JPH0748269B2 - 光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法 - Google Patents
光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法Info
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- JPH0748269B2 JPH0748269B2 JP63242946A JP24294688A JPH0748269B2 JP H0748269 B2 JPH0748269 B2 JP H0748269B2 JP 63242946 A JP63242946 A JP 63242946A JP 24294688 A JP24294688 A JP 24294688A JP H0748269 B2 JPH0748269 B2 JP H0748269B2
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- light beam
- track
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Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 光ディスクの表面上に光ビームを焦点一致して集束照射
するための光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法
に関し、 クロストークの影響を除去することを目的とし、 光学ヘッドからの光ビームがディスク上に焦点一致して
集束する位置に該光学ヘッド内の対物レンズを該ディス
クの平面に対して垂直方向であるフォーカス方向に駆動
変位させるフォーカスサーボ回路と、前記光ビームを前
記ディスク上のトラックに追従走査させるトラッキング
サーボ回路とを備えた光ディスク装置のフォーカス点位
置決め方法において、前記フォーカスサーボ回路及びト
ラッキングサーボ回路を順次にオンとした後、前記光ビ
ームの走査トラック位置を一定周期で強制的に変更する
と共に、前記対物レンズを前記フォーカス方向に駆動変
位し、強制的なフォーカス走査位置変更時点におけるト
ラッキングエラー信号レベルを検出し、該検出トラッキ
ングエラー信号レベルの最大値が得られる位置に前記対
物レンズを位置決めするように構成する。
するための光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法
に関し、 クロストークの影響を除去することを目的とし、 光学ヘッドからの光ビームがディスク上に焦点一致して
集束する位置に該光学ヘッド内の対物レンズを該ディス
クの平面に対して垂直方向であるフォーカス方向に駆動
変位させるフォーカスサーボ回路と、前記光ビームを前
記ディスク上のトラックに追従走査させるトラッキング
サーボ回路とを備えた光ディスク装置のフォーカス点位
置決め方法において、前記フォーカスサーボ回路及びト
ラッキングサーボ回路を順次にオンとした後、前記光ビ
ームの走査トラック位置を一定周期で強制的に変更する
と共に、前記対物レンズを前記フォーカス方向に駆動変
位し、強制的なフォーカス走査位置変更時点におけるト
ラッキングエラー信号レベルを検出し、該検出トラッキ
ングエラー信号レベルの最大値が得られる位置に前記対
物レンズを位置決めするように構成する。
本発明は光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法に
係り、特に光ディスクの表面上に光ビームを焦点一致し
て集束照射するための光ディスク装置のフォーカス点位
置決め方法に関する。
係り、特に光ディスクの表面上に光ビームを焦点一致し
て集束照射するための光ディスク装置のフォーカス点位
置決め方法に関する。
光ディスク装置は通常第５図に示す如き光学ヘッドを有
している。同図中、１は半導体レーザで、これより放射
されたレーザ光はコリメートレンズ２、回折格子３、断
面補正プリズム４、ビームスプリッタ5,6、ミラー７及
び対物レンズ８を夫々通して光ディスク面上に照射さ
