JPS617647A - 回路基板 - Google Patents
回路基板Info
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- JPS617647A JPS617647A JP59128262A JP12826284A JPS617647A JP S617647 A JPS617647 A JP S617647A JP 59128262 A JP59128262 A JP 59128262A JP 12826284 A JP12826284 A JP 12826284A JP S617647 A JPS617647 A JP S617647A
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は放熱性の改良された回路基板に関する。
[発明の技術的背景とその問題点]
従来より、アルミナ系セラミックス基板の表面にモリブ
デンペーストを塗布し1、焼結してメタライズし、この
上に銅箔をろう付けした半導体用回路基板や、近年では
、第3図に示すように、アルミナ系セラミックス基板1
に回路パターン用金属板2a 、 2b及びヒートシン
ク用金属板5を熱処理により直接接合した半導体用回路
基板が知られている。なお、図中符号3は半導体素子、
4はボンディングワイヤである。
デンペーストを塗布し1、焼結してメタライズし、この
上に銅箔をろう付けした半導体用回路基板や、近年では
、第3図に示すように、アルミナ系セラミックス基板1
に回路パターン用金属板2a 、 2b及びヒートシン
ク用金属板5を熱処理により直接接合した半導体用回路
基板が知られている。なお、図中符号3は半導体素子、
4はボンディングワイヤである。
このような半導体用回路基板においては、セラミックス
基板としてアルミナ系のものが一般に使用され゛【いる
が、大電力半導体素子を搭載する場合、アルミナ系のセ
ラミックス基板は熱伝導性が必ずしも充分でないため、
シリコンペレット等の半導体索子からの発熱を充分に放
散させることは困難であった。
基板としてアルミナ系のものが一般に使用され゛【いる
が、大電力半導体素子を搭載する場合、アルミナ系のセ
ラミックス基板は熱伝導性が必ずしも充分でないため、
シリコンペレット等の半導体索子からの発熱を充分に放
散させることは困難であった。
このため熱伝導性の優れた酸化ベリリウム系セラミック
ス基板や窒化アルミニウム系セラミック基板を使用する
ことも行われているが、前者は毒性やコストの点で、ま
た後者もコスト等の点で用途の制約があった。
ス基板や窒化アルミニウム系セラミック基板を使用する
ことも行われているが、前者は毒性やコストの点で、ま
た後者もコスト等の点で用途の制約があった。
[発明の目的]
本発明はこのような問題に対処してなされたもので、放
熱性の改良された半導体用回路基板を安価に提供するこ
とを目的とする。
熱性の改良された半導体用回路基板を安価に提供するこ
とを目的とする。
[発明の概要]
本発明は半導体モジュール用絶縁基板として2種類のセ
ラミックス基板を使用し、そして半導体素子搭載部の絶
縁基板に熱伝導性の良好な、例えば窒化アルミニウム系
l?ツミック基板を使用するものである。
ラミックス基板を使用し、そして半導体素子搭載部の絶
縁基板に熱伝導性の良好な、例えば窒化アルミニウム系
l?ツミック基板を使用するものである。
すなわち本発明の半導体用回路基板は、半導体素子搭載
部に対応する位置にはアルミナよりも熱伝導性の良好な
セラミック基板が、それ以外の箇所にはアルミナ系セラ
ミックス基板が金属板に直接接合され、さらにこれらセ
ラミックス基板のそれぞれの他面には回路パターン用金
属板が直接接合されていることを特徴としている。
部に対応する位置にはアルミナよりも熱伝導性の良好な
セラミック基板が、それ以外の箇所にはアルミナ系セラ
ミックス基板が金属板に直接接合され、さらにこれらセ
ラミックス基板のそれぞれの他面には回路パターン用金
属板が直接接合されていることを特徴としている。
本発明に使用する窒化アルミニウム系セラミック基板は
、窒化アルミニウム粉末に酸化イツトリウム等の焼結助
剤を(0,1〜5%)添加混合し、所定形状に成形し焼
成したものをさらに酸化して表面に金属との接合に必要
な酸素を有する層を形成させて用いることが望ましい。
、窒化アルミニウム粉末に酸化イツトリウム等の焼結助
剤を(0,1〜5%)添加混合し、所定形状に成形し焼
成したものをさらに酸化して表面に金属との接合に必要
な酸素を有する層を形成させて用いることが望ましい。
これは空気中であるいはフォーミングガス中で1000
〜1500℃に加熱することにより形成される。あるい
はアルミナ、二酸化ケイ素等の酸化物を金属との接合に
必要な量、例えば1〜3%添加し焼成したものを使用す
ることもできる。
〜1500℃に加熱することにより形成される。あるい
はアルミナ、二酸化ケイ素等の酸化物を金属との接合に
必要な量、例えば1〜3%添加し焼成したものを使用す
ることもできる。
本発明に使用する金属板は、導体としであるいはヒート
シンク用として用いられるものであって、銅板、特に酸
素を100〜2000 ppm含有する、例えばタフピ
ッチ電解銅を使用することが好ましい。あるいは無酸素
銅を予め酸化して使用することもできる。回路パターン
用金属板もタフピッチ電解銅で形成するのが好ましく、
無酸素銅で形成した場合は予め酸化して使用するのが好
ましい。
シンク用として用いられるものであって、銅板、特に酸
素を100〜2000 ppm含有する、例えばタフピ
