JPH0757988A - 線画パターン描画方法 - Google Patents

線画パターン描画方法

Info

Publication number
JPH0757988A
JPH0757988A JP5199350A JP19935093A JPH0757988A JP H0757988 A JPH0757988 A JP H0757988A JP 5199350 A JP5199350 A JP 5199350A JP 19935093 A JP19935093 A JP 19935093A JP H0757988 A JPH0757988 A JP H0757988A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photosensitive material
substrate
groove
line drawing
irradiated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP5199350A
Other languages
English (en)
Inventor
Shin Asano
伸 浅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP5199350A priority Critical patent/JPH0757988A/ja
Publication of JPH0757988A publication Critical patent/JPH0757988A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 溝内の蒸着材が感光性材料の除去時に感光性
材料と共に基板から除去されない溝を形成する線画パタ
ーン描画方法を提供する。 【構成】 加工ビーム13a,13bをそれぞれ異なる
方向から感光性材料11上で焦点が一致するように照射
しながら水平方向に基板12を移動させ、感光性材料1
1に基板12側ほど拡がるようにテーパ状に傾斜した側
壁11dをなす溝11cを形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザビームや電子ビ
ームなどの加工ビームを感光性材料などの被照射体に照
射して溝を形成する線画パターン描画方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路や光デバイスなどの製造
工程では、感光性材料を塗布した基板にレーザビームや
電子ビームなどの加工ビームを照射して溝を形成し、線
画パターンを描画する方法が用いられている。
【0003】このような従来の線画パターン描画方法を
図5に示す。感光性材料11が塗布された基板12をス
テージ21上に設置し、図示しない加工ビーム発振器か
ら対物レンズ22を介して加工ビーム13を感光性材料
11へ照射すると共に、レンズ移動装置23で対物レン
ズ22を移動して、加工ビーム13を走査し、感光性材
料11に線画パターンを描画することにより、この描画
部分を除去し、図6に示すように、感光性材料11に溝
11cを形成する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前述したような方法で
は、加工ビーム13が対物レンズ22により感光性材料
11に対して集束して照射されるので、図6に示すよう
に、感光性材料11に形成される溝11cの側壁11d
は、基板12側ほど窄まるようにテーパ状に傾斜したも
のになってしまう。このため、図7に示すように、線画
パターンの描画後、基板12へ蒸着材14を蒸着し、マ
スキングとなる感光性材料11を基板12から除去する
と、溝11c内で基板12に蒸着した蒸着材14bは、
感光性材料11と共に除去されてしまうことがあり、品
質に問題が生じてしまう。
【0005】
【課題を解決するための手段】前述した課題を解決する
ため本発明による線画パターン描画方法は、複数の加工
ビームをそれぞれ異なる方向から被照射体上で焦点が一
致するように照射して、当該被照射体の表面側から内側
へ向かって垂直方向以上に拡がる溝を形成するのであ
る。
【0006】また、前記被照射体の前記溝の側壁の傾斜
が所定の角度となるように当該被照射体に対する前記加
工ビームの照射角度を調節しても良い。
【0007】
【作用】前述した構成による線画パターン描画方法で
は、複数の加工ビームをそれぞれ異なる方向から被照射
体上で焦点が一致るうように照射することにより、被照
射体の表面側から内側へ向かって平行以上に拡がる溝が
形成される。
【0008】また、被照射体に対する加工ビームの照射
角度を調節することにより、所定の傾斜角度の側壁をな