れ、ここで反射される。
している。同図中、１は半導体レーザで、これより放射
されたレーザ光はコリメートレンズ２、回折格子３、断
面補正プリズム４、ビームスプリッタ5,6、ミラー７及
び対物レンズ８を夫々通して光ディスク面上に照射さ
れ、ここで反射される。
この反射光は再び対物レンズ８に入射され、更にミラー
７を通してビームスプリッタ６に入射され、ここで光路
を２分岐されて一方はビームスプリッタ５に入射され、
他方は1/2波長板９を通して偏光ビームスプリッタ10に
入射される。偏光ビームスプリッタ10により反射光は一
部が反射され、残りが透過されてミラー11に入射され、
各々の光はレンズ12,13、PINフォトダイオード14,15を
別々に通して差動増幅器19に夫々供給され、ここで同相
成分のノイズが除去されて光磁気再生信号となる。
７を通してビームスプリッタ６に入射され、ここで光路
を２分岐されて一方はビームスプリッタ５に入射され、
他方は1/2波長板９を通して偏光ビームスプリッタ10に
入射される。偏光ビームスプリッタ10により反射光は一
部が反射され、残りが透過されてミラー11に入射され、
各々の光はレンズ12,13、PINフォトダイオード14,15を
別々に通して差動増幅器19に夫々供給され、ここで同相
成分のノイズが除去されて光磁気再生信号となる。
他方、ビームスプリッタ５により光路を変えられた反射
光は、レンズ16、円筒レンズ17を夫々通して４分割PIN
フォトダイオード18に入射され、ここで光電変換された
後、端子20へフォーカスエラー信号（FES）、トラッキ
ングエラー信号（TES）及びDCsum信号などとして取り出
される。
光は、レンズ16、円筒レンズ17を夫々通して４分割PIN
フォトダイオード18に入射され、ここで光電変換された
後、端子20へフォーカスエラー信号（FES）、トラッキ
ングエラー信号（TES）及びDCsum信号などとして取り出
される。
４分割フォトダイオード18は、第６図（Ａ）〜（Ｃ）に
夫々示すように18a,18b,18c及び18dの４個の受光素子
（PINフォトダイオード）からなり、その受光スポット
形状はディスク21の表面に焦点一致して集束されている
場合（フォーカスエラーゼロの場合）は第６図（Ｂ）の
ように円形となるが、ディスク21が近過ぎる場合及び遠
すぎる場合は第６図（Ａ），（Ｃ）に示すように楕円形
となり、各受光素子18a〜18dの受光面積がディスク21と
の距離関係に応じて相対的に変化する。これにより、受
光素子18a,18b,18c及び18dの各出力信号レベルをA,B,C
及びＤとすると、 FES＝Ｇ（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ） （１） で表わされるフォーカスエラー信号（FES）が得られる
（なお、（１）式中、Ｇはゲイン比定数を示す）。
夫々示すように18a,18b,18c及び18dの４個の受光素子
（PINフォトダイオード）からなり、その受光スポット
形状はディスク21の表面に焦点一致して集束されている
場合（フォーカスエラーゼロの場合）は第６図（Ｂ）の
ように円形となるが、ディスク21が近過ぎる場合及び遠
すぎる場合は第６図（Ａ），（Ｃ）に示すように楕円形
となり、各受光素子18a〜18dの受光面積がディスク21と
の距離関係に応じて相対的に変化する。これにより、受
光素子18a,18b,18c及び18dの各出力信号レベルをA,B,C
及びＤとすると、 FES＝Ｇ（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ） （１） で表わされるフォーカスエラー信号（FES）が得られる
（なお、（１）式中、Ｇはゲイン比定数を示す）。
同様にして、トラッキングエラー信号（TES）は次式に
基づいて得られる。
基づいて得られる。
TES＝Ｇ（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ） （２） このような構成の光ヘッドを有する光ディスク装置にお
いて、フォーカス点位置決め（フォーカシング）が不十
分であると、デフォーカス状態で記録や再生が行なわれ
ることとなり、信号品質を大幅にダウンさせるだけでな
