JPH0765756A - イメージインテンシファイア装置 - Google Patents
イメージインテンシファイア装置Info
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- JPH0765756A JPH0765756A JP23735693A JP23735693A JPH0765756A JP H0765756 A JPH0765756 A JP H0765756A JP 23735693 A JP23735693 A JP 23735693A JP 23735693 A JP23735693 A JP 23735693A JP H0765756 A JPH0765756 A JP H0765756A
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Abstract
ち消すイメージインテンシファイア装置を提供する。 【構成】 入力面基板1の外周空間に巻回された補正コ
イル10は、入力面基板1を挟む縦平面間で形成される
入力面基板領域NR内またはその近辺の任意の位置に配
置される。磁気センサ21は、入力面基板1と補正コイ
ル10との間の間隙領域KR内またはその近辺で、か
つ、入力面基板領域NR内またはその近辺の任意の位置
に配置される。磁気センサ21は、入力面基板1から入
り込む地磁気を検出する。制御部22は、磁気センサ2
1で検出した磁気に基づいて、入力面基板1から入る地
磁気を打ち消す磁場を補正コイル10で発生させるよう
な電流を補正コイル10に供給させるように電源11を
制御する。
Description
ファイア装置(以下、「I.I装置」ともいう)に係
り、特に、地磁気による出力可視光像の磁気歪みを防止
するための技術に関する。
に、入射X線像に応じた光電子像を出力するための、C
sI等の蛍光面と光電陰極とからなる入力面基板1と、
入力面基板1の光電陰極から放出される光電子像を縮小
結像させるための、フォーカス電極2と陽極3とで構成
される電子レンズ系と、この電子レンズ系の作用で縮小
結像された電子像を可視光像に変換出力するための出力
蛍光面4とを管容器5に収納して構成されている。な
お、図中、符号8はフォーカス電源を示し、符号9は陽
極電源を示す。
回避するために、管容器5の周囲を強磁性体の金属6
(例えば、パーマロイ等)で磁気シルードしているが、
X線の入射面(入力面基板1の前面)を、強磁性体の金
属6で磁気シールドすると、その金属6で入射X線が吸
収され、入力面基板1に入射するX線量が小さくなり、
最終的に得られるX線透過像が不鮮明なものとなり好ま
しくないので、X線の入射面には、アルミニウムやチタ
ン、ガラス等の窓7を形成せざるをえなかった。
んでくる地磁気の影響により、入力面基板1から放出さ
れる光電子が、ローレンツ力によって歪められ、出力蛍
光面4から出力される可視光像が歪んだものとなるとい
う問題があった。
なくすために、従来、入力面基板1から入り込んでくる
地磁気を遮断するための磁気歪み補正機構を備えたI.
I装置もある。
する。図6は、従来装置に備えられた磁気歪み補正機構
の概略構成をX線入射方向から見た図である。
は、補正コイル10が巻回されており、この補正コイル
10に電流を供給するための電源11も設けられてい
る。すなわち、電源11から補正コイル10に電流が供
給されると、補正コイル10により磁場が発生し、その
磁場により、入力面基板1から入り込んでくる地磁気を
打ち消すように作用させるものである。従って、入力面
基板1から入り込んでくる地磁気の方向や大きさに応じ
て、補正コイル11で発生させる磁場の方向や大きさを
調整できるように、電源11から補正コイル10に供給
される電流量や電流の方向を操作者が可変に設定できる
ように構成されている。
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。I.I装置は、通常、C型アームの端部に、X線
管と対向して取り付けられており、X線管とI.I装置
との間に仰臥される被検体に対する、X線管とI.I装
置の位置関係を変えながら、種々の方向からX線透視像
を得ている。すなわち、I.I装置は常に特定の位置に
固定されているのではなく、撮影条件に応じて種々の方
向に向けられる。I.I装置の入力面基板1から入り込
んでくる地磁気の方向や大きさは、I.I装置の向きに
より変化するので、その変化に応じて補正コイル10か
ら、地磁気を打ち消すように発生させる磁場の方向や大
きさを調整するために、操作者は、電源11から補正コ
イル10に供給される電流量や電流の方向を調整しなけ
ればならない。
あっても、C型アームが設置される地理的条件により、
入力面基板1から入り込んでくる地磁気の方向や大きさ
は同じであるとは限らず、また、磁気は目に見えないの
で、入力面基板1から入り込んでくる地磁気を補正用コ
イル10で打ち消すように、補正コイル10に供給する
電流量や電流の方向を調整するのは難しいという問題が
ある。また、上述したように、撮影条件が変わるたびに
I.I装置の方向が変えられ、そのたびに補正コイル1
0に供給する電流量や電流の方向を調整しなければなら
