JPH07384A - X線ct装置 - Google Patents

X線ct装置

Info

Publication number
JPH07384A
JPH07384A JP5146315A JP14631593A JPH07384A JP H07384 A JPH07384 A JP H07384A JP 5146315 A JP5146315 A JP 5146315A JP 14631593 A JP14631593 A JP 14631593A JP H07384 A JPH07384 A JP H07384A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reference data
ray
abnormality
measurement
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5146315A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinichi Uda
晋一 右田
Yasushi Miyazaki
宮崎  靖
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
Priority to JP5146315A priority Critical patent/JPH07384A/ja
Publication of JPH07384A publication Critical patent/JPH07384A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 検出器3の両端側にリファレンスチャンネル
3a,3cをもち、このリファレンスチャンネルからの
データ(リファレンスデータ)によりX線出力変動補正
であるリファレンス補正を行うX線CT装置において、
計測中の被写体9によるリファレンス計測パスの遮断に
よる画像悪化を起こすことなくリファレンス補正を実現
する。 【構成】 計測時に被写体9が少なくとも片側のリファ
レンス計測パスを遮った時のリファレンスデータの異常
を判定するリファレンスデータ異常判定手段(5)と、
このリファレンスデータ異常判定手段により異常と判定
されたリファレンスデータを補正する異常リファレンス
データ補正手段(5)とを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、断層像計測やスキャノ
グラム画像計測中にX線出力変動(X線リップル変動)
の補正であるリファレンス補正を行うX線CT装置にお
いて、被写体がリファレンス計測パスを遮断してリファ
レンスデータが異常になることで発生する画像障害を少
なくして良好な画像を得るX線CT装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】X線CT装置の計測データにおいては、
何も被写体が遮らない空気領域の計測データで検出器
(X線検出器をいう。本明細書において同じ。)で計測
される画像再構成領域計測データを正規化してX線の出
力変動を補正するリファレンス補正を行っている。
【0003】特にスキャノグラム画像は、CTスキャナ
のX線管−検出器系を固定し、被写体をその体軸方向に
所定のスライス厚さで移動させつつX線撮影して、被写
体方向に連なる1枚の透過X線像を得てなるもので、こ
のスキャノグラム画像は簡単にいえば透過X線データを
並べた画像であるため、X線出力変動によるリップル変
動がそのまま画像に現れることからこの補正は必要不可
欠である。
【0004】図9はスキャノグラム計測とリファレンス
補正の説明図である。このうち、(a)はスキャノグラ
ム計測における被写体9及び検出器3をX線管2の上方
から見た図で、X線管2−検出器3に対して被写体9が
矢印方向に一定速度で移動している状況を示し、この
間、X線管2からX線が連続的に曝射され、検出器3で
計測されている。
【0005】図9の(b)は、この時の被写体9と計測
データとの関係を示し、横軸方向が検出器3のチャンネ
ルで縦軸方向は計測ビュー数を示す。すなわち、検出器
3の1チャンネルから最終nチャンネルまでの一連の1
投影計測をビューといい、被写体9の特定領域を計測す
るためにNビュー回繰り返して計測が行われる。
【0006】ここでは、各計測ビューでのX線出力変動
により各ビュー毎で計測出力値が変動しており、(b)
に示すような横縞のノイズが目立つ。図9の(c)はリ
ファレンス補正した結果を示す。リファレンス補正は、
被写体9が計測されない空気領域を測定したチャンネル
3a,3c部のデータをリファレンスデータとして使用
し、下式(1)により補正をなすことで行われる。
【0007】 Log(XD)−Log(XR) ……(1) ここで、XDは検出器3の各チャンネルデータ、XRは
リファレンスデータを示す。実際には、(1)式の補正
は計測領域の全チャンネルデータ、全ビュー方向に行わ
れる。
【0008】X線CT装置では、このようなリファレン
ス補正は補正用の検出器(チャンネル)位置の違いで次
の2種類に分けられる。1つは、X線管2側に画像再構
成用検出器とは異なるリファレンス検出器を設ける方法
であり、他の1つは、被写体を通らない計測パス上にあ