す溝が被照射体に形成される。
【0009】
【実施例】本発明による線画パターン描画方法の一実施
例を図1〜4に基づいて説明する。図1は、その方法を
適用した装置の概略構成図、図2は、その作用状態を表
す図1の一部抽出拡大図、図3は、図2の作用後の状態
図、図4は、作用後に行う処理毎の状態図である。
【0010】図1に示すように、感光性材料11が塗布
された基板12を載せるステージ1の図1中、左右両側
の上方には、レンズ調整装置3に保持された対物レンズ
2a,2bがそれぞれ設けられている。対物レンズ2
a,2bは、図示しない加工ビーム発振器により、ステ
ージ1の方向へ向けて加工ビーム13a,13bを照射
する。レンズ調整装置3は、加工ビーム13a,13b
を所定の角度で照射するよう対物レンズ2a,2bの向
きをそれぞれ調節すると共に、対物レンズ2a,2bを
ステージ1の上面と平行な方向へスライドさせるように
なっている。
【0011】このような装置による線画パターン描画方
法を説明する。加工ビーム13a,13bを感光性材料
11上で焦点が一致する所定の照射角度となるよう対物
レンズ2a,2bをレンズ調整装置3で調節する。前記
加工ビーム発振器を稼働して、対物レンズ2a,2bか
ら感光性材料11へ向けて加工ビーム13a,13bを
それぞれ照射すると、図2に示すように、加工ビーム1
3a,13bは、感光性材料11上で収束すると共に、
基板12側へ向けて光束が拡散する。これにより、図3
の示すように、基板12側ほど拡がるようにテーパ状に
傾斜した側壁11bをなす溝11aが感光性材料11に
形成され、対物レンズ2a,2bをレンズ調整装置3で
スライドすることにより、感光性材料11に線画パター
ンを描画する。
【0012】従って、図4(a)に示すように、基板1
2へ蒸着材14を蒸着し、その後、図4(b)に示すよ
うに、マスキングをなす感光性材料11を基板12から
除去しても、溝11aの側壁11bが基板12側ほど拡
がるように傾斜しているので、溝11a内で基板12に
蒸着した蒸着材14aは、感光性材料11と共に除去さ
れることなく、基板12に蒸着したままとなる。
【0013】なお、前述した実施例では、基板12側ほ
ど拡がる溝11aを形成したが、感光性材料11側から
基板12側へ向かって垂直をなす側壁の溝を形成しても
良い。本実施例では、レンズ調整装置3を用いて対物レ
ンズ2a,2bを水平方向へ移動したが、ステージを稼
働して基板12を水平方向へ移動しても良い。
【0014】
【発明の効果】前述したように、本発明による線画パタ
ーン描画方法では、複数の加工ビームをそれぞれ異なる
方向から被照射体上で焦点が一致するように照射して、
被照射体の表面側から内側へ向かって垂直以上に拡がる
溝を形成するので、例えば、感光性材料を塗布した基板
に適用すれば、マスキングとなる感光性材料に形成され
た溝から基板に蒸着した蒸着材は、感光性材料の除去時
に感光性材料と共に除去されることなく、基板上に蒸着
したままとなり品質が向上する。特に、感光性材料側か
ら基板側へ向かって垂直をなす側壁の溝を形成した場合
には、より高精度な線画パターンを描画することができ
る。
【0015】また、被照射体に対する加工ビームの照射
角度を調節することにより、所定の傾斜角度の側壁をな
す溝を被照射体に形成するので、目的とする傾斜の側壁
をなす溝が容易に形成される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による線画パターン描画方法を適用した
一実施例の装置の概略構成図である。
【図2】図1の作用状態を表す一部抽出拡大図である。
【図3】図2の作用後の状態図である。
【図4】図3のその後の処理毎の状態図である。
【図5】従来の線画パターン描画方法による装置の概略
構成図である。
【図6】その装置により形成された溝の状態図である。
【図7】図6のその後の処理毎の状態図である。
【符号の説明】
1 ステージ 2a 対物レンズ 2b 対物レンズ 3 レンズ調整装置 11 感光性材料 11a 溝 11b 側壁 12 基板 13a 加工ビーム 13b 加工ビーム 14 蒸着材 14a 蒸着材
【手続補正書】
【提出日】平成5年12月3日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0003
【補正方法】変更
【補正内容】
【0003】このような従来の線画パターン描画方法を
図5に示す。感光性材料11が塗布された基板12をス
テージ21上に設置し、図示しない加工ビーム発振器か
ら対物レンズ22を介して加工ビーム13を感光性材料
11へ照射すると共に、ステージ21を固定した状態で
対物レンズ22をレンズ移動装置23により移動して加