ず手間であるという問題もある。
れたものであって、イメージインテンシファイア装置の
方向にかかわらず、入力面基板から入り込んでくる地磁
気を自動的に打ち消すことができるイメージインテンシ
ファイア装置を提供することを目的とする。
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、この発明は、入射X線像に応じた光電子像を出力す
る入力面基板と、前記光電子像を縮小結像させる電子レ
ンズ系と、前記電子レンズ系で縮小結像された電子像を
可視光像に変換出力する出力蛍光面とを管容器に収納し
たイメージインテンシファイア装置において、磁気セン
サと、前記入力面基板の外周空間に巻回された補正コイ
ルと、前記補正コイルに電流を供給する電源と、前記磁
気センサで検出された磁気を打ち消す磁場を前記補正コ
イルで発生させるような電流を前記補正コイルに供給さ
せるように前記電源を制御する制御手段とを備え、ま
た、前記補正コイルは、前記入力面基板を挟む縦平面間
で形成される入力面基板領域内またはその近辺に配置す
るとともに、前記磁気センサは、前記入力面基板と前記
補正コイルとの間の間隙領域内またはその近辺で、か
つ、前記入力面基板領域内またはその近辺に配置したも
のである。
ルは、入力面基板を挟む縦平面間で形成される入力面基
板領域またはその近辺に配置しているので、地磁気が入
力面基板より後ろのイメージインテンシファイア装置に
入り込むのを防止することができる。また、磁気センサ
は、入力面基板と補正コイルとの間の間隙領域内または
その近辺で、かつ、入力面基板領域内またはその近辺に
配置しているので、入力面基板から入り込んでくる地磁
気(方向や大きさ)を可能な限り精度よく検出すること
ができる。
入力面基板から入り込んでくる磁気(地磁気の方向や大
きさ)を検出し、検出結果を制御手段に与える。制御手
段は、与えられた磁気(入力面基板から入り込んでくる
地磁気)を打ち消す磁場を補正コイルで発生させるよう
な電流を補正コイルに供給させるように電源を制御す
る。制御手段の指示により電源から所定の方向、大きさ
の電流が補正コイルに供給される。その電流で補正コイ
ルから発生される磁場により、入力面基板から入り込ん
でくる磁気が打ち消される。
変えられても、その方向において入力面基板から入り込
んでくる磁気は、上述したような各部の作用により自動
的に打ち消される。
説明する。図1(a)は、この発明の一実施例に係るイ
メージインテンシファイア装置に備えられた磁気歪み補
正機構の概略構成を示す図であり、図1(b)は、図1
(a)のA−A矢視断面図である。なお、図1および以
下の図2ないし図4で示す構成において、図5、図6と
同一符号で示す部分は、従来例と同一構成であるので、
ここでの詳述は省略する。
正コイル10と、電源11と、磁気センサ21と、制御
部22とによって構成されている。
コイル10は、入力面基板1を挟む縦平面間で形成され
る入力面基板領域NR内またはその近辺の任意の位置に
配置される。この入射面基板領域NRは、入力面基板1
に対して、縦平面を仮想的に設けたとき、入力面基板1
を挟む2枚の縦平面間で形成される領域であり、例え
ば、図1(a)では、入力面基板1の中心NOに接する
縦平面TP1と、入力面基板1の外周端NGに接する縦
平面TP2との間の領域である。なお、この実施例で
は、補正コイル10は縦平面TP2の内側に配置されて
いる。また、この実施例の補正コイル10は、複数回巻
回された構成であるが、一巻きのコイルで構成してもよ
い。
するためのものであり、後述する制御部により制御され
るように構成されている。
検出するためのものであり、例えば、フラックスゲート
センサやホール素子を用いたセンサ等で構成され、検出
した磁気の大きさや方向に応じた電気信号を出力し、後
述する制御部に与えるように構成されている。この磁気
センサ21は、入力面基板1と上述のように配置された
補正コイル10との間の間隙領域KR内またはその近辺
で、かつ、上述の入力面基板領域NR内またはその近
辺、すなわち、2つの領域KR、NRが重なるドーナツ
状の領域WR内またはその近辺の任意の位置に配置され
る。なお、この実施例では、磁気センサ21は、入力面
基板1の外周端NGの近辺に配置されている。
れた、磁気(入力面基板1から入り込んでくる地磁気)
の大きさや方向に応じた電気信号に基づいて、入力面基
板1から入り込んでくる地磁気を打ち消す磁場を補正コ
イル10で発生させるような電流を補正コイル10に供
給させるように電源11を制御するように構成されてい
る。
作を説明する。磁気センサ21は、入力面基板1から入
り込んでくる地磁気を検出し、検出した地磁気の大きさ
と方向に応じた電気信号を制御部22に与える。制御部
22では、与えられたデータに基づいて、電源11を制
御し、地磁気を打ち消すような磁場を補正コイル10か
ら発生させるように、電源11を制御する。電源11か
ら与えられた電流で、補正コイル10から発生した磁場
により入力面基板1から入り込んでくる地磁気が打ち消
されるので、I.I装置内において入力面基板1から放
出される光電子が地磁気で歪められ、可視光像が歪むと
いう現象をなくすことができる。
2を参照して説明する。例えば、入力面基板1から入り
込んでくる地磁気IBが図2(a)に示すような状態で
あり、そのときの磁気センサ21から制御部22に与え
られるデータが、「+10v」であるとする。このと
き、補正コイル11から図2(b)の点線の矢印に示す
ような磁場HBを発生させるために、図2(b)の矢印
に示す方向に電流iが流れるように、制御部22が電源
11を制御する。また、磁気センサ21から制御部22
に与えられるデータが「0v」になるように、補正コイ
ル10から磁場HBが発生されるような大きさの電流
を、補正コイル11に供給するように電源11を制御す
る。
えられるデータが、「−10v」であるとすると、制御
部22は上記と逆向きで、同じ大きさの電流を補正コイ
ル10に供給するように、電源11を制御する。
から与えられるデータの符号で電流の向きを制御し、デ
ータの絶対値の大きさにより電流量を制御する。
域の近辺は、図3に示すように、強磁性体の金属6で磁
気シールドされているので、その金属6の影響により、
磁気センサ21で検出される地磁気IBの大きさに誤差
が含まれることがある。例えば、実際に入力面基板1か
ら入り込んでくる地磁気の大きさに対応する電気信号
(例えば、磁気センサ21を入力面基板1の中心NOの
前面に配置し、検出したときの地磁気の大きさに対する
電気信号)が、「+1v」であるにもかかわらず、磁気
センサ21を図1に示す位置に配置し、検出したときの
地磁気の大きさに対する電気信号が「+2v」となる場
合がある。このようなとき、上述の制御方法で補正コイ
ル10から磁場を発生させた場合、入力面基板1では、
「−1v」に相当する磁場が残留された状態となる。そ
こで、このような場合には、誤差分を予め計測してお
き、その誤差分をオフセット値(上述の場合では、「−
1v」)として記憶しておき、磁気センサ21から与え
られるデータとオフセット値とを加算し、その結果得ら
れるデータ(上述の場合では、「+1v」)に基づい
て、上述と同様の方法で電源11を制御すればよい。な
お、オフセット値を絶対値で記憶している場合(例え
ば、上述の場合では「+1v」)には、磁気センサ21
から与えられるデータからオフセット値を差分すればよ
い。
TP2の内側に配置されているが、上述したように、補
正コイル10は、入力面基板領域NR内またはその近辺
の任意の位置に配置されていればよい。補正コイル10
をこのような位置に配置することにより、地磁気が入力
面基板1より後ろのI.I装置内に入り込むのを防止す
ることができる。なお、補正コイル10による地磁気の
遮断をより効果的に行うためには、補正コイル10は入
力面基板領域NR内に配置されるのが好ましい。
は、入力面基板1の外周端NGの近辺に配置している
が、上述したように、磁気センサ21は、間隙領域K
R、入力面基板領域NRが重なる領域WR内またはその
近辺の任意の位置に配置されていればよい。磁気センサ
21を入力面基板1の前面(特に、入力面基板1の中心
NOの前面)に配置すれば、入力面基板1から入り込ん
でくる地磁気を最も精度よく検出することができるが、
磁気センサ21を入力面基板1の前面に配置すれば、入
射面基板1に入射するX線像に磁気センサ21の影をつ
くることになるので、磁気センサ21を入力面基板1の
前面に配置することができない。そこで、磁気センサ2
1を上述のような位置に配置することにより、入力面基
板1から入り込んでくる地磁気の方向や大きさを可能な
限り精度よく検出することができる。なお、入力面基板
1から入り込んでくる地磁気の方向や大きさをより精度
よく検出するためには、磁気センサ21は領域WR内に
配置されるのが好ましい。
を1個用いて、入力面基板1から入り込んでくる地磁気
を検出するように構成したが、図4に示すように、複数
個(図4では2個)の磁気センサ21を用いて、入力面
基板1から入り込んでくる地磁気をそれぞれ検出し、制
御部22で各磁気センサ21の検出結果の平均を求め、
その平均値に基づいて、電源11を制御するように構成
してもよい。このように構成すれば、入力面基板1から
入り込んでくる地磁気を、制御部22でより正確に把握
することができるので、補正コイル10による磁場補正
をより正確に行うことができる。但し、各磁気センサ2
1は、図4に示すように、互いに対象な位置に配置する
ことが好ましい。
明によれば、磁気センサにより入力面基板から入り込ん
でくる磁気(地磁気の大きさや方向)を検出し、その検
出結果に基づいて、制御手段が電源を制御して補正コイ
ルから発生する磁場で地磁気を打ち消すように構成した
ことにより、イメージインテンシファイア装置がおかれ
る地理的条件や、イメージインテンシファイア装置が向
けられる方向の変化にかかわらず、常に自動的に地磁気
を打ち消すことができるので、イメージインテンシファ
イア装置からは常に歪みのない可視光像を得ることがで
きる。
コイルから発生させる磁場を調整するという面倒な操作
をなくすことができる。
たはその近辺に配置しているので、地磁気が入力面基板
より後ろのイメージインテンシファイア装置内から入り
込むのを防止することができ、また、磁気センサは、間
隙領域内またはその近辺で、かつ、入力面基板領域内ま
たはその近辺に配置しているので、入力面基板から入り
込んでくる磁気(地磁気の方向や大きさ)を可能な限り
精度よく検出することができる。
ンテンシファイア装置に備えられた磁気歪み補正機構の
概略構成を示す図である。 (b):図1(a)のA−A矢視断面図である。
る。
図である。
構成をX線入射方向から見た図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 入射X線像に応じた光電子像を出力する
入力面基板と、前記光電子像を縮小結像させる電子レン
ズ系と、前記電子レンズ系で縮小結像された電子像を可
視光像に変換出力する出力蛍光面とを管容器に収納した
イメージインテンシファイア装置において、磁気センサ
と、前記入力面基板の外周空間に巻回された補正コイル
と、前記補正コイルに電流を供給する電源と、前記磁気
センサで検出された磁気を打ち消す磁場を前記補正コイ
ルで発生させるような電流を前記補正コイルに供給させ
るように前記電源を制御する制御手段とを備え、また、
前記補正コイルは、前記入力面基板を挟む縦平面間で形
成される入力面基板領域内またはその近辺に配置すると
ともに、前記磁気センサは、前記入力面基板と前記補正
コイルとの間の間隙領域内またはその近辺で、かつ、前
記入力面基板領域内またはその近辺に配置したことを特
徴とするイメージインテンシファイア装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23735693A JP3216355B2 (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | イメージインテンシファイア装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23735693A JP3216355B2 (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | イメージインテンシファイア装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0765756A true JPH0765756A (ja) | 1995-03-10 |
JP3216355B2 JP3216355B2 (ja) | 2001-10-09 |
Family
ID=17014186
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23735693A Expired - Fee Related JP3216355B2 (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | イメージインテンシファイア装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3216355B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006338906A (ja) * | 2005-05-31 | 2006-12-14 | Shimadzu Corp | X線受像装置 |
WO2007055285A1 (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X線イメージ管の歪補正装置 |
-
1993
- 1993-08-30 JP JP23735693A patent/JP3216355B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006338906A (ja) * | 2005-05-31 | 2006-12-14 | Shimadzu Corp | X線受像装置 |
JP4604845B2 (ja) * | 2005-05-31 | 2011-01-05 | 株式会社島津製作所 | X線受像装置 |
WO2007055285A1 (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X線イメージ管の歪補正装置 |
JP2007134135A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Toshiba Corp | X線イメージ管の歪補正装置 |
EP1968097A1 (en) * | 2005-11-09 | 2008-09-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Strain correcting device for x-ray image tubes |
EP1968097A4 (en) * | 2005-11-09 | 2010-09-15 | Toshiba Kk | CORRECTION CORRECTION DEVICE FOR X-RAY TUBES |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3216355B2 (ja) | 2001-10-09 |
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