く、サーボ系への影響も大きく、光学ヘッド自体を制御
できなくなるほどである。従って、光ディスク装置にお
いてフォーカス点位置決めはビット検出にとって重要な
技術の一つである。
いて、フォーカス点位置決め（フォーカシング）が不十
分であると、デフォーカス状態で記録や再生が行なわれ
ることとなり、信号品質を大幅にダウンさせるだけでな
く、サーボ系への影響も大きく、光学ヘッド自体を制御
できなくなるほどである。従って、光ディスク装置にお
いてフォーカス点位置決めはビット検出にとって重要な
技術の一つである。
従来の光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法の一
つとしてTESmax方式があり、これはトラッキングエラー
信号（TES）を検出し、その振幅の最高点（ピーク・ツ
ウ・ピーク値）でのフォーカス点で記録、再生を行なう
方法である。すなわち、光ディスク装置の動作開始時
（立ち上がり時）や立上がった後再調整を行なう時に、
前記第５図に示す如き構成の光ヘッド22を、第７図に示
すように光ディスクの一例としての光磁気ディスク23の
表面に対してまず垂直方向（すなわち、フォーカス方
向）に変位制御し、次に光磁気ディスク23の溝24に直交
し、かつ、ディスク面に水平な方向であるトラッキング
方向に変位制御する。なお、第７図中、24はバイアス磁
界用コイルである。
つとしてTESmax方式があり、これはトラッキングエラー
信号（TES）を検出し、その振幅の最高点（ピーク・ツ
ウ・ピーク値）でのフォーカス点で記録、再生を行なう
方法である。すなわち、光ディスク装置の動作開始時
（立ち上がり時）や立上がった後再調整を行なう時に、
前記第５図に示す如き構成の光ヘッド22を、第７図に示
すように光ディスクの一例としての光磁気ディスク23の
表面に対してまず垂直方向（すなわち、フォーカス方
向）に変位制御し、次に光磁気ディスク23の溝24に直交
し、かつ、ディスク面に水平な方向であるトラッキング
方向に変位制御する。なお、第７図中、24はバイアス磁
界用コイルである。
このとき、フォーカス方向を制御した後、トラッキング
を行なう前にフォーカス方向にオフセットを加え、光学
ヘッド22中の対物レンズ８を動かし、トラッキングエラ
ー信号（TES）の振幅の最高値（ピーク・ツウ・ピーク
値で）のところを探し、その位置を最適フォーカス点と
して定め、その後にトラッキング方向の制御を行なう。
を行なう前にフォーカス方向にオフセットを加え、光学
ヘッド22中の対物レンズ８を動かし、トラッキングエラ
ー信号（TES）の振幅の最高値（ピーク・ツウ・ピーク
値で）のところを探し、その位置を最適フォーカス点と
して定め、その後にトラッキング方向の制御を行なう。
上記の従来方法では、まずフォーカス点を定めるが、そ
の際のフォーカスエラー信号（FES）は他の信号成分か
ら影響を受けなければ第８図（Ａ）に示す如く略直線と
なる。ところが、そのときの第８図（Ｄ）に示すトラッ
キングエラー信号（TES）や同図（Ｅ）に示す全光量和
信号（DCsum信号）が回路的にフォーカスエラー信号（F
ES）にまわり込むことが多く、トラッキングエラー信号
がクロストークとしてフォーカスエラー信号に混入した
場合（TESクロストーク時）は同図（Ｂ）に示す如く波
形が乱れ、またDCsum信号がクロストークとしてフォー
カスエラー信号に混入した場合（DCsumクロストーク
時）は同図（Ｃ）に示す如くに波形が乱れる。
の際のフォーカスエラー信号（FES）は他の信号成分か
ら影響を受けなければ第８図（Ａ）に示す如く略直線と
なる。ところが、そのときの第８図（Ｄ）に示すトラッ
キングエラー信号（TES）や同図（Ｅ）に示す全光量和
信号（DCsum信号）が回路的にフォーカスエラー信号（F
ES）にまわり込むことが多く、トラッキングエラー信号
がクロストークとしてフォーカスエラー信号に混入した
場合（TESクロストーク時）は同図（Ｂ）に示す如く波
形が乱れ、またDCsum信号がクロストークとしてフォー
カスエラー信号に混入した場合（DCsumクロストーク
時）は同図（Ｃ）に示す如くに波形が乱れる。
クロストークがある状態でフォーカス点を定め、次にト