る検出器3の端部複数チャンネル3a,3cをリファレ
ンス補正に用いる方法である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
画像再構成用検出器とは異なるリファレンス検出器を設
ける方法では、リファレンス検出器の構造が画像再構成
用検出器とは異なるため各種物理特性も異なり、充分な
補正効果がなされないという問題があり、実用的でな
い。
【0010】後者の検出器3の端部複数チャンネル3
a,3cをリファレンス補正に用いる方法では、リファ
レンスデータの計測に同一検出器3を用いていることか
らX線リップル変動補正の効果は極めて良好で高画質が
得られるが、計測途中に被写体によりリファレンス計測
パスが遮られと、この区間のみリファレンスデータが異
常になるため、スキャノグラム画像(断層像計測のとき
にはその断層像)の上記区間のみに大きなCT値変動が
生じるという問題点がある。
【0011】この問題点の解決方法として、特願平3−
35189号において、各種スキャノ計測条件における
スキャノデータ正常値を記録保管しておき、計測中にリ
ファレンスデータの異常を検出した際には保管されてい
たリファレンス正常値に置き換えて補正する手法が提案
されている。この方法は、補正効果の面では充分である
が、各種計測条件での正常値を事前に計測して記録する
作業が必要で時間もかかり、作業効率の点では問題があ
る。また、補正用のデータやプログラムを保管するメモ
リなどが必要であり、原価を上げる点でも問題であっ
た。
【0012】本発明の目的は、事前の作業を行うことな
く、また原価上昇もなく、計測中の被写体によるリファ
レンス計測パス遮断に起因する画像のCT値段差変動を
低減し、高品位な画像を得ることのできるX線CT装置
を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的は、CTスキャ
ナの多チャンネル検出器の両端側に1又は複数のリファ
レンスチャンネルをもち、このリファレンスチャンネル
からのデータ(リファレンスデータ)によりX線出力変
動補正であるリファレンス補正を行うX線CT装置にお
いて、計測時に被写体が少なくとも片側のリファレンス
計測パスを遮った時のリファレンスデータの異常を判定
するリファレンスデータ異常判定手段と、このリファレ
ンスデータ異常判定手段により異常と判定されたリファ
レンスデータを補正する異常リファレンスデータ補正手
段とを設けることにより達成される。
【0014】
【作用】リファレンス補正のためのリファレンスチャン
ネルは、被写体計測領域外の検出器両端側に1又は複数
設定され、検出器両端側からリファレンスデータが計測
される。そして、リファレンスデータ異常判定手段は、
計測時に被写体が少なくとも片側のリファレンス計測パ
スを遮った時のリファレンスデータの異常を判定し、異
常リファレンスデータ補正手段に判定結果を与える。異
常リファレンスデータ補正手段は、異常と判定されたリ
ファレンスデータを補正する。
【0015】これによれば、リファレンス補正するに際
し、各種計測条件におけるデータ正常値を計測,保管し
ておくことなく、また補正用のデータやプログラムを保
管するメモリなどを必要とすることなく、換言すれば事
前の作業や原価上昇なくして、計測中の被写体によるリ
ファレンス計測パス遮断に起因する画像のCT値段差変
動を低減させ得、高品位な画像が得られることになる。
【0016】ここで、リファレンスデータは被写体が入
らない領域の空気計測データであるため、検出器両端側
のリファレンスチャンネルによるリファレンスデータ、
更に各計測ビューにおけるリファレンスデータは常にほ
ぼ同じ値を保ち、各計測ビューにおけるリファレンスデ
ータの変化量は小さくほぼ一定値になっている。特に計
測開始時は、操作者が被写体のすぐ横で計測領域はみ出
し警告ランプを確認しながらセッテイングを行い位置決
めを行っているため、計測開始区間ではリファレンスデ
ータが遮断される状況にはなく基準値として参照可能な
値である。また、スキャノグラム計測中にリファレンス
データが被写体に遮られた場合はリファレンスデータが
大幅に増加するため、ある特定値以上の変化量を検出し
た場合は被写体の遮断があったと容易に判定することが
できる。
【0017】また、リファレンスチャンネルを検出器の
両端側に設定されており、被写体が片方のリファレンス
計測パスを遮った場合、異常判定されたリファレンスデ
ータを用いないで正常側のリファレンスデータに切換え
使用すればよい。両方のリファレンス計測パスが遮断さ
れた場合は、同一計測中で取得される他のリファレンス
データを用いれれば、リファレンス補正後の極端なデー
タ変化が防止される。
【0018】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は、本発明によるX線CT装置の一実施例の
概略構成を示すブロック図で、この図1において、1は
CTスキャナである。このスキャナ1内にX線管2と多
チャンネル検出器3が180度対向した位置関係で配置
され、それら相互間に寝台(図示せず)に載った被写体
9が設定される。ここで、スキャノグラム計測の場合
は、被写体9がその体軸方向に移動される間、X線発生
回路8で駆動されるX線管2によりX線が連続的に曝射
