JPH0770644B2 - 熱伝導性基板 - Google Patents
熱伝導性基板Info
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- JPH0770644B2 JPH0770644B2 JP61067093A JP6709386A JPH0770644B2 JP H0770644 B2 JPH0770644 B2 JP H0770644B2 JP 61067093 A JP61067093 A JP 61067093A JP 6709386 A JP6709386 A JP 6709386A JP H0770644 B2 JPH0770644 B2 JP H0770644B2
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- JP
- Japan
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- conductive substrate
- substrate
- metallized layer
- thermal conductive
- aln substrate
- Prior art date
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3731—Ceramic materials or glass
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は個別半導体用ヒートシンクとして有用な高熱伝
導性基板に関する。
導性基板に関する。
(従来の技術) 半導体で発生し熱を放熱するため個別半導体用ヒートシ
ンク等に高熱伝導性基板が使用されている。従来、高熱
伝導性基板としてはBeO基板が一般的であったが、高価
であることや毒性のためAlN基板が検討されている。
ンク等に高熱伝導性基板が使用されている。従来、高熱
伝導性基板としてはBeO基板が一般的であったが、高価
であることや毒性のためAlN基板が検討されている。
このAlN基板には半導体チップを半田付けし、ワイヤを
ボンディングするため、メタライズ層を形成する必要が
ある。このメタライズ層の形成は通常、研磨したAlN基
板にMoまたは、Wを主体とするメタライズペーストを塗
布し、焼成して行っていた。
ボンディングするため、メタライズ層を形成する必要が
ある。このメタライズ層の形成は通常、研磨したAlN基
板にMoまたは、Wを主体とするメタライズペーストを塗
布し、焼成して行っていた。
(発明が解決しようとする問題点) ところでこのメタライズ層を形成したAlN基板ではAlN基
板とメタライズ層間の接合強度が弱く、また歩留が低い
という問題点があった。
板とメタライズ層間の接合強度が弱く、また歩留が低い
という問題点があった。
本発明はこのような問題を解消するためなされたもの
で、AlN基板とメタライズ層との接合強度が大きく、そ
のばらつきが小さく、また歩留も良好な高熱伝導性基板
を提供することを目的とする。
で、AlN基板とメタライズ層との接合強度が大きく、そ
のばらつきが小さく、また歩留も良好な高熱伝導性基板
を提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明の高熱伝導性基板は、焼成されたAlN基板の表面
を5〜15μmの表面粗さ(Rmax)にホーニング加工し、
その上にメタライズ層を形成してなることを特徴として
いる。
を5〜15μmの表面粗さ(Rmax)にホーニング加工し、
その上にメタライズ層を形成してなることを特徴として
いる。
この高熱伝導性基板は、表面粗さ(Rmax)を5〜15μm
とするホーニング加工によりAlN基板にメタライズ層を
形成する際アンカー効果による大きい接合強度が得られ
る。AlN基板の表面粗さ(Rmax)が5μmより小さいと
アンカー効果がうすれて接合強度が低下し、また15μm
を越えると導体回路の断線やショートの原因となる。な
おAlN基板の成形法としてシート成形法を用いた場合に
は生産性が向上し製造コストを低減させることができ
る。
とするホーニング加工によりAlN基板にメタライズ層を
形成する際アンカー効果による大きい接合強度が得られ
る。AlN基板の表面粗さ(Rmax)が5μmより小さいと
アンカー効果がうすれて接合強度が低下し、また15μm
を越えると導体回路の断線やショートの原因となる。な
おAlN基板の成形法としてシート成形法を用いた場合に
は生産性が向上し製造コストを低減させることができ
る。
(実施例) 次に本発明の実施例について説明する。
窒化アルミニウム粉末に3重量%の酸化イットリウムを
加え、粉砕混合し、バインダを添加してドクターブレー
ド法によりシート成形した。得られたグリーンシートを
50mm×50mmなど適当な大きさに切断し、窒素雰囲気中で
1800℃、2時間加熱して焼成した。得られたAlN基板の
表面粗さ(Rmax)は、2〜5μmであった。
加え、粉砕混合し、バインダを添加してドクターブレー
ド法によりシート成形した。得られたグリーンシートを
50mm×50mmなど適当な大きさに切断し、窒素雰囲気中で
1800℃、2時間加熱して焼成した。得られたAlN基板の
表面粗さ(Rmax)は、2〜5μmであった。
このようにして得られたAlN基板1を図に示すようにホ
ーニング加工して表面粗さ(Rmax)を5〜15μmにし
て、その後Moを主体とする導体ペーストを印刷、乾燥
し、真空炉で焼成して厚さ10μmのメタライズ層2を形
成した。次にダイヤモンドソーにより2mm×2mmに切断し
て小形にし、厚さ2μmのNiめっき3と厚さ1.5μmのA
uめっき4を施した。
ーニング加工して表面粗さ(Rmax)を5〜15μmにし
て、その後Moを主体とする導体ペーストを印刷、乾燥
し、真空炉で焼成して厚さ10μmのメタライズ層2を形
成した。次にダイヤモンドソーにより2mm×2mmに切断し
て小形にし、厚さ2μmのNiめっき3と厚さ1.5μmのA
uめっき4を施した。
このようにして得られた高熱伝導性基板のAlN基板とメ
タライズ層との接合強度は4kgf/mm2以上であり、ホーニ
ング加工をしないで研磨したAlN基板にメタライズ層を
形成したものに比べて平均値でも50%以上アップした。
またこの実施例ではシート形成法により成形したので生
産性が向上し、1時間あたり2mm×2mmのものを約1000個
生産することができた。
タライズ層との接合強度は4kgf/mm2以上であり、ホーニ