ラッキング方向の制御を行なうと、TESクロストーク時
のフォーカスエラー信号（FES）は第９図（Ａ）に示す
如くになり、一方DCsumクロストーク時のフォーカスエ
ラー信号は同図（Ｂ）に示す如くになる。
ラッキング方向の制御を行なうと、TESクロストーク時
のフォーカスエラー信号（FES）は第９図（Ａ）に示す
如くになり、一方DCsumクロストーク時のフォーカスエ
ラー信号は同図（Ｂ）に示す如くになる。
第８図（Ｄ），（Ｅ）にも示したように、 DCsum信号は前記第６図と同様に表現すると DCsum＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ （３） で表わされる総光量を示す信号で、トラッキングエラー
信号（TES）に比し、位相がπ/2程ずれているため、上
記の第９図（Ａ），（Ｂ）に示したクロストーク発生時
の各フォーカスエラー信号（FES）は位相が互いにπ/2
程度ずれている。
信号（TES）に比し、位相がπ/2程ずれているため、上
記の第９図（Ａ），（Ｂ）に示したクロストーク発生時
の各フォーカスエラー信号（FES）は位相が互いにπ/2
程度ずれている。
ここで、トラック制御オンの状態は、トラッキングサー
ボ信号がゼロとなる位置なので、第９図（Ａ）に示すTE
Sクロストーク時のフォーカスエラー信号もトラックサ
ーボがかかるタイミングがそのゼロレベル（オフセット
が無い）の位置となる。
ボ信号がゼロとなる位置なので、第９図（Ａ）に示すTE
Sクロストーク時のフォーカスエラー信号もトラックサ
ーボがかかるタイミングがそのゼロレベル（オフセット
が無い）の位置となる。
これに対し、第９図（Ｂ）に示すDCsumクロストーク時
のフォーカスエラー信号の場合は、DCsum信号が前記し
たようにトラッキングエラー信号に比し約π/2位相がず
れているために、トラッキングサーボがかかるタイミン
グ位置が同図（Ｂ）に黒点で示すピーク位置となり、フ
ォーカスエラー信号（FES）にオフセットが生じてしま
う。
のフォーカスエラー信号の場合は、DCsum信号が前記し
たようにトラッキングエラー信号に比し約π/2位相がず
れているために、トラッキングサーボがかかるタイミン
グ位置が同図（Ｂ）に黒点で示すピーク位置となり、フ
ォーカスエラー信号（FES）にオフセットが生じてしま
う。
従って、従来方法ではフォーカス点を調整してもトラッ
ク制御まで行なうと、DCsum信号によるクロストークが
大きいときは上記オフセットにより常にデフォーカス状
態となってしまうという問題があった。
ク制御まで行なうと、DCsum信号によるクロストークが
大きいときは上記オフセットにより常にデフォーカス状
態となってしまうという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、クロストー
クの影響を除去しうる光ディスク装置のフォーカス点位
置決め方法を提供することを目的とする。
クの影響を除去しうる光ディスク装置のフォーカス点位
置決め方法を提供することを目的とする。
本発明はフォーカスサーボ回路とトラッキングサーボ回
路とを備えた光ディスク装置において、第１図のフロー
チャートに従って、光学ヘッド内の対物レンズを位置決
めするようにしたものである。
路とを備えた光ディスク装置において、第１図のフロー
チャートに従って、光学ヘッド内の対物レンズを位置決
めするようにしたものである。
すなわち、回路の初期設定後（ステップS1）、フォーカ
スサーボ回路をオン（ステップS2）、トラッキングサー
ボ回路をオン（ステップS3）とする。
スサーボ回路をオン（ステップS2）、トラッキングサー
ボ回路をオン（ステップS3）とする。
従来方法ではこれで記録、再生を開始するようにした
が、本発明では次に光ビームの走査トラック位置を光ビ
ームの１トラックピッチ分のキックバックと１トラック
ピッチ分のキックフォワードとを交互に、かつディスク
１回転周期内で複数回づつ強制的に変更すると共に、対
物レンズをフォーカス方向に駆動変位し、強制的なフォ
ーカス走査位置変更時点におけるトラッキングエラー信
号レベルを検出し、その最大値が得られる位置に対物レ
