JPH0773187B2 - Bit length expansion device - Google Patents

Bit length expansion device

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JPH0773187B2
JPH0773187B2 JP3153702A JP15370291A JPH0773187B2 JP H0773187 B2 JPH0773187 B2 JP H0773187B2 JP 3153702 A JP3153702 A JP 3153702A JP 15370291 A JP15370291 A JP 15370291A JP H0773187 B2 JPH0773187 B2 JP H0773187B2
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英昭 林
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日本コロムビア株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ディジタルオーデオ等
のディジタルアナログ変換に用いて、特に微少レベル時
の再生歪の改良に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in reproduction distortion when used for digital-to-analog conversion such as digital audio, especially at a minute level.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来アナログ信号をAD,DAを介して
ディジタルにて伝送、又は記録再生するものでは、ディ
ジタル段階では、限られたビット長からなる一つのサン
プルデーターを用いるため、そのビット長に見合った量
子化歪をともなう。
2. Description of the Related Art Conventionally, in the case of digitally transmitting or recording / reproducing an analog signal through AD and DA, one sample data having a limited bit length is used at the digital stage, so that the bit length is Accompanied by appropriate quantization distortion.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】特に微少レベル再生で
は最少ビット(LSB)に近付くにつれ歪が増大するた
めサイン波信号でも方形波に近ずき歪が増大している。
In particular, in the reproduction of a minute level, the distortion increases as it approaches the least significant bit (LSB), so that the distortion of a sine wave signal approaches a square wave.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明は、入力された所
定のビツト長よりなるデイジタルデーターのサンプルデ
ーター間の差分を取り微少レベル変化を検出する手段
と、検出手段で検出した微少レベル変化の前後の数サン
プルにわたり所定のパターンの微少レベルデーターを生
成する手段と、微少レベル変化毎に前記生成された微少
レベルデーターを上位のサンプルデーターに各々加算し
1サンプル間で前記微少レベル変化より少ない変化とな
るように入力されたデイジタルデーターのビツト数より
増大させたビツトとなす手段を具備するビツト長拡張装
置である。このため本発明では、これら微少レベルの量
子化歪を減少させ、ビット長を増大してDA変換しうる
装置を得るものである。この実現のため、再生ディジタ
ル信号の各サンプルデーター間の差分を抽出することに
よってサンプル間にデーター変化が無い区間、1LSB
変化のみが発生する区間、又はそれ以上の大振幅変化等
の抽出を行い、数サンプルにわたり変化がなく1LSB
のみが変化し又変化のないような微少レベル部を抽出
し、この1LSB変化の前後数サンプルにわたりゆるや
かなレベル変化出力となるよう、LSB以下のデーター
を生成する。この生成出力が1LSB変化点に対応し出
力することでLSB変化点が近い場合にも、これらの生
成出力を加算することで全体波形としてなめらかなデー
ター変化とする拡張ビットを得、これをアナログ信号に
変換することが出来る。
According to the present invention, a means for detecting a minute level change by obtaining a difference between sample data of digital data having a predetermined bit length inputted, and a minute level change detected by the detecting means. A means for generating a minute level data of a predetermined pattern over several samples before and after, and the generated minute level data for each minute level change is added to the upper sample data, and a change smaller than the minute level change is made during one sample. The bit length expanding device is provided with a means for making the bit number larger than the number of bits of the digital data input so that Therefore, the present invention provides a device capable of reducing these minute levels of quantization distortion, increasing the bit length, and performing DA conversion. In order to realize this, by extracting the difference between the respective sample data of the reproduced digital signal, there is no data change between samples, 1 LSB.
1 LSB with no change over a few samples by extracting large amplitude changes, etc., where only changes occur or more
Only the minute level portion where only the change or no change is extracted, and the data below the LSB is generated so that the level change output is gentle over several samples before and after this 1LSB change. Even if the LSB change point is close by outputting this generated output corresponding to 1 LSB change point, by adding these generated outputs, an extended bit that gives a smooth data change as the entire waveform is obtained, and this is an analog signal. Can be converted to.

【0005】[0005]

【実施例】以下ブロック図にしたがって説明する。全体
を示したブロック図を図1に示し、図2にその波形図を
示す。再生された有限長ビットからなるワードであるサ
ンプル毎のデーターDinは、差分抽出回路1でサンプ
ルデーター間のデーターの変化を検出する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A block diagram will be described below. A block diagram showing the whole is shown in FIG. 1, and its waveform diagram is shown in FIG. The data Din for each sample, which is a reproduced word of finite length bits, is detected by the difference extraction circuit 1 as a change in data between sample data.