される。通常の断層像計測の場合は、被写体9はスキャ
ナ1中心部に静止状態で設定され、スキャナ1が被写体
9の回りを360゜未満回転中にX線が連続的に曝射さ
れる。また、スキャナ1回転計測中に被写体9が移動し
て計測する方法もある。
【0019】被写体9を透過したX線は、検出器3によ
り電流信号に変換された後、データ収集回路4で画像再
構成のための電気信号に変換され、演算・制御回路5に
送られ、その演算・制御回路5により画像再構成され
る。演算・制御回路5で再構成されたスキャノグラム画
像や通常の断層像は表示装置6で表示される。これら一
連の計測と画像再構成処理手順は操作卓7によるコマン
ド,データなどの入力により実行される。
【0020】ここで、検出器3の両端部には1又は複数
のリファレンスチャンネル3a,3cが設けられてい
る。リファレンスデータ(XR)としては、リファレン
スチャンネル3a,3cのどちらかの計測データを用い
ればよく、あるいは両者の平均値をリファレンスデータ
(XR)としてもよい。図1に示す例のように、リファ
レンスチャンネル3a,3cを複数個(3a1〜3an,
3c1〜3cn)設定した場合は、複数チャンネルからな
るリファレンスチャンネル群のデータの平均値を、検出
器3端部それぞれのリファレンスデータとしてもよい。
【0021】また、演算・制御回路5は、計測時のX線
出力変動(X線リップル変動)の補正手段であるリファ
レンス補正手段、計測時に被写体が少なくとも片側のリ
ファレンス計測パスを遮った時のリファレンスデータの
異常を判定するリファレンスデータ異常判定手段、及
び、このリファレンスデータ異常判定手段により異常と
判定されたリファレンスデータを補正する異常リファレ
ンスデータ補正手段としても兼用されている。
【0022】次に、図2〜図7を参照して上記本発明装
置、特にリファレンス補正手段、リファレンスデータ異
常判定手段及び異常リファレンスデータ補正手段として
も兼用されている演算・制御回路5によるリファレンス
補正処理動作について説明する。ここでは、単数リファ
レンスチャンネル3a,3cの場合を例にとって説明す
るが、複数リファレンスチャンネル3a1〜3an,3c
1〜3cnの場合でも、単数リファレンスチャンネル3
a,3cのデータに代えてリファレンスチャンネル群の
平均値データを用いることで同様に適用される。また、
各図の3a,3cはリファレンスチャンネル3a,3c
の計測データ、すなわちリファレンスデータ(XR)を
も示すものとする。
【0023】図2〜図7は、各々異なる実施例の処理フ
ロー図である。これらのうち図2は、一連の計測データ
で1ビュー目のリファレンスデータを基準値3A,3C
としてリファレンス補正する場合の例である。図2にお
いて、Step1〜3では1ビュー目のみ通常のリファ
レンス補正を行う。Step4で、検出器3両端部のリ
ファレンスデータを基準値として保管し、次のビューの
処理に移る。
【0024】Step6,8で検出器3両端部各々のリ
ファレンスデータと上記基準値との増分がしきい値H1
以上あれば異常と判定して、異常があればStep7,
9で1ビュー目のリファレンスデータに置き換えてい
る。異常がない場合は現行のリファレンスデータのまま
とする。そのため、Step10と11でのリファレン
ス補正処理は、両方のリファレンスデータ共に正常な場
合は通常のリファレンス補正処理を行い、片方のリファ
レンスデータが異常な場合は異常の方のリファレンスデ
ータを1ビュー目のリファレンスデータに置き換えて現
行のリファレンスデータとの平均値を用いたリファレン
ス補正処理を行い、更に、両方のリファレンスデータ共
に異常の場合は両方とも1ビュー目のリファレンスデー
タの平均値を用いたリファレンス補正処理になる。以後
のStepはこのような処理を最終ビューまで繰り返し
て完了される。
【0025】図3に示す実施例では、リファレンス基準
値3A,3Cを異常発生前の計測ビューのリファレンス
データとする例である。Step1〜5は図2の例と同
じである。Step6,8でも同様に検出器3両端部各
々のリファレンスデータと基準値との増分がしきい値H
1以上あれば異常と判定するが、Step7,9の処理
が異なり、異常があれば現行のリファレンスデータのま
まとし、異常がない場合は前のビュー処理でのリファレ
ンスデータに置き換えている。
【0026】Step10でのリファレンスデータ設定
算出式も基準値の平均式になっており、Step11で
のリファレンス補正処理は、両方共正常な場合は通常の
リファレンス補正処理を行い、片方が異常な場合は異常
の方のリファレンスデータを前のビュー処理で最新の正
常リファレンスデータに置き換えて現行のリファレンス
データとの平均値でのリファレンス補正処理を行い、更
に両方異常の場合は両方とも前のビュー処理で最新の正
常リファレンスデータの平均値によるリファレンス補正
処理に置き換わる。以後のStepは、このような処理
を最終ビューまで繰り返して完了される。
【0027】図4,図5に示す実施例は、図2,図3に
示す実施例中のリファレンス基準値3A,3Cに置き換
えてリファレンス補正する処理の中で、片方のみ異常の
生じた場合はこの異常のリファレンスデータを用いない
で、正常なもう一方のリファレンスデータのみでリファ