ンズを位置決めする（ステップS4）。
が、本発明では次に光ビームの走査トラック位置を光ビ
ームの１トラックピッチ分のキックバックと１トラック
ピッチ分のキックフォワードとを交互に、かつディスク
１回転周期内で複数回づつ強制的に変更すると共に、対
物レンズをフォーカス方向に駆動変位し、強制的なフォ
ーカス走査位置変更時点におけるトラッキングエラー信
号レベルを検出し、その最大値が得られる位置に対物レ
ンズを位置決めする（ステップS4）。
クロストークによるフォーカスエラー信号のオフセット
を取除くためには２つの方法がある。一つはクロストー
クが発生しないようにすることであるが、これは現状の
サーボ回路では不可能に近い。もう一つは、トラッキン
グサーボ回路オン時にフォーカス点を決める方法であ
る。本発明はこの後者の方法によるものである。
を取除くためには２つの方法がある。一つはクロストー
クが発生しないようにすることであるが、これは現状の
サーボ回路では不可能に近い。もう一つは、トラッキン
グサーボ回路オン時にフォーカス点を決める方法であ
る。本発明はこの後者の方法によるものである。
すなわち、走査トラック位置の強制的な変更により、光
ビームはそれまで走査していた第１のトラック（溝）か
ら隣接する第２のトラック（溝）へ移動するため、トラ
ッキングエラー信号はその際にパルス状となる。
ビームはそれまで走査していた第１のトラック（溝）か
ら隣接する第２のトラック（溝）へ移動するため、トラ
ッキングエラー信号はその際にパルス状となる。
このパルスのピーク・ツウ・ピーク値は光ビームがディ
スク面に焦点一致して集束されているとき（ジャストフ
ォーカス時）に最大となる。
スク面に焦点一致して集束されているとき（ジャストフ
ォーカス時）に最大となる。
そこで、前記ステップS4により上記パルスの最大値が得
られる位置に対物レンズを位置決めすることにより、ク
ロストーク（特にDCsum信号のクロストーク）によるフ
ォーカスエラー信号のオフセットの影響を除去すること
ができる。
られる位置に対物レンズを位置決めすることにより、ク
ロストーク（特にDCsum信号のクロストーク）によるフ
ォーカスエラー信号のオフセットの影響を除去すること
ができる。
また、走査トラック位置の強制的な変更する際、光ビー
ムの走査トラック位置を光ビームの１トラックピッチ分
のキックバックと１トラックピッチ分のキックフォワー
ドとを交互に、かつディスク１回転周期内で複数回づつ
変更する構成とすることにより、ディスク１回転期間内
で検出されるパルスの数が多いため、検出速度を速くす
ることができる。
ムの走査トラック位置を光ビームの１トラックピッチ分
のキックバックと１トラックピッチ分のキックフォワー
ドとを交互に、かつディスク１回転周期内で複数回づつ
変更する構成とすることにより、ディスク１回転期間内
で検出されるパルスの数が多いため、検出速度を速くす
ることができる。
第２図は本発明を用いた一実施例のブロック図、第３図
は本発明の一実施例における波形図を示す。通常、光デ
ィスク装置はフォーカスサーボ回路とトラッキングサー
ボ回路とを備えており、第２図はそのうちフォーカスサ
ーボ回路の要部で、キックバックサーチ検出回路30とオ
フセット電圧源31とを備えた点に特徴を有する。一方、
トラッキングサーボ回路はその構成は公知であるので、
その図示を省略する。
は本発明の一実施例における波形図を示す。通常、光デ
ィスク装置はフォーカスサーボ回路とトラッキングサー
ボ回路とを備えており、第２図はそのうちフォーカスサ
ーボ回路の要部で、キックバックサーチ検出回路30とオ
フセット電圧源31とを備えた点に特徴を有する。一方、
トラッキングサーボ回路はその構成は公知であるので、
その図示を省略する。
トラッキングサーボ回路のオンの後、光磁気ディスク23
の１回転に１回の割合で、光ビームをトラック（溝）24
の走査方向に対して直交する方向に、かつ、逆方向に強
制的に移送するパルス（これをキックバックパルスとい
うものとする）を発生し、トラッキングコイルに流す。
の１回転に１回の割合で、光ビームをトラック（溝）24
の走査方向に対して直交する方向に、かつ、逆方向に強
制的に移送するパルス（これをキックバックパルスとい
