JPH0741955A - マグネトロン発振出力制御装置 - Google Patents

マグネトロン発振出力制御装置

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JPH0741955A
JPH0741955A JP5188479A JP18847993A JPH0741955A JP H0741955 A JPH0741955 A JP H0741955A JP 5188479 A JP5188479 A JP 5188479A JP 18847993 A JP18847993 A JP 18847993A JP H0741955 A JPH0741955 A JP H0741955A
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pulse
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wave
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 マグネトロンの寿命を短くすることなく、簡
単な回路構成及び制御を用いることでマグネトロンのμ
波出力を安定に制御して、安定したμ波プラズマの発生
を実現し、μ波プラズマ処理を高速に、且つ、高精度で
行うことを可能とすること。 【構成】 パルス信号によりオン/オフ状態を制御され
るスイッチ回路SW1と、マグネトロンにμ波電力パル
スを印加する整流回路D3,D4,C3と、一次側の一
端が交流電源、他端がスイッチ回路SW1に接続され、
二次側が整流回路D3,D4,C3に接続されたトラン
スT3とを有し、前記スイッチ回路SW1は、整流回路
D3,D4,C3の出力するμ波電力パルスのデューテ
ィー比及びそのデューティー比の繰り返し周波数が各々
一定となるように前記パルス信号によりオン/オフ状態
を制御されるように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はマグネトロン発振出力制
御装置に係わり、特にマイクロ(μ)波電力を安定に供
給するマグネトロン発振出力制御装置に関する。
【0002】半導体装置を製造する際、マグネトロンを
使用したμ波プラズマ処理によりエッチング工程やCV
D工程が行われる。そこで、マグネトロンのμ波出力を
制御するために、μ波電力をマグネトロンへ安定に供給
すると共に、細かく制御する要求がある。又、LSIの
製造では、特にμ波プラズマ処理を高速に、且つ、高精
度で行う要求もある。
【0003】
【従来の技術】図12は、従来のマグネトロン発振出力
制御装置の一例を示す。同図中、マグネトロン発振出力
装置は、大略トランスT1と、ダイオードD1,D2
と、高圧コンデンサC1,C2とからなる。マグネトロ
ン100にはヒーター電源110が接続されている。ト
ランスT1の一次側には、50Hzで交流(AC)20
0Vの二相電源電圧が印加され、トランスT1の二次側
の電圧は一次側のm倍とされダイオードD1,D2によ
り全波整流される。マグネトロン発振出力制御装置から
出力されるμ波電力は、高圧コンデンサC1,C2の容
量により決定される。従って、μ波電力が50Hzの場
合、マグネトロン100の陽極に印加される電流Ib
は、図13に示す如き波形を有する。この場合のμ波電
力は1500Wである。
【0004】図14は、従来のマグネトロン発振出力制
御装置の他の例を示す。同図中、マグネトロン発振出力
装置は、大略トランスT2と、サイリスタ回路101
と、整流回路102とからなる。マグネトロン100に
はヒーター電源110が接続されている。トランスT2
の一次側には、50HzでAC200Vの二相電源電圧
が印加され、トランスT2の二次側の電圧は一次側での
電流制御により制御される。マグネトロン発振出力制御
装置から出力されるμ波電力は、整流回路102を介し
てマグネトロン100に供給される。従って、μ波電力
が50Hzの場合、マグネトロン100の陽極に印加さ
れる電流Ibは、図15に示す如き波形を有する。この
場合のμ波電力は1500Wである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図12の従来
例では、マグネトロン100のμ波出力は固定であり、
マグネトロン100を所謂ソフトスタートさせたり、ソ
フトストップさせたりすることはできなかった。又、チ
ャンバ内のプラズマインピーダンス(以下、インピーダ
ンスと言う)によっては、マグネトロン100に過剰の
負荷がかかってしまい、発振不良を引き起こす場合もあ
った。マグネトロン100に対する負荷が過剰である
と、マグネトロン100の陰極と陽極との間がショート
状態となってしまう。このため、マグネトロン100の
陽極を流れる電流は、例えば数10μsecの短い時間