ッチ電解銅を使用することが好ましい。あるいは無酸素
銅を予め酸化して使用することもできる。回路パターン
用金属板もタフピッチ電解銅で形成するのが好ましく、
無酸素銅で形成した場合は予め酸化して使用するのが好
ましい。
本発明においては、半導体素子搭載部に相当する箇所に
は窒化アルミニウムのようなアルミナよりも熱伝導性の
良好なセラミック基板を、それ以外の箇所にはアルミナ
系セラミックス基板を金属板に接触配置し、さらにこれ
らセラミックス基板のそれぞれの他面に回路パターン用
金属板を接触配置し、この状態で金属が銅であるなら銅
の融点(1083°C)以下、銅−酸素の共晶温度(1
065℃)以上の温度で5〜30分間加熱することによ
り金属板とセラミックス基板およびセラミックス基板と
回路パターン用金属板とを接合一体化させる。 なお、
加熱時の雰囲気は酸素を含有する銅または表面を酸化処
理したものを使用する場合は窒素ガス等の非酸化性雰囲
気とし、酸素を含有しない銅を使用する場合は0..0
3〜0.1容量%の微量の酸素を含む雰囲気とする。
は窒化アルミニウムのようなアルミナよりも熱伝導性の
良好なセラミック基板を、それ以外の箇所にはアルミナ
系セラミックス基板を金属板に接触配置し、さらにこれ
らセラミックス基板のそれぞれの他面に回路パターン用
金属板を接触配置し、この状態で金属が銅であるなら銅
の融点(1083°C)以下、銅−酸素の共晶温度(1
065℃)以上の温度で5〜30分間加熱することによ
り金属板とセラミックス基板およびセラミックス基板と
回路パターン用金属板とを接合一体化させる。 なお、
加熱時の雰囲気は酸素を含有する銅または表面を酸化処
理したものを使用する場合は窒素ガス等の非酸化性雰囲
気とし、酸素を含有しない銅を使用する場合は0..0
3〜0.1容量%の微量の酸素を含む雰囲気とする。
[発明の実施例]
次に本発明の実施例について第1図および第2図を用い
て説明する。なお第3図と共通する部分は同一符号で示
す。
て説明する。なお第3図と共通する部分は同一符号で示
す。
第1図および第2図に示すように、半導体素子3の搭載
部の対応位置には、空気中で1200℃に加熱して予め
表面を酸化した窒化アルミニウム系セラミック基板6が
、それ以外の箇所にはアルミナ系のセラミックス基板1
がタフピッチ電解銅からなる金属板5に加熱により直接
接合されており、ざらにこれらセラミックス基板のそれ
ぞれの他面にはタフピッチ電解銅からなる回路パターン
用金属板2a12bが加熱により直接接合されている。
部の対応位置には、空気中で1200℃に加熱して予め
表面を酸化した窒化アルミニウム系セラミック基板6が
、それ以外の箇所にはアルミナ系のセラミックス基板1
がタフピッチ電解銅からなる金属板5に加熱により直接
接合されており、ざらにこれらセラミックス基板のそれ
ぞれの他面にはタフピッチ電解銅からなる回路パターン
用金属板2a12bが加熱により直接接合されている。
また、半導体素子3と他の電気回路2bはボンディング
ワイヤ4により接続されている。
ワイヤ4により接続されている。
このように形成された半導体用回路基板は、絶縁基板と
してアルミナ系セラミックス基板のみを使用した第3図
に示す半導体用回路基板に比べて放熱性が約1.5倍向
上した。
してアルミナ系セラミックス基板のみを使用した第3図
に示す半導体用回路基板に比べて放熱性が約1.5倍向
上した。
なお、以上の実施例では、アルミナよりも熱伝導性の良
好なセラミック基板として、窒化アルミニウム系基板を
用いた例について説明したが、本発明はこのような実施
例に限定されるものではなく、必要に応じて炭化けい素
糸セラミックス、ベリリア系セラミックスその他の熱伝
導性の良好なセラミック基板を用いることもできる。
好なセラミック基板として、窒化アルミニウム系基板を
用いた例について説明したが、本発明はこのような実施
例に限定されるものではなく、必要に応じて炭化けい素
糸セラミックス、ベリリア系セラミックスその他の熱伝
導性の良好なセラミック基板を用いることもできる。
ま六、アルミナ製セラミック基板と熱伝導性の良好なセ
ラミック基板間をガラス、その他の絶縁物で一体に接合
するようにしてもよい。
ラミック基板間をガラス、その他の絶縁物で一体に接合
するようにしてもよい。
[発明の効果]
以上説明したように本発明の半導体用回路基板は、半導
体素子の直下の絶縁基板が熱伝導性の良好なセラミック
基板で形成されているので放熱性が著しく向上し、かつ
、安価に製造できる。パワートランジスタモジュール用
回路基板やマイクロ波トランジスタモジュール用回路基
板等の大電力半導体モジュール用として特に有用である
。
体素子の直下の絶縁基板が熱伝導性の良好なセラミック
基板で形成されているので放熱性が著しく向上し、かつ
、安価に製造できる。パワートランジスタモジュール用
回路基板やマイクロ波トランジスタモジュール用回路基
板等の大電力半導体モジュール用として特に有用である
。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は本発
明の特徴部分を示す斜視図、第3図は従来の半導体用回
路基板を示す断面図である。 1・・・・・・・・・・・・アルミナ系セラミックス基
板2a 、2b・・・回路パターン用金属板3・・・・
・・・・・・・・半導体素子4・・・・・・・旧・・ボ
ンディングワイヤ5・・・・・・・・・・・・金属板 6・・・・・・・・・・・・窒化アルミニウム系セラミ
ック基板
明の特徴部分を示す斜視図、第3図は従来の半導体用回
路基板を示す断面図である。 1・・・・・・・・・・・・アルミナ系セラミックス基
