JPH0769498B2 - フエル−ル - Google Patents

フエル−ル

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JPH0769498B2
JPH0769498B2 JP1916487A JP1916487A JPH0769498B2 JP H0769498 B2 JPH0769498 B2 JP H0769498B2 JP 1916487 A JP1916487 A JP 1916487A JP 1916487 A JP1916487 A JP 1916487A JP H0769498 B2 JPH0769498 B2 JP H0769498B2
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JP
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ferrule
fiber
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polishing
fixed
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信二 中村
国俊 西村
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は現場で容易かつ短時間で接続ファイバと接続で
きるフェルールに関するものである。
(従来の技術) 第4図に従来のフェルールと接続ファイバの組立て工程
を示す。端末処理された光ファイバ1−1はフェルール
2の中心に設けた精密細孔2−2に挿入され、接着剤3
でフェルールに固定された後、端面に余計に突き出した
ファイバは切断されて接続損失,接合面での反射を低減
するため端面を凹凸球面,平面形状等に研磨皿13で研磨
仕上げされる。研磨が終ると研磨面の傷,マスターコネ
クタとの接続損失等が検査された後ハウジング部品(図
は省略)を組み立てて完成する。
この様なフェルールと接続ファイバの組立てにおいて、
特に現場組み立てにおいては、上記工程のうち、研磨工
程は粗研磨から仕上げ研磨まで3段階あり、各工程での
洗浄を含めると所要時間約20〜30分と長い。さらにフェ
ルールと接続ファイバの組立てを必要とする電話局内や
加入者宅等の現場でフェルールと接続ファイバを組立て
る場合には、可搬型の研磨装置を持ち歩かねばならず、
装置へのフェルールの取付,取りはずし,研磨工程の各
段階で研磨皿の洗浄、研磨皿への研磨液の塗布等、装置
の使用に際して多くの人手を必要とする。また、研磨工
程の後の研磨の評価検査(目視による研磨面の傷の有
無,接続損失,反射減衰等)で問題があると、研磨のや
り直しを必要としたり、組立現場によっては、設置場所
あるいは接続ファイバの余長等へ制約から装置本体の設
置、装置へのフェルールの装着が困難となる場合もあ
る。
以上の点から、従来のフェルールは組立現場での研磨,
検査工程を必要とすることから、組立時間,作業性の問
題がある。
(発明の目的) 本発明は従来の組立現場での研磨工程,検査工程を不要
とした接続ファイバとの組立時間が短かく作業性の良好
なフェルールを提供することにある。
(問題を解決するための手段) 本発明は、フェルールの嵌合部に精密細孔と交差する貫
通孔を有し、前記貫通孔とフェルールの嵌合部の先端と
の間の精密細孔内に前記フェルールに適合する固定され
た裸ファイバを有し、前記フェルールの嵌合部の先端に
前記固定された裸ファイバと共に所要の形状に研磨した
端面を有していることを特徴とする。
(作 用) 本発明のフェルールは予め工場等の製造段階でフェルー
ルの端面研磨と研磨面を含めた所要の品質検査を行い、
実際の組立現場ではこのフェルールに端面処理した接続
ファイバを挿入後、前記貫通孔から火炎,CO2レーザー放
電電極等の加熱手段を挿入して予めフェルール内に固定
した裸ファイバと融着接続して最後に接続ファイバをフ
ェルールに固定することでフェルールと接続ファイバの
組立でができる。
従って、本発明のフェルールでは従来のフェルールで必
要となる組立現場での端面の研磨,研磨面等の検査等が
