-10 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Faserwickelvorrichtung und Verfahren zum Steuern einer Faserwickelvorrichtung
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