JPH0745667A - Ｔａｂの位置決め穴を保護するｔａｂと電極の位置決め方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＴＡＢの位置決め穴１Ａを保護するＴＡＢと
電極１０の位置決め方法を提供する。 【構成】 昇降手段４はスプロケット２Ａ・２Ｂを保持
し、プッシャ３を上下動する。昇降手段５は昇降手段４
を上下動する。スプロケット２Ｂの回転を制止し、スプ
ロケット２ＡをＴＡＢテープ１が張る方向に微少回転す
る。昇降手段５はスプロケット２Ａ・２ＢとＴＡＢテー
プ１を一体にして下降する。位置決め穴１Ａが位置決め
ピン１１のテーパ部に挿入された位置で停止し、スプロ
ケット２ＡをＴＡＢテープ１が緩む方向に微少回転す
る。昇降手段４はプッシャ３を下降してＴＡＢを電極に
位置決めする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、ＴＡＢ試験器におい
て、ＴＡＢの位置決め穴に電極の位置決めピンを挿入し
て位置決めする場合に、ＴＡＢの位置決め穴を保護する
方法についてのものである。

【０００２】

【従来の技術】次に、ＴＡＢを図３の部分外観図により
説明する。図３の１はＴＡＢテープ、１Ａは位置決め
穴、１ＢはＩＣチップ、１Ｃはテストパッド、１Ｄはパ
ーフォレーション、１ＥはＴＡＢである。

【０００３】ＴＡＢテープ１はテープ状のフィルムであ
り、ＴＡＢテープ１はくり返しＩＣチップ１Ｂが形成さ
れる。ＩＣチップ１Ｂの周囲にはテストパッド１Ｃが形
成され、テストパッド１Ｃに電極の測定ピンを接触させ
てＩＣチップ１Ｂの電気的特性を測定する。

【０００４】パーフォレーション１Ｄはスプロケットの
歯とかん合してＴＡＢテープ１を移動させるためのもの
である。また、パーフォレーション１Ｄには後述の位置
決めピンが挿入され、測定ピンをテストパッド１Ｃに接
触させる場合の案内の役目をする。なお、この明細書で
はＩＣチップ１Ｂとテストパッド１Ｃで構成された１単
位をＴＡＢ１Ｅとして取り扱う。

【０００５】次に、ＴＡＢ試験器の従来技術によるＴＡ
Ｂと電極の接触機構の構成を図４により説明する。図４
の２Ａと２Ｂはスプロケット、１０は電極、１１はテー
パつきの位置決めピン、１２は測定ピンである。また、
１３はプッシャ、１４と１５は駆動源、１４Ａと１５Ａ
はボールねじ、１４Ｂはブロックである。

【０００６】図４では、プッシャ１３はＴＡＢ１Ｅの背
面で電極１０に対面する位置に配置される。駆動源１４
はボールねじ１４Ａを回転し、ボールねじ１４Ａの回転
でプッシャ１３が上下に移動する。駆動源１４には、例
えばモータを使用する。

【０００７】ブロック１４Ｂはボールねじ１４Ａの両端
を支持するとともに、スプロケット２Ａ・２Ｂを回転可
能に保持している。駆動源１５はボールねじ１５Ａを回
転し、ボールねじ１５Ａが回転すると、ブロック１４Ｂ
が上下に移動する。このとき、ブロック１４Ｂに保持さ
れているスプロケット２Ａ・２ＢもＴＡＢ１Ｅとともに
移動する。また、プッシャ１３もボールねじ１４でブロ
ック１４Ｂに連結しているので、ブロック１４Ｂが上下
動すれば、プッシャ１３も移動する。

【０００８】図４では、駆動源１５を駆動し、スプロケ
ット２Ａ・２ＢでＴＡＢ１Ｅを電極１０の測定ピン１２
の位置まで移動させる。そして、駆動源１４でプッシャ
１３を電極１０のＴＡＢ１Ｅに接触するまで移動する。
この場合、位置決めピン１１が図３のパーフォレーショ
ン１Ｄに入ることにより、ＴＡＢ１Ｅの位置が決まり、
測定ピン１２が図３のテストパッド１Ｃに接触する。

【０００９】図４では、駆動源１５でＴＡＢテープ１の
下降位置を粗調整し、駆動源１４でプッシャ１３による
ＴＡＢテープ１の下降位置を微調整しているので、ＴＡ
Ｂと電極を接触圧力を適正に調整できる。なお、図３と
図４は特開平1−34576号公報の第２図および第１図と技
術的に同じものである。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】従来の位置決め機構で
は、ＴＡＢ内のパーフォレーションを位置決め穴として
使用していたため、テープの継ぎ目で誤差が発生した場
合にパーフォレーションをつぶす可能性があった。しか
し、パーフォレーションの若干の形状破損は、検査工程
や組立工程ではあまり問題にならなかった。しかしなが
ら、近年、ＥＩＡＪ（日本電子機械工業会）規格ではＴ
ＡＢのパターンの規格化および専用電極の市販化などに
より専用の位置決め穴が設けられている。