で通常時の0.4〜0.7Aから200Aにも達してし
まい、マグネトロン100自体又はマグネトロン発振出
力制御装置が破損してしまうという問題点もあった。
【0006】他方、図14の従来例では、マグネトロン
100のμ波出力を可変制御することができる。しか
し、高いμ波出力を得るにはマグネトロン100の陽極
に印加される電流のピーク値を高く設定しなければなら
ず、そうした場合のマグネトロン100に対する負荷が
大きくなってしまい、マグネトロン100の寿命を短く
してしまうという問題点があった。
【0007】従って、上記各従来例では、マグネトロン
100のμ波出力を安定に制御して安定したμ波プラズ
マの発生を行うことはできず、μ波プラズマ処理を高速
に、且つ、高精度で行うことは困難であった。
【0008】ところで、パルス電力を用いてプラズマを
パルス状に生成する装置が特開平1−149965号公
報で提案されている。この提案装置では、マグネトロン
に供給されるパルス電圧又は電流のパルス幅、周波数、
振幅及び個数の組み合せを変調して、パルス電圧又は電
流を変調しない間欠タイミングを制御している。従っ
て、発生するプラズマとマグネトロンに供給されるパル
ス電圧又は電流とのパルス形状は異なる。しかし、この
提案装置では、パルス電圧又は電流のパルス幅、周波
数、振幅及び個数の組み合せを制御するので、複雑な制
御及び回路が必要となり、装置が大型化すると共にコス
トも高くなってしまうという問題点があった。
【0009】又、パルス電圧又は電流をマグネトロンに
供給する装置としては、特開平3−261136号公報
で提案されているものがある。この提案装置では、パル
ス電圧又は電流のデューティー比を1/2〜1/50と
し、パルス幅(ピーク電流の半値幅)を0.1〜20μ
secとしている。しかし、このようにマグネトロンに
供給するパルス電圧又は電流のデューティー比及びパル
ス幅が一定でないと、マグネトロンの寿命が短くなると
いう問題があった。
【0010】更に、上記各公開公報に提案されている装
置では、マグネトロンのμ波出力を制御するのにパルス
変調を用いているので、プラズマ発光強度が不規則とな
る。プラズマ発光強度が不規則であると、プラズマが発
生されるチャンバ内でプラズマ発光強度を検出する光終
点検出装置の制御が困難になるという問題もあった。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題は、請求項1記
載の、パルス信号によりオン/オフ状態を制御されるス
イッチ回路SW1と、マグネトロンにμ波電力パルスを
印加する整流回路D3,D4,C3と、一次側の一端が
交流電源、他端がスイッチ回路SW1に接続され、二次
側が整流回路D3,D4,C3に接続されたトランスT
3とを有し、前記スイッチ回路SW1は、整流回路D
3,D4,C3の出力するμ波電力パルスのデューティ
ー比及びそのデューティー比の繰り返し周波数が各々一
定となるように前記パルス信号によりオン/オフ状態を
制御される、マグネトロン発振出力制御装置により達成
される。
【0012】
【作用】スイッチ回路SW1は、μ波電力パルスのデュ
ーティー比及びそのデューティー比の繰り返し周波数が
各々一定となるように前記パルス信号によりオン/オフ
状態を制御される。
【0013】μ波電力パルスは変調を行わない規則的な
パルスであるので、マグネトロンの寿命を短くすること
はなく、又、プラズマ発光強度が不規則となることがな
いので、プラズマが発生されるチャンバ内でプラズマ発
光強度を検出する光終点検出装置の制御が容易になる。
更に、スイッチ回路SW1のオン/オフ状態を制御する
ことにより所望のμ波電力パルスを生成するので、簡単
な回路構成及び制御を用いることでマグネトロンのμ波
出力を安定に制御して、安定したμ波プラズマの発生を
実現し、μ波プラズマ処理を高速に、且つ、高精度で行
うことができる。
【0014】
【実施例】図1は、本発明になるマグネトロン発振出力
制御装置の第1実施例を示す。同図中、マグネトロン発
振出力装置は、大略整流器1と、スイッチ回路SW1
と、トランスT3と、ダイオードD3,D4と、コンデ
ンサC3とからなる。マグネトロン10にはヒーター電
源11が接続されている。トランスT3の一次側には、
50HzでAC200Vの三相電源電圧が整流器1を介
して印加され、トランスT3の二次側の電圧は一次側の
m倍とされダイオードD3,D4により半波整流され
る。スイッチ回路SW1のオン/オフのデューティー比
及びそのデューティー比の繰り返し周波数はマグネトロ
ン10の通常動作時には一定に保たれる。スイッチ回路
SW1のオン/オフのデューティー比が50%でそのデ
ューティー比の繰り返し周波数が50kHzであるとす
ると、マグネトロン10の陽極に印加される電流Ib
は、図2に示す如き波形を有する。この場合のμ波電力
は1500Wである。