【0006】図3に示すサンプルクロックfs毎にデー
ターを移動するシフトレジスター1-1,1-2をもうけ、
これらの1サンプル間のデーターを比較器1-3で比較
し、これら1サンプル間で同一データーである変化なし
出力0、+1LSBの変化、ー1LSB以下の変化、又
はそれ以上の大振幅変化H等の差分抽出を行う。次にこ
れらの差分データーをシフトレジスター2に入力し、目
的に合わせ数〜数10サンプルにわたりこれらの変化パ
ターンを検出するためにシフトレジスター2にやはりサ
ンプルクロックでシフトするように入力する。
Provided are shift registers 1-1 and 1-2 which move data at every sample clock fs shown in FIG.
The data between these 1 samples are compared by the comparator 1-3, and the same data between these 1 samples is output 0 without change, change of +1 LSB, change of -1 LSB or less, or change of large amplitude H or more. Difference extraction is performed. Next, these difference data are input to the shift register 2 and also input to the shift register 2 so as to be shifted by the sample clock in order to detect these change patterns over several to several tens samples according to the purpose.

【0007】このシフトレジスター2のデーターを元に
微少レベル区間、又はその変化間隔(周波数)などを抽
出、すなわちパターン抽出を行い微少レベル変化である
LSB変化1つに対応したデーター生成を決定する。
Based on the data in the shift register 2, a minute level section or a change interval (frequency) thereof is extracted, that is, a pattern is extracted to determine data generation corresponding to one LSB change which is a minute level change.

【0008】パターン抽出部3により、図2に示すよう
にLSB変化点とのサンプル距離によってLSB変化に
応じた下位の拡張データーを生成する。今、比較的ゆる
やかな低い周波数成分に対応したデーター生成F1 と、
高い周波数成分のF2 の2つの生成手段について説明す
る。
As shown in FIG. 2, the pattern extracting section 3 generates lower extension data according to the LSB change according to the sample distance from the LSB change point. Now, data generation F1 corresponding to a relatively gentle low frequency component,
Two means for generating high frequency component F2 will be described.

【0009】正の方向に1LSB変化点より、途中のサ
ンプルがデーター変化なしにー1LSBに変化するχの
区間、又は逆にー1より+1へのχ’の区間がdに示す
ように(i)以上の間隔があり、又同極性の間隔が
(y)が(ii)以上であればF1の出力をパターン抽出
部3より1LSB変化点に対応して出力し、又、eに示
すようにχが(i)以下で(i’)以上であればF2 を
出力するようにする。(ここで(ii)は用いず又F1 F
2 出力共H入力の場合は出力しない。)
From the 1LSB change point in the positive direction, a section of χ in which an intermediate sample changes to -1LSB without data change, or conversely, a section of χ'from -1 to +1 is indicated by d (i ) Or more, and if the interval of the same polarity is (y) is (ii) or more, the output of F1 is output from the pattern extraction unit 3 corresponding to the 1LSB change point, and as shown in e. If χ is less than (i) and greater than (i '), F2 is output. (Here (ii) is not used and F1 F
No output when both outputs are H inputs. )

【0010】このパターン出力データーをもとにシフト
レジスター4にF1及びF2のデーターがシフトされ、
この途中にサンプル毎にF1に対応してd1又はd
1’、F2に対応してd2又はd2’に示すようなデー
ターをそれぞれ生成する。これらを加算することで拡張
データーを生成し上位データーに加えてビット拡張され
たデーターとしてDA変換する。ここで上位データー
は、データー生成出力と同一位置に合わせるためにシフ
トレジスター6で位相を合わせておく。
Based on this pattern output data, the data of F1 and F2 are shifted to the shift register 4,
During this process, d1 or d corresponding to F1 for each sample
Data corresponding to 1'and F2 are generated as shown in d2 or d2 ', respectively. By adding these, extended data is generated, and DA conversion is performed as bit-extended data in addition to upper data. Here, the phase of the upper data is adjusted by the shift register 6 so as to be in the same position as the data generation output.

