JPH0521245Y2 - - Google Patents

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JPH0521245Y2
JPH0521245Y2 JP8788288U JP8788288U JPH0521245Y2 JP H0521245 Y2 JPH0521245 Y2 JP H0521245Y2 JP 8788288 U JP8788288 U JP 8788288U JP 8788288 U JP8788288 U JP 8788288U JP H0521245 Y2 JPH0521245 Y2 JP H0521245Y2
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nozzle
mass spectrometer
high frequency
ion source
inductively coupled
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、高周波誘導結合プラズマ(ICP)イ
オン源と質量分析計とを結合した高周波誘導結合
プラズマ質量分析装置(ICP−MS)に関するも
のである。
[従来の技術] かかるICP−MSは第2図に示すような構造を
有している。
同図において、1はICPイオン源で、高周波誘
導コイル2を巻回した石英等の電気絶縁体製プラ
ズマトーチ3と試料液を噴霧するためのネブライ
ザ4とから構成されている。5は試料液6を収納
すると共にネブライザ4に導入管7を介して接続
された試料ボトルである。8はコーン状のノズル
9と第1及び第2のスキマー10,11とからな
るインターフエース、12は質量分析装置で、内
部に質量分析計13が設けてある。
14は前記質量分析装置12内を高真空に保つ
ための油拡散ポンプ、15,16は前記ノズル9
と第1のスキマー10及び第1、第2のスキマー
10と11との間に夫々形成される空間S1,S
2を排気するための油回転ポンプである。
17はイオンを加速、集束して前記質量分析計
13に導入させるための電極群である。
かかる構成において、プラズマトーチ3内には
図示外のガス供給源からアルゴンガスが供給さ
れ、また、ネブライザ4から試料液6が霧状とな
つて導入される。この状態において、高周波誘導
コイル2に電力を印加して高周波磁界を形成する
と、高周波誘導結合プラズマPが発生するため、
このプラズマ内の試料イオンがノズル9、各スキ
マー10,11を通つてインターフエース8内に
進入する。このインターフエース内に進入したイ
オンは電極群17により加速、集束されて質量分
析計13に導入され質量分析される。
[考案が解決しようとする課題] ところで、このようなICP−MSにおいては高
周波コイル2からの高周波が周囲に漏洩し、それ
によつて周囲に悪影響を及ぼす恐れがある。それ
を防止するために、ICPイオン源1の周囲を例え
ばアルミニウムのような電気良導体で形成され、
かつ接地されたケース18で覆うことが考えられ
る。
ここで、質量分析計13として四重極を使用し
た場合には、試料イオンに高いエネルギーを与え
る必要がないため、ノズル9や各スキマー10,
11等は略接地電位であり何等問題は生じない
が、高い分解能を得るために磁場型質量分析計を
使用する場合には、試料イオンに高いエネルギー
を与える必要がある。そのため、第2図で中符号
19で示すように第2のスキマー10と電極群1
7間に加速電極を設置し、この電極に例えば±
10KV程度の高電圧を印加すると共に、ノズル
9、第1及び第2のスキマー10,11にも同程
度の高電圧を印加しなければならない。その結
果、高電圧が印加されるノズル9と接地電位であ
るケース18との間で放電が発生するため、非常
に危険である。
そこで、本考案はかかる点に鑑みてなされたも
のであり、ノズルとケース間の放電を防止しなが
ら高周波の漏洩を防止することのできる装置を提
供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本考案は高周波誘導
結合プラズマイオン源を用いて試料をイオン化
し、生じたイオンをノズル及びスキマーからなる
インターフエースを介して質量分析計に導入する
ようにした装置において、前記高周波誘導結合プ
ラズマイオン源を電気良導体製ケースで包囲し、
かつこのケースの前記ノズルと対向する表面を電
気絶縁体で覆うようにしたことを特徴とするもの
である。
以下、本考案の実施例を図面に基づいて詳説す
る。
[実施例] 第1図は本考案の一実施例を示す要部拡大断面
図であり、第2図と同一符号のものは同一構成要
素を示す。
即ち、本実施例においては、ICPイオン源1を
包囲するケース18のノズル9と対向する表面を
例えばポリイミド、セラミツクあるいはテフロン
のような電気絶縁体20で覆うように構成したこ
とを特徴とするものである。尚、21は高周波コ
イル2を支持する支持枠で、石英ガラス等の電気
絶縁物質で形成されている。22はノズル9、第
1のスキマー10等を支持するための電気絶縁体
である。
[効果] 以上詳述したような本考案によれば、ICPイオ
ン源を収納するケースのノズルと対向する表面は
電気絶縁体で包囲されているため、高周波の漏洩
を防止しながらケースと高電圧が印加されたノズ
ル間の放電を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す要部拡大断面
図、第2図はICP−MSの構成を示す図である。 1……ICPイオン源、2……高周波コイル、3
……プラズマトーチ、4……ネブライザ、5……
試料ボトル、6……試料液、7……導入管、8…
…インターフエース、9……ノズル、10,11
……第1、第2のスキマー、12……質量分析装
置、14……油拡散ポンプ、15,16……油回
転ポンプ、17……電極群、18……ケース、1
9……加速電極、20……電気絶縁体、21……
支持枠。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 高周波誘導結合プラズマイオン源を用いて試料
    をイオン化し、生じたイオンをノズル及びスキマ
    ーからなるインターフエースを介して質量分析計
    に導入するようにした装置において、前記高周波
    誘導結合プラズマイオン源を電気良導体製ケース
    で包囲し、かつこのケースの前記ノズルと対向す
    る表面を電気絶縁体で覆うようにしたことを特徴
    とする高周波誘導結合プラズマ質量分析装置。
JP8788288U 1988-07-01 1988-07-01 Expired - Lifetime JPH0521245Y2 (ja)

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JPH028853U JPH028853U (ja) 1990-01-19
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JPH07246919A (ja) * 1994-03-10 1995-09-26 Kawasaki Heavy Ind Ltd バス床裏洗浄システム
JP2010197080A (ja) * 2009-02-23 2010-09-09 Sii Nanotechnology Inc 誘導結合プラズマ分析装置

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