【0015】尚、スイッチ回路SW1のオン/オフのデ
ューティー比及びそのデューティー比の繰り返し周波数
が固定であっても、μ波電力パルスの間欠タイミングを
制御することにより、マグネトロン10のμ波出力の可
変制御及び発振効率の制御を適切に行うことができる。
このため、μ波プラズマ処理に最適な効率の良いμ波出
力を得ることができる。又、μ波プラズマ処理によりエ
ッチングを行う場合には、エッチング速度を安定に制御
することができる。
【0016】図3は、μ波電力パルスの間欠タイミング
の制御を説明する図である。μ波電力パルスの間欠タイ
ミングは、スイッチ回路SW1のオン/オフ期間を例え
ば中央制御装置(CPU、図示せず)により制御するこ
とにより制御される。同図中、(a)の間欠パルスタイ
ミングを短縮すると(b)となり、(b)の間欠パルス
タイミングを更に短縮すると(c)に示す如き無間欠タ
イミングとなる。
【0017】図4は、マグネトロン10の陽極に印加さ
れるパルス電流が無間欠タイミングの場合を示す。同図
中、(a)は0.05sec/10パルスの場合を示
し、(b)は0.5sec/パルスの場合を示す。同図
では、(a)及び(b)の場合いずれも同じμ波実効出
力(実効面積)が得られる。しかし、後述するように、
1sec内で同じデューティー比で同じμ波実効出力
(実効面積)が得られても、デューティー比の繰り返し
周波数が(a)と(b)の如く異なる場合、(a)のパ
ルス電流をマグネトロン10に印加した場合の方がエッ
チング速度が速くなる。つまり、μ波プラズマエネルギ
ーで見ると、デューティー比の繰り返し時のエネルギー
の収束には時定数があり、エッチング処理としては
(a)の場合の方がエッチング速度が速くなる。
【0018】図5は、マグネトロン10に図4に示すパ
ルス電流を印加した場合のマグネトロン10のμ波出力
を示す。図5(a)は、マグネトロン10に図4(a)
に示すパルス電流を印加した場合のマグネトロン10の
μ波出力を示し、図5(b)は、マグネトロン10に図
4(b)に示すパルス電流を印加した場合のマグネトロ
ン10のμ波出力を示す。図5(a),(b)からわか
るように、同じμ波出力であっても、生成される活性種
の数は活性種の寿命の違いにより(a)と(b)の場合
とで大きく異なる。図5(a)の場合は、エッチングに
寄与する活性種が(b)の場合に比べて多いので、エッ
チング速度が(b)の場合より速くなる。尚、デューテ
ィー比の繰り返し周期が30μsec以上になると、活
性種の量に変化が見られなくなるので、エッチング速度
は30μsec以上のデューティー比の繰り返し周期で
飽和する。
【0019】図6(a)は、図1においてスイッチ回路
SW1がオンの状態を示す。この状態では、電流i1が
矢印の方向に流れる。従って、コンデンサC3には電荷
がチャージされず、マグネトロン10の陽極電圧が例え
ば規定電圧である直流(DC)4kVに達しないので、
マグネトロン10は発振しない。
【0020】他方、スイッチ回路SW1がオフの状態を
図6(b)に示す。この状態では、逆起電力の作用によ
り、電流i2が矢印の方向に流れる。これにより、スイ
ッチ回路SW1がオンの状態の時にトランスT3に蓄積
されたエネルギーがコンデンサC3にチャージされる。
その後、スイッチ回路SW1が再びオンとされると、コ
ンデンサC3にチャージされていたエネルギーとトラン
スT3に印加されたエネルギーとが加算されるので、マ
グネトロン10の陽極電圧が例えば規定電圧であるDC
4kVに達し、マグネトロン10が発振してμ波出力が
得られる。本実施例では、トランスT3の一次側の電圧
を260〜300Vとすると、二次側の電圧は2kVと
なるように上記mが設定されて昇圧が行われる。
【0021】尚、マグネトロン10に印加するμ波電力
パルスのデューティー比は、マグネトロン10に過剰の
負荷がかからないように、本実施例では50%に設定さ
れ、μ波電力パルスの波高値は、マグネトロン10の平
均陽極電流の2倍に設定される。但し、μ波電力パルス
の波高値は、マグネトロン10の最大陽極ピーク電流を
越えない値に設定される。又、μ波電力パルスのデュー
ティー比の繰り返し周波数は、スイッチ回路SW1の最
大スイッチング速度である50kHzに設定される。マ
グネトロン10に印加するμ波電力パルスのデューティ
ー比を50%に設定すると、マグネトロン10の自己発
熱負担が軽減され、一定のデューティー比の繰り返し周
波数を用いることにもより、マグネトロン10の寿命を
延ばすことができる。
【0022】上記の如きμ波電力をマグネトロン10に
供給した場合のμ波プラズマ処理によるエッチング速度
を、100〜200Hzの電力パルスを用いた場合のエ
ッチング速度と比較すると、本実施例ではエッチング速
度を増加することができる。図7はSiO2 エッチング
速度とμ波電力との関係を示し、μ波電力パルスのデュ