工ビーム13を走査するか、もしくは、対物レンズ22
を固定した状態でステージ21を図示しないステージ移
動装置により移動して基板12を移動することにより、
感光性材料11に線画パターンを描画して、この描画部
分を除去し、図6に示すように、感光性材料11に溝1
1cを形成する。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0007
【補正方法】変更
【補正内容】
【0007】
【作用】前述した構成による線画パターン描画方法で
は、複数の加工ビームをそれぞれ異なる方向から被照射
体上で焦点が一致するように照射することにより、被照
射体の表面側から内側へ向かって平行以上に拡がる溝が
形成される。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0010
【補正方法】変更
【補正内容】
【0010】図1に示すように、感光性材料11が塗布
された基板12を保持するステージ1の図1中、左右両
側の上方には、レンズ調整装置3に保持された対物レン
ズ2a,2bがそれぞれ設けられており、レンズ調整装
置3は、対物レンズ2a,2bの焦点が基板12の感光
性材料11上で一致するよう対物レンズ2a,2bの位
置を所定の角度にそれぞれ調節可能となっている。レン
ズ調整装置3には、対物レンズ2a,2bから加工ビー
ム13a,13bを発振させる図示しない加工ビーム発
振器が接続されている。ステージ1には、ステージ1を
水平面上で対物レンズ2aと対物レンズ2bとを結ぶ線
と交差する方向へ移動させる図示しないステージ移動装
置が設けられている。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0011
【補正方法】変更
【補正内容】
【0011】このような装置による線画パターン描画方
法を説明する。加工ビーム13a,13bを感光性材料
11上で焦点が一致する所定の照射角度となるよう対物
レンズ2a,2bをレンズ調整装置3で調節する。前記
加工ビーム発振器を稼働して、対物レンズ2a,2bか
ら感光性材料11へ向けて加工ビーム13a,13bを
それぞれ照射すると、図2に示すように、加工ビーム1
3a,13bは、感光性材料11上で収束すると共に、
基板12側へ向けて光束が拡散する。これにより、図3
示すように、基板12側ほど拡がるようにテーパ状に
傾斜した側壁11bをなす溝11aが感光性材料11に
形成され、前記ステージ移動装置でステージ1を移動
ることにより、基板12の感光性材料11に線画パター
ンを描画する。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0013
【補正方法】変更
【補正内容】
【0013】なお、前述した実施例では、基板12側ほ
ど拡がる溝11aを形成したが、感光性材料11側から
基板12側へ向かって垂直をなす側壁の溝を形成しても
良い。本実施例では、ステージ1を移動して基板12の
感光性材料11に線画パターンを描画したが、レンズ調
整装置を移動させることにより対物レンズを水平方向へ
移動して、基板12の感光性材料11に線画パターンを
描画しても良い。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の加工ビームをそれぞれ異なる方向
    から被照射体上で焦点が一致するように照射して、当該
    被照射体の表面側から内側へ向かって垂直方向以上に拡
    がる溝を形成することを特徴とする線画パターン描画方
    法。
  2. 【請求項2】 前記被照射体の前記溝の側壁の傾斜が所
    定の角度となるように当該被照射体に対する前記加工ビ
    ームの照射角度を調節することを特徴とする請求項1に
    記載の線画パターン描画方法。
JP5199350A 1993-08-11 1993-08-11 線画パターン描画方法 Withdrawn JPH0757988A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5199350A JPH0757988A (ja) 1993-08-11 1993-08-11 線画パターン描画方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5199350A JPH0757988A (ja) 1993-08-11 1993-08-11 線画パターン描画方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0757988A true JPH0757988A (ja) 1995-03-03