レンス補正を行う方法である。このうち図4の例では、
Step6と7で検出器3両端部各々のリファレンスデ
ータと基準値との増分で異常判定し、Step8,9で
のリファレンス補正処理で、両方共正常な場合は通常の
リファレンス処理を行い、片方が異常な場合はもう一方
の正常リファレンスデータのみでリファレンス補正を行
い、両方共異常の場合は両方とも1ビュー目のリファレ
ンスデータの平均値を用いたリファレンス補正を行う。
以後のStepは、このような処理を最終ビューまで繰
り返して完了される。
【0028】図5に示す例も上述と同様な処理をSte
p6〜11で行っているが、Step7,9で、現行ビ
ューでのリファレンスデータが正常であれば基準値を置
き換えているため、補正に用いられる基準値は前ビュー
最新の正常リファレンスデータになっている。
【0029】図6に示す実施例では、Step2,4で
検出器3両端部のリファレンスデータ間の差分値が、あ
る値H1以上増加して変化した場合にリファレンスデー
タの異常と判定し、両者の増加比較でデータ変化がない
方を正常なリファレンスデータと看做し、Step3,
5,6でこのデータを使用してリファレンス補正を行っ
ている。なお、Step6において、XR=3a又は3
cとしてもよい。
【0030】図7に示す実施例では、Step4で1ビ
ュー目のリファレンスデータが基準値として記録保管さ
れる。ただし、Step8,11で常に最新の正常デー
タに書き換えられている。そのため、Step6,9で
は現行ビューリファレンスデータと基準値(前ビュー最
新正常リファレンスデータ)との差分値がある値H2以
上増加して変化した場合にはリファレンスデータの異常
と判定し、両者の増加比較でデータ変化がない方を正常
なリファレンスデータと看做し、Step7,10,1
3でこのデータを使用してリファレンス補正を行ってい
る。この例でも、Step8,11を省略すれば基準値
は1ビュー目のリファレンスデータに固定され、異常の
判定は1ビュー目のリファレンスデータとの差分判定に
なる。なお、Step12において、XR=3a又は3
cとしてもよい。
【0031】上述本発明装置によるリファレンス補正の
効果につき図8を参照して説明する。図8の(a)は補
正前のスキャノグラム計測データによる画像を示す。こ
の例では、向かって左側の肘部分51がリファレンス計
測パスを遮り、従来のリファレンス補正では同(b)の
ようにリファレンス計測パス遮断区間52はCT値の大
きな変動を生じ、画像診断不可能になる。図8の(c)
が本発明装置の効果例を示すが、この例のように片方だ
けのリファレンス計測パス遮断の場合は図2,図3に示
した実施例でもこのように良好な結果を得ることができ
る。通常の断層像計測の場合も同様の効果が得られる。
断層像計測の場合は、被写体9の設定位置が計測中心部
からずれた場合、計測データ領域は計測データ上では正
弦波の振幅が大きくなり、この振幅が大きいと検出器3
のどちらか一方側の計測範囲を越える(リファレンス計
測パスを遮る)ことが大半になるため、本発明の上記効
果の有効性は大である。
【0032】なお上述実施例では、1ビュー目のリファ
レンスデータを基準値として最初に記録したが、最初の
数ビューの平均をとってよりノイズの影響の少ない基準
値とすることも可能である。また、1ビュー目のリファ
レンスデータを基準値とする代わりに、X線CT装置で
必ず行われるエアーキャリブレーションデータにおける
リファレンスチャンネルデータを基準値とすることも可
能である。
【0033】更に、被写体9がリファレンス計測パスを
遮断した場合、計測値が増加するため増加分をH1,H
2のしきい値でそれを判定したが、基準値に対しての変
化分(±変化)でリファレンス計測パスの遮断を判定し
てもよい。ここで、しきい値H1は空気計測時のX線リ
ップル変動値以上に設定すればよく、ノイズの影響を受
けない適宜値が選定されている。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、事
前の作業を行うことなく、また原価上昇もなく、計測中
の被写体によるリファレンス計測パス遮断に起因する画
像のCT値変動を低減し、高品位な画像を得ることがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明装置の一実施例の概略構成を示すブロッ
ク図である。
【図2】同上装置におけるリファレンス補正の処理手順
の第1例を示すフロー図である。
【図3】同じく第2例を示すフロー図である。
【図4】同じく第3例を示すフロー図である。
【図5】同じく第4例を示すフロー図である。
【図6】同じく第5例を示すフロー図である。
【図7】同じく第6例を示すフロー図である。
【図8】本発明装置によるリファレンス補正の効果を説
明するための図である。
【図9】スキャノグラム計測とリファレンス補正の説明
図である。
【符号の説明】
1 CTスキャナ 2 X線管 3 多チャンネル検出器 3a,3c リファレンスチャンネル 4 データ収集回路 5 演算・制御回路(リファレンス補正手段、リフ
ァレンスデータ異常判定手段、異常リファレンスデータ
補正手段) 6 表示装置 7 操作卓 8 X線発生回路 9 被写体