ーティー比の繰り返し周期が30μsecの場合の特性
Aと、μ波電力パルスのデューティー比の繰り返し周期
が5msecの場合の特性Bとを示す。図7は、プラズ
マ処理装置のチャンバ内圧力を1.0Torr、処理ガ
スO2 /CF4を120/800ccとした場合のエッ
チング速度を示す。同図中、本実施例で得られる特性A
と特性Bとの比較からわかるように、本実施例ではエッ
チング速度が約1.4倍に増加する。
【0023】尚、本実施例では、変調を行わない規則的
なパルス波形によりマグネトロン10を動作させるの
で、プラズマ発光強度の規則的となり、プラズマが発生
されるチャンバ内でプラズマ発光強度を検出する光終点
検出装置の制御を容易に行うことができる。
【0024】次に、本発明になるマグネトロン発振出力
制御装置の第2実施例を、図8と共に説明する。同図
中、図1と同一部分には同一符号を付し、その説明は省
略する。図2は、マグネトロン発振出力制御装置が適用
されるプラズマ処理装置をマグネトロン発振出力制御装
置と共に示す。
【0025】図8において、マグネトロン発振出力制御
装置21は、電力モニタ22と、操作部23と、CPU
24と、メモリ25と、パルス発生回路26と、アナロ
グ/ディジタル(A/D)変換器27とスイッチ回路S
W1と、高圧部27とからなる。高圧部27は、図1の
構成要素に加えて保護回路28を有する。他方、プラズ
マ処理装置31は、マグネトロン10を収納するマグネ
トロン収納部32と、方向性結合器33と、3スタブチ
ューナ34と、導波管35と、窓36と、処理ガス導入
口37と、真空チャンバ38とからなる。真空チャンバ
38内には、プラズマ処理を施される試料40が配置さ
れる。CPU24は、電力モニタ22と、操作部23
と、メモリ25と、パルス発生回路26と、アナログ/
ディジタル変換器27と、保護回路28とに接続してい
る。尚、整流器1の図示は省略する。
【0026】パルス発生回路26は、CPU24からの
パルス発生タイミング、パルス幅、パルス数等の情報に
基づいてパルスを発生するもので、回路構成自体は周知
のものを使用し得る。パルス発生回路26から発生され
るパルスは、スイッチ回路SW1のオン/オフを制御す
る。トランスT3の二次側から供給されるμ波電力は、
保護回路28を介してマグネトロン10に印加される。
保護回路28は、過大な陽極電流又は電圧がマグネトロ
ン10に印加されることを防止するもので、マグネトロ
ン10に印加されているμ波電力に関する情報をCPU
24にフィードバックする。この保護回路28の回路構
成自体も周知のものを使用し得る。尚、方向性結合器3
3での状態に関する情報は、A/D変換器27を介して
CPU24に供給される。
【0027】操作部23は、マグネトロン10に印加す
るべきμ波電力、電力モニタ22でモニタするべきμ波
電力、ソフトスタートに関する情報、マグネトロン10
の陽極電圧上昇率、マグネトロン10のヒータ(図示せ
ず)のオン時間等をCPU24に対して入力設定し、C
PU24はこれらの情報をメモリ25に格納する。電力
モニタ22でモニタするべきμ波電力を設定しておくこ
とにより、設定されたμ波電力がモニタされたことによ
りプラズマ発生の異常等を検出することができる。ソフ
トスタートに関する情報を設定しておくことにより、マ
グネトロン10の陽極電流を除々に増加させてマグネト
ロン10を真空チャンバ38内のインピーダンスになら
し、マグネトロン10に過剰の負荷がかかることによる
発振不良やマグネトロン10及び高圧部27の破損を防
止し得る。マグネトロン10の陽極電圧上昇率を設定し
ておくことにより、CPU24によりマグネトロン10
の寿命を予測することもできる。又、マグネトロン10
のヒータのオン時間を設定しておくことにより、ヒータ
のオン時間が設定値を超えた場合にCPU24からアラ
ームを出力してマグネトロン10の破損を防ぐこともで
きる。
【0028】本実施例では、CPU24によりパルス発
生回路26のパルス発生タイミングを所定時間毎に可変
制御することにより、マグネトロン10のソフトスター
トを行う。図9は、3ステップでソフトスタートを行う
場合を説明する図である。同図中、先ず第1のステップ
S1では、μ波電力の間欠パルスタイミングを大きくと
り、マグネトロン10及びマグネトロン発振出力制御装
置21が真空チャンバ38内でのプラズマ発光時の急激
なインピーダンスの変化に影響されないようにする。次
に、プラズマ発光が開始されてから例えば数sec後の
ステップS2では、除々に安定してきたインピーダンス
に対応してμ波電力の間欠パルスタイミングを短くする
ことにより、マグネトロン10のμ波出力を増加させ
る。そして、ステップS2の終了から例えば数sec後
のステップS3では、完全に安定したインピーダンスに
応じてμ波電力を無間欠タイミングのパルスとしてマグ