Family

ID=16406305

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5199350A Withdrawn JPH0757988A (ja) 1993-08-11 1993-08-11 線画パターン描画方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0757988A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006121298A1 (en) * 2005-05-12 2006-11-16 Lg Chem, Ltd. Method for forming high-resolution pattern with direct writing means
WO2006121297A1 (en) * 2005-05-12 2006-11-16 Lg Chem, Ltd. Method for forming high-resolution pattern and substrate having prepattern formed thereby
CN102593196A (zh) * 2012-02-28 2012-07-18 常州天合光能有限公司 低电阻埋栅式太阳能电池及其制作方法
US8571773B2 (en) 2010-06-16 2013-10-29 Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft Gear selection method for an automatic transmission for a traction phase after a coasting phase of a motor vehicle

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006121298A1 (en) * 2005-05-12 2006-11-16 Lg Chem, Ltd. Method for forming high-resolution pattern with direct writing means
WO2006121297A1 (en) * 2005-05-12 2006-11-16 Lg Chem, Ltd. Method for forming high-resolution pattern and substrate having prepattern formed thereby
KR100809842B1 (ko) * 2005-05-12 2008-03-04 주식회사 엘지화학 고해상도 패턴형성방법 및 상기 방법에 따라 프리패턴이형성된 기판
GB2443342A (en) * 2005-05-12 2008-04-30 Lg Chemical Ltd Method for forming high-resolution pattern and substrate having prepattern formed thereby
KR100833017B1 (ko) * 2005-05-12 2008-05-27 주식회사 엘지화학 직접 패턴법을 이용한 고해상도 패턴형성방법
US7462570B2 (en) 2005-05-12 2008-12-09 Lg Chem, Ltd. Method for forming high-resolution pattern and substrate having prepattern formed thereby
US7510951B2 (en) 2005-05-12 2009-03-31 Lg Chem, Ltd. Method for forming high-resolution pattern with direct writing means
GB2443342B (en) * 2005-05-12 2011-07-13 Lg Chemical Ltd Method for forming high-resolution pattern and substrate having prepattern formed thereby
US8571773B2 (en) 2010-06-16 2013-10-29 Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft Gear selection method for an automatic transmission for a traction phase after a coasting phase of a motor vehicle
CN102593196A (zh) * 2012-02-28 2012-07-18 常州天合光能有限公司 低电阻埋栅式太阳能电池及其制作方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6357312B2 (ja) 成膜マスクの製造方法及び成膜マスク
US4190759A (en) Processing of photomask
US4504726A (en) Pattern generator
US20050041228A1 (en) Method and apparatus for irradiating a microlithographic substrate
KR20020065366A (ko) 포토마스크의 수정 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
JPH0757988A (ja) 線画パターン描画方法
JP2008244361A (ja) プリント基板のレーザ加工方法
JP2009006339A (ja) レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法
US5919605A (en) Semiconductor substrate exposure method
US4849642A (en) Method for repairing a pattern film
JPH05237676A (ja) レーザ加工装置
JP2878490B2 (ja) マスク修正方法及びそれに用いる装置及びマスク
JPS5919324A (ja) 露光装置
JP2004098087A (ja) レーザ加工装置およびレーザ加工方法
US7065735B2 (en) Method for making an OPC mask and an OPC mask manufactured using the same
JPH09306829A (ja) 走査型露光装置及び走査露光方法
JP2729270B2 (ja) レーザ加工法
JPH0251224A (ja) 不純物の注入方法
TW202317300A (zh) 照明光學系統以及雷射加工裝置
JPH03230886A (ja) レーザ加工装置
JP2005056995A (ja) パターン描画方法、及びパターン描画装置
JP2023066565A (ja) 照明光学系及びレーザ加工装置
JP2003251475A (ja) レーザ加工方法
JP3363522B2 (ja) 走査型露光装置及びデバイス製造方法
JPH05190415A (ja) 露光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20001031