【0011】図2の入力データーaの上位データーによ
って、各LSB変化点のパターン抽出データーは、図2
のcに示す破線のようになりこれらを加算することによ
って実線の生成出力を得、上位データと加えた総合的な
出力は、図2のbのようになめらかな歪のない波形を得
ることができる。
The pattern extraction data at each LSB change point is shown in FIG. 2 according to the upper data of the input data a in FIG.
The solid line generated output is obtained by adding these lines as shown by the broken line indicated by c, and the overall output added with the upper data can obtain a smooth waveform without distortion as shown in b of FIG. it can.

【0012】さらに各部について詳細に説明する。図4
のパターン抽出器3について説明する。F1 の出力は、
先の(i)が17サンプル以上又(ii)が5サンプル以
上で示してある。レジスター2-24 および2-8の出力よ
り+1LSBとHのオアをOR回路a24及びa8 でとり
これらのオアにより、カウンターa12をクリアし、又
同じくー1とHのオアでカウンターb13をクリアす
る。このカウンター12及び13は16サンプルカウン
トし、17サンプル目より出力する。レジスター2-8の
出力が+1又はー1の時に逆の極性でクリアされたカウ
ンターb13の出力又はカウンターa12の出力とアン
ドゲートG1 又はG2 を取ることでこのゲートが成立す
ることは、レジスター2-8点に±1LSB変化した16
サンプル前後以内にLSB変化およびH信号が無い事に
なり、(i)の条件を検出する。
Further, each part will be described in detail. Figure 4
The pattern extractor 3 will be described. The output of F1 is
The above (i) is shown with 17 samples or more and (ii) with 5 samples or more. The OR circuits a24 and a8 take OR's of + 1LSB and H from the outputs of the registers 2-24 and 2-8 to clear the counter a12, and also the OR's of -1 and H to clear the counter b13. The counters 12 and 13 count 16 samples, and output from the 17th sample. When the output of the register 2-8 is +1 or -1, the output of the counter b13 or the output of the counter a12 which is cleared with the opposite polarity and the AND gate G1 or G2 is taken to be true. 16 changes of ± 1LSB to 8 points
There is no LSB change and H signal before and after the sample, and the condition (i) is detected.

【0013】又これらの出力をレジスター2-8をはさん
で±4サンプルレジスター2-4〜2-12 の出力のオアゲ
ートC4 〜C12をオアゲートG3 で検出しアンドゲート
G4およびアンドゲートG4 ’でそれぞれアンドゲート
を取る。これは(ii)の条件となる。ここでC4 〜C12
では同一極性以外入力しているが逆極性や、H信号があ
ればG1 又はG2 が成立せず結局(ii)の条件のみが成
立する。これらの出力をシフトレジスター4に入れる。
又F2 に関しては、同様にしてシフトレジスター2の取
り出し位置およびカウンター値を設定すれば良い。F2
の(i’)の条件を5サンプル以上とすると、F1のレ
ジスター2-8に対応してレジスター2-4,又レジスター
2-24 の出力に対応してレジスター2-12 としカウンタ
ーを1/2の8サンプルとすると良い。又ここでオアゲ
ートG3 に相当するものは不要である。ここで1つの1
LSB変化に対応しF1 の出力があればF2 の条件とも
合うためにF1 を生かしF2を出力させない。このため
±F1のオアゲートを取りデーターの変化毎にラッチ1
4にF1 のフラッグをラッチするインバータ15を介
し、ゲートG5又はG5’でF1 があればF2 を禁止す
る。これによって長い周期のものはF1 のみ、短いもの
はF2 のみとなり同一に出力されない。
Further, these outputs are sandwiched by the register 2-8, the OR gates C4 to C12 of the outputs of the ± 4 sample registers 2-4 to 2-12 are detected by the OR gate G3, and are respectively detected by the AND gate G4 and the AND gate G4 '. Take the AND gate. This is the condition (ii). Where C4 to C12
In case of inputting other than the same polarity, G1 or G2 is not established if there is an opposite polarity or H signal, and only condition (ii) is established. These outputs are put in the shift register 4.
Regarding F2, similarly, the take-out position of the shift register 2 and the counter value may be set. F2
If the condition of (i ') of 5 is more than 5 samples, the register 2-4 corresponds to the register 2-8 of F1 and the register 2-12 corresponds to the output of the register 2-24. 8 samples are recommended. Also, here, the one corresponding to the OR gate G3 is unnecessary. One here one
If there is an output of F1 corresponding to the change of LSB, the condition of F2 is satisfied, so that F1 is used and F2 is not output. Therefore, take an OR gate of ± F1 and latch 1 for each data change.
If there is F1 at the gate G5 or G5 'through the inverter 15 which latches the flag of F1 at 4, the F2 is prohibited. As a result, the long cycle has only F1 and the short cycle has only F2, which are not output identically.