ネトロン10に供給する。ステップS3以降でマグネト
ロン10に供給されるμ波電力パルスは、上述の如くエ
ッチングに寄与する活性種量が変化せずエッチング速度
が飽和するようにするには、デューティー比の繰り返し
周期を30μsec以上に設定される。
【0029】尚、ソフトスタートは3ステップに限定さ
れるわけではなく、n(nは整数)ステップで行っても
良い。図10は、ソフトスタートを5ステップで行う場
合のCPU24の動作を示すフローチャートである。同
図中、ステップ51は、操作部23からの入力に基づい
て、ソフトスタート後にマグネトロン10に供給される
μ波電力を1500Wに設定すると共に、ソフトスター
ト時間を5secに設定する。設定されたμ波電力及び
ソフトスタート時間は、メモリ25に格納される。ステ
ップ52は、パルス発生回路26を起動し、ステップ5
3はパルス発生回路26にパルスを1つ発生させる。ス
テップ54は、スイッチ回路SW1がオンとされてから
4sec経過したか否かを判断する。ステップS54の
判断結果がYESとなると、ステップ55はパルス発生
回路26にパルスを2つ間欠的に発生させる。ステップ
56は、スイッチ回路SW1がオンとされてから3se
c経過したか否かを判断する。ステップS56の判断結
果がYESとなると、ステップ57はパルス発生回路2
6にパルスを3つ間欠的に発生させる。ステップ58
は、スイッチ回路SW1がオンとされてから1sec経
過したか否かを判断する。ステップS58の判断結果が
YESとなると、ステップ59はパルス発生回路26に
パルスを4つ間欠的に発生させる。ステップ60は、ス
イッチ回路SW1がオンとされてから1sec経過した
か否かを判断する。ステップS60の判断結果がYES
となると、ステップ61はパルス発生回路26にパルス
を連続的に、即ち、無間欠に発生させる。これにより、
ステップ51〜61を行った後には、μ波電力が設定さ
れた1500Wとなる。
【0030】尚、パルスの発生順序を図10のフローチ
ャートとは逆にすることにより、マグネトロン10のソ
フトストップも可能であることは言うまでもない。
【0031】ところで、上記各実施例において、スイッ
チ回路SW1の構成としては、図11のものを用いても
良い。スイッチ回路SW1は、図示の如く並列接続され
た8つのデプリショントランジスタTR1〜TR8と、
抵抗R6ー1〜R6ー8と、抵抗R9ー1〜R9ー16
と、抵抗R10ー1〜R10ー8と、コンデンサC27
とからなる。端子DはトランスT3に接続され、端子G
S及びSは図1の示す整流器1に接続されている。端子
Sは、例えばコンデンサ(図示せず)を介して接地され
ている。端子Gには、図8に示すパルス発生回路26か
らのパルスを印加される。
【0032】以上、本発明を実施例により説明したが、
本発明はこれらの実施例に限定されるものではなく、本
発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であることは
言うまでもない。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明によれば、スイッチ回路のオン/オフ状態をμ波電力
パルスのデューティー比及びそのデューティー比の繰り
返し周波数が各々一定となるようにパルス信号により制
御しているので、μ波電力パルスは変調を行わない規則
的なパルスとなり、マグネトロンの寿命を短くすること
はなく、又、プラズマ発光強度が不規則となることがな
いので、プラズマが発生されるチャンバ内でプラズマ発
光強度を検出する光終点検出装置の制御が容易になる。
更に、スイッチ回路のオン/オフ状態を制御することに
より所望のμ波電力パルスを生成するので、簡単な回路
構成及び制御を用いることでマグネトロンのμ波出力を
安定に制御して、安定したμ波プラズマの発生を実現
し、μ波プラズマ処理を高速に、且つ、高精度で行うこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明になるマグネトロン発振出力制御装置の
第1実施例を示す回路図である。
【図2】第1実施例においてマグネトロンの陽極に印加
される電流波形を示す図である。
【図3】第1実施例におけるμ波電力パルスの間欠タイ
ミングの制御を説明する図である。
【図4】マグネトロンの陽極に印加されるパルス電流が
無間欠タイミングの場合を示す。
【図5】マグネトロンに図4に示すパルス電流を印加し
た場合のマグネトロンのμ波出力を示す図である。
【図6】第1実施例においてスイッチ回路がオン及びオ
フの状態を説明する図である。
【図7】エッチング速度とμ波電力との関係を示す図で
ある。
【図8】本発明になるマグネトロン発振出力制御装置の
第2実施例を示す回路図である。
【図9】第2実施例において3ステップでソフトスター
トを行う場合を説明する図である。