うものとする）を発生し、トラッキングコイルに流す。
上記の溝24は光磁気ディスク23の表面上、渦巻状に形成
されているから、キックバックをしない通常の場合はデ
ィスク１回転毎に光ビームはそのときの走査トラックか
ら次の隣接トラックへ１トラックずつ順次走査していく
ことになる。しかし、上記のキックバックをした場合は
走査方向が例えば内周方向から外周方向であるものとす
ると、上記のキックバックパルスにより１回転で１回の
割合で光ビームが内周方向へ１トラックピッチ分強制的
に移送されるため、光ビームは同一のトラックを繰り返
し走査することになる。
されているから、キックバックをしない通常の場合はデ
ィスク１回転毎に光ビームはそのときの走査トラックか
ら次の隣接トラックへ１トラックずつ順次走査していく
ことになる。しかし、上記のキックバックをした場合は
走査方向が例えば内周方向から外周方向であるものとす
ると、上記のキックバックパルスにより１回転で１回の
割合で光ビームが内周方向へ１トラックピッチ分強制的
に移送されるため、光ビームは同一のトラックを繰り返
し走査することになる。
第２図において、光検出器26（これは第５図に5,6,7,16
〜18で示した各要素からなる）から取り出されたトラッ
キングエラー信号（TES）とフォーカスエラー信号（FE
S）とのうち、フォーカスサーボ回路がオンのときはFES
は例えば第３図（Ａ）に示す如くになり、前記クロスト
ークによって波形が若干乱れている。
〜18で示した各要素からなる）から取り出されたトラッ
キングエラー信号（TES）とフォーカスエラー信号（FE
S）とのうち、フォーカスサーボ回路がオンのときはFES
は例えば第３図（Ａ）に示す如くになり、前記クロスト
ークによって波形が若干乱れている。
一方、TESは前記キックバックにより第３図（Ｂ）に示
す如く、一回転周期でキックバック時にパルスが現われ
る。このパルスのピーク・ツウ・ピーク値P.Pはフォー
カス点に応じて変化し、最適フォーカス点のときに最大
値となる。
す如く、一回転周期でキックバック時にパルスが現われ
る。このパルスのピーク・ツウ・ピーク値P.Pはフォー
カス点に応じて変化し、最適フォーカス点のときに最大
値となる。
上記FESはプリアンプ27、利得・位相補償回路28を夫々
経てパワーアンプ29に供給される。一方、上記TESはキ
ックバックサーチレベル検出回路30に供給され、ここで
一回転前と現時点のパルスのピーク・ツウ・ピーク値が
比較され、現時点のパルスの方が大なる値が得られるよ
うにオフセット電圧源31の出力オフセット電圧を制御す
る。
経てパワーアンプ29に供給される。一方、上記TESはキ
ックバックサーチレベル検出回路30に供給され、ここで
一回転前と現時点のパルスのピーク・ツウ・ピーク値が
比較され、現時点のパルスの方が大なる値が得られるよ
うにオフセット電圧源31の出力オフセット電圧を制御す
る。
このオフセット電圧はパワーアンプ29に供給される。従
って、パワーアンプ29からフォーカスコイル33に供給さ
れる電流はオフセット電圧と利得・位相補償回路28の出
力信号（FES）とによるものとなり、対物レンズ８はTES
中のキックバック時のパルスのピーク・ツウ・ピーク値
が最大となる位置に変位される。
って、パワーアンプ29からフォーカスコイル33に供給さ
れる電流はオフセット電圧と利得・位相補償回路28の出
力信号（FES）とによるものとなり、対物レンズ８はTES
中のキックバック時のパルスのピーク・ツウ・ピーク値
が最大となる位置に変位される。
なお、キックバックパルスはディスク１回転中に１回発
生した場合でも、１回転周期間隔の２つのキックバック
時のパルスのピーク・ツウ・ピーク値の比較を１回転中
で何回も行なうようにすることにより、検出速度を速め
ることができる。
生した場合でも、１回転周期間隔の２つのキックバック
時のパルスのピーク・ツウ・ピーク値の比較を１回転中
で何回も行なうようにすることにより、検出速度を速め
ることができる。
次に本発明の他の実施例について説明する。本実施例で
は、光ビームの１トラックピッチ分のキックバックと１
トラックピッチ分のキックフォワード（すなわち、１ト