【0014】これらによりF1F1’,F2F2’の出力の
いずれかが所定の1LSB変化点に対応し現れシフトレ
ジスター4に入力されシフトされる。ここでシフトレジ
スター4はデーター生成のために用いられF1 とF2 の
入力タイミングはレジスター2-8と2-4に対応して4サ
ンプルF2 があとに出力されるために4サンプル分入力
を遅延するとタイミングが合うことになる。以上F1〜
F2の状態を図5に示す。ここでシフトレジスター4よ
りの出力の都合で便利が良いように+F1およびーF1の
オアを取り、±F1 信号(±1LSB)と+F1 すなわ
ち±1LSBのF1 による変化点で+F1 により極性を
示すサインビット(Sign)とすることができ、同様
に±F2 とサインビットとをシフトレジスター4に入れ
る。
As a result, one of the outputs of F1F1 'and F2F2' appears corresponding to a predetermined 1LSB change point and is input to the shift register 4 and shifted. Here, the shift register 4 is used for data generation, and the input timing of F1 and F2 is 4 samples corresponding to the registers 2-8 and 2-4, so that F2 is output later and the input is delayed by 4 samples. The timing will match. Above F1
The state of F2 is shown in FIG. For the convenience of the output from the shift register 4, + F1 and -F1 are ORed, and ± F1 signal (± 1 LSB) and + F1 or ± 1 LSB F1 changes the sign by + F1 to indicate the polarity. It can be a bit (Sign), and similarly ± F2 and the sign bit are put in the shift register 4.

【0015】次に図6にレジスター出力によりデーター
生成回路5のブロツク図を示す。各レジスター4-8〜4
--8は、中央より左と右に分け左側のサインビット出力
はそのまま、右側ではインバーターIを介しサインビッ
トを反転する。又左右のデーターは中央をはさみそれぞ
れ同一データーとする。このデーターは図7に示すよう
にF1 に対してはデーターは8種でD11〜D18まで図の
ように正弦波の1/4サイクル分を用いると良い。この
データーを各レジスター毎に±1LSB変化すなわちF
1 又はF2 が出力されているレジスターより出力する。
例えばレジスター4-8にF1 レジスター4--4 にF2 が
あれば、これらのデーターが2ケ所より出力される。も
ちろん、ここでこれらの極性であるSignビツトも同
時に出力する。ここで4bitのデーターであればSi
gn以外は3ビツトで表す。
Next, FIG. 6 shows a block diagram of the data generating circuit 5 by the output of the register. Each register 4-8 ~ 4
--8 is divided into left and right from the center, the sign bit output on the left side is unchanged, and the sign bit is inverted via the inverter I on the right side. In addition, the left and right data are the same data with the center sandwiched. As shown in FIG. 7, there are 8 kinds of data for F1 and it is preferable to use 1/4 cycle of sine wave from D11 to D18 as shown in the figure. This data changes ± 1LSB for each register, that is, F
Output from the register that outputs 1 or F2.
For example, if the register 4-8 has F1 and the register 4--4 has F2, these data are output from two places. Of course, the Sign bit having these polarities is also output here at the same time. If it is 4-bit data, Si
Except for gn, it is represented by 3 bits.

【0016】図8において、これらのデーター出力を全
加算器Σによって行う。データー加算は種々公知のため
省略する。各データーは、図6に示すように必要なデー
ター値に対応してワイアリングのみで生成できる。ここ
でデーターは図7のように正弦波の1/4部がD18〜D
11又はD24〜D21のように+のLSB変化入力に対して
は正データーが上昇し、中央をはさんで負のデーターと
なり逆転して0へ減少していく。ー1LSB変化では、
Signビツトが0であるためこの逆のデーター変化と
なり負のデーターが増大していき中央をはさみ正となり
0へ向って減少する。
In FIG. 8, these data outputs are performed by the full adder Σ. Data addition is omitted because it is publicly known. Each data can be generated only by wiring corresponding to a required data value as shown in FIG. Here, as for the data, 1/4 part of the sine wave is D18-D as shown in FIG.
Positive data rises with respect to + LSB change input such as 11 or D24 to D21, and it becomes negative data across the center and reverses and decreases to 0. -In 1LSB change,
Since the Sign bit is 0, the opposite data change occurs, the negative data increases, and the positive value is obtained by sandwiching the center and becoming positive.