【図10】ソフトスタートを行う場合のCPUの動作を
説明するフローチャートである。
【図11】スイッチ回路の一実施例を示す回路図であ
る。
【図12】従来のマグネトロン発振出力制御装置の一例
を示す図である。
【図13】図12においてマグネトロンの陽極に印加さ
れる電流波形を示す図である。
【図14】従来のマグネトロン発振出力制御装置の他の
例を示す図である。
【図15】図14においてマグネトロンの陽極に印加さ
れる電流波形を示す図である。
【符号の説明】
1 整流器 10 マグネトロン 11 ヒータ電源 T3 トランス C3 コンデンサ D3,D4 ダイオード SW1 スイッチ回路 21 マグネトロン発振出力制御装置 22 電力モニタ 23 操作部 24 CPU 25 メモリ 26 パルス発生回路 27 A/D変換器 28 保護回路 31 プラズマ処理装置 TR1〜TR8 トランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // H01L 21/3065

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パルス信号によりオン/オフ状態を制御
    されるスイッチ回路(SW1)と、 マグネトロンにμ波電力パルスを印加する整流回路(D
    3,D4,C3)と、 一次側の一端が交流電源、他端が該スイッチ回路(SW
    1)に接続され、二次側が該整流回路(D3,D4,C
    3)に接続されたトランス(T3)とを有し、 該スイッチ回路(SW1)は、該整流回路(D3,D
    4,C3)の出力するμ波電力パルスのデューティー比
    及びそのデューティー比の繰り返し周波数が各々一定と
    なるように前記パルス信号によりオン/オフ状態を制御
    される、マグネトロン発振出力制御装置。
  2. 【請求項2】 前記スイッチ回路(SW1)は、前記整
    流回路(D3,D4,C3)の出力するμ波電力パルス
    のデューティー比が50%となるように前記パルス信号
    によりオン/オフ状態を制御され、μ波電力の波高値は
    前記マグネトロンの最大陽極電流以下に設定される、請
    求項1のマグネトロン発振出力制御装置。
  3. 【請求項3】 前記スイッチ回路(SW1)は、前記整
    流回路(D3,D4,C3)の出力するμ波電力パルス
    のデューティー比の繰り返し周期が30μsec以上の
    一定値となるように前記パルス信号によりオン/オフ状
    態を制御される、請求項1又は2のマグネトロン発振出
    力制御装置。
  4. 【請求項4】 前記スイッチ回路(SW1)は、前記マ
    グネトロンのスタート又はストップ時に前記整流回路
    (D3,D4,C3)の出力するμ波電力パルスの間欠
    タイミングを可変制御するように前記パルス信号により
    オン/オフ状態を制御される、請求項1〜3のうちいず
    れか一項のマグネトロン発振出力制御装置。
  5. 【請求項5】 前記スイッチ回路(SW1)は、マグネ
    トロンのソフトスタート時に前記整流回路(D3,D
    4,C3)の出力するμ波電力パルスの間欠タイミング
    が除々に短くなり最終的には無間欠となるように前記パ
    ルス信号によりオン/オフ状態を制御される、請求項4
    のマグネトロン発振出力制御装置。
  6. 【請求項6】 前記スイッチ回路(SW1)は、マグネ
    トロンのソフトストップ時に前記整流回路(D3,D
    4,C3)の出力するμ波電力パルスの間欠タイミング
    が無間欠状態から除々に長くなるように前記パルス信号
    によりオン/オフ状態を制御される、請求項4のマグネ
    トロン発振出力制御装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009152203A (ja) * 2007-12-21 2009-07-09 Nordson Corp Uvランプシステム及びその改善したマグネトロン制御方法

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2845163B2 (ja) * 1994-10-27 1999-01-13 日本電気株式会社 プラズマ処理方法及びその装置
JPH1180975A (ja) 1997-09-04 1999-03-26 Speedfam Co Ltd プラズマエッチング装置の耐食システム及びその方法
DE19740792A1 (de) * 1997-09-17 1999-04-01 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Erzeugung eines Plasmas durch Einstrahlung von Mikrowellen