【００１１】例えば、図５は前記規格によるＴＡＢテー
プの配置図である。図５では位置決め穴１Ａがテストパ
ッド１Ｃに近接している。このため、図６に示されるよ
うに図５のＴＡＢテープ専用の電極１０でＴＡＢを位置
合わせする場合に、位置決めピン１１が挿入されると
き、位置決め穴１Ａが破損し、テストパッド１Ｃをも破
損する場合がある。この場合、ＴＡＢの商品価値をなく
してしまうという問題がある。

【００１２】この発明は、ＴＡＢテープを張った状態を
保持し、ＴＡＢテープの位置決め穴が電極の位置決めピ
ンのテーパ部に入る位置まで第２の昇降手段でＴＡＢテ
ープを下降し、ＴＡＢテープが緩む状態に転換し、第１
の昇降手段でプッシャがＴＡＢテープを押下することに
より、ＴＡＢの位置決め穴を保護するＴＡＢと電極の位
置決め方法を提供することを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、ＴＡＢテープ１は電極１０のテーパつ
き位置決めピン１１に入る位置決め穴１Ａをもち、スプ
ロケット２Ａとスプロケット２Ｂを回転してＴＡＢテー
プ１を移動し、プッシャ３でＴＡＢテープ１を押下し、
ＴＡＢを電極に位置決めして測定するＴＡＢと電極の接
触機構において、スプロケット２Ａとスプロケット２Ｂ
を保持し、プッシャ３を上下動する昇降手段４と、昇降
手段４を上下動する昇降手段５とを備え、スプロケット
２Ｂの回転を制止し、スプロケット２ＡをＴＡＢテープ
１が張る方向に微少回転し、昇降手段５でスプロケット
２Ａとスプロケット２ＢとＴＡＢテープ１を一体にして
下降し、ＴＡＢテープ１の位置決め穴１Ａが位置決めピ
ン１１のテーパ部に挿入された位置で停止し、スプロケ
ット２ＡをＴＡＢテープ１が緩む方向に微少回転し、昇
降手段４でプッシャ３を下降してＴＡＢを電極に位置決
めする。

【００１４】

【作用】次に、この発明の作用を説明する。スプロケッ
ト２Ｂの回転を制止し、スプロケット２ＡをＴＡＢテー
プ１が張る方向に微少回転する。ＴＡＢテープ１が張る
状態で、ＴＡＢの位置決め穴１Ａが位置決めピン１１の
テーパ部に挿入された位置では位置決め穴１Ａの内径は
テーパ部の外径より大きいので位置決め穴１Ａを傷つけ
ない。次に、スプロケット２ＡをＴＡＢテープ１が緩む
方向に微少回転し、昇降手段４でプッシャ３を下降して
ＴＡＢを電極に位置決めすれば、ＴＡＢテープ１は弛緩
しており、位置決め穴１Ａは位置決めピン１１となじみ
ながらＴＡＢテープ１は下降し、位置決め穴１Ａを傷つ
けない。

【００１５】

【実施例】次に、この発明によるＴＡＢと電極の接触機
構の構成を図１の実施例により説明する。図１の２Ｃと
２Ｄはモータ、４Ａと５Ａはモータ、４Ｂと５Ｂはブロ
ック、４Ｃと５Ｃはガイド、６はモータ駆動回路であ
り、その他は図４と同じものである。

【００１６】図１では、モータ２Ｃはスプロケット２Ａ
を回転し、モータ２Ｄはスプロケット２Ｂを回転する。
スプロケット２Ａはアーム４Ｄで保持され、アーム４Ｄ
はブロック４Ｂの第１の側面に取り付けられる。スプロ
ケット２Ｂはアーム４Ｅで保持され、アーム４Ｅはブロ
ック４Ｂの第１の側面と反対側の第２の側面に取り付け
られる。

【００１７】モータ４Ａはブロック４Ｂの上面に取り付
けられ、モータ４Ａの回転軸はボールねじに連結し、ボ
ールねじはプッシャ３に保持されるボールナットと結合
する。モータ４Ａが回転すると、プッシャ３はガイド４
Ｃに案内されて昇降する。すなわち、第１の昇降手段４
はプッシャ３を昇降させる機械的手段である。

【００１８】モータ５Ａはブロック５Ｂの上面に取り付
けられ、モータ５Ａの回転軸はボールねじに連結し、ボ
ールねじはブロック４Ｂに保持されるボールナットと結
合する。モータ５Ａが回転すると、ブロック４Ｂはスプ
ロケット２Ａ・２Ｂと一体になって、ガイド５Ｃに案内
されて昇降する。すなわち、第２の昇降手段５はブロッ
ク４Ｂを上下動させる機械的手段である。

【００１９】モータ駆動回路６はモータ２Ｃ・２Ｄおよ
びモータ４Ａ・５Ａと接続し、モータ駆動回路６に与え
られる制御信号により、前記各モータを回転制御する。

【００２０】図１は図４と構成が異なっているが、原理
的には同じものである。すなわち、図１では、モータ５
ＡでＴＡＢテープ１の下降位置を粗調整し、モータ４Ａ
でプッシャ３によるＴＡＢテープ１の下降位置を微調整
している。