ング加工をしないで研磨したAlN基板にメタライズ層を
形成したものに比べて平均値でも50%以上アップした。
またこの実施例ではシート形成法により成形したので生
産性が向上し、1時間あたり2mm×2mmのものを約1000個
生産することができた。
一方従来のプレス成形による方法では、1時間あたりた
かだか100個しか生産できなかった。
かだか100個しか生産できなかった。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の高熱伝導性基板において
は、AlN基板表面をホーニング加工して表面粗さ(Rma
x)を5〜15μmとしているので、アンカー効果により
メタライズ層との接合強度が向上する。従って本発明の
高熱伝導性基板は個別半導体用ヒートシンク等として有
用である。
は、AlN基板表面をホーニング加工して表面粗さ(Rma
x)を5〜15μmとしているので、アンカー効果により
メタライズ層との接合強度が向上する。従って本発明の
高熱伝導性基板は個別半導体用ヒートシンク等として有
用である。
図面は本発明の高熱伝導性基板を模式的に示す断面図で
ある。 1……AlN基板 2……メタライズ層 3……Niめっき 4……Auめっき
ある。 1……AlN基板 2……メタライズ層 3……Niめっき 4……Auめっき
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 3/38 A 7011−4E (72)発明者 杉浦 康之 神奈川県川崎市幸区柳町70番地 株式会社 東芝柳町工場内 (56)参考文献 特開 昭61−7647(JP,A) 特開 昭60−10696(JP,A)
Claims (4)
- 【請求項1】焼成されたAIN基板の表面を5〜15μmの
表面粗さ(Rmax)に粗く加工し、その上にMoまたはWを
主体とするメタライズ層を形成してなることを特徴とす
る熱伝導性基板。 - 【請求項2】加工はホーニング加工である特許請求の範
囲第1項記載の熱伝導性基板。 - 【請求項3】メタライズ層上にはNiめっきおよびAuめっ
きが施されている特許請求の範囲第1項記載の熱伝導性
基板。 - 【請求項4】AIN基板はシート成形法により成形された
ものである特許請求の範囲第1項記載の熱伝導性基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61067093A JPH0770644B2 (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 熱伝導性基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61067093A JPH0770644B2 (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 熱伝導性基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62224952A JPS62224952A (ja) | 1987-10-02 |
JPH0770644B2 true JPH0770644B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=13334923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61067093A Expired - Lifetime JPH0770644B2 (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 熱伝導性基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0770644B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01218089A (ja) * | 1988-02-26 | 1989-08-31 | Toshiba Corp | 表面導電性セラミックス基板の製造方法 |
JPH0666533B2 (ja) * | 1988-04-25 | 1994-08-24 | 株式会社トーキン | 窒化アルミニウム基板の製造方法 |
JPH02122318U (ja) * | 1989-03-17 | 1990-10-05 | ||
US6884972B2 (en) | 1999-12-09 | 2005-04-26 | Ibiden Co., Ltd. | Ceramic plate for a semiconductor producing/inspecting apparatus |
JP2003037224A (ja) * | 2001-07-23 | 2003-02-07 | Ibiden Co Ltd | モジュール用基板 |
JP2003037231A (ja) * | 2001-07-23 | 2003-02-07 | Ibiden Co Ltd | モジュール用基板 |
JP2003060137A (ja) * | 2001-08-08 | 2003-02-28 | Ibiden Co Ltd | モジュール用基板 |
JP4737885B2 (ja) * | 2001-08-08 | 2011-08-03 | イビデン株式会社 | モジュール用基板 |
JP5498839B2 (ja) * | 2010-04-02 | 2014-05-21 | 京セラ株式会社 | 絶縁放熱基板 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6010696A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-19 | 日本碍子株式会社 | 薄膜用セラミツク回路基板の製造法 |
JPS617647A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-14 | Toshiba Corp | 回路基板 |
-
1986
- 1986-03-27 JP JP61067093A patent/JPH0770644B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62224952A (ja) | 1987-10-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |