JPH0765398A - 発光受光素子デバイス - Google Patents
発光受光素子デバイスInfo
- Publication number
- JPH0765398A JPH0765398A JP5211561A JP21156193A JPH0765398A JP H0765398 A JPH0765398 A JP H0765398A JP 5211561 A JP5211561 A JP 5211561A JP 21156193 A JP21156193 A JP 21156193A JP H0765398 A JPH0765398 A JP H0765398A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- receiving element
- light emitting
- light
- substrate
- package member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】組立時に各光学素子を簡単且つ高精度に位置合
わせすることができる構造の発光受光素子デバイスを提
供する。 【構成】発光受光素子デバイスは、パッケージ部材14
と、このパッケージ部材14上にエポキシ等の樹脂を介
して接着された半導体基板16とを備えている。半導体
基板16には、この基板16をケミカルエッチングして
形成した斜面に金属蒸着が施された反射ミラー18と、
この反射ミラー18の両側の領域に形成された一対の受
光素子20と、反射ミラー18に対面する側の領域に形
成された貫通穴22とが設けられている。貫通穴22の
内部には、半導体レーザ24が位置付けられており、こ
の半導体レーザ24は、サブステム26を介してパッケ
ージ部材14上に、半田材料によって、ろう付けされて
いる。
わせすることができる構造の発光受光素子デバイスを提
供する。 【構成】発光受光素子デバイスは、パッケージ部材14
と、このパッケージ部材14上にエポキシ等の樹脂を介
して接着された半導体基板16とを備えている。半導体
基板16には、この基板16をケミカルエッチングして
形成した斜面に金属蒸着が施された反射ミラー18と、
この反射ミラー18の両側の領域に形成された一対の受
光素子20と、反射ミラー18に対面する側の領域に形
成された貫通穴22とが設けられている。貫通穴22の
内部には、半導体レーザ24が位置付けられており、こ
の半導体レーザ24は、サブステム26を介してパッケ
ージ部材14上に、半田材料によって、ろう付けされて
いる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに対するデ
ータの読出及び書込に適用される発光受光素子デバイス
に関する。
ータの読出及び書込に適用される発光受光素子デバイス
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば特開平4−196189号
公報(以下、従来例と称する)に開示されたような発光
受光素子デバイスが知られており、図3には、この従来
例に係るデバイスの構成が示されている。
公報(以下、従来例と称する)に開示されたような発光
受光素子デバイスが知られており、図3には、この従来
例に係るデバイスの構成が示されている。
【0003】図3に示すように、従来例に係るデバイス
は、パッケージ部材2と、このパッケージ部材2上にエ
ポキシ等の樹脂を介して接着された半導体基板4とを備
えている。
は、パッケージ部材2と、このパッケージ部材2上にエ
ポキシ等の樹脂を介して接着された半導体基板4とを備
えている。
【0004】半導体基板4には、この基板4をケミカル
エッチングして形成したエッチピット6と、一対の受光
素子8とが設けられている。エッチピット6の底面に
は、半導体レーザーチップ10が半田等によって、ろう
付けされている。また、エッチピット6を構成する一斜
面には、金属蒸着によって反射ミラー12が形成されて
いる。
エッチングして形成したエッチピット6と、一対の受光
素子8とが設けられている。エッチピット6の底面に
は、半導体レーザーチップ10が半田等によって、ろう
付けされている。また、エッチピット6を構成する一斜
面には、金属蒸着によって反射ミラー12が形成されて
いる。
【0005】上述した構成の他に、配線用パターンやワ
イヤ等が設けられているが、ここでは省略する。このよ
うな構成によれば、半導体レーザーチップ10から出射
されたレーザー光は、反射ミラー12によって上方に反
射される。
イヤ等が設けられているが、ここでは省略する。このよ
うな構成によれば、半導体レーザーチップ10から出射
されたレーザー光は、反射ミラー12によって上方に反
射される。
【0006】ここで、半導体レーザーチップ10と反射
ミラー12との間の距離が大きい場合、レーザー光が拡
散してしまうため、後述する光学系を大径化させなけれ
ばならなくなる。従って、半導体レーザーチップ10と
反射ミラー12との間の距離は、例えば、数十μm程度
に規定することが好ましい。
ミラー12との間の距離が大きい場合、レーザー光が拡
散してしまうため、後述する光学系を大径化させなけれ
ばならなくなる。従って、半導体レーザーチップ10と
反射ミラー12との間の距離は、例えば、数十μm程度
に規定することが好ましい。
【0007】反射ミラー12から上方に反射したレーザ
ー光は、レンズやホログラフィックオプティカルエレメ
ント等から構成される光学系(図示しない)を介して記
録媒体上(図示しない)に集光される。
ー光は、レンズやホログラフィックオプティカルエレメ
ント等から構成される光学系(図示しない)を介して記
録媒体上(図示しない)に集光される。
【0008】この記録媒体から反射した反射光は、上記
光学系によって2以上に分割され、一対の受光素子8に
夫々集光される。これら反射光は、夫々の受光素子8に
よって、その光量に対応した電気信号に変換されて出力
される。
光学系によって2以上に分割され、一対の受光素子8に
夫々集光される。これら反射光は、夫々の受光素子8に
よって、その光量に対応した電気信号に変換されて出力
される。
【0009】この出力信号に基づいて、記録媒体のデー
タが検出されると共に、フォーカスエラー信号及びトラ
ッキングエラー信号等の制御用信号が検出される。な
お、従来例の装置において、高精度の制御用信号を得る
ために、受光素子8及び反射ミラー12は、同一の半導
体基板4上に形成されている。
タが検出されると共に、フォーカスエラー信号及びトラ
ッキングエラー信号等の制御用信号が検出される。な
お、従来例の装置において、高精度の制御用信号を得る
ために、受光素子8及び反射ミラー12は、同一の半導
体基板4上に形成されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
のデバイスは、機能上要求される材料特性が異なるた
め、半導体レーザーチップ10を受光素子8及び反射ミ
ラー12と同一の半導体基板4上に形成するのは困難で
あると共に、その構造上組立工程において、高い位置精
度を達成することは困難である。
のデバイスは、機能上要求される材料特性が異なるた
め、半導体レーザーチップ10を受光素子8及び反射ミ
ラー12と同一の半導体基板4上に形成するのは困難で
あると共に、その構造上組立工程において、高い位置精
度を達成することは困難である。
【0011】具体的には、まず、パッケージ部材2に対
して予め受光素子8及びエッチピット6が形成された半
導体基板4を接着する。この際の接着材料は、半田材料
又は樹脂材料のいずれでもよいが、通常は作業性に優れ
る樹脂材料が用いられる。また、この第1の接着工程に
は、特段の位置精度は要求されないため、位置合わせ上
の問題は生じない。
して予め受光素子8及びエッチピット6が形成された半
導体基板4を接着する。この際の接着材料は、半田材料
又は樹脂材料のいずれでもよいが、通常は作業性に優れ
る樹脂材料が用いられる。また、この第1の接着工程に
は、特段の位置精度は要求されないため、位置合わせ上
の問題は生じない。
【0012】第1の接着工程の接着材料が硬化した後、
半導体レーザーチップ10を半導体基板4のエッチピッ
ト6の底面に接着する第2の接着工程が行われる。この
工程では、半導体レーザーチップ10を受光素子8及び
反射ミラー12に対して高い位置精度で位置合わせしな
ければならない。
半導体レーザーチップ10を半導体基板4のエッチピッ
ト6の底面に接着する第2の接着工程が行われる。この
工程では、半導体レーザーチップ10を受光素子8及び
反射ミラー12に対して高い位置精度で位置合わせしな
ければならない。
【0013】なお、半導体レーザーチップ10は多大な
熱を発生する関係上、好良な放熱性を確保するために、
接着材料には熱伝導性の高い半田材料が用いられる。こ
のため、第2の接着工程は、半田材料を用いた高温接着
工程中に、高い位置合わせ精度を確保しなければならな
い。
熱を発生する関係上、好良な放熱性を確保するために、
接着材料には熱伝導性の高い半田材料が用いられる。こ
のため、第2の接着工程は、半田材料を用いた高温接着
工程中に、高い位置合わせ精度を確保しなければならな
い。
【0014】しかしながら、高温の条件下では、材料の
熱膨張の影響等により、高精度な位置合わせは困難であ
るため、従来例のデバイスでは、半導体レーザーチップ
10を受光素子8及び反射ミラー12に対して高精度に
位置合わせすることが困難でになるという問題が生じ
る。
熱膨張の影響等により、高精度な位置合わせは困難であ
るため、従来例のデバイスでは、半導体レーザーチップ
10を受光素子8及び反射ミラー12に対して高精度に
位置合わせすることが困難でになるという問題が生じ
る。
【0015】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされており、その目的は、組立時に各光学素子を
簡単且つ高精度に位置合わせすることができる構造の発
光受光素子デバイスを提供することにある。
めになされており、その目的は、組立時に各光学素子を
簡単且つ高精度に位置合わせすることができる構造の発
光受光素子デバイスを提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明の発光受光素子デバイスは、受光素子
対及びこれら受光素子対の間の領域に形成された斜面に
設けられた反射部を有する受光素子基板と、この受光素
子基板を支持する第1の支持手段と、前記反射部の近傍
に対面して配置された発光素子基板と、この発光素子基
板を支持する第2の支持手段とを備えており、前記受光
素子基板と前記発光素子基板とは、前記第1及び第2の
支持手段によって、相対的に位置合わせ可能に支持され
ている。
るために、本発明の発光受光素子デバイスは、受光素子
対及びこれら受光素子対の間の領域に形成された斜面に
設けられた反射部を有する受光素子基板と、この受光素
子基板を支持する第1の支持手段と、前記反射部の近傍
に対面して配置された発光素子基板と、この発光素子基
板を支持する第2の支持手段とを備えており、前記受光
素子基板と前記発光素子基板とは、前記第1及び第2の
支持手段によって、相対的に位置合わせ可能に支持され
ている。
【0017】
【作用】前記受光素子基板と前記発光素子基板とは、前
記第1及び第2の支持手段によって、相対的に位置合わ
せ可能に支持される。
記第1及び第2の支持手段によって、相対的に位置合わ
せ可能に支持される。
【0018】
【実施例】以下、本発明の第1の実施例に係る発光受光
素子デバイスについて、図1を参照して説明する。図1
に示すように、本実施例の発光受光素子デバイスは、パ
ッケージ部材14と、このパッケージ部材14上にエポ
キシ等の樹脂を介して接着された半導体基板16とを備
えている。
素子デバイスについて、図1を参照して説明する。図1
に示すように、本実施例の発光受光素子デバイスは、パ
ッケージ部材14と、このパッケージ部材14上にエポ
キシ等の樹脂を介して接着された半導体基板16とを備
えている。
【0019】半導体基板16には、この基板16をケミ
カルエッチングして形成した斜面に金属蒸着が施された
反射ミラー18と、この反射ミラー18の両側の領域に
形成された一対の受光素子20と、反射ミラー18に対
面する側の領域に形成された貫通穴22とが設けられて
いる。
カルエッチングして形成した斜面に金属蒸着が施された
反射ミラー18と、この反射ミラー18の両側の領域に
形成された一対の受光素子20と、反射ミラー18に対
面する側の領域に形成された貫通穴22とが設けられて
いる。
【0020】貫通穴22の内部には、半導体レーザ24
が位置付けられており、この半導体レーザ24は、サブ
ステム26を介してパッケージ部材14上に、半田材料
によって、ろう付けされている。
が位置付けられており、この半導体レーザ24は、サブ
ステム26を介してパッケージ部材14上に、半田材料
によって、ろう付けされている。
【0021】次に、本実施例の組立工程について説明す
る。まず、第1の接着工程において、パッケージ部材1
4上にサブステム26を介して半導体レーザ24を半田
付けする。この半田付けは高温で行われるが、高精度な
位置決めは必要ではないため、組立精度上の問題は生じ
ない。
る。まず、第1の接着工程において、パッケージ部材1
4上にサブステム26を介して半導体レーザ24を半田
付けする。この半田付けは高温で行われるが、高精度な
位置決めは必要ではないため、組立精度上の問題は生じ
ない。
【0022】半導体基板16には、予め、反射ミラー1
8と、一対の受光素子20と、貫通穴22とが形成され
ており、貫通穴22は、切削加工等によって形成するこ
とができる。
8と、一対の受光素子20と、貫通穴22とが形成され
ており、貫通穴22は、切削加工等によって形成するこ
とができる。
【0023】第2の接着工程において、上述した貫通穴
22内に半導体レーザ24及びサブステム26が配置さ
れるように、半導体基板16をエポキシ等の樹脂(図示
しない)を介してパッケージ部材14上に接着する。
22内に半導体レーザ24及びサブステム26が配置さ
れるように、半導体基板16をエポキシ等の樹脂(図示
しない)を介してパッケージ部材14上に接着する。
【0024】このとき、貫通穴22とサブステム26と
の間には間隙が存在するため、樹脂が硬化する前に、半
導体基板16の位置を微調整することによって、半導体
基板16と半導体レーザ24との間の位置合わせを高精
度に行うことができる。
の間には間隙が存在するため、樹脂が硬化する前に、半
導体基板16の位置を微調整することによって、半導体
基板16と半導体レーザ24との間の位置合わせを高精
度に行うことができる。
【0025】この後、樹脂が硬化することによって、半
導体基板16は、パッケージ部材14上に高精度に位置
決め固定されることになる。従来、組立に際し、半導体
レーザ24と半導体基板16との位置合わせ固定は、半
田等が適用されていた関係上、高温で行う必要があった
が、上述したように本実施例によれば、常温で行うこと
が可能となり、結果、高精度な位置合わせ固定が可能に
なるという効果を奏する。
導体基板16は、パッケージ部材14上に高精度に位置
決め固定されることになる。従来、組立に際し、半導体
レーザ24と半導体基板16との位置合わせ固定は、半
田等が適用されていた関係上、高温で行う必要があった
が、上述したように本実施例によれば、常温で行うこと
が可能となり、結果、高精度な位置合わせ固定が可能に
なるという効果を奏する。
【0026】なお、本発明は、上述した実施例の構成に
限定されることはなく、種々変更可能であることは言う
までもない。例えば、パッケージ部材14として回路基
板を適用したり、サブステム26を省略して半導体レー
ザ24を直接パッケージ部材14上に接着しても同様の
効果を奏する。
限定されることはなく、種々変更可能であることは言う
までもない。例えば、パッケージ部材14として回路基
板を適用したり、サブステム26を省略して半導体レー
ザ24を直接パッケージ部材14上に接着しても同様の
効果を奏する。
【0027】以下、本発明の第2の実施例に係る発光受
光素子デバイスについて、図2を参照して説明する。図
2に示すように、本実施例の発光受光素子デバイスは、
パッケージ部材28と、このパッケージ部材28上にエ
ポキシ等の樹脂を介して接着された半導体基板30とを
備えている。
光素子デバイスについて、図2を参照して説明する。図
2に示すように、本実施例の発光受光素子デバイスは、
パッケージ部材28と、このパッケージ部材28上にエ
ポキシ等の樹脂を介して接着された半導体基板30とを
備えている。
【0028】半導体基板30には、この基板30をケミ
カルエッチングして形成した斜面に金属蒸着が施された
反射ミラー32と、この反射ミラー32の両側の領域に
夫々一対づつ形成された二組の受光素子34とが設けら
れている。
カルエッチングして形成した斜面に金属蒸着が施された
反射ミラー32と、この反射ミラー32の両側の領域に
夫々一対づつ形成された二組の受光素子34とが設けら
れている。
【0029】反射ミラー32は、半導体基板30の中央
側部を厚み方向全体に亘ってケミカルエッチングして形
成された斜面上に金属蒸着が施されて構成されている。
また、半導体レーザ36は、サブステム38を介してパ
ッケージ部材28上に半田材料によって、ろう付けされ
ている。
側部を厚み方向全体に亘ってケミカルエッチングして形
成された斜面上に金属蒸着が施されて構成されている。
また、半導体レーザ36は、サブステム38を介してパ
ッケージ部材28上に半田材料によって、ろう付けされ
ている。
【0030】サブステム38は、反射ミラー32に並列
して且つ同角度で延出した斜面38aを備えており、半
導体レーザ36は、この斜面38aが形成された側に、
反射ミラー32に接近させた状態でサブステム38上に
半田材料によって、ろう付けされている。
して且つ同角度で延出した斜面38aを備えており、半
導体レーザ36は、この斜面38aが形成された側に、
反射ミラー32に接近させた状態でサブステム38上に
半田材料によって、ろう付けされている。
【0031】次に、本実施例の組立工程について説明す
る。まず、第1の接着工程において、パッケージ部材2
8上にサブステム38を介して半導体レーザ36を半田
付けする。この半田付けは高温で行われるが、高精度な
位置決めは必要ではないため、組立精度上の問題は生じ
ない。
る。まず、第1の接着工程において、パッケージ部材2
8上にサブステム38を介して半導体レーザ36を半田
付けする。この半田付けは高温で行われるが、高精度な
位置決めは必要ではないため、組立精度上の問題は生じ
ない。
【0032】半導体基板30には、予め、反射ミラー3
2と、二組の受光素子34とが設けられている。第2の
接着工程において、サブステム38の斜面38aに反射
ミラー32が対面するように、半導体基板30をエポキ
シ等の樹脂(図示しない)を介してパッケージ部材28
上に接着する。
2と、二組の受光素子34とが設けられている。第2の
接着工程において、サブステム38の斜面38aに反射
ミラー32が対面するように、半導体基板30をエポキ
シ等の樹脂(図示しない)を介してパッケージ部材28
上に接着する。
【0033】このとき、サブステム38の斜面38aと
反射ミラー32との間には間隙が存在するため、樹脂が
硬化する前に、半導体基板30の位置を微調整すること
によって、半導体基板30とサブステム38上に接着さ
れた半導体レーザ36との間の位置合わせを高精度に行
うことができる。
反射ミラー32との間には間隙が存在するため、樹脂が
硬化する前に、半導体基板30の位置を微調整すること
によって、半導体基板30とサブステム38上に接着さ
れた半導体レーザ36との間の位置合わせを高精度に行
うことができる。
【0034】この後、樹脂が硬化することによって、半
導体基板30は、パッケージ部材28上に高精度に位置
決め固定されることになる。従来、組立に際し、半導体
レーザ36と半導体基板30との位置合わせ固定は、半
田等が適用されていた関係上、高温で行う必要があった
が、上述したように本実施例によれば、常温で行うこと
が可能となり、結果、高精度な位置合わせ固定が可能に
なるという効果を奏する。なお、本発明も上述した実施
例の構成に限定されることはなく、種々変更可能である
ことは言うまでもない。
導体基板30は、パッケージ部材28上に高精度に位置
決め固定されることになる。従来、組立に際し、半導体
レーザ36と半導体基板30との位置合わせ固定は、半
田等が適用されていた関係上、高温で行う必要があった
が、上述したように本実施例によれば、常温で行うこと
が可能となり、結果、高精度な位置合わせ固定が可能に
なるという効果を奏する。なお、本発明も上述した実施
例の構成に限定されることはなく、種々変更可能である
ことは言うまでもない。
【0035】
【発明の効果】本発明によれば、受光素子基板と発光素
子基板は、第1及び第2の支持手段によって相対的に位
置合わせ可能に支持されているため、組立時に各光学素
子を簡単且つ高精度に位置合わせすることができる構造
の発光受光素子デバイスを提供することができる。
子基板は、第1及び第2の支持手段によって相対的に位
置合わせ可能に支持されているため、組立時に各光学素
子を簡単且つ高精度に位置合わせすることができる構造
の発光受光素子デバイスを提供することができる。
【図1】(a)は、本発明の第1の実施例に係る発光受
光素子デバイスの構成を示す斜視図、(b)は、その平
面図。
光素子デバイスの構成を示す斜視図、(b)は、その平
面図。
【図2】(a)は、本発明の第2の実施例に係る発光受
光素子デバイスの構成を示す平面図、(b)は、(a)
のA−A線に沿う断面図、(c)は、(a)のB−B線
に沿う断面図。
光素子デバイスの構成を示す平面図、(b)は、(a)
のA−A線に沿う断面図、(c)は、(a)のB−B線
に沿う断面図。
【図3】(a)は、従来の発光受光素子デバイスの構成
を示す斜視図、(b)は、その平面図。
を示す斜視図、(b)は、その平面図。
14…パッケージ部材、16…半導体基板、18…反射
ミラー、20…受光素子、22…貫通穴、24…半導体
レーザ、26…サブステム。
ミラー、20…受光素子、22…貫通穴、24…半導体
レーザ、26…サブステム。
Claims (3)
- 【請求項1】 受光素子対及びこれら受光素子対の間の
領域に形成された斜面に設けられた反射部を有する受光
素子基板と、 この受光素子基板を支持する第1の支持手段と、 前記反射部の近傍に対面して配置された発光素子基板
と、 この発光素子基板を支持する第2の支持手段とを備えて
おり、 前記受光素子基板と前記発光素子基板とは、前記第1及
び第2の支持手段によって、相対的に位置合わせ可能に
支持されていることを特徴とする発光受光素子デバイ
ス。 - 【請求項2】 前記受光素子基板には、前記反射部の近
傍に貫通穴が形成されており、前記貫通穴内には、前記
発光素子基板が配置されていることを特徴とする請求項
1に記載の発光受光素子デバイス。 - 【請求項3】 前記斜面は、前記受光素子基板の厚み方
向略全体に亘って形成されていることを特徴とする請求
項1に記載の発光受光素子デバイス。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5211561A JPH0765398A (ja) | 1993-08-26 | 1993-08-26 | 発光受光素子デバイス |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5211561A JPH0765398A (ja) | 1993-08-26 | 1993-08-26 | 発光受光素子デバイス |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0765398A true JPH0765398A (ja) | 1995-03-10 |
Family
ID=16607838
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5211561A Withdrawn JPH0765398A (ja) | 1993-08-26 | 1993-08-26 | 発光受光素子デバイス |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0765398A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100492534B1 (ko) * | 2002-11-29 | 2005-06-02 | 엘지전자 주식회사 | 광 발생기 모듈, 광 검출기 모듈, 그들을 결합한 광픽업장치 및 그들의 제조방법 |
KR101506177B1 (ko) * | 2008-01-10 | 2015-03-26 | 삼성전자주식회사 | 생체 신호 측정 센서 및 그의 제조 방법 |
-
1993
- 1993-08-26 JP JP5211561A patent/JPH0765398A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100492534B1 (ko) * | 2002-11-29 | 2005-06-02 | 엘지전자 주식회사 | 광 발생기 모듈, 광 검출기 모듈, 그들을 결합한 광픽업장치 및 그들의 제조방법 |
KR101506177B1 (ko) * | 2008-01-10 | 2015-03-26 | 삼성전자주식회사 | 생체 신호 측정 센서 및 그의 제조 방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6072607A (en) | Optical pickup device | |
KR100904245B1 (ko) | 복합 광학 소자, 수광 소자 장치, 광학 픽업 장치 및 광디스크 장치 | |
KR19980032641A (ko) | 광 픽업 장치 및 그 제조 방법 | |
US6631113B1 (en) | Continuous flexible connection method for miniature optical head | |
JP2004220675A (ja) | 半導体集積装置 | |
JPH0765398A (ja) | 発光受光素子デバイス | |
US7400568B2 (en) | Optical device, optical pickup and optical disk apparatus | |
US6254284B1 (en) | Optical pickup having optical waveguide device fixed on stem with wedge-shaped device fixing member interposed and method of manufacturing the same | |
JPH04139628A (ja) | 光半導体装置およびその製造方法 | |
US6839139B2 (en) | Bench based integrated wavelength locker | |
US6922425B2 (en) | Semiconductor laser device and optical pickup device | |
JP3361335B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JPH05181026A (ja) | 光集積回路およびその製造方法 | |
JP2000123391A (ja) | 光導波路ユニット、およびこれを用いた光学ヘッド | |
JP3518904B2 (ja) | 光ピックアップ | |
JP2003298174A (ja) | 光ピックアップ光学ユニットとその製造方法 | |
JP3177380B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JP2000048391A (ja) | 光集積モジュール | |
JPH08249715A (ja) | 光学デバイスとその製造方法及び光ピックアップ | |
JP2888317B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JPH05259504A (ja) | 半導体装置 | |
JPH08221797A (ja) | 光ピックアップの光学部品取付け構造 | |
JPH06252499A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JPH09320091A (ja) | 光ピックアップモジュール | |
JP2000353847A (ja) | 光電子素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20001031 |