KR100265646B1 (ko) * 1997-11-06 2000-10-02 윤종용 벽걸이형 전자렌지 및 그 출력제어방법
JP2004200113A (ja) * 2002-12-20 2004-07-15 Hamamatsu Kagaku Gijutsu Kenkyu Shinkokai マイクロ波プラズマ発生装置
US20070095281A1 (en) * 2005-11-01 2007-05-03 Stowell Michael W System and method for power function ramping of microwave liner discharge sources
DE102006053366A1 (de) 2006-11-10 2008-05-15 Schott Ag Verfahren und Vorrichtung zur plasmaunterstützten chemischen Dampfphasenabscheidung
JP2011514441A (ja) * 2008-01-30 2011-05-06 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 表面波開始プラズマ放電源の予備イオン化のためのシステム及び方法
JP5624137B2 (ja) * 2010-07-09 2014-11-12 シャープ株式会社 電子レンジ
DE102010048960A1 (de) 2010-10-18 2012-04-19 Khs Corpoplast Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Plasmabehandlung von Werkstücken
JP6205284B2 (ja) * 2014-02-10 2017-09-27 シャープ株式会社 電子レンジ
WO2015119287A1 (ja) * 2014-02-10 2015-08-13 シャープ株式会社 電子レンジ
KR101635352B1 (ko) * 2014-10-31 2016-07-01 이우혁 선반 일체형 다기능 공구
US10100407B2 (en) * 2014-12-19 2018-10-16 Lam Research Corporation Hardware and process for film uniformity improvement
KR102117432B1 (ko) * 2015-12-29 2020-06-02 광동 메이디 키친 어플리언시스 매뉴팩쳐링 코., 엘티디. 전자레인지 회로, 전자레인지 회로의 제어 방법 및 제어 장치와 전자레인지
AU2021349358A1 (en) 2020-09-24 2023-02-09 6K Inc. Systems, devices, and methods for starting plasma
US11919071B2 (en) 2020-10-30 2024-03-05 6K Inc. Systems and methods for synthesis of spheroidized metal powders
US20230411123A1 (en) * 2022-06-09 2023-12-21 6K Inc. Plasma apparatus and methods for processing feed material utilizing an upstream swirl module and composite gas flows

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5426546A (en) * 1977-07-30 1979-02-28 Toshiba Corp High frequency wave heating device power control method
JP2792558B2 (ja) * 1987-12-07 1998-09-03 株式会社日立製作所 表面処理装置および表面処理方法
GB2230154A (en) * 1989-04-04 1990-10-10 Electrolux Ab Oscillator circuits
JP3080385B2 (ja) * 1990-03-12 2000-08-28 株式会社日立製作所 マイクロ波発生装置及びプラズマ処理装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009152203A (ja) * 2007-12-21 2009-07-09 Nordson Corp Uvランプシステム及びその改善したマグネトロン制御方法

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