ラックピッチ分順方向に光ビームを強制的に移送するこ
と）とを交互に、しかもディスク１回転期間内で複数回
ずつ行ない、光ビームを１トラックずつ戻したり進めた
りしながら、それにより得られたTES中のパルスのピー
ク・ツウ・ピーク値を検出し、対物レンズ８の位置決め
を行なうようにしたものである。
は、光ビームの１トラックピッチ分のキックバックと１
トラックピッチ分のキックフォワード（すなわち、１ト
ラックピッチ分順方向に光ビームを強制的に移送するこ
と）とを交互に、しかもディスク１回転期間内で複数回
ずつ行ない、光ビームを１トラックずつ戻したり進めた
りしながら、それにより得られたTES中のパルスのピー
ク・ツウ・ピーク値を検出し、対物レンズ８の位置決め
を行なうようにしたものである。
本実施例の場合は、TESの波形は第４図（Ｂ）に示す如
くになり、前記実施例のTESの波形（同図（Ａ）に示
す）に比べてディスク１回転期間内で検出されるパルス
の数が多いため、検出速度を速くすることできる。
くになり、前記実施例のTESの波形（同図（Ａ）に示
す）に比べてディスク１回転期間内で検出されるパルス
の数が多いため、検出速度を速くすることできる。
なお、この場合、ディスク１回転期間のTES中のパルス
数が多い程検出速度は速くなるが、キックバックやキッ
クフォワードをした直後から光ビームがキック後のトラ
ック上を安定に追従走査するまでの制定時間が必要であ
るため、パルス数には制約がある。
数が多い程検出速度は速くなるが、キックバックやキッ
クフォワードをした直後から光ビームがキック後のトラ
ック上を安定に追従走査するまでの制定時間が必要であ
るため、パルス数には制約がある。
例えば、キック後の制定時間を約2ms、ディスク回転数
を1800rpmとすると、一回転で全部でパルス数は最大16
となる。また、キックバックパルスとキックフォワード
パルスとが偶数個の場合には光ビームは常に隣接する同
じ２本のトラックを交互に一定期間ずつ走査することに
なる。
を1800rpmとすると、一回転で全部でパルス数は最大16
となる。また、キックバックパルスとキックフォワード
パルスとが偶数個の場合には光ビームは常に隣接する同
じ２本のトラックを交互に一定期間ずつ走査することに
なる。
なお、本発明は上記の実施例に限定されるものではな
く、キックフォワードパルスだけを発生して位置決めを
することも可能である。
く、キックフォワードパルスだけを発生して位置決めを
することも可能である。
上述の如く、本発明によれば、クロストークによるフォ
ーカスエラー信号のオフセットの影響を除去することが
できるため、フォーカスサーボ信号及びトラッキングサ
ーボ回路を順次にオンした後のフォーカス点の調整がで
き、常に最適フォーカス状態で記録や再生をすることが
でき、更に光ビームの１トラックピッチ分のキックバッ
クと１トラックピッチ分のキックフォワードとを交互に
ディスク１回転周期内で複数回づつ変更する構成とする
ことにより、ディスク１回転期間内で検出されるパルス
数は多くなり検出速度を速くすることができる等の特長
を有するものである。
ーカスエラー信号のオフセットの影響を除去することが
できるため、フォーカスサーボ信号及びトラッキングサ
ーボ回路を順次にオンした後のフォーカス点の調整がで
き、常に最適フォーカス状態で記録や再生をすることが
でき、更に光ビームの１トラックピッチ分のキックバッ
クと１トラックピッチ分のキックフォワードとを交互に
ディスク１回転周期内で複数回づつ変更する構成とする
ことにより、ディスク１回転期間内で検出されるパルス
数は多くなり検出速度を速くすることができる等の特長
を有するものである。
第１図は本発明の原理説明図、 第２図は本発明を用いた一実施例のブロック図、 第３図は本発明の一実施例における波形図、 第４図は本発明の他の実施例における波形図、 第５図は光学ヘッドの一例の構成図、 第６図はフォーカス動作説明図、 第７図は光学ヘッドと光ディスクとの位置関係を示す
図、 第８図はフォーカス制御のみの場合の各信号波形図、 第９図は従来方法によりトラック制御まで行なった場合
の各信号波形図である。 図において、 S1〜S4はステップ、 ８は対物レンズ、 23は光磁気ディスク、 30はキックバックサーチレベル検出回路、 31はオフセット電圧源 を示す。
図、 第８図はフォーカス制御のみの場合の各信号波形図、 第９図は従来方法によりトラック制御まで行なった場合
の各信号波形図である。 図において、 S1〜S4はステップ、 ８は対物レンズ、 23は光磁気ディスク、 30はキックバックサーチレベル検出回路、 31はオフセット電圧源 を示す。
Claims (1)
- 【請求項１】光学ヘッド（22）からの光ビームがディス
ク上に焦点一致して集束する位置に該光学ヘッド（22）
内の対物レンズ（８）を該ディスクの平面に対して垂直
方向であるフォーカス方向に駆動変位させるフォーカス
サーボ回路と、前記光ビームを前記ディスク上のトラッ
クに追従走査させるトラッキングサーボ回路とを備えた
光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法において、 前記フォーカスサーボ回路及びトラッキングサーボ回路
を順次にオンとした後（S2,S3）、前記光ビームの走査
トラック位置を前記光ビームの１トラックピッチ分のキ
ックバックと１トラックピッチ分のキックフォワードと
を交互に、かつディスク１回転周期内で複数回づつ強制
的に変更すると共に、前記対物レンズ（８）を前記フォ
ーカス方向に駆動変位し、強制的なフォーカス走査位置
変更時点におけるトラッキングエラー信号レベルを検出
し、該検出トラッキングエラー信号レベルの最大値が得
られる位置に前記対物レンズ（８）を位置決めする
（S4）ことを特徴とする光ディスク装置のフォーカス点
位置決め方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63242946A JPH0748269B2 (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63242946A JPH0748269B2 (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0291826A JPH0291826A (ja) | 1990-03-30 |
| JPH0748269B2 true JPH0748269B2 (ja) | 1995-05-24 |
Family
ID=17096576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63242946A Expired - Lifetime JPH0748269B2 (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 光ディスク装置のフォーカス点位置決め方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0748269B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6958957B2 (en) * | 2001-01-25 | 2005-10-25 | Dphi Acquisitions, Inc. | Digital tracking and focus servo system with TES to FES crosstalk calibration |
| KR20040032679A (ko) * | 2002-10-10 | 2004-04-17 | 엘지전자 주식회사 | 광디스크 장치의 포커스 바이어스 조정방법 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58158045A (ja) * | 1982-03-16 | 1983-09-20 | Nec Corp | 焦点制御修正装置 |
-
1988
- 1988-09-28 JP JP63242946A patent/JPH0748269B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0291826A (ja) | 1990-03-30 |
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