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 CTスキャナの多チャンネル検出器の両
    端側に1又は複数のリファレンスチャンネルをもち、こ
    のリファレンスチャンネルからのデータ(リファレンス
    データ)によりX線出力変動補正であるリファレンス補
    正を行うX線CT装置において、計測時に被写体が少な
    くとも片側のリファレンス計測パスを遮った時のリファ
    レンスデータの異常を判定するリファレンスデータ異常
    判定手段と、このリファレンスデータ異常判定手段によ
    り異常と判定されたリファレンスデータを補正する異常
    リファレンスデータ補正手段とを具備することを特徴と
    するX線CT装置。
  2. 【請求項2】 リファレンスデータ異常判定手段は、C
    TスキャナのX線管−検出器系に対して、被写体をその
    体軸方向に所定のスライス厚さで相対移動させつつX線
    撮影して被写体方向に連なる1枚の透過X線像を得るス
    キャノグラム像の計測時に被写体がリファレンス計測パ
    スを遮った時のリファレンスデータの異常を判定するリ
    ファレンスデータ異常判定手段である請求項1に記載の
    X線CT装置。
  3. 【請求項3】 リファレンスデータ異常判定手段は、多
    チャンネル検出器の両端側からのリファレンスデータの
    差を検出し、これによりリファレンスデータの異常を判
    定する手段である請求項1又は2に記載のX線CT装
    置。
  4. 【請求項4】 リファレンスデータ異常判定手段は、現
    在計測ビューのリファレンスデータと計測開始時におけ
    る1ビュー目のリファレンスデータ又は複数ビューのリ
    ファレンスデータの平均値との変化量を検出し、これに
    よりリファレンスデータの異常を判定する手段である請
    求項1又は2に記載のX線CT装置。
  5. 【請求項5】 リファレンスデータ異常判定手段は、現
    在計測ビューのリファレンスデータと直前の正常計測ビ
    ューのリファレンスデータとの変化量を検出し、これに
    よりリファレンスデータの異常を判定する手段である請
    求項1又は2に記載のX線CT装置。
  6. 【請求項6】 異常リファレンスデータ補正手段は、多
    チャンネル検出器のいずれか一端側のリファレンスデー
    タのみ異常と判定されたときには他端側のリファレンス
    データのみで補正を行う手段である請求項1〜5のいず
    れかに記載のX線CT装置。
  7. 【請求項7】 異常リファレンスデータ補正手段は、リ
    ファレンスデータ異常判定手段による異常判定時には異
    常と判定されたリファレンスデータを計測開始時におけ
    る1ビュー目のリファレンスデータ又は複数ビューのリ
    ファレンスデータの平均値に置き換えて補正を行う手段
    である請求項1〜5のいずれかに記載のX線CT装置。
  8. 【請求項8】 異常リファレンスデータ補正手段は、リ
    ファレンスデータ異常判定手段による異常判定時には異
    常と判定されたリファレンスデータを直前の正常計測ビ
    ューのリファレンスデータに置き換えて補正を行う手段
    である請求項1〜5のいずれかに記載のX線CT装置。
  9. 【請求項9】 異常リファレンスデータ補正手段は、リ
    ファレンスデータ異常判定手段による多チャンネル検出
    器のいずれか一端側のリファレンスデータのみの異常判
    定時には、その異常リファレンスデータを、同じ側の計
    測開始時における1ビュー目のリファレンスデータ若し
    くは複数ビューのリファレンスデータの平均値又は直前
    の正常計測ビューのリファレンスデータに置き換え、そ
    のリファレンスデータともう一端側の正常なリファレン
    スデータとの平均値で補正を行う手段である請求項1〜
    5のいずれかに記載のX線CT装置。
  10. 【請求項10】 リファレンスチャンネルは、複数のチ
    ャンネルからなるリファレンスチャンネル群である請求
    項1〜9のいずれかに記載のX線CT装置。
JP5146315A 1993-06-17 1993-06-17 X線ct装置 Pending JPH07384A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5146315A JPH07384A (ja) 1993-06-17 1993-06-17 X線ct装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5146315A JPH07384A (ja) 1993-06-17 1993-06-17 X線ct装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07384A true JPH07384A (ja) 1995-01-06

Family

ID=15404894