不要となり、組立時間の削減、組立てに要する装置類の
低減、組立作業性の改善が図られる。
(実施例) 第1図(a)(b)は、それぞれ本発明のフェルール構
造の断面及び外観を示す図である。2はジルコニア等の
セラミックスでできたフェルールの嵌合部2−1を有す
るセラミックフェルール、2−4は嵌合部2−1の1部
に設けられたフェルールの中心を通って貫通する火炎,C
O2レーザー,放電電極等の加熱手段、あるいは接着剤等
を入れる貫通孔、4はフェルールに予め固定された裸光
ファイバ、2−3はフェルールのフランジ部である。な
お5はフェルール2を保管するための保護カバーであ
る。第1図(b)は第1図(a)の保護カバー5をはず
した状態のフェルールをX−X′方向からみた外観図で
ある。
第2図は、本発明のフェルールの製造手順を説明するた
めの図である。まず、従来のセラミックスフェルールの
セラミックスでできたフェルールの嵌合部2−1に中心
を通って貫通する貫通孔2−4を設けたフェルールを用
意し、このフェルールの精密細孔2−2に本細孔と適合
する先端部の被覆材料が除去された固定用ファイバ1−
2をフランジ側から挿入し、固定用ファイバの先端部の
裸ファイバを区間Aの部分で固定(例えば接着剤,半田
等の手段により)する。このときの断面図を第2図
(a)に示し、嵌合部を拡大したものを第2図(a)′
に示す。その後フェルール2の端面を所要の形状2−7
に前述した第4図のような方法で研磨する。そして第2
図(b)に示すような方法で所定の検査(研磨面の傷,
マスターコネクター10との接続損失,反射減衰量等)を
行う。検査終了後、第2図(c)に示すように貫通孔2
−4より切断刃9を用いて貫通孔の中心で、固定用ファ
イバ1−2を切断し、固定用ファイバの余長部を取り除
くことにより第1図(a)に示すフェルール2が製造さ
れる。なお、貫通孔,フランジ穴,フェルールの嵌合部
側の端面は保護カバー5を施して保管する。また研磨
中、固定用ファイバ1−2は保護のためフランジ部2−
3と押え部品等で仮固定しておく。なおここでは長尺の
固定用ファイバ1−2をフェルールに挿入,固定等の
後、貫通孔2−4で切断したが、これに限定されるもの
でなく、短尺のファイバを貫通孔2−4の中心にその端
面が位置するように挿入し、その後固定,研磨等しても
よい。
第3図は、本発明のフェルールと接続ファイバとの組立
方法の一例を説明する図であり、1−1は端末処理さ
れ、定寸切断された接続ファイバ、6は加熱手段として
放電を用いた例として放電電極を示し、7はファイバク
ランパ(接続ファイバのクランプ部)、8はフェルール
クランパ(電気絶縁材から成るフェルールクランプ
部)、3は光ファイバとフェルールとの固定部材(接着
剤等)である。
第3図に沿って、本発明のフェルールと接続ファイバと
の現場での組立て方法を説明する。まず、前記の研磨
済、固定された裸ファイバ付きフェルールの中から接続
ファイバの素線径と最適なもの(最もクリアランスの小
さい)を選定しフェルールクランパ8にセットする。端
末処理した接続ファイバ1−1をクランプ部7にセット
しフランジ側よりフェルール2内の固定された裸ファイ
バ4の端面に突き当たるまで挿入する(第3図
(a))。この後、フェルールに対して対向し、中心が
貫通孔2−4の中心に位置せしめた1対の放電電極6を
貫通孔2−4に電極間隔が所定の値Bになるまで挿入す
る(第3図(b))。この後、接続ファイバに所定の押
圧力Fを与えて放電し(あるいは放電しつつ一定量押し
込む)前記固定された裸ファイバ4と、接続ファイバ1
−1とを融着接続する。融着接続後、フェルールのフラ
ンジ部の一部2−5をかしめて接続ファイバを固定し、
貫通孔には接着剤等2−6を充填して終了となる(第3
図(c))。
なお、接続ファイバ1−1とフェルールとの固定はかし
めでなくとも接着剤(この場合には接続ファイバの被覆
部に塗布する)に依ってもよくかしめに限定するもので
はない。
また、裸ファイバ4と接続ファイバ1−1との場合には
融着接続法を用いる例を説明したが、接着剤を用いても
よい。
以上の様に、本発明のフェルールは製造が容易であり、
フェルールの製造段階で研磨と検査が行えるため、現場