【００２１】次に、図１の動作手順を図２のフローチャ
ートにより説明する。図２のステップ１０１では、スプ
ロケット２Ａ・２Ｂを同期して回転し、ＴＡＢテープ１
を電極１０上に進行させる。

【００２２】ステップ１０２ではスプロケット２Ｂの回
転を制止する。ステップ１０３では、スプロケット２Ａ
をＴＡＢテープ１が張る方向に微少回転する。ステップ
１０３の微少回転はＴＡＢテープ１が 500μｍ〜1000μ
ｍ程度移動する量とする。

【００２３】ステップ１０４では、モータ５Ａを駆動し
てブロック４Ｂを下降する。そして、ＴＡＢテープ１の
位置決め穴１Ａが位置決めピン１１のテーパ部に挿入さ
れた位置でブロック４Ｂを停止する。

【００２４】ステップ１０５では、スプロケット２Ａを
ＴＡＢテープ１が緩む方向に微少回転する。ステップ１
０５でのスプロケット２Ａの回転方向はステップ１０３
での回転と逆方向となり、ＴＡＢテープ１の移動量はス
テップ１０３の移動量の２倍に設定する。

【００２５】ステップ１０６では、モータ４Ａによりプ
ッシャ３を下降し、ＴＡＢのテストパッド１Ｃと電極１
０の測定ピン１２を接触させる。このとき、ＴＡＢテー
プ１は自由度が高いので、位置決めピン１１にＴＡＢの
位置決め穴１Ａが容易に挿入される形となり、位置決め
穴１Ａを傷つけない。

【００２６】ステップ１０７では、ＴＡＢを測定する。
ステップ１０８ではモータ４Ａ・４Ｂを駆動し、プッシ
ャ３およびブロック４Ｂをステップ１０１の原位置まで
上昇させる。ステップ１０９では、スプロケット２Ａを
ステップ１０５と反対方向に回転させＴＡＢテープ１を
ステップ１０１の状態に戻すとともに、スプロケット２
Ｂの回転制止を解除し、一連の動作を終了する。

【００２７】

【発明の効果】発明には、ＴＡＢテープを張った状態を
保持し、ＴＡＢテープの位置決め穴が電極の位置決めピ
ンのテーパ部に入る位置まで第２の昇降手段でＴＡＢテ
ープを下降し、ＴＡＢテープが緩む状態に転換し、第１
の昇降手段でプッシャがＴＡＢテープを押下することに
より、ＴＡＢに自由度をもたせ、ＴＡＢと電極の位置決
め時に、ＴＡＢの位置決め穴に対する負荷が軽減でき、
位置決め穴を破損せず保護することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明によるＴＡＢと電極の接触機構の構成
図である。

【図２】図１の動作手順を示すフローチャートである。

【図３】ＴＡＢの部分外観図である。

【図４】従来技術によるＴＡＢと電極の接触機構の構成
図である。

【図５】ＥＩＡＪ（日本電子機械工業会）規格によるＴ
ＡＢテープの配置図である。

【図６】図５のＴＡＢテープと電極を位置合わせする状
態図である。

【符号の説明】

１ ＴＡＢテープ １Ａ 位置決め穴 ２Ａ スプロケット ２Ｂ スプロケット ２Ｃ モータ ２Ｄ モータ ３ プッシャ ４ 昇降手段 ４Ａ モータ ４Ｂ ブロック ４Ｃ ガイド ４Ｄ アーム ４Ｅ アーム ５ 昇降手段 ５Ａ モータ ５Ｂ ブロック ５Ｃ ガイド ６ モータ駆動回路 １０ 電極 １１ 位置決めピン

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＴＡＢテープ(1) は電極(10)のテーパつ
   き位置決めピン(11)に入る位置決め穴(1A)をもち、第１
   のスプロケット(2A)と第２のスプロケット(2B)を回転し
   てＴＡＢテープ(1) を移動し、プッシャ(3) でＴＡＢテ
   ープ(1) を押下し、ＴＡＢを電極に位置決めして測定す
   るＴＡＢと電極の接触機構において、 第１のスプロケット(2A)と第２のスプロケット(2B)を保
   持し、プッシャ(3) を上下動する第１の昇降手段(4)
   と、 第１の昇降手段(4) を上下動する第２の昇降手段(5) と
   を備え、 第２のスプロケット(2B)の回転を制止し、 第１のスプロケット(2A)をＴＡＢテープ(1) が張る方向
   に微少回転し、 第２の昇降手段(5) で第１のスプロケット(2A)と第２の
   スプロケット(2B)とＴＡＢテープ(1) を一体にして下降
   し、 ＴＡＢテープ(1) の位置決め穴(1A)が位置決めピン(11)
   のテーパ部に挿入された位置で停止し、 第１のスプロケット(2A)をＴＡＢテープ(1) が緩む方向
   に微少回転し、 第１の昇降手段(4) でプッシャ(3) を下降してＴＡＢを
   電極に位置決めすることを特徴とするＴＡＢの位置決め
   穴を保護するＴＡＢと電極の位置決め方法。