板2a 、2b・・・回路パターン用金属板3・・・・
・・・・・・・・半導体素子4・・・・・・・旧・・ボ
ンディングワイヤ5・・・・・・・・・・・・金属板 6・・・・・・・・・・・・窒化アルミニウム系セラミ
ック基板
Claims (5)
- (1)アルミナよりも熱伝導性の良好なセラミック板体
と、アルミナ系セラミックス板体で構成されるセラミッ
クス基板が金属に直接接合され、さらにこれらセラミッ
クス基板のそれぞれには回路パターン用金属板が直接接
合されていることを特徴とする回路基板。 - (2)アルミナよりも熱伝導性の良好なセラミック板体
が窒化アルミニウム系セラミック基板である特許請求の
範囲第1項記載の回路基板。 - (3)窒化アルミニウム系セラミック基板は表面が酸化
処理されているものである特許請求の範囲第1項または
第2項記載の回路基板。 - (4)金属板はヒートシンク用の銅板である特許請求の
範囲第1項ないし第3項のいずれか1項記載の回路基板
。 - (5)回路パターン用金属板は銅板からなる特許請求の
範囲第1項ないし第4項のいずれか1項記載の回路基板
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59128262A JPS617647A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59128262A JPS617647A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 回路基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS617647A true JPS617647A (ja) | 1986-01-14 |
Family
ID=14980494
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59128262A Pending JPS617647A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 回路基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS617647A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1987004859A1 (en) * | 1986-02-08 | 1987-08-13 | Robert Bosch Gmbh | Ignition switching device |
JPS62216251A (ja) * | 1986-03-17 | 1987-09-22 | Toshiba Corp | 高熱伝導性基板 |
JPS62219546A (ja) * | 1986-03-19 | 1987-09-26 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
JPS62224952A (ja) * | 1986-03-27 | 1987-10-02 | Toshiba Corp | 熱伝導性基板 |
JPS6364048U (ja) * | 1986-10-14 | 1988-04-27 | ||
JPS63229843A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-26 | Narumi China Corp | 複合セラミツクス基板 |
US4835065A (en) * | 1986-07-11 | 1989-05-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Composite alumina-aluminum nitride circuit substrate |
US5363278A (en) * | 1988-03-30 | 1994-11-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Bonded ceramic-metal composite substrate, circuit board constructed therewith and methods for production thereof |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53102310A (en) * | 1977-02-18 | 1978-09-06 | Tokyo Shibaura Electric Co | Heat conducting base plates |
JPS57196549A (en) * | 1981-05-18 | 1982-12-02 | Philips Nv | Method of assembling semiconductor device |
-
1984
- 1984-06-21 JP JP59128262A patent/JPS617647A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS53102310A (en) * | 1977-02-18 | 1978-09-06 | Tokyo Shibaura Electric Co | Heat conducting base plates |
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