でのフェルールと接続ファイバとの組立時間が大幅に短
縮される他、現場では予め用意された種々の穴径および
端面形状のフェルールの中から、接続ファイバの素線径
および所要端面形状と最も適合するものを選定するだけ
で品質が保証される利点がある。
また、現場での検査は、融着接続損失を含めた接続損失
をフェルール製造時の測定に用いたマスターコネクタを
用いて測定するだけでよく、これによりフェルール製造
時の接続損失から融着による損失も推定できる。
なお、融着による損失は、固定,接着両ファイバが同一
精密細孔で自動的に高精密に心合せされること、放電領
域11が挿入穴の周囲にあるセラミックスの壁で規制され
ファイバ接続部近傍のみの局部加熱ができ接続ファイバ
の折れ曲がりの低減できることから、低損失な接続が行
える。また上記の加熱領域の狭小化は、融着時の熱応力
の低減にも効果があり、接続部の高強度化いつながる。
さらに、組立てに要する装置類は接続ファイバの端末処
理具の他は融着接続のための放電部(電極6,電源12),
フェルール,接続ファイバのクランプ部7,8から成る簡
易な融着装置であり、従来の組立てで必要であった研磨
機,洗浄器は不要となり、装置構成を簡単にできる利点
がある。
(発明の効果) 以上説明した様に本発明のフェルールは製造時に固定フ
ァイバと共に所要の端面形状に研磨するため、事前にフ
ェルールの接続損失,反射減衰量の光学特性,研磨面の
評価等の品質検査が行える。このため、フェルールと接
続ファイバとの組立現場では研磨を不要にでき、かつ検
査は融着損失のみ評価すればよく、組立時間の大幅な低
減と組立てに要する装置類の簡易化によるフェルールと
接続ファイバとの組立て作業性の改善が図られる利点が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のフェルール構造を示す図、第2図は本
発明のフェルール構造を示す図の製造手順を説明する
図、第3図は本発明のフェルールと接続ファイバを現場
で組立てる際の組立てを説明する図、第4図は従来のフ
ェルールとファイバの組立てを説明する図である。 1−1……接続ファイバ、1−2……固定用ファイバ、
2……フェルール、2−1……フェルールの嵌合部、2
−2……精密細孔、2−3……フランジ部、2−4……
貫通孔、2−5……カシメ部、2−6……接着剤等の充
填物、2−7……研磨面、3……セラミックスとファイ
バの固定部材、4……フェルール内に固定された裸ファ
イバ、5……保護カバー、6……電極、7……ファイバ
クランパ、8……フェルールクランパ、9……切断刃、
10……マスターコネクタ、11……放電領域、12……高圧
電源、13……研磨皿。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】中心に裸ファイバが挿入される精密細孔を
    有するフェルールにおいて、 フェルール嵌合部の一部に前記精密細孔と交差する貫通
    孔を有し、前記貫通孔とフェルールの嵌合部の先端面と
    の間の精密細孔内に固定された裸ファイバを有し、前記
    嵌合部の先端面に前記固定された裸ファイバと共に研磨
    された端面を有することを特徴とするフェルール。
  2. 【請求項2】前記嵌合部はセラミックスでできているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第一項記載のフェルー
    ル。
  3. 【請求項3】前記固定された裸ファイバの研摩された端
    面とは別の端部が前記貫通孔内に突き出していることを
    特徴とする特許請求の範囲第一項又は第二項記載のフェ
    ルール。
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JP2654538B2 (ja) * 1994-05-24 1997-09-17 日本電気株式会社 光半導体モジュールとその接続構造
JP3515677B2 (ja) 1996-10-09 2004-04-05 住友電気工業株式会社 光コネクタおよびその取付方法

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