【0017】これにより、図2に示したd1 又はd2 等
に対応したデーターを得る。図5の加算出力では、図2
のCのデーターのように1つの生成出力となり、上位デ
ーターに加えることでビット拡張されたなめらかな歪の
少いデーターが得られる。
As a result, data corresponding to d1 or d2 shown in FIG. 2 is obtained. With the addition output of FIG.
It becomes one generation output like the data of C and is added to the upper data to obtain data with bit-extended smooth and less distortion.

【0018】実施例では、データー生成を2種で説明し
たが、もちろん増加させ広い周波数範囲に対応させるこ
ともでき、さらに、2LSB変化などにおいても対応さ
せることができ、1つの変化に対し対応し発生させるデ
ーターは1つであっても次々に変化点の出力データーの
全加算をしているため最終データーのつながりが図のよ
うになめらかで広い周波数の変化の波形に対応できる。
In the embodiment, two types of data generation have been described, but it is of course possible to increase the number to correspond to a wide frequency range, and to cope with a change of 2 LSB or the like. Even if only one piece of data is generated, the output data at the change points are fully added one after another, so the connection of the final data is smooth as shown in the figure, and a wide frequency change waveform can be accommodated.

【0019】[0019]

【発明の効果】上記のように本発明によると信号レベル
の微少変化を検出することによって出力信号をなめらか
に微少信号レベル領域までビツト長を拡張するので、広
い周波数変化の波形に対応して微少変化をなめらかに成
すことができ、高域のパルス性歪発生による雑音発生を
除去することができる。
As described above, according to the present invention, by detecting a slight change in the signal level, the output signal is smoothly extended in the bit length to the small signal level region. The change can be made smoothly, and the noise generation due to the pulse distortion generation in the high frequency band can be eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のブロツク図。FIG. 1 is a block diagram of the present invention.

【図2】波形を説明するための図。FIG. 2 is a diagram for explaining a waveform.

【図3】差分抽出を示すブロック図。FIG. 3 is a block diagram showing difference extraction.

【図4】パターン抽出器を説明するブロック図。FIG. 4 is a block diagram illustrating a pattern extractor.

【図5】タイミングを示す図。FIG. 5 is a diagram showing timing.

【図6】データー生成回路のブロック図。FIG. 6 is a block diagram of a data generation circuit.

【図7】データー生成された信号を説明するための図。FIG. 7 is a diagram for explaining a data-generated signal.

【図8】加算を示すブロック図である。FIG. 8 is a block diagram showing addition.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 差分抽出回路 2−1〜n シフトレジスター 3 パターン抽出部 4 シフトレジスター 5 データー生成回路 6 シフトレジスター 7 加算回路 1 Difference Extraction Circuit 2-1 to n Shift Register 3 Pattern Extraction Section 4 Shift Register 5 Data Generation Circuit 6 Shift Register 7 Addition Circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入力された所定のビツト長よりなるデイ
ジタルデーターのサンプルデーター間の差分を取り微少
レベル変化を検出する手段と、前記検出手段で検出した
微少レベル変化の前後の数サンプルにわたり所定のパタ
ーンの微少レベルデーターを生成する手段と、前記微少
レベル変化毎に前記生成された微少レベルデーターを上
位の前記サンプルデーターに各々加算し1サンプル間で
前記微少レベル変化より少ない変化となるように前記入
力されたデイジタルデーターのビツト数より増大させた
ビツトとなす手段を具備することを特徴とするビツト長
拡張装置。
1. A means for detecting a minute level change by obtaining a difference between sample data of digital data having a predetermined bit length inputted, and a predetermined number of samples before and after the minute level change detected by said detecting means. Means for generating the minute level data of the pattern, and adding the generated minute level data for each of the minute level changes to the upper sample data so that the change is smaller than the minute level change in one sample. A bit length expansion device comprising means for making a bit number larger than the number of bits of the input digital data.
JP3153702A 1991-05-30 1991-05-30 Bit length expansion device Expired - Lifetime JPH0773187B2 (en)

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