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5146315A Pending JPH07384A (ja) 1993-06-17 1993-06-17 X線ct装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07384A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003052685A (ja) * 2001-07-23 2003-02-25 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc X線量補正方法およびx線ct装置
JP2011030977A (ja) * 2009-08-06 2011-02-17 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JP2011078528A (ja) * 2009-10-06 2011-04-21 Aloka Co Ltd X線撮像装置
JP2017127573A (ja) * 2016-01-22 2017-07-27 株式会社日立製作所 フォトンカウンティングct装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003052685A (ja) * 2001-07-23 2003-02-25 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc X線量補正方法およびx線ct装置
JP4653351B2 (ja) * 2001-07-23 2011-03-16 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー X線量補正方法およびx線ct装置
JP2011030977A (ja) * 2009-08-06 2011-02-17 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JP2011078528A (ja) * 2009-10-06 2011-04-21 Aloka Co Ltd X線撮像装置
JP2017127573A (ja) * 2016-01-22 2017-07-27 株式会社日立製作所 フォトンカウンティングct装置
US10542947B2 (en) 2016-01-22 2020-01-28 Hitachi, Ltd. Photon-counting CT apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5485494A (en) Modulation of X-ray tube current during CT scanning
JP4336661B2 (ja) X線ct装置および散乱測定方法
US20070268996A1 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging method
US20040109528A1 (en) Beam hardening post-processing method and X-ray CT apparatus
JPH09285462A (ja) 計算機式断層写真法システム用の計算機
US20030169842A1 (en) X-ray CT apparatus and method of controlling it
JP4498023B2 (ja) X線ct装置
JPH07384A (ja) X線ct装置
JPH10225453A (ja) 計算機式断層写真法システムにおいて基準チャンネルの閉塞を検出する方法及びシステム
US6411671B2 (en) Method for reducing line artifacts in a CT image and device for implementing the method
US6307908B1 (en) System and method for data interpolation in a multislice x-ray computed tomography system
JP2001112749A (ja) プロジェクションデータ補正方法および装置並びに放射線断層撮像装置
JP5469952B2 (ja) X線ct装置
JP4156311B2 (ja) データ補正方法およびx線ct装置
JP4064541B2 (ja) レファレンス信号生成方法および装置並びに放射線断層撮影装置
JP4299749B2 (ja) Ct画像の再構成方法及びct装置並びにプログラム
US20200015769A1 (en) X-ray computed tomography apparatus and correction method
EP0910280B1 (en) Computer tomography device for volume scanning
JPS63125242A (ja) X線ct装置
JP2003210454A (ja) X線ct装置
JPH0669453B2 (ja) Ct装置
JP2000287959A (ja) ファントムキャリブレーション方法、ファントム傾き検出方法およびct装置
JP3989031B2 (ja) X線ctスキャナ
JP2003126078A (ja) X線ct装置
JP4159698B2 (ja) ラジオグラフィー装置の検査方法およびそのための装置