JPH0770644B2 - 熱伝導性基板 - Google Patents

熱伝導性基板

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JPH0770644B2
JPH0770644B2 JP61067093A JP6709386A JPH0770644B2 JP H0770644 B2 JPH0770644 B2 JP H0770644B2 JP 61067093 A JP61067093 A JP 61067093A JP 6709386 A JP6709386 A JP 6709386A JP H0770644 B2 JPH0770644 B2 JP H0770644B2
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JP
Japan
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conductive substrate
substrate
metallized layer
thermal conductive
aln substrate
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暢男 岩瀬
和雄 安斎
孝 高橋
康之 杉浦
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3731Ceramic materials or glass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は個別半導体用ヒートシンクとして有用な高熱伝
導性基板に関する。
(従来の技術) 半導体で発生し熱を放熱するため個別半導体用ヒートシ
ンク等に高熱伝導性基板が使用されている。従来、高熱
伝導性基板としてはBeO基板が一般的であったが、高価
であることや毒性のためAlN基板が検討されている。
このAlN基板には半導体チップを半田付けし、ワイヤを
ボンディングするため、メタライズ層を形成する必要が
ある。このメタライズ層の形成は通常、研磨したAlN基
板にMoまたは、Wを主体とするメタライズペーストを塗
布し、焼成して行っていた。
(発明が解決しようとする問題点) ところでこのメタライズ層を形成したAlN基板ではAlN基
板とメタライズ層間の接合強度が弱く、また歩留が低い
という問題点があった。
本発明はこのような問題を解消するためなされたもの
で、AlN基板とメタライズ層との接合強度が大きく、そ
のばらつきが小さく、また歩留も良好な高熱伝導性基板
を提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明の高熱伝導性基板は、焼成されたAlN基板の表面
を5〜15μmの表面粗さ(Rmax)にホーニング加工し、
その上にメタライズ層を形成してなることを特徴として
いる。
この高熱伝導性基板は、表面粗さ(Rmax)を5〜15μm
とするホーニング加工によりAlN基板にメタライズ層を
形成する際アンカー効果による大きい接合強度が得られ
る。AlN基板の表面粗さ(Rmax)が5μmより小さいと
アンカー効果がうすれて接合強度が低下し、また15μm
を越えると導体回路の断線やショートの原因となる。な
おAlN基板の成形法としてシート成形法を用いた場合に
は生産性が向上し製造コストを低減させることができ
る。
(実施例) 次に本発明の実施例について説明する。
窒化アルミニウム粉末に3重量%の酸化イットリウムを
加え、粉砕混合し、バインダを添加してドクターブレー
ド法によりシート成形した。得られたグリーンシートを
50mm×50mmなど適当な大きさに切断し、窒素雰囲気中で
1800℃、2時間加熱して焼成した。得られたAlN基板の
表面粗さ(Rmax)は、2〜5μmであった。
このようにして得られたAlN基板1を図に示すようにホ
ーニング加工して表面粗さ(Rmax)を5〜15μmにし
て、その後Moを主体とする導体ペーストを印刷、乾燥
し、真空炉で焼成して厚さ10μmのメタライズ層2を形
成した。次にダイヤモンドソーにより2mm×2mmに切断し
て小形にし、厚さ2μmのNiめっき3と厚さ1.5μmのA
uめっき4を施した。
このようにして得られた高熱伝導性基板のAlN基板とメ
タライズ層との接合強度は4kgf/mm2以上であり、ホーニ
ング加工をしないで研磨したAlN基板にメタライズ層を
形成したものに比べて平均値でも50%以上アップした。
またこの実施例ではシート形成法により成形したので生
産性が向上し、1時間あたり2mm×2mmのものを約1000個
生産することができた。
一方従来のプレス成形による方法では、1時間あたりた
かだか100個しか生産できなかった。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の高熱伝導性基板において
は、AlN基板表面をホーニング加工して表面粗さ(Rma
x)を5〜15μmとしているので、アンカー効果により
メタライズ層との接合強度が向上する。従って本発明の
高熱伝導性基板は個別半導体用ヒートシンク等として有
用である。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の高熱伝導性基板を模式的に示す断面図で
ある。 1……AlN基板 2……メタライズ層 3……Niめっき 4……Auめっき
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 3/38 A 7011−4E (72)発明者 杉浦 康之 神奈川県川崎市幸区柳町70番地 株式会社 東芝柳町工場内 (56)参考文献 特開 昭61−7647(JP,A) 特開 昭60−10696(JP,A)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】焼成されたAIN基板の表面を5〜15μmの
    表面粗さ(Rmax)に粗く加工し、その上にMoまたはWを
    主体とするメタライズ層を形成してなることを特徴とす
    る熱伝導性基板。
  2. 【請求項2】加工はホーニング加工である特許請求の範
    囲第1項記載の熱伝導性基板。
  3. 【請求項3】メタライズ層上にはNiめっきおよびAuめっ
    きが施されている特許請求の範囲第1項記載の熱伝導性
    基板。
  4. 【請求項4】AIN基板はシート成形法により成形された
    ものである特許請求の範囲第1項記載の熱伝導性基板。
JP61067093A 1986-03-27 1986-03-27 熱伝導性基板 Expired - Lifetime JPH0770644B2 (ja)

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JPS62224952A JPS62224952A (ja) 1987-10-02
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01218089A (ja) * 1988-02-26 1989-08-31 Toshiba Corp 表面導電性セラミックス基板の製造方法
JPH0666533B2 (ja) * 1988-04-25 1994-08-24 株式会社トーキン 窒化アルミニウム基板の製造方法
JPH02122318U (ja) * 1989-03-17 1990-10-05
US6884972B2 (en) 1999-12-09 2005-04-26 Ibiden Co., Ltd. Ceramic plate for a semiconductor producing/inspecting apparatus
JP2003037224A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP2003037231A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP2003060137A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP4737885B2 (ja) * 2001-08-08 2011-08-03 イビデン株式会社 モジュール用基板
JP5498839B2 (ja) * 2010-04-02 2014-05-21 京セラ株式会社 絶縁放熱基板

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6010696A (ja) * 1983-06-30 1985-01-19 日本碍子株式会社 薄膜用セラミツク回路基板の製造法
JPS617647A (ja) * 1984-06-21 1986-01-14 Toshiba Corp 回路基板

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JPS62224952A (ja